JP2007163236A - 電磁波測定方法および電磁波測定装置 - Google Patents
電磁波測定方法および電磁波測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007163236A JP2007163236A JP2005358366A JP2005358366A JP2007163236A JP 2007163236 A JP2007163236 A JP 2007163236A JP 2005358366 A JP2005358366 A JP 2005358366A JP 2005358366 A JP2005358366 A JP 2005358366A JP 2007163236 A JP2007163236 A JP 2007163236A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- electromagnetic field
- measurement
- electromagnetic wave
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】被測定物1の電磁波放射を、受信アンテナプローブ2を用いて被測定物1の近傍の測定面内を移動測定するとき、被測定物1の設計データとして、電磁界強度の決定要因となる被測定物1の仕様情報を利用することにより、複雑な表面構造の被測定物1に対しても、測定面内の各座標点ごとに、被測定物1の構造上の差異を考慮した電流強度推定を簡易にかつ高精度に実現する。
【選択図】図1
Description
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1の電磁波測定方法および電磁波測定装置を説明する。
例えば、磁界を測定した場合の一例を、図3を用いて説明する。
例えば、図4(a)に示すように、マイクロストリップ線路10の近傍磁界を磁界測定用受信アンテナプローブ13で測定した場合、受信アンテナプローブ13が受信する磁界強度の周波数特性を図4(b)に示す。
先ず、図6(a)に示すように、被測定物1の基準点Pstを決める。この場合、基準点Pstとしては被測定物1の中で最も突起した点が望ましい。次に、実際に磁界強度を測定する水平平面として、基準点PstからZ座標軸の方向に基準測定距離dstだけ離れた位置を通るXY平面を決める。ここで、図6(b)に示すように、CADデータなどの設計データから抽出した被測定物1の凹凸情報を用いて、各測定点Pijの基準点Pstからの相対距離Dijを取得しておく。ここで、各測定点Pijは部品の場合はその上面、導体配線の場合は導体の中心、基板上の配線パターンの場合は、パターン面状の点を選択する。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2の電磁波測定方法および電磁波測定装置を説明する。
これに対しても、被測定物1のCADデータ等による設計データを利用し、設計データから抽出して得られた被測定物1の表面上における凹凸情報から、各測定点Pijと受信アンテナプローブ2との距離dij(求め方は前述のためここでは省略)を取得し、予め規定した補正式(後述する)と、測定した電磁界強度と、各測定点Pijと受信アンテナプローブとの距離dijの関係を用いて、各測定点Pijで受信した電磁界強度を、各測定点Pijから等しく離れた位置を想定した場合の電磁界強度へ補正する。
(実施の形態3)
本発明の実施の形態3の電磁波測定方法および電磁波測定装置を説明する。
以上のように上記の各実施の形態によれば、被測定物1に対して、その電磁波放射を、受信アンテナプローブ2を用いて被測定物1の近傍の測定面内を移動測定するとき、被測定物1の設計データとして、電磁界強度の決定要因となる被測定物1の仕様情報、あるいは被測定物1内の測定点と受信アンテナプローブ2との距離を算出するための被測定物1の構造情報を利用することにより、複雑な表面構造の被測定物1に対しても、測定面内の各座標点ごとに、被測定物の構造上の差異を考慮した電流強度推定あるいは電磁界強度測定を、簡易にかつ高精度に実現することができる。
2 受信アンテナプローブ
3 電磁波測定装置
4 広帯域受信部
5 XYZ駆動部
6 計測制御部
7 表示部
8 演算処理部
9 (被測定物である)導体
10 (被測定物である)マイクロストリップ線路
11 (マイクロストリップ線路の)信号線
12 (マイクロストリップ線路の)グランド面
13 磁界測定用受信アンテナプローブ
Claims (6)
- 表面構造が均一でない被測定物に対して、電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内を移動させて電磁界強度を測定するとともに、
前記被測定物の表面構造を示す設計データに対応する電流推定式を前記測定面内の各座標点ごとに選択し、
前記測定した電磁界強度を用いて前記電流推定式を基に電流強度を前記測定面内の各座標点ごとに推定する
ことを特徴とする電磁波測定方法。 - 表面構造が均一でない被測定物に対して、電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内を移動させて電磁界強度を測定するとともに、
前記被測定物の表面構造を示す設計データから前記被測定物内の測定点と前記電磁界センサとの距離を前記測定面内の各座標点ごとに算出し、
前記測定した電磁界強度を、前記測定面内の各座標点ごとに、前記算出した距離を基に前記被測定物内の測定点から一定距離離れた点の電磁界強度に補正する
ことを特徴とする電磁波測定方法。 - 表面構造が均一でない被測定物に対して、電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内を移動させて電磁界強度を測定するとともに、
前記被測定物の表面構造を示す設計データに対応する電流推定式を前記測定面内の各座標点ごとに選択し、
前記設計データから前記被測定物内の測定点と前記電磁界センサとの距離を前記測定面内の各座標点ごとに算出し、
前記測定した電磁界強度と、前記選択した電流推定式及び前記算出した距離を基に、電流強度を前記測定面内の各座標点ごとに推定し、その推定された電流強度を基に、測定点から特定距離離れた点の電磁界強度を計算する
ことを特徴とする電磁波測定方法。 - 表面構造が均一でない被測定物からの電磁界を受信する電磁界センサと、
前記電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内で移動させる走査手段と、
前記走査手段により移動する前記電磁界センサで受信した前記電磁界強度を測定処理する受信処理手段と、
前記被測定物の表面構造を示す設計データに対応する電流推定式を前記測定面内の各座標点ごとに選択し、
前記測定した電磁界強度を用いて前記電流推定式を基に電流強度を前記測定面内の各座標点ごとに推定する演算処理手段と
を備えたことを特徴とする電磁波測定装置。 - 表面構造が均一でない被測定物からの電磁界を受信する電磁界センサと、
前記電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内で移動させる走査手段と、
前記走査手段により移動する前記電磁界センサで受信した前記電磁界強度を測定処理する受信処理手段と、
前記被測定物の表面構造を示す設計データから前記被測定物内の測定点と前記電磁界センサとの距離を前記測定面内の各座標点ごとに算出し、
前記測定した電磁界強度を、前記測定面内の各座標点ごとに、前記算出した距離を基に前記被測定物内の測定点から一定距離離れた点の電磁界強度に補正する演算処理手段と
を備えたことを特徴とする電磁波測定装置。 - 表面構造が均一でない被測定物からの電磁界を受信する電磁界センサと、
前記電磁界センサを前記被測定物の基準面から一定距離はなれた測定面内で移動させる走査手段と、
前記走査手段により移動する前記電磁界センサで受信した前記電磁界強度を測定処理する受信処理手段と、
前記被測定物の表面構造を示す設計データに対応する電流推定式を前記測定面内の各座標点ごとに選択し、
前記設計データから前記被測定物内の測定点と前記電磁界センサとの距離を前記測定面内の各座標点ごとに算出し、
前記測定した電磁界強度と、前記選択した電流推定式及び前記算出した距離を基に、電流強度を前記測定面内の各座標点ごとに推定し、その推定された電流強度を基に、測定点から特定距離離れた点の電磁界強度を計算する演算処理手段と
を備えたことを特徴とする電磁波測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005358366A JP5170955B2 (ja) | 2005-12-13 | 2005-12-13 | 電磁波測定方法および電磁波測定装置 |
US11/482,063 US7541818B2 (en) | 2005-07-07 | 2006-07-07 | Method and apparatus of electromagnetic measurement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005358366A JP5170955B2 (ja) | 2005-12-13 | 2005-12-13 | 電磁波測定方法および電磁波測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007163236A true JP2007163236A (ja) | 2007-06-28 |
JP5170955B2 JP5170955B2 (ja) | 2013-03-27 |
Family
ID=38246305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005358366A Expired - Fee Related JP5170955B2 (ja) | 2005-07-07 | 2005-12-13 | 電磁波測定方法および電磁波測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5170955B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103267901A (zh) * | 2013-04-19 | 2013-08-28 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种电磁波强度检测装置及方法 |
KR20150108489A (ko) * | 2014-03-17 | 2015-09-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 노이즈 검사 장치 및 이를 이용하는 표시 패널의 검사 방법 |
CN111273281A (zh) * | 2020-02-07 | 2020-06-12 | 北京环境特性研究所 | 一种近距电磁测量方法及系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07191122A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Nec Corp | ループプローブの校正方法及びその校正治具 |
JPH1114671A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-01-22 | Nec Corp | 電流推定装置 |
JP2000304790A (ja) * | 1999-04-23 | 2000-11-02 | Hitachi Ltd | 電磁波発生源探査装置、その方法およびその解析方法 |
JP2001165974A (ja) * | 1999-12-08 | 2001-06-22 | Nec Corp | プリント基板からの電磁放射簡易計算方法、プリント基板からの電磁放射簡易計算装置及び、電磁放射簡易計算プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003004783A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Aet Japan:Kk | 放射電磁波のベクトル測定方法および装置 |
JP2003167012A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Canon Inc | 電流分布測定装置 |
JP2004069372A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Taiyo Yuden Co Ltd | 遠方電磁界強度の算出方法及び装置、遠方電磁界強度の算出プログラム、及び、そのプログラムを記録した記録媒体 |
-
2005
- 2005-12-13 JP JP2005358366A patent/JP5170955B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07191122A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Nec Corp | ループプローブの校正方法及びその校正治具 |
JPH1114671A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-01-22 | Nec Corp | 電流推定装置 |
JP2000304790A (ja) * | 1999-04-23 | 2000-11-02 | Hitachi Ltd | 電磁波発生源探査装置、その方法およびその解析方法 |
JP2001165974A (ja) * | 1999-12-08 | 2001-06-22 | Nec Corp | プリント基板からの電磁放射簡易計算方法、プリント基板からの電磁放射簡易計算装置及び、電磁放射簡易計算プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003004783A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Aet Japan:Kk | 放射電磁波のベクトル測定方法および装置 |
JP2003167012A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Canon Inc | 電流分布測定装置 |
JP2004069372A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Taiyo Yuden Co Ltd | 遠方電磁界強度の算出方法及び装置、遠方電磁界強度の算出プログラム、及び、そのプログラムを記録した記録媒体 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
JPN6012004149; 佐々木 英樹 Hideki SASAKI,原田 高志 Takashi HARADA: '"プリント回路基板近傍の磁界計測とそのEMCへの応用 Measurement of Magnetic Fields near a PCB and' 電子情報通信学会技術研究報告 ICD 集積回路 Vol.97, No.436, 19971212, p.9-13, 社団法人電子情報通信学会 * |
JPN6012004150; 高須 一博 Kazuhiro TAKASU,寺本 学 Manabu TERAMOTO,陳 強 Qiang CHEN,澤谷 邦男 Kunio SAWAYA: '"近傍界測定によるプリント基板上の電流分布の推定 Estimating Current Distribution on Printed Circuit' 電子情報通信学会技術研究報告 EMCJ 環境電磁工学 Vol.105, No.31, 20050415, p.35-40, 社団法人電子情報通信学会 * |
JPN6012004151; 呉 奕鋒 Ifong WU,西澤 振一郎 Shinichiro NISHIZAWA,橋本 修 Osamu HASHIMOTO: '"グリーン関数法を用いたマイクロストリップライン表面の電流分布推定に関する基礎的検討 Basic Study of' 電子情報通信学会論文誌 C エレクトロニクス Vol.J88-C, No.12, 20051201, p.1159-1166, 社団法人電子情報通信学会 * |
JPN6012004153; 武居 周 Amane Takei,早野 誠治 Seiji Hayano,斎藤 兆古 Yoshifuru Saito: '"電界源探査に関する逆解析 Inverse Analysis to the Electric Field Source searching"' 電気学会論文誌 A 基礎・材料・共通部門誌 Vo.121, No.2, 20010201, p.99-105, 社団法人電気学会 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103267901A (zh) * | 2013-04-19 | 2013-08-28 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种电磁波强度检测装置及方法 |
CN103267901B (zh) * | 2013-04-19 | 2015-07-01 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种电磁波强度检测装置及方法 |
KR20150108489A (ko) * | 2014-03-17 | 2015-09-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 노이즈 검사 장치 및 이를 이용하는 표시 패널의 검사 방법 |
KR102231507B1 (ko) | 2014-03-17 | 2021-03-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 노이즈 검사 장치 및 이를 이용하는 표시 패널의 검사 방법 |
CN111273281A (zh) * | 2020-02-07 | 2020-06-12 | 北京环境特性研究所 | 一种近距电磁测量方法及系统 |
CN111273281B (zh) * | 2020-02-07 | 2021-12-07 | 北京环境特性研究所 | 一种近距电磁测量方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5170955B2 (ja) | 2013-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7541818B2 (en) | Method and apparatus of electromagnetic measurement | |
JP4635544B2 (ja) | 電界分布測定方法及び電界分布測定装置 | |
EP1452880B1 (en) | Apparatus for measuring specific absorption rate of radio communication apparatus | |
CN106872925B (zh) | 一种基于传输线的近场探头空间分辨率驻波校准方法 | |
JP5410827B2 (ja) | 電磁波発生源判定方法及び装置 | |
JP2011053055A (ja) | 電磁波発生源可視化装置及び方法 | |
CN106164684B (zh) | 电场强度算出装置及电场强度算出方法 | |
JP5170955B2 (ja) | 電磁波測定方法および電磁波測定装置 | |
JP5351466B2 (ja) | 電波源可視化装置 | |
JP2009002788A (ja) | 電磁波測定方法及び電磁波測定装置 | |
Spang et al. | Application of probes with multiple outputs on probe-compensated EMC near-field measurements | |
JP5362599B2 (ja) | 電磁波源探査方法、電磁波源探査プログラム、電磁波源探査装置 | |
JP2009002757A (ja) | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 | |
JP2008082945A (ja) | 近傍電磁界分布測定装置 | |
JP3489363B2 (ja) | 回路基板の電磁障害測定方法および測定装置 | |
CN103048574B (zh) | 一种基于辐射源特征的gtem小室辐射emi测试方法 | |
JP7410561B2 (ja) | 電波センサ、および電界成分検出装置 | |
JP7038909B2 (ja) | 電磁界強度推定装置および電磁界強度推定方法 | |
JP2006242672A (ja) | 電磁波測定装置 | |
JP2012181161A (ja) | 電磁波放射源検出方法および装置 | |
JP2004239887A (ja) | 無線装置用比吸収率測定装置 | |
JP2011017535A (ja) | 遠方電磁界ノイズ測定方法および装置 | |
JP3782557B2 (ja) | 電磁界分布測定装置および電磁界分布測定方法 | |
JP2004317322A (ja) | 無線通信装置用近傍ノイズ測定装置 | |
JP6052355B1 (ja) | 試験装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080430 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080724 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110225 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110516 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120402 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160111 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |