JP2007122560A - 乱数生成回路 - Google Patents

乱数生成回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2007122560A
JP2007122560A JP2005316159A JP2005316159A JP2007122560A JP 2007122560 A JP2007122560 A JP 2007122560A JP 2005316159 A JP2005316159 A JP 2005316159A JP 2005316159 A JP2005316159 A JP 2005316159A JP 2007122560 A JP2007122560 A JP 2007122560A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
random number
voltage
circuit
number generation
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005316159A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4478643B2 (ja
Inventor
Yoshihiro Masana
芳弘 正名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP2005316159A priority Critical patent/JP4478643B2/ja
Publication of JP2007122560A publication Critical patent/JP2007122560A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4478643B2 publication Critical patent/JP4478643B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】よりランダム性(不規則性)の高い乱数データを生成する。
【解決手段】VCO30から出力されるクロックCLKで動作するシフトレジスタ40とXORゲート42でM系列により乱数生成する回路において、電源電圧VDD、動作温度だけでなく、負荷回路20の消費電流でも出力電圧Voutが変化するレギュレータ10の制御電圧S11をVCO30の入力としている。そのため、乱数生成のためのクロックCLKの周波数が、電源電圧VDD、動作温度、消費電流の全てで変化し、よりランダム性の高い乱数データD40を生成することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、各種電子商取引や暗号通信等に使用される乱数生成回路、特に、一定電圧を出力するボルテージ・レギュレータ等の安定化電源の内部の制御信号を利用して乱数データを生成する乱数生成回路に関するものである。
従来、乱数生成回路に関する技術としては、例えば、次のような文献に記載されるものがあった。
特開平10−340183号公報 特開2003−122560号公報
一般に、従来の乱数生成回路は、一定の周波数のクロック信号(以下単に「クロック」という。)CLKで動作するフリーランカウンタ(Free run Counter、自走カウンタ)で構成され、このカウンタの値をマイクロコンピュータ(マイコン)等の上位ブロックから一定間隔を空けて読出して乱数として使用するものであった。しかし連続して読出したり、ソフト処理で同じクロックCLK数による同じ間隔で読出すと、ある決まった増分値を持った数列となり、乱数として機能しない問題点があった。この欠点を改善するため、特許文献1に次のような技術が記載されている。
図6は、従来の特許文献1に記載された乱数生成回路の構成図である。
この乱数生成回路では、乱数データRNDを出力するフリーランカウンタ1を動作させるためのクロックCLKを電圧制御発振器(Voltage Controlled Oscillator、以下「VCO」という。)2から供給し、このVCO2の入力端子Vinに電圧コントロール部(Vcnt)3からの信号を入力している。電圧コントロール部3には、電源電圧そのものや、温度係数の異なる抵抗で抵抗分圧した電圧を使用して、使用電圧又は使用温度により、VCO2の出力周波数を変化させて前記の問題点を改善している。
又、特許文献2には、半導体集積回路内に搭載される乱数生成回路の外部に設けられた中央処理装置(CPU)や半導体メモリ等の機能ブロックに送信されるデータを利用して、線形フィードバックシフトレジスタ(以下「LFSR」という。)等で構成される乱数生成部から、不規則性(ランダム性)の高い乱数を発生させる技術が記載されている。
しかしながら、従来の特許文献1の乱数生成回路では、電源電圧や温度でのみ、使用するVCO2の周波数が変化するため、電源電圧、温度を一定にして使用することは比較的簡単にできることから、前記問題点を改善するには十分ではなく、依然としてソフト処理で同じクロックCLK数による同じ間隔で読出すと、ある決まった増分値を持った数列となり、乱数として機能しないという課題があった。
この課題を解決するために、仮に、特許文献2の技術を利用しようとした場合、この特許文献2の技術では、電源電圧や温度の変動に対して考慮されていないことや、特許文献1の技術とは基本構成が異なることから、この特許文献2の技術を用いて前記課題を解決することは困難である。
本発明では、負荷回路へ一定の出力電圧を供給する安定化電源内の制御信号を利用して乱数データを生成するようにしている。即ち、本発明の乱数生成回路では、安定化電源と、VCOと、乱数生成部とを有している。前記安定化電源は、基準電圧に対する出力電圧の変動分を増幅して制御信号を生成し、前記制御信号により制御回路を駆動して前記出力電圧の変動を抑圧する回路である。前記VCOは、前記制御信号を入力し、前記制御信号の電圧レベルに応じた周波数で発振してクロック信号を出力する回路である。更に、前記乱数生成部は、前記クロック信号により乱数を生成して乱数データを出力するものである。
請求項1、5に係る発明によれば、電源電圧、動作温度だけでなく、負荷回路の消費電流でも出力電圧が変化する安定化電源の制御電圧をVCOの入力としている。特に、安定化電源の出力電圧で動作する負荷回路の内部回路ブロック等は、一般に複数あり、同時に並列して動作するため、その消費電流は非常に複雑になることから、よりランダム性の高い乱数データを生成できる。その上、負荷回路に電源電圧を供給するための安定化電源の内部の制御電圧を利用しているため、回路規模を増大させることなく、実現できる。
請求項2に係る発明によれば、負荷回路で使用する第1のクロックと、全く同期していないVCOから出力される第2のクロックとを、論理演算回路にて論理演算し、この演算結果により乱数生成部で乱数データを生成しているので、演算結果である非常に複雑なクロックが生成できることと、VCOの入力制御電圧により非常に遅い周波数になったり、発振が停止しても、乱数生成が可能となり、VCOの特性を制御電圧の変化により極端に出力周波数が変わるように設定できるため、よりランダム性の高い乱数を生成できる。
請求項3に係る発明によれば、論理演算回路として排他的論理和ゲート(以下「XORゲート」という。)又は否定排他的論理和ゲート(以下「XNORゲート」という。)を使用しているので、他の論理演算回路に比較してランダム性の高い結果が得られる。
請求項4に係る発明によれば、リセット信号で乱数データを一時保持する保持手段と、この保持手段の出力により安定化電源の出力端子への負荷(消費電流)を変化させるリセット電流制御部とを設けたので、リセット状態での消費電流が毎回異なり、この結果、乱数生成のためのクロック周波数が毎回変化し、電源電圧の立上げ時や、リセット時の乱数をより予想し難くする効果が期待できる。
請求項6に係る発明によれば、M系列のLFSRを用いて乱数生成部を構成したので、各乱数値の発生確率が均等で周期がある程度長いことが保証され、ランダム性のより高い効果が期待できる。
最良の実施形態の乱数生成回路では、負荷回路へ一定の出力電圧を供給するボルテージ・レギュレータ内の制御電圧を利用して乱数データを生成するようにしている。即ち、この乱数生成回路では、ボルテージ・レギュレータと、VCOと、M系列のLFSRにより構成される乱数生成部とを有している。ボルテージ・レギュレータは、基準電圧に対する出力電圧の変動分を増幅して制御電圧を生成し、この制御電圧により出力トランジスタを駆動して出力電圧の変動を抑圧している。VCOは、制御電圧を入力し、この制御電圧のレベルに応じた周波数で発振してクロックを乱数生成部へ出力する。乱数生成部は、入力されるクロックにより乱数を生成して乱数データを出力する。
(実施例1の構成)
図1は、本発明の実施例1を示す乱数生成回路の構成図である。
この乱数生成回路は、大規模半導体集積回路(以下「LSI」という。)内等に設けられ、安定化電源(例えば、ボルテージ・レギュレータ、これを以下単に「レギュレータ」という。)10を有している。レギュレータ10は、LSI内等に設けられる各部の回路ブロックといった負荷回路20へ電源用の一定の出力電圧Voutを供給する定電圧回路であり、この内部の制御信号(例えば、制御電圧)S11を出力するノードN11に、VCO30を介して乱数生成部(例えば、シフトレジスタ40及び2入力XORゲート42)が接続されている。
レギュレータ10は、バンドギャップ電圧等からなる基準電圧Vrefに対する帰還電圧S14の誤差分を増幅して制御電圧S11を出力する誤差増幅器(以下「アンプ」という。)11を有し、このアンプ11の出力端子側のノードN11に、制御電圧S11により駆動される制御回路が接続されている。この制御回路は、例えば、制御用の出力トランジスタであるPチャネル型MOSトランジスタ(以下「PMOS」という。)により構成され、このPMOS12のソースが、外部から供給される電源電圧VDDのノードに接続され、ドレインが、出力電圧Voutを出力する出力端子13に接続され、ゲートが、ノードN11に接続されている。出力端子13とグランドGNDとの間には、出力電圧Voutを抵抗分圧して出力電圧レベルを検出する抵抗素子14が接続され、この抵抗素子14から出力される帰還電圧S14がアンプ11に帰還入力される。
このレギュレータ10では、基準電圧Vrefに対する出力電圧Voutの変動分をアンプ11で増幅して制御電圧S11を生成し、この制御電圧S11によりPMOS12を駆動して出力電圧Voutの変動を抑圧するようになっている。制御電圧S11を出力するノードN11には、VCO30の入力端子INが接続されている。VCO30は、入力端子INから入力される制御電圧S11のレベルに応じた周波数で発振してクロックCLKを出力端子OUTから出力する回路であり、この出力端子OUTに、乱数生成部を構成する複数(n)ビットのシフトレジスタ40が接続されている。
nビットのシフトレジスタ40は、クロックCLKが入力されるクロック入力端子CK、出力端子OUT、及び入力端子INを有し、この入力端子INと出力端子OUTとの間に、各1ビットのn個のレジスタ41−1〜41−nが縦続接続されて構成されている。シフトレジスタ40の出力端子OUTと、中間段のレジスタ41−Mの出力端子とは、2入力XORゲート42の入力端子に接続され、このXORゲート42の出力端子がシフトレジスタ40の入力端子INに接続され、LFSR構成で且つM系列を生成する構造になっている。
このシフトレジスタ40では、クロックCLKに同期して予め設定されている初期値データが例えば右に1ビットずつシフトされ、最終段のレジスタ41−nの出力データと中間段のレジスタ41−mの出力データとから、XORゲート42により排他的論理和が求められ、この論理和結果が初段のレジスタ41−1に帰還入力される。複数ビットの乱数データD40が必要な場合は、シフトレジスタ40の任意のレジスタ40−iから必要なビット分の値を出力して使用する。これにより、ランダム性の高い乱数データD40を発生することができる。
(実施例1の動作)
図2は、図1中のVCO30の動作例を示すグラフであり、横軸に入力制御電圧S11[V]、縦軸に出力周波数[MHz]がとられている。
VCO30は、レギュレータ10からの制御電圧S11により、異なる周波数のクロックCLKを出力する。図2のVCO30では、入力される制御電圧S11が1.0Vから3.0Vに変化すると、出力周波数が10MHzから100MHzに変化する例が示されている。制御電圧S11の変化に対して出力周波数の変化が大きい程、本実施例1の効果が大きくなる。VCO30から出力されるクロックCLKは、シフトレジスタ40に入力され、XORゲート42を通じてシフト動作が実施され、M系列の擬似乱数データD40が生成される。
又、レギュレータ10は、負荷回路20である例えば内部回路ブロック各部への供給電源の出力電圧Voutが一定になるように、出力電圧Voutを抵抗素子14で抵抗分圧した帰還電圧S14と、基準電圧Vrefとをアンプ11で比較して、このアンプ11から出力される制御電圧S11を制御する。制御電圧S11は、PMOS12のゲートに与えられ、レギュレータ10の出力電圧Voutが制御される。抵抗素子14で抵抗分圧した帰還電圧S14が基準電圧Vrefより小さいと、その差に応じて制御電圧S11は低くなり、これによりPMOS12のソース・ドレイン間電流が多くなる。帰還電圧S14が基準電圧Vrefより大きいと、制御電圧S11は高くなり、PMOS12のソース・ドレイン間電流が少なくなる。
つまり、レギュレータ10の出力電圧Voutで動作する負荷回路20の消費電流が多くなると、出力電圧Voutが低下し、それに合わせて制御電圧S11が低下し、消費電流が少なく出力電圧Voutが高くなると、それに合わせて制御電圧S11が高くなる。これにより、レギュレータ10の出力電圧Voutは、一定の電圧になる。PMOS12のソース・ドレイン間電流は、外部供給の電源電圧VDDや動作温度によっても変化するため、電源電圧VDDや動作温度によっても制御電圧S11は変化する。
一方、レギュレータ10から出力される制御電圧S11は、VCO30の入力電圧となっており、制御電圧S11が負荷回路20の消費電流、電源電圧VDD、動作温度の変化により変化するため、乱数生成のためのクロックCLKの周波数が大きく変化することになる。
(実施例1の効果)
本実施例1によれば、次の(1)〜(3)のような効果がある。
(1) 本実施例1では、VCO30から出力されるクロックCLKで動作するシフトレジスタ40とXORゲート42でM系列により乱数生成する回路において、電源電圧VDD、動作温度だけでなく、負荷回路20の消費電流でも出力電圧Voutが変化するレギュレータ10の制御電圧S11をVCO30の入力としたので、乱数生成のためのクロックCLKの周波数が、電源電圧VDD、動作温度、消費電流の全てで変化し、ソフト処理で同じクロックCLKの数による同じ間隔で読出すと、ある決まった増分値を持った数列となり、乱数として機能しないという課題を解決できる。特に、レギュレータ10の出力電圧Voutで動作する負荷回路20の内部回路ブロックは、一般に複数あり、同時に並列して動作するため、その消費電流は非常に複雑になることから、よりランダム性の高い乱数データD40を生成することができるという効果も期待できる。
(2) 本実施例1にはレギュレータ10が必須であり、一見、回路(ハード)追加により回路規模が大きくなるように見えるが、最近のサブミクロンルールの半導体技術では、トランジスタの耐圧や低消費電力化の関係から、レギュレータ10を使用し、負荷回路20である内部回路ブロックを低い電圧で動作させることが一般的になっており、そのレギュレータ10の制御電圧S11を利用できるため、殆どハード追加の必要がないという利点もある。
(3) 本実施例1では、M系列のLFSRを用いて乱数生成部を構成したので、各乱数値の発生確率が均等で周期がある程度長いことが保証され、ランダム性のより高い効果が期待できる。しかし、本発明はこれに限定されず、用途等に応じて、単なるLFSRやフリーランカウンタ等を使用しても良い。
(実施例2の構成)
図3は、本発明の実施例2を示す乱数生成回路の構成図であり、実施例1を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
図1の実施例1では、VCO30の入力にレギュレータ10の制御電圧S11を使用し、VCO30から出力されるクロックCLKを使用して乱数データD40を生成する構成であり、制御電圧S11の変化に対してクロックCLKの変化が大きい程、実施例1の効果が大きくなる。一方、あまり制御電圧S11の変化が大きいと、クロックCLKが数KHzと非常に低周波数になったり、あるいは、全く発振しない状態になったりする可能性がある。この場合、乱数データD40を読出す間隔が短いと、乱数とならない。全体的に見ると、同じ数を出すタイミングが多少生じることも乱数発生の1つと考えることもできるが、本実施例2ではこの点について、更に乱数を発生できるように以下のような工夫をしている。
本実施例2では、図3に示すように、VCO30とシフトレジスタ40との間に、新たに論理演算回路(例えば、2入力XORゲート)43を設け、VCO30から出力される第2のクロックCLKと、負荷回路20を動作させている第1のクロックであるシステムクロックCLKs(例えば、外部入力、又は発振回路や位相同期回路(PLL)で内部生成したシステムクロック)とを、2入力XORゲート43に入力して排他的論理和を求め、この論理和結果であるクロックCLK1をシフトレジスタ40に入力する構成にしている。その他の構成は、実施例1と同様である。
(実施例2の動作)
本実施例2におけるレギュレータ10及びVCO30の動作は、実施例1と同様であるため、説明を省略する。
本実施例2では、XORゲート43が設けられており、電源電圧VDD、動作温度、及び負荷回路20である内部回路ブロックの消費電流により大きく周波数が変化するVCO30の出力クロックCLKと、負荷回路20で使用するシステムクロックCLKsとがXORゲート43に入力され、この出力クロックCLK1は、2つのクロックCLK,CLKsの差がとられた(マージされた)非常に複雑な周波数成分を持つ信号になる。このクロックCLK1を入力するシフトレジスタ40とXORゲート42とにより、よりランダム性の高い乱数データD40が生成できる。更に、VCO30の出力クロックCLKが非常に遅い周波数になったり、全く発振しない状態になってしまっても、XORゲート43のもう一方の入力であるシステムクロックCLKsにより、乱数生成が止まったり、変化が少なくなることがないので、安定して乱数データD40を生成することができる。
(実施例2の効果)
本実施例2によれば、次の(A)〜(C)のような効果がある。
(A) 本実施例2では、新たにXORゲート43を設けて、VCO30の出力クロックCLKと負荷回路20で使用しているシステムクロックCLKsとをXORゲート43に入力し、この出力クロックCLK1をシフトレジスタ40に入力して乱数データD40を生成するようにしたので、実施例1の効果(1)〜(3)と同様の効果が期待できる。
(B) 全く同期していないVCO30の出力クロックCLKとシステムクロックCLKsとの2つのクロックCLK,CLKsからクロックCLK1を生成しているので、非常に複雑なクロックCLK1が生成できることと、VCO30の入力制御電圧S11により非常に遅い周波数になったり、発振が停止しても、乱数生成が可能となり、VCO30の特性を制御電圧S11の変化により極端に出力周波数が変わるように設定できるため、よりランダム性の高い乱数を生成できる効果が期待できる。
(C) 論理演算回路として排他的論理和を求めるXORゲート43を使用しているが、これは排他的論理和が他の論理演算に比較してランダム性の高い結果が得られるからである。本発明は、これに限定されず、用途等に応じて2入力XNORゲート等の他の論理ゲートを使用しても良い。
(実施例3の構成)
図4は、本発明の実施例3を示す乱数生成回路の構成図であり、実施例2を示す図3中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
実施例1、2では、電源電圧VDDの立上げ時にシフトレジスタ40の値は任意の値となり、又、リセット時は前の値を継承して初期値として動作するが、電源電圧VDDの立上げ時、及びリセット処理時のリセット処理期間は、殆ど負荷回路20が動作していないため、消費電流が一定であり、VCO30の出力クロックCLKがある一定の周波数になる。この時においても乱数データD40の値が予想し難いように、本実施例3では以下のような工夫をしている。
本実施例3の乱数生成回路では、図4に示すように、実施例3のシフトレジスタ40から出力される乱数データD40を、システムリセット信号RSTにてトリガされてその乱数データD40を一時保持する保持手段(例えば、レジスタ)44を新たに設け、更に、その保持された乱数データD40とリセット信号RSTとにより消費電流を制御するリセット電流制御部50を新たに設け、このリセット電流制御部50をレギュレータ10の出力端子13に接続している。リセット電流制御部50は、可変の負荷抵抗を有し、リセット信号RSTにより活性化され、レジスタ44に保持された乱数データD40に対応して負荷抵抗の大きさを変化させる機能を有している。
図5は、図4中のリセット電流制御部50の一例を示す構成図である。
このリセット電流制御部50は、異なる抵抗値を持つ抵抗素子群51と、これらの他方の電極に繋がる例えばNチャネル型MOSトランジスタ(以下「NMOS」という。)からなるスイッチ群52と、このスイッチ群52からの信号を1つにまとめた信号とグランドGNDとの間をスイッチングする例えばNMOS53とにより構成されている。
シフトレジスタ40から出力される複数ビットの乱数データD40は、スイッチ群52の各NMOSのゲートに入力され、リセット信号RSTがNMOS53のゲートに入力される。抵抗素子群51の一方の電極は、ひとまとめにされ、レギュレータ10の出力端子13に接続されている。
(実施例3の動作)
本実施例3では、リセット信号RSTが高レベル(以下「“H”」という。)にされてリセット状態になると、レジスタ44はリセット信号RSTの立上りトリガにより、シフトレジスタ40から出力された乱数データD40を一時保持し、この保持した乱数データD40をリセット電流制御部50へ出力する。リセット電流制御部50は、複数ビットの乱数データD40の値により、スイッチ群52中のオン/オフするNMOSが決まり、又、リセット信号RSTが“H”のときにNMOS53がオンする。スイッチ群52の一方の電極は、抵抗素子群51を通じてレギュレータ10の出力端子13に繋がっているので、乱数データD40の値により、スイッチ群52を構成するNMOSのオン/オフするパターンが異なり、NMOS53を通じてグランドGNDと接続される抵抗値が異なるため、出力端子13にかかる負荷(消費電流)が異なることになる。これにより、レギュレータ10の制御電圧S11が変化し、VCO30の出力周波数が変化するので、リセット状態での乱数発生用のクロックCLK周波数が毎回異なることになり、乱数データD40を予想することが非常に難しくなる。
一方、リセット信号RSTが低レベル(以下「“L”」という。)で、リセット状態でないときには、NMOS53がオフするため、リセット電流制御部50が動作しない。
(実施例3の効果)
本実施例3では、実施例1の効果(1)〜(3)、及び実施例2の効果(A)〜(C)と同様の効果が期待できる。更に、システムリセット信号RSTで乱数データD40を一時保持するレジスタ44と、このレジスタ44の出力によりレギュレータ10の出力端子13への負荷(消費電流)を変化させるリセット電流制御部50とを設けたので、リセット状態での消費電流が毎回異なり、この結果、乱数生成のためのクロックCLK周波数が毎回変化し、電源電圧VDDの立上げ時や、リセット時の乱数をより予想し難くする効果が期待できる。
本発明は、上記実施例1〜3に限定されず、種々の変形や利用形態が可能である。この変形や利用形態である実施例4としては、例えば、次の(a)〜(c)のようなものがある。
(a) 安定化電源を構成するレギュレータ10や、リセット電流制御部50の構成は、実施例に限定されるものではない。例えば、レギュレータ10中の制御回路を構成するPMOS12を、バイポーラトランジスタ等の他のトランジスタで構成したり、あるいは、その制御回路を他の回路構成に変更しても良い。又、リセット電流制御部50中のスイッチ群52は、乱数データD40のビット幅分の個数が必ず必要というのではなく、乱数データD40のビット幅の内の数ビット分でも良い。
(b) 実施例の構成の各回路ブロックは、全てを含む1チップLSI等で構成しても良いし、或いは、複数個のLSI等で構成しても良い。但し、1チップで構成した方が外部から各種制御信号をモニタしたり、信号を強制的に変更したりできないので、セキュリティの面で有利である。
(c) 実施例3では、実施例2を元にレジスタ44とリセット電流制御部50を追加して説明したが、実施例1にそれらを追加しても良く、同等の効果が期待できる。
本発明の実施例1を示す乱数生成回路の構成図である。 図1中のVCOの動作例を示すグラフである。 本発明の実施例2を示す乱数生成回路の構成図である。 本発明の実施例3を示す乱数生成回路の構成図である。 図4中のリセット電流制御部の一例を示す構成図である。 従来の乱数生成回路を示す構成図である。
符号の説明
10 レギュレータ
11 アンプ
12 PMOS
14 抵抗素子
30 VCO
40 シフトレジスタ
42,43 XOR
44 レジスタ
50 リセット電流制御部

Claims (6)

  1. 負荷回路へ一定の出力電圧を供給する安定化電源であって、基準電圧に対する前記出力電圧の変動分を増幅して制御信号を生成し、前記制御信号により制御回路を駆動して前記出力電圧の変動を抑圧する前記安定化電源と、
    前記制御信号を入力し、前記制御信号の電圧レベルに応じた周波数で発振してクロック信号を出力する電圧制御発振器と、
    前記クロック信号により乱数を生成して乱数データを出力する乱数生成部と、
    を有することを特徴とする乱数生成回路。
  2. 同期動作用の第1のクロック信号を使用する負荷回路へ、一定の出力電圧を供給する安定化電源であって、基準電圧に対する前記出力電圧の変動分を増幅して制御信号を生成し、前記制御信号により制御回路を駆動して前記出力電圧の変動を抑圧する前記安定化電源と、
    前記制御信号を入力し、前記制御信号の電圧レベルに応じた周波数で発振して第2のクロック信号を出力する電圧制御発振器と、
    前記第2のクロック信号と前記第1のクロック信号との論理演算を行って演算結果を出力する論理演算回路と、
    前記演算結果により乱数を生成して乱数データを出力する乱数生成部と、
    を備えたことを特徴とする乱数生成回路。
  3. 前記論理演算回路は、排他的論理和ゲート又は否定排他的論理和ゲートであることを特徴とする請求項2記載の乱数生成回路。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の乱数生成回路において、
    前記負荷回路をリセットするためのリセット信号をトリガとして、前記乱数生成部から出力される前記乱数データを一時保持する保持手段と、
    前記安定化電源の出力端子に接続された可変の負荷抵抗を有し、前記リセット信号により活性化され、前記保持手段に保持された前記乱数データに対応して前記負荷抵抗の大きさを変化させるリセット電流制御部と、
    を設けたことを特徴とする乱数生成回路。
  5. 前記安定化電源は、ボルテージ・レギュレータであり、前記制御回路は、出力トランジスタであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の乱数生成回路。
  6. 前記乱数生成部は、M系列の線形フィードバックシフトレジスタであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の乱数生成回路。
JP2005316159A 2005-10-31 2005-10-31 乱数生成回路 Expired - Fee Related JP4478643B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005316159A JP4478643B2 (ja) 2005-10-31 2005-10-31 乱数生成回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005316159A JP4478643B2 (ja) 2005-10-31 2005-10-31 乱数生成回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007122560A true JP2007122560A (ja) 2007-05-17
JP4478643B2 JP4478643B2 (ja) 2010-06-09

Family

ID=38146316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005316159A Expired - Fee Related JP4478643B2 (ja) 2005-10-31 2005-10-31 乱数生成回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4478643B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009163737A (ja) * 2007-12-31 2009-07-23 Intel Corp 乱数生成装置
JP2009193523A (ja) * 2008-02-18 2009-08-27 Seiko Epson Corp 乱数発生回路、電子機器、およびi/oセルのテスト方法
WO2012137396A1 (ja) * 2011-04-07 2012-10-11 パナソニック株式会社 乱数生成装置
CN103823499A (zh) * 2014-03-03 2014-05-28 西安华芯半导体有限公司 一种随温度自动调节线性稳压器输出电压的装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009163737A (ja) * 2007-12-31 2009-07-23 Intel Corp 乱数生成装置
JP2009193523A (ja) * 2008-02-18 2009-08-27 Seiko Epson Corp 乱数発生回路、電子機器、およびi/oセルのテスト方法
WO2012137396A1 (ja) * 2011-04-07 2012-10-11 パナソニック株式会社 乱数生成装置
US9252756B2 (en) 2011-04-07 2016-02-02 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Random number generating device
CN103823499A (zh) * 2014-03-03 2014-05-28 西安华芯半导体有限公司 一种随温度自动调节线性稳压器输出电压的装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4478643B2 (ja) 2010-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4559985B2 (ja) 乱数発生回路
US7376687B2 (en) Pseudo-random number generator
US8150900B2 (en) Random number generation based on logic circuits with feedback
JP2007024865A (ja) 半導体装置
US9747075B2 (en) Random number generator
TW202034158A (zh) 隨機數產生器
US20130346459A1 (en) Method for generating random numbers
JP4478643B2 (ja) 乱数生成回路
US7526087B2 (en) Random number generator
US7613756B1 (en) Random number generation apparatus and method
JP4417389B2 (ja) デジタルロジックを利用した乱数発生装置及び方法
US20090327380A1 (en) Circuit and method of generating a random number using a phass-locked-loop circuit
JP5119417B2 (ja) 擬似乱数生成装置
CN112230130A (zh) 监测传感器及芯片
JP2007207054A (ja) データ処理装置
JP2019154023A (ja) 同期可能なリング発振器
US7953998B2 (en) Clock generation circuit and semiconductor memory apparatus having the same
JP2006509286A (ja) 真正乱数の発生システムおよび発生方法
JP3492494B2 (ja) 乱数発生回路
JP6886700B2 (ja) 乱数生成回路
JP2009130715A (ja) クロック生成回路
US6891417B2 (en) Circuits and methods for alignment of signals in integrated circuits
JP3819005B2 (ja) 半導体集積回路
US8559246B2 (en) Digital retention voltage generation
JP5507332B2 (ja) 半導体集積回路及びそれを備えた電圧制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080728

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20081203

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090413

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100216

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100315

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319

Year of fee payment: 4

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees