JP2007123561A - ウエハ外周部検査装置 - Google Patents
ウエハ外周部検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007123561A JP2007123561A JP2005313821A JP2005313821A JP2007123561A JP 2007123561 A JP2007123561 A JP 2007123561A JP 2005313821 A JP2005313821 A JP 2005313821A JP 2005313821 A JP2005313821 A JP 2005313821A JP 2007123561 A JP2007123561 A JP 2007123561A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- light emitting
- peripheral edge
- camera
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 66
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
【解決手段】 発光部1に、ウエハWの周端縁W1を包み込む断面形状で且つウエハWの面方向に沿って直線状に連続する幅を持たせることで凹状発光面1aを形成し、この凹状発光面1aをウエハ周端縁W1の厚さ方向へ対向するように接近させて配置すると共に、該発光部1の幅方向の延長線上にカメラ2を配置することにより、この面状発光部1のあらゆる方向から照射した検査光Lがウエハ周端縁W1の異なる部位に当たって、各部位毎に夫々異なる方向へ正反射し、これら正反射光Rのうち発光部1の幅方向へ正反射した光の一部は正反射位置とカメラ2の相対角度がウエハ周端縁W1の厚さ方向及び円周方向へ変化しても画像となる。
【選択図】 図1
Description
詳しくは、発光部から検査光をウエハの周端縁へ向け照射して正反射させ、この正反射光をカメラで撮像して映像化することによりウエハ周端縁の表面欠陥を検出するウエハ外周部検査装置に関する。
請求項2記載の発明は、請求項1に記載の発明の目的に加えて、表面欠陥の検出率を向上させることを目的としたものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明の構成に、前記発光部の幅方向一端に係合凹部を形成して、この係合凹部にウエハ周端縁を入れ込んで、これら発光部の幅方向軸線とウエハの中心を通る径線とを交差させた構成を加えたことを特徴とする。
従って、一台のカメラでウエハ周縁部の全面を観察可能にすることできる。
その結果、発光部がウエハの円周方向へ幅がない従来のものに比べ、カメラの台数を大幅に減らすことができて、構造の簡素化とコンパクト化が図れると共にそれにより製造コストの低減が図れる。
更に構成品が少なくなるので、メンテナンス性に優れると共に複数装置での性能合わせも容易である。
従って、表面欠陥の検出率を向上させることができる。
その他の例としては、上記外側面部W4の断面形状を更なる面取りが無いものとしたり、この更なる面取りに代えて円弧状に形成したり、該ウエハ周端縁W1全体が円弧状に形成されるものもある。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
先ず、図1(a)(b)及び図2に示す如く、発光部1の凹状発光面1aの幅方向一端部1dがウエハ周端縁W1の表面側面取り部W2、裏面側面取り部W3及び外側面部W4と夫々対向している時には、該発光部1の凹状発光面1aから照射した平行な検査光Lが、表面側面取り部W2、裏面側面取り部W3及び外側面部W4に対し同時に当たって、各部位毎に夫々異なる方向へ正反射する。
これと逆に、表面側面取り部W2及び裏面側面取り部W3に例えばピットや突起などの表面欠陥がある場合には、この欠陥箇所が光をほとんど反射しないか又は僅かな散乱光のみを反射するために黒く見える。
それにより、表面欠陥の検出率を向上できるという利点がある。
更に、周端縁W1の円周方向一部にオリフラWOが形成されたウエハWを使用したが、これに限定されず、オリフラWOに代えて円周方向一部に略U字状のノッチが切り欠かれたウエハWを使用しても良い。
このような場合でも上述した実施例1と同様な作用効果が得られることに変わりない。
R 正反射光 W ウエハ
W1 ウエハ周端縁 WD 径線
WO オリフラ 1 発光部
W2 表側面(表側面取り部) W3 裏側面(裏側面取り部)
W4 外側面 1 発光部
1a 凹状発光面 1b 係合凹部
1c 幅方向軸線 1d 幅方向一端部
2 カメラ 2a レンズ
Claims (2)
- 発光部(1)から検査光(L)をウエハ(W)の周端縁(W1)へ向け照射して正反射させ、この正反射光(R)をカメラ(2)で撮像して映像化することによりウエハ周端縁(W1)の表面欠陥を検出するウエハ外周部検査装置において、
前記発光部(1)が、ウエハ(W)の周端縁(W1)を包み込む断面形状で且つウエハ(W)の面方向に沿って直線状に連続する幅を持たせることで凹状発光面(1a)を形成し、この凹状発光面(1a)をウエハ周端縁(W1)の厚さ方向へ対向するように接近させて配置すると共に、該発光部(1)の幅方向の延長線上にカメラ(2)を配置したことを特徴とするウエハ外周部検査装置。 - 前記発光部(1)の幅方向一端に係合凹部(1b)を形成して、この係合凹部(1b)にウエハ周端縁(W1)を入れ込んで、これら発光部(1)の幅方向軸線(1c)とウエハ(W)の中心を通る径線(WD)とを交差させた請求項1記載のウエハ外周部検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005313821A JP4118295B2 (ja) | 2005-10-28 | 2005-10-28 | ウエハ外周部検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005313821A JP4118295B2 (ja) | 2005-10-28 | 2005-10-28 | ウエハ外周部検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007123561A true JP2007123561A (ja) | 2007-05-17 |
JP4118295B2 JP4118295B2 (ja) | 2008-07-16 |
Family
ID=38147074
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005313821A Active JP4118295B2 (ja) | 2005-10-28 | 2005-10-28 | ウエハ外周部検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4118295B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009115668A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Shibaura Mechatronics Corp | 板状基板のエッジ検査装置 |
JP2010016048A (ja) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Naoetsu Electronics Co Ltd | ウエハ用検査装置 |
JPWO2009133847A1 (ja) * | 2008-04-30 | 2011-09-01 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
JP2012208129A (ja) * | 2012-07-12 | 2012-10-25 | Shibaura Mechatronics Corp | 板状基板のエッジ検査装置 |
WO2019212011A1 (ja) * | 2018-05-01 | 2019-11-07 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 検査装置 |
-
2005
- 2005-10-28 JP JP2005313821A patent/JP4118295B2/ja active Active
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009115668A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Shibaura Mechatronics Corp | 板状基板のエッジ検査装置 |
JPWO2009133847A1 (ja) * | 2008-04-30 | 2011-09-01 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
JP2010016048A (ja) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Naoetsu Electronics Co Ltd | ウエハ用検査装置 |
JP2012208129A (ja) * | 2012-07-12 | 2012-10-25 | Shibaura Mechatronics Corp | 板状基板のエッジ検査装置 |
WO2019212011A1 (ja) * | 2018-05-01 | 2019-11-07 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 検査装置 |
CN112272766A (zh) * | 2018-05-01 | 2021-01-26 | 纳米系统解决方案株式会社 | 检查装置 |
JPWO2019212011A1 (ja) * | 2018-05-01 | 2021-05-13 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 検査装置 |
JP7295509B2 (ja) | 2018-05-01 | 2023-06-21 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 検査装置 |
US11774374B2 (en) | 2018-05-01 | 2023-10-03 | Nanosystem Solutions, Inc. | Inspection device |
TWI838367B (zh) * | 2018-05-01 | 2024-04-11 | 日商奈米系統解決股份有限公司 | 檢查裝置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4118295B2 (ja) | 2008-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8179524B2 (en) | Hard disk inspection apparatus | |
JP5144401B2 (ja) | ウエハ用検査装置 | |
TWI442016B (zh) | A light source for illumination and a pattern inspection device using it | |
JP5660810B2 (ja) | 部品実装機の吸着ノズル検査装置 | |
JP2010087340A (ja) | 基板検出装置および方法 | |
KR20080093850A (ko) | 패턴 검사 장치 및 패턴 검사 방법 | |
JP2011145182A (ja) | ネジ山の検査装置 | |
JP2010181249A (ja) | 形状測定装置 | |
JP4118295B2 (ja) | ウエハ外周部検査装置 | |
JP4755040B2 (ja) | 傷検査装置、傷検査方法 | |
JP2007322166A (ja) | プリント基板検査装置 | |
KR101001113B1 (ko) | 웨이퍼 결함의 검사장치 및 검사방법 | |
JP2003282675A (ja) | ウエハマッピング装置 | |
JP4761245B2 (ja) | 壜胴部の欠陥検査装置 | |
JP2000031245A (ja) | ウェーハノッチ位置検出装置 | |
WO2005040775A1 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2017003412A (ja) | レンズ検査装置及びレンズ検査方法 | |
JP2006017685A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JP2004006504A (ja) | バンプ検査方法及び装置 | |
JP2011106912A (ja) | 撮像照明手段およびパターン検査装置 | |
JP2009115611A (ja) | 電子素子の検査装置 | |
JP5100371B2 (ja) | ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置 | |
JP2009216623A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2008139126A (ja) | 欠陥検出装置および欠陥検出方法 | |
JP2007121120A (ja) | ウエハ外観検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070918 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071115 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20071115 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080325 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080422 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4118295 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120502 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130502 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140502 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |