JP2007167388A - X線ct装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 X線を発生するX線管502と被検体の透過X線を検出するX線検出器504とが対向配置された状態で前記被検体の周囲を回転するスキャナ部(1)と、X線管502のビームシフト量を計測するビームシフト用X線検出器504Bと、前記計測されたビームシフト量に応じてX線管502を制御する駆動部518と、前記被検体の計測時にスキャン条件に応じたビームシフトに追従するビームシフト補正係数を演算し、その演算されたビームシフト補正係数を用いて前記被検体の画像再構成を行うシステム制御装置(19)とを備える。
【選択図】 図5
Description
特許文献1には、「X線管の駆動機構を設けておき、管電圧の大小によりX線強度分布シフトする。このシフトは出力A、Bの中に現われる。そこで、A=Bとするように、増幅器の利得を設定する。この設定後にあっては、比較器、制御装置を介してX線管がA=Bとなるように負帰還制御され、熱ドリフトシフトの補正を行う。これにより、管電圧の大小によるX線強度分布シフトの相殺をはかりたい。更に、熱ドリフト等によるX線管の移動によるビームシフトの相殺をはかる」ことが開示されている。
特に、被検体へのX線被曝の低減と適正な画像の収集という一律背反の技術課題を実現させるためには、管電流を含む他のスキャンパラメータの制御が不可欠である。
図1に本実施の形態が適用されたX線CT装置100の全体構成図を、図2にX線CT装置100の全体概観図を示す。
より詳細には、スキャナ1内において、X線制御装置7、コリメータ制御装置9、データ収集装置12、および回転制御装置14がシステム制御装置19によって制御される。また、患者テーブル2内においては、患者テーブル制御装置20がシステム制御装置19によって制御される。
X線検出素子18は、全体として円筒面状、もしくはチャネル方向に関して折れ線状に湾曲したX線入射面を構成する。i、jはそれぞれチャネル番号、列番号であり、例えば、iは1から1000程度、jは1から1000程度である。X線検出素子18は、例えばシンチレータとフォトダイオードの組み合わせによって構成される。
このようなX線ビームに対し、例えば図4に示すように、患者テーブル2の天板4に載せられた被検体17がスキャナ1の開口部に搬入されることにより、被検体17にX線が照射される。
このとき、長時間X線を曝射しているとX線管球自身の発熱によりX線管球内部の陽極が伸縮することが原因でX線焦点がずれる。このX線焦点のずれにより、X線ビームの中心と検出器中心が一致しなくなり、再構成画像にノイズや擬似画像(アーチファクト)が現れ、画質が低下する。
このような位置ずれは、特許文献1に示される技術だけでは不十分である。
図6の601に示すように、被検体のスキャノグラム像を撮影し、そのスキャノグラム像上に、被検体の部位に応じてあらかじめ適切なmA値を設定しておく。
図8はX線CT装置の計測のメインフローチャートである。
スキャンパラメータの組み合わせは全部行わなくても一部だけ行えばよい。また、装置が起動し、稼動している場合は、そのときに保有するビームシフト計測の結果を用いている場合では、新たにビームシフト計測を行わないでよい場合もある。(ステップ801)
被検体計測は、ビームシフト計測によるビームシフト量を用いて被検体の計測を行う。(ステップ802)
操作者が操作卓3を用いてビームシフト計測プロトコルをセットすることで最初のスキャンパラメータが設定される。(ステップ901)
システム制御装置19はビームシフトを検出するX線検出器504Bに計測させるための曝射を行い、ビームシフト量を計測する。(ステップ902)
システム制御装置19はX線検出器504Bの出力を記憶装置24に記憶する。(ステップ904)
システム制御装置19は駆動機構518をX線ビーム中心とX線検出器の中心が一致する位置までX線管502を移動する。(ステップ905)
操作者は操作卓3を用いてスキャンパラメータを設定する。(ステップ1001)
操作者は操作卓3を用いて被曝低減モードか否かを設定する。(ステップ1002)
システム制御装置19は前ステップの設定が被曝低減モードか否かを判定する。被曝低減モードであればステップ1004に進み、一被曝低減モードでなければステップ1005に進む。(ステップ1003)
システム制御装置19は被検体のスキャン計測を行う。(ステップ1005)
システム制御装置19は前ステップの被検体の計測結果から画像再構成装置23に画像再構成演算を行わせる。(ステップ1006)
システム制御装置19は前ステップで再構成された被検体の断層画像や3次元画像を表示装置5に表示させる。(ステップ1007)
これにより、スキャンパラメータを反映させたX線ビームのシフト補正ができる。
Claims (2)
- X線を発生するX線源と被検体の透過X線を検出するX線検出器とが対向配置された状態で前記被検体の周囲を回転するスキャナ部と、前記X線源のビームシフト量を計測するビームシフト計測部と、前記計測されたビームシフト量に応じて前記X線源を制御する制御部とを備えたX線CT装置において、前記被検体の計測時にスキャン条件に応じたビームシフトに追従するビームシフト補正係数を演算する手段を備え、前記制御部は、前記演算されたビームシフト補正係数を用いて前記被検体の画像再構成を行うことを特徴とするX線CT装置。
- 前記制御部は、前記被検体の体軸方向の部位により前記X線源に供給する電流量に応じたビームシフトに追従することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
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CN109431534A (zh) * | 2018-11-30 | 2019-03-08 | 深圳安科高技术股份有限公司 | 一种射线准直器的自校准方法及其系统 |
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