JP2007175294A - イメージセンサ及びその制御方法並びにx線検出器及びx線ct装置 - Google Patents

イメージセンサ及びその制御方法並びにx線検出器及びx線ct装置 Download PDF

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Abstract


【目的】 簡単な構成で被写体の移動によらず常に安定で良質な画像をサンプリング可能なことを課題とする。
【構成】 2次元配列された複数のフォトダイードPDと、該各フォトダイードの受光部に蓄積された光電変換電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサであって、前記各受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成するための第1,第2のゲート電極A,Sを絶縁層を介してそれぞれに設け、所定時間Tに渡って各受光部に蓄積された電荷を各一斉に第1,第2の電位井戸に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて前記受光部と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成したものである。
【選択図】 図3

Description

本発明はイメージセンサ及びその制御方法並びにX線検出器及びX線CT装置に関し、更に詳しくは、2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に蓄積された光電変換電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサ及びその制御方法並びにX線検出器及びX線CT装置に関する。
X線CT装置では、被検体を透過したX線をシンチレーター層によって光に変換すると共に、得られた光信号をフォトダイオードアレイ(イメージセンサ)によって電気信号に変換することが一般的に行われる。以下に、その一例を説明する。図11,図12は従来技術を説明する図(1),(2)で、図11は従来のマルチスライスX線検出器の一部平面図を示している。図中、矢印XはX線検出器のチャネル方向、矢印Zはスライス(被検体体軸)方向にそれぞれ対応している。
前面のシンチレータ層(CsI等)の背面に複数のフォトダイードPD11〜PD33が2次元配列されており、それぞれには受光部に蓄積された電荷を外部に読み出すためのゲート回路(MOSFETスイッチ回路)が設けられている。このうちスライス(row)方向に並ぶ1行目のフォトダイオードPD11,PD12,PD13については、これらの各出力端子(ドレインD)が共通の読み出しラインDR1に接続されており、その端部には電流積分型の増幅回路AR1が接続されている。2行目、3行目についても同様であり、それぞれに増幅回路AR2,AR3が接続されている。
一方、チャネル(column)方向に並ぶ1列目のフォトダイオードPD11,PD21,PD31については、これらの各ゲート端子(G)が共通の読み出し制御ラインGC1に接続されており、その端部には駆動スイッチS1が接続されている。2列目、3列目についても同様であり、それぞれに駆動スイッチS2,S3が接続されている。
係る構成により、まずスイッチS1を一時的に閉じることで、1列目のPD11,PD21,PD31に接続する各FETスイッチのゲートGにパルス電圧を印加し、各受光部に蓄積された電荷を各読出ラインDR1〜DR3に一斉(同時)に読み出す。次にスイッチS2を一時的に閉じることで、2列目のPD12,PD22,PD32の各受光部に蓄積された電荷を各読出ラインDR1〜DR3に一斉(同時)に読み出す。以下、同様であり、こうして、チャネル方向に並ぶ各PDの蓄積電荷を一斉に読み出すと共に、スライス方向に並ぶ各PDの蓄積電荷を時分割で読み出す。
図12に従来のマルチスライスX線検出器の動作タイミングチャートを示す。図中、第1列目のPD11については所定時間Tの間に蓄積した光電変換電荷をゲート信号GC1のタイミングで外部に読み出す。第2列目のPD12についても時間Tの間に蓄積した電荷を時間Δtだけずれたゲート信号GC2のタイミングで外部に読み出す。以下、同様であり、このように、従来のX線検出器ではスライス方向に並ぶ各PDの電荷蓄積時間Tが時間Δtづつ位相のずれているものであった。
なお、複数のフォトダイードが2次元配列されたマルチスライス用X線検出器としては特許文献1,2等が知られている。
特開2005−189022 特開2004−65285
しかるに、近年のX線CT装置では走査ガントリの高速回転により、1蓄積時間Tの間にもX線検出器が体軸中心の回りで相当程度移動してしまう為、第1列目と最後の第m列目とでは略蓄積時間Tだけビュー角のずれた投影像を撮影することになり、これが画像再構成の処理、及び再構成画像に悪影響を与えていた。
特に、ビュー毎にX線発生の焦点位置を切り替えて投影データのサンプリングを行う場合には、ある列については、電荷蓄積時間Tと次の電荷蓄積時間Tの切り替えタイミングとX線焦点の切り替えタイミングとを同期させることにより、位置分解能のよいデータを収集することが出来るが、その他の列については、その電荷蓄積時間Tの切り替えタイミングとX線焦点の切り替えタイミングがずれてしまうことになるため、一つの電荷蓄積時間T中にX線焦点位置が移動することになり、データの位置がボケてしまうと言う問題があった。そのため、X線焦点位置を切り替えて細かいデータのサンプリングを行おうとしても、得られる投影データの位置分解能が悪く、位置分解能のよい画像が得られなかった。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなされたもので、その目的とする所は、被写体の移動や、X線焦点位置(光源位置)の切り替えがある場合であっても、簡単な構成で常に安定かつ良質な画像をサンプリング可能なイメージセンサ及びその制御方法並びにX線検出器及びX線CT装置を提供することにある。
上記の課題は例えば図3の構成により解決される。即ち、本発明(1)のイメージセンサは、2次元配列された複数のフォトダイードPDと、該各フォトダイードの受光部に蓄積された光電変換電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサであって、前記各受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成するための第1,第2のゲート電極A,Sを絶縁層を介してそれぞれに設け、所定時間Tに渡って各受光部に蓄積された電荷を各一斉に第1,第2の電位井戸に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて前記受光部と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成したものである。
本発明(1)においては、受光部の後段に電位井戸(井戸型ポテンシャル領域)A,Sを形成し、受光部で一斉(同時)Tに蓄積した光電変換電荷を第1,第2の電位井戸A,Sに一斉に順次転送して後、受光部と第2の電位井戸Sとの間を遮蔽すると共に、該第2の電位井戸Sに蓄積された電荷を時分割で外部に読み出す簡単な構成により、被写体の移動によらず常に安定で良質な画像をサンプリング可能となる。
本発明(2)では、上記本発明(1)において、例えば図7に示す如く、前記各受光部と第1の電位井戸との間に第3,第4の電位井戸を形成するための第3,第4のゲート電極C,Bを絶縁層を介してそれぞれに設け、前記所定時間Tに渡って各受光部に蓄積されるべき電荷を複数回に渡って各一斉に第3,第4の電位井戸に順次転送して後、毎回該第3の電位井戸を消滅させて前記受光部と第4の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第4の電位井戸に積分された電荷を各一斉に前記第1,第2の電位井戸に順次転送するように構成したものである。
本発明(2)においては、受光部と第1の電位井戸Aとの間に、更に第3,第4の電位
井戸領域C,Bを設け、所定時間Tに渡って受光部に蓄積されるべき電荷を複数回に渡って一斉に第3,第4の電位井戸に順次転送しつつ、毎回受光部と第4の電位井戸との間を遮蔽することにより、受光部で発生した光電変換電荷を効率よく(即ち、低損失で)第4の電位井戸に蓄積(積分)できる。従って、検出特性に高い線形性が得られる。
本発明(3)では、上記本発明(1)又は(2)において、2次元配列された各センサ素子の行又は列毎に共通の増幅回路を設け、各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を行方向又は列方向に時分割で外部に読み出すように構成したものである。
また、本発明(4)のイメージセンサの制御方法は、2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成すべく併設された第1,第2のゲート電極と、該第2の電位井戸に蓄積された電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサの制御方法であって、例えば図4に示す如く、所定時間Tに渡って受光部で生成された電荷を該受光部に蓄積するステップと、前記受光部に蓄積された電荷を第1,第2の電位井戸に一斉に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて該受光部と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、前記第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すステップとを備えるものである。
本発明(5)のイメージセンサの制御方法は、2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に隣接してそれぞれ第3,第4及び第1,第2の電位井戸を形成すべく併設された第3,第4及び第1,第2のゲート電極と、該第2の電位井戸に最終的に蓄積された電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサの制御方法であって、例えば図8に示す如く、所定時間Tに渡って各受光部に蓄積されるべき電荷を複数回(φC)に渡って各一斉に第3,第4の電位井戸に順次転送して後、該第3の電位井戸を消滅させて前記受光部と第4の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、前記第4の電位井戸に積分された電荷を各一斉に前記第1,第2の電位井戸に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて該第4の電位井戸と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、前記第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すステップとを備えるものである。
また、本発明(6)のX線検出器は、上記本発明(1)又は(2)記載のイメージセンサの受光面にX線を光に変換するためのシンチレータ層を積層固着してなるものである。
また、本発明(7)のX線検出器は、被検体を挟んで相対向するX線管と上記本発明(6)記載のX線検出器を備え、被検体をスキャンして得られた投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成するX線CT装置のX線検出器であって、被検体体軸と平行なスライス方向と、これに垂直なチャネル方向とに対応させて2次元配列された各センサ素子の各チャネル毎のスライス方向に共通の増幅回路を設け、チャネル方向に並ぶ各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を一斉に、かつスライス方向に並ぶ各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成したものである。
本発明(8)のX線CT装置は、上記本発明(7)記載のX線検出器を備えたものである。従って、走査ガントリが高速回転していてもスライス方向に同一ビュー角の投影データをサンプリングでき、また、全てのセンサ素子で同一タイミングに電荷蓄積ができるので、ビュー毎にX線発生の焦点位置を切り替えて投影データのサンプリングを行う場合にも投影像を適正にサンプリングできる。
以上述べた如く本発明によれば、簡単な構成により被写体の映像を同時にサンプリングできるため、映像やCT再構成画像の画質の改善に寄与するところが極めて大きい。
以下、添付図面に従って本発明に好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。
図1は実施の形態によるX線CT装置200の構成図で、本発明によるイメージセンサ(フォトダイオードアレイ)のX線検出器への適用例を示している。このX線CT装置は、被検体を載せてその体(z)軸方向に移動させる撮影テーブル10と、X線ファンビームによる被検体のアキシャル/ヘリカルスキャンのデータ収集を行う走査ガントリ20と、撮影テーブル10及び走査ガントリ20の遠隔制御を行うと共に、操作者が各種の設定操作を行う操作コンソール1と備える。
操作コンソール1は、操作者の入力を受け付ける入力装置2と、画像再構成処理等を行う中央処理装置(CPU)3と、走査ガントリ20で取得した投影データを収集するデータ収集バッファ5と、投影データから再構成したCT画像を表示するモニタ6と、本装置の機能を実現するためのプログラム、データやX線CT画像を記憶する記憶装置7とを備える。撮影テーブル10は、被検体を乗せて走査ガントリ20のボア(空洞部)内に入れ出しする駆動機構部及び天板(クレードル)12を備える。
走査ガントリ20は、X線管21と、X線管21の管電圧・管電流等を制御するX線
コントローラ22と、X線ファンビームのz軸方向の厚さ(スライス厚)を制御するコリ
メータ23と、複数列分の投影データを同時に取得可能なマルチスライスX線検出器24と、各列の投影データを収集するデータ収集装置DAS(Data Acquisition System)25と、X線管21やマルチスライスX線検出器24等を被検体体軸の回りに回転自在に支持する回転部15と、その制御を行う回転部コントローラ26と、前記操作コンソール1や撮影テーブル10との間で制御信号のやり取りを行う制御コントローラ29とを備える。
図2に実施の形態による走査ガントリ20の要部構成図を示す。被検体100を挟んでX線管21とマルチスライスX線検出器24とが設けられ、これらは被検体体軸CLbの回りに回転自在に支持されている。X線管21のX線発生焦点は、上記X線コントローラ22による電子ビーム衝突位置の制御によって、その衝突位置(即ち、X線発生焦点位置)がビュー毎に短時間で変更可能に構成されている。また、X線検出器24はチャネル(X軸)方向に複数(例えば、1000程度)のX線検出素子を備え、これがスライス(Z軸)方向に複数(例えば16,32,64列)併設されている。
係る構成による投影データの収集は次のように行われる。まず、被検体を走査ガントリ20の空洞部内に位置させた状態でz軸方向の位置を固定し、X線管21からのX線ファンビームを被検体に照射し、その透過X線をマルチスライスX線検出器24で検出する。そして、この透過X線の検出を、X線管21とマルチスライスX線検出器24を被検体の周囲に回転させる{即ち、投影(ビュー)角度を変化させる}と同時に、X線焦点位置をビュー毎に切り替えながら、複数N(例えば、N=1000程度)のビュー方向で、360度分のデータ収集を行う。
検出された各透過X線は、データ収集部25でディジタル値に変換されて投影データd(ch,view)(但し、ch:チャネル、view:ビュー)としてデータ収集バッファ5を介して操作コンソール1に転送される。この動作を1スキャンと呼ぶ。そして、順次z軸方向にスキャン位置を所定量だけ移動して、次のスキャンを行う。このようなス
キャン方式はコンベンショナル(又はアキシャル)スキャン方式と呼ばれる。また、このコンベンショナルスキャン方式において、連続して複数回転分のスキャンを行うスキャン方式はシネスキャン方式とよばれる。また、投影角度の変化に同期して撮影テーブル10を所定速度で移動させ、スキャン位置を移動させながら投影データを収集する方式をヘリカルスキャン方式とよぶ。本発明はコンベンショナルスキャン方式、シネスキャン方式、ヘリカルスキャン方式のいずれにも適用できる。
操作コンソール1は、走査ガントリ20から転送される投影データを中央処理装置3の記憶装置7に格納すると共に、例えば、所定の再構成関数と重畳演算を行い、逆投影処理により被検体の断層像を再構成する。ここで、操作コンソール1は、スキャン処理中に走査ガントリ20から順次転送されてくる投影データからリアルタイムに断層像を再構成し、常に最新の断層像をモニタ6に表示させることが可能である。更に、記憶装置7に格納されている投影データを呼び出し、改めて画像再構成を行うことも可能である。
次に、上記マルチスライスX線検出器を構成するフォトダイオードアレイ(イメージセンサ)の部分を具体的に説明する。図3は第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの一部平面図で、受光部に隣接して第1,第2の電位井戸(井戸型ポテンシャル領域)を形成するための第1,第2のゲート電極A,S(以下、第2のゲート電極Sを出力回路への蓄積電荷供給源と言う意味でソース電極Sとも呼ぶ)を設けた場合を示している。
図において、前面のシンチレータ層の背面に複数のフォトダイードPD11〜PD33が2次元配列されており、それぞれには受光部に蓄積された電荷を選択的に外部に読み出すためのゲート回路が設けられている。このうちスライス(row)方向に並ぶ1行目のPD11,PD12,PD13については、これらの各出力端子(ドレインD)が共通の読み出しラインに接続されており、その端部には電荷積分による増幅回路AR1が接続されている。2行目、3行目についても同様であり、それぞれ増幅回路AR2,AR3が接続されている。
一方、チャネル(column)方向に並ぶ1列目のPD11,PD21,PD31については、これらの各ゲート端子Gが共通の読み出し制御ラインGC1に接続している。2列目のPD12,PD22,PD32、3列目のPD13,PD23,PD33についても同様であり、それぞれ読み出し制御ラインGC2,GC3に接続している。
更に、本第1の実施の形態では各PDの受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成するための第1,第2のゲート電極A,Sを絶縁層を介してそれぞれに設け、所定時間に渡って各受光部に蓄積された光電変換電荷を各一斉に第1,第2の電位井戸A,Sに順次転送して後、該第1の電位井戸Aを消滅させて受光部と第2の電位井戸Sとの間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第2の電位井戸Sに蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成している。
挿入図(a)にX線検出器1画素分の側断面図を示す。図中、83は、例えばヨウ化セシウムCsIを蛍光体とするシンチレータ層であり、CsIが有する柱状結晶構造により、シンチレータ内のX線フォトンの拡散は少ない。84は、TFT(Thin Film Transistor)技術によるアモルファスシリコン層であり、シンチレータ層83で変換された光を電荷に変換するフォトダイオード層84aや、該変換された電荷を外部に読み出す読出ゲート回路層84b,84c等が形成されている。そして、85はこれらを支持するガラス等からなる基板層である。
図4は第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作タイミングチャートである。所定時間Tに渡って全PD11〜PD44に蓄積された各光電変換電荷は全PDに共
通の第1のゲート信号φA(例えば−12V)によって全PD11〜PD44の各対応する第1の電位井戸Aに一斉に転送され、続く列毎に共通の第2のゲート信号SC1〜SC4によって各対応する第2の電位井戸(ソース)Sに一斉に転送される。この時、第1のゲート信号φAはハイレベル(例えば0V)に戻されており、これにより第1の電位井戸Aは消滅して受光部と第2の電位井戸Sとの間に電荷の移動を妨げるための電位障壁が形成されるため、各第2の電位井戸Sに転送された電荷はそのまま保持されると共に、該第2の電位井戸Sに蓄積された電荷を列毎に時分割で外部に読み出す。
1列目のPD11,PD21,PD31に着目すると、全PDに共通のゲート信号φAによって転送された各電荷は1列目のゲート信号SC1によって第2の電位井戸(ソース)Sに保持されると共に、続く1列目の読出ゲート信号GC1によって外部に一斉に読み出される。また、2列目のPD12,PD22,PD32に着目すると、全PDに共通のゲート信号φAによって転送された各電荷は2列目のゲート信号SC2によって第2の電位井戸(ソース)Sに保持されると共に、前記信号GC1よりも時間Δtだけ遅れて発生する2列目の読出ゲート信号GC2によって外部に一斉に読み出される。3列目以降のPDについても同様である。
本第1の実施の形態によれば、全PDは同一位相かつ同一周期Tで光を検出可能であると共に、各列の第2の電位井戸(ソース)Sからの電荷の読み出しは、時間Δtづつ位相をずらした各ゲート信号GC1〜GC4等により時分割で外部に読み出されるため、読出回路の構成(アンプ等)を大幅に削減できる。
図5,図6は第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(1),(2)である。図5(A)において、例えばシリコンのN型基板にP層が形成(拡散等)され、PN接合からなるフォトダイオードを構成している。受光部の表面は透明の絶縁層(S等)によって保護されていると共に、該受光部に隣接する絶縁層の上には第1,第2の電位井戸を形成するための第1,第2のゲート電極A,Sと、蓄積電荷を外部に読み出すためゲート電極Gとが設けられている。基板Nをアースに接続した状態ではP層はN層に対して低電位に自己バイアスされるため、各ゲート電極A,S,Gに0Vを加えることで、電荷の移動を阻止できる。電位の概略を点線で示す。一方、蓄積電荷を外部に読み出すためのドレイン側ではP型拡散層Pにドレイン電極Dがオーミック接続されており、その先は不図示のアンプARに接続されている。なお、電極SのP層と、電極GのN層と、電極DのP層とによってPチャネルMOSFETのスイッチ回路を構成していると考えても良い。
図5(B)において、PN接合に光が入射すると、空乏領域で電子−正孔対が生成され、そのうちの正孔は負電位のP層(受光部)側に蓄積される。図5(C)において、第1のゲート電極Aに例えば−12Vを印加すると、受光部で発生・蓄積された正孔はゲート電極Aの負電位に引き寄せられ、直下に形成された電位井戸Aに捕獲・蓄積される。
図6(A)において、第1のゲート電極Aを0Vに戻すと共に、第2のゲート電極Sに−12Vを印加すると、第1の電位井戸Aに蓄積されていた正孔は第2のゲート電極Sの直下に形成された第2の電位井戸Sに転送され、蓄積される。一方、受光部では引き続き正孔が発生するが、第1のゲート電極Aは0Vに戻されているため、引き続きP層に蓄積される。図6(B)において、読出回路のゲート電極Gに例えば−5Vを印加すると、PチャネルMOSFETが導通し、第2の電位井戸(ソース)Sに蓄積されていた電荷がN層に生成されたPチャネルを介してドレイン回路Dに読み出される。図6(C)において、受光部には次の時間T分の光電変換電荷が蓄積されつつあり、続く転送制御が繰り返される。
図7は第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの平面図で、受光部と第1の電位井戸Aとの間に第3,第4の電位井戸を形成するための第3,第4のゲート電極C,Bを絶縁層を介して設け、所定時間Tに渡って受光部に蓄積されるべき光電変換電荷を複数回に渡って一斉に第3,第4の電位井戸C,Bに順次転送して後、毎回第3の電位井戸Cを消滅させて受光部と第4の電位井戸Bとの間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、最終的に第4の電位井戸Bに積分(蓄積)された全電荷を一斉に第1,第2の電位井戸に順次転送するように構成した場合を示している。
本第2の実施の形態では、第1のゲート電極Aを囲むように更に第3,第4のゲート電極C,Bが設けられており、これらにより形成される第3,、第4の電位井戸C,Bによって受光部と第1の電位井戸Aとの間を電気的に離隔可能となっている。そして、第3,第4のゲート電極C,Bには全PD11〜PD33に共通の第3,第4のゲート信号φC,φBが加えられる。その他の構成については上記第1の実施の形態(図3等)で述べたものと同様で良い。
図8は第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作タイミングチャートである。図において、第3のゲート信号φCは所定時間Tの間に複数回発生(例えば−12V)すると共に、第4のゲート信号φBは例えば−12Vにバイアスされている。これにより、所定時間Tに渡って受光部内で発生すべき全光電変換電荷は複数回に渡って第4の電位井戸に逐次転送され、積分(蓄積)される。従って、受光部内に発生した電荷は漏れなく低損失で第4の電位井戸に蓄積されることになり、光電変換特性に高い線形性が得られる。
こうして、所定時間Tに渡って第4の電位井戸Bに積分・蓄積された全電荷は、上記第1の実施の形態で述べたと同様にして、全PDに共通の第1のゲート信号φAによって各対応する第1の電位井戸Aに一斉に転送され、続く列毎に共通の第2のゲート信号SC1〜SC4によって各対応する第2の電位井戸(ソース)Sに一斉に転送される。この時、第1のゲート信号φAはハイレベルに戻されているため、各第2の電位井戸Sに転送された電荷はそのまま保持されると共に、該第2の電位井戸Sに蓄積された電荷を列毎に時分割で外部に読み出す。
本第2の実施の形態によれば、全PDは同一位相かつ同一周期Tで光を検出可能であると共に、所定時間Tに渡る光電変換電荷を効率よく蓄積可能である。一方、各列の第2の電位井戸(ソース)Sからの電荷の読み出しは、時間Δtづつ位相をずらした各ゲート信号GC1〜GC4等により時分割で外部に読み出されるため、読出回路の構成(アンプ等)を大幅に削減できる。
図9,図10は第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(1),(2)である。図9(A)において、本第2の実施の形態では、受光部と第1のゲート電極Aとの間に更に第3,第4のゲート電極C,Bが隣接して設けられ、それぞれの直下に第3,第4の電位井戸を形成可能となっている。この状態で、PN接合に光が入射すると、空乏領域で電子−正孔対が生成され、そのうちの正孔は負電位のP層(受光部)側に蓄積される。図9(B)において、受光部の電荷は第3のゲート信号φCが発生する度に第3の電位井戸Cに捕獲され、引き続きゲート信号φB(−12V)でバイアスされた第4の電位井戸Bに転送・蓄積される。図9(C)において、上記の逐次転送制御が繰り返されると共に、やがて所定時間Tを経過すると、第4の電位井戸Bには受光部で時間T内に発生した全電荷が転送・蓄積されている。一方、受光部では引き続き正孔が発生するが、第3のゲート電極Cは0Vに戻されているため、引き続きP層に蓄積される。
図10(A)において、第1のゲート電極Aに−12Vを印加すると、第4の電位井戸
Bに蓄積されていた全電荷は第1の電位井戸Aに転送される。この時、好ましくは、電荷の転送を確実にするために第4のゲート信号φBを一時的に0Vにバイアスする。図10(B)において、第1のゲート信号φAを0Vにすると共に、第2のゲート信号SC1〜SC3を加えると第1の電位井戸Aに転送された全電荷は第2の電位井戸に転送される。図10(B)において、読出回路のゲート電極Gに−5Vを印加すると、PチャネルMOSFETが導通し、第2の電位井戸Sに蓄積されていた電荷がN層に生成されたPチャネルを介してドレイン回路Dに読み出される。
なお、上記実施の形態では、第1,第2のゲート信号φA,SC及び第3,第4のゲート信号φC,φB(各2相のクロック)で電荷をシフトしたが、この場合の電荷の移動方向については、例えば各電極下の絶縁層(酸化膜S)の厚さを左右非対称とすることで、電荷は酸化膜の厚い方(電界小)から薄い方(電界大)に移動する性質を利用できる。電荷の移動方式については他にも公知の様々な方式を利用できる。
また、上記実施の形態では、PN接合のP層に生じた正孔を信号キャリアとする場合を述べたが、これに限らない。N層に生じた電子を信号キャリヤとして構成しても良いことは明らかである。
また、上記実施の形態では、本発明によるイメージセンサのX線CT装置への適用例を述べたが、これに限らない。本発明によるイメージセンサは他の様々な撮像装置(カメラ等)にも利用可能である。
また、上記本発明に好適なる複数の実施の形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部の構成、制御、処理及びこれらの組み合わせの様々な変更が行えることは言うまでも無い。
実施の形態によるX線CT装置の構成図である。 実施の形態による走査ガントリの要部構成図である。 第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの平面図である。 第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作タイミングチャートである。 第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(1)である。 第1の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(2)である。 第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの平面図である。 第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作タイミングチャートである。 第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(1)である。 第2の実施の形態によるフォトダイオードアレイの動作を説明する図(2)である。 従来技術を説明する図(1)である。 従来技術を説明する図(2)である。
符号の説明
20 走査ガントリ
21 X線管
24 マルチスライスX線検出器
83 シンチレータ層
84 アモルファスシリコン層
84a フォトダイオード層
84b,84c 読出ゲート回路層
85 基板層

Claims (8)

  1. 2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に蓄積された光電変換電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサであって、
    前記各受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成するための第1,第2のゲート電極を絶縁層を介してそれぞれに設け、所定時間に渡って各受光部に蓄積された電荷を各一斉に第1,第2の電位井戸に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて前記受光部と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成したことを特徴とするイメージセンサ。
  2. 前記各受光部と第1の電位井戸との間に第3,第4の電位井戸を形成するための第3,第4のゲート電極を絶縁層を介してそれぞれに設け、前記所定時間に渡って各受光部に蓄積されるべき電荷を複数回に渡って各一斉に第3,第4の電位井戸に順次転送して後、毎回該第3の電位井戸を消滅させて前記受光部と第4の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成すると共に、該第4の電位井戸に積分された電荷を各一斉に前記第1,第2の電位井戸に順次転送するように構成したことを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  3. 2次元配列された各センサ素子の行又は列毎に共通の増幅回路を設け、各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を行方向又は列方向に時分割で外部に読み出すように構成したことを特徴とする請求項1又は2記載のイメージセンサ。
  4. 2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に隣接してそれぞれ第1,第2の電位井戸を形成すべく併設された第1,第2のゲート電極と、該第2の電位井戸に蓄積された電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサの制御方法であって、
    所定時間に渡って受光部で生成された電荷を該受光部に蓄積するステップと、
    前記受光部に蓄積された電荷を第1,第2の電位井戸に一斉に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて該受光部と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、
    前記第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すステップとを備えることを特徴とするイメージセンサの制御方法。
  5. 2次元配列された複数のフォトダイードと、該各フォトダイードの受光部に隣接してそれぞれ第3,第4及び第1,第2の電位井戸を形成すべく併設された第3,第4及び第1,第2のゲート電極と、該第2の電位井戸に最終的に蓄積された電荷を外部に読み出す複数の読出ゲート回路とを備えるイメージセンサの制御方法であって、
    所定時間に渡って各受光部に蓄積されるべき電荷を複数回に渡って各一斉に第3,第4の電位井戸に順次転送して後、該第3の電位井戸を消滅させて前記受光部と第4の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、
    前記第4の電位井戸に積分された電荷を各一斉に前記第1,第2の電位井戸に順次転送して後、該第1の電位井戸を消滅させて該第4の電位井戸と第2の電位井戸との間に電荷の移動を妨げるための電位障壁を形成するステップと、
    前記第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すステップとを備えることを特徴とするイメージセンサの制御方法。
  6. 請求項1又は2記載のイメージセンサの受光面にX線を光に変換するためのシンチレータ層を積層固着してなることを特徴とするX線検出器。
  7. 被検体を挟んで相対向するX線管と請求項6記載のX線検出器を備え、被検体をスキャンして得られた投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成するX線CT装置のX線検出器であって、
    被検体体軸と平行なスライス方向と、これに垂直なチャネル方向とに対応させて2次元配列された各センサ素子の各チャネル毎のスライス方向に共通の増幅回路を設け、チャネル方向に並ぶ各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を一斉に、かつスライス方
    向に並ぶ各センサ素子の第2の電位井戸に蓄積された電荷を時分割で外部に読み出すように構成したことを特徴とするX線検出器。
  8. 請求項7記載のX線検出器を備えたことを特徴とするX線CT装置。
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