JP2007121520A - 処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 飛散した処理液が固化して被処理物に再付着することを防止した処理装置を提供する。
【解決手段】 配管室12の一端には、調圧装置37が接続される。調圧装置37は、配管室12に空気を送り込んで配管室12内を過給気状態にすることで、隔壁15を介して隣接する処理室11よりも配管室12の内圧が高くなるように保つ。隔壁15には開口31,31‥が形成されているが、隔壁15全体の表面積に対しては開口31,31‥全体のの面積は充分に小さいので、処理室11より配管室12の内圧を高く保つことができる。
【選択図】 図1
【解決手段】 配管室12の一端には、調圧装置37が接続される。調圧装置37は、配管室12に空気を送り込んで配管室12内を過給気状態にすることで、隔壁15を介して隣接する処理室11よりも配管室12の内圧が高くなるように保つ。隔壁15には開口31,31‥が形成されているが、隔壁15全体の表面積に対しては開口31,31‥全体のの面積は充分に小さいので、処理室11より配管室12の内圧を高く保つことができる。
【選択図】 図1
Description
本発明は、液体を被処理物に噴射して液体処理を行う処理装置に関する。
例えば、液晶表示パネルの製造において、基板上にITOなどの透明導電材による配線層を形成する工程では、まず基板全体にITOを成膜し、次にITOを覆うようにフォトレジスト層を形成する。そして、このフォトレジスト層をパターンマスクを用いて露光させ、露光部分を現像液によって除去して回路パターンを象ったパターンレジストを形成する。さらに、このパターンレジストをエッチングマスクとしてITOをエッチングすることによって、所定のパターンに形成されたITO配線層を得ることができる。
このように基板上に配線層を形成する工程において、フォトレジスト層の現像処理は、所定のパターンに露光させたフォトレジスト層に、例えば弱アルカリ液などの現像液を噴霧し、露光部分を溶解するものである。こうしたフォトレジスト層の現像処理に用いられる処理装置は、区画された処理室内に搬入された基板上のフォトレジスト層に向けて、ノズル等から現像液を噴霧する構造である(特許文献1)。
特開2001−188211号公報
しかしながら、上述したようなフォトレジストの現像に用いられる従来の処理装置は、噴霧した現像液が基板を収容した処理室の壁面に当たって飛散し、現像液の配管などに付着して乾燥し、固化するという課題があった。固化した現像液が付着していた配管などから落下してフォトレジスト層に再付着すると、固化したために濃縮されて強アルカリとなった付着物によって、フォトレジスト層の未露光部分まで溶解されてしまい、結果的に所定パターンのITO層が得られなくなるという課題があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、飛散した処理液が固化して被処理物に再付着することを防止した処理装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明によれば、被処理物に向けて液体を噴射する噴射ノズルを備えた供給管と、前記供給管を収容する配管室と、被処理物を収容する処理室と、前記噴射ノズルの少なくとも先端を前記処理室に導入する開口が形成され、前記配管室と前記処理室とを区画する隔壁と、前記配管室を前記処理室よりも高圧に保つ調圧装置とを備えたことを特徴とする処理装置が提供される。
前記供給管の長さ方向を回転軸にして、前記供給管を回動させる回動装置をさらに備えていてもよい。前記処理室に被処理物を搬送する搬送装置をさらに備えていてもよい。前記調圧装置は前記配管室に給気するコンプレッサであればよい。
前記処理室との間で被処理物を受渡し可能であり、前記処理室に隣接して形成され、被処理物を洗浄する洗浄室を更に備えていてもよい。前記洗浄室は、前記処理室によりも高圧に保たれればよい。前記噴射ノズルから噴射される前記液体は、被処理物を現像する現像液であればよい。
本発明の処理装置によれば、処理室と配管室との間に隔壁を形成し、かつ、調圧装置によって配管室の内圧を処理室の内圧よりも高く保つことによって、処理室で噴射された処理液が配管室に配された供給管などに付着するのを防止する。
従来の処理装置のように、処理室内に供給管が露出していると、飛散した処理液のミストが供給管に付着して乾燥し、高濃度に固化した処理液成分が供給管から落下して被処理物に付着し、この部分が過剰に反応するなどの課題があった。しかし、本発明のように、供給管を配管室に形成して処理室との間に隔壁を設け、かつ調圧装置によって配管室の内圧を処理室よりも高く保つことで、処理室で飛散した処理液が配管室に入り込んで供給管に付着することを確実に防止できる。
また、現像液が飛散する処理室と、供給管が配された配管室とを隔壁で区画することにより、供給管など清掃がしにくい部分に付着した処理液などを除去する手間が大幅に軽減され、処理室と配管室とを分離可能に形成すれば、処理室の清掃やメンテナンスも容易にすることができる。
以下、本発明に係る処理装置について、図面を参照して説明する。以下、本発明の処理装置の一例として、フォトレジストの現像装置を採り挙げる。図1は、本発明の処理装置の一実施形態であるフォトレジスト現像装置を示す断面図である。また、図2は、このフォトレジスト現像装置の配管室の一部破断斜視図である。フォトレジスト現像装置(処理装置)10は、フォトレジスト層が形成された基板などの被処理物5を収容する処理室11と、この処理室11の上部に隣接して形成された配管室12と、処理室11に隣接して形成された洗浄室13とを備えている。
処理室11は、内部に被処理物5を搬送するコンベア(搬送装置)21が形成されている。こうしたコンベア(搬送装置)21は、処理室11に形成された搬入口22から挿入された被処理物5を洗浄室13に向けて搬送する。コンベア21は、例えば多数のローラや、無端ベルトなどから形成されればよい。被処理物5としては、例えば、基板上のITO膜にパターン露光済みのフォトレジストを備えたものであればよい。
処理室11の上には、配管室12が形成されている。この配管室12と処理室11との間は、複数の開口31,31‥が形成された隔壁15で区画されている。配管室12には、一端が薬液タンク32に繋がる供給管33が設けられている。薬液タンク32には、被処理物5を現像する現像液、例えばフォトレジストの露光部分を溶解する現像液である1%程度のNaOH水溶液が貯留されている。
供給管33にはそれぞれ所定位置から複数の噴射ノズル34,34‥が延びている。この噴射ノズル34,34‥は、薬液が例えば霧状に噴霧される開口形状にされればよい。また、噴射ノズル34,34‥と供給管33との間は、屈曲自在な蛇腹管35,35‥によってそれぞれ連結されていればよい。そして、この噴射ノズル34,34‥の先端は、隔壁15の開口31から処理室11内の上部に入り込むように形成されている。
配管室12には、供給管33の一端を保持して、供給管33の延長方向(長さ方向)を回転軸にして供給管33を所定の角度範囲で往復回動させる回動装置36が形成されている。こうした回動装置36によって、噴射ノズル34,34‥は一定の角度範囲で左右に揺動される。噴射ノズル34,34‥が揺動することによって、供給管33を介して噴射ノズル34,34から噴射される薬液は処理室11の上部から被処理物5全体にムラ無く散布される。また、噴射ノズル34,34‥と供給管33とを繋ぐ蛇腹管35,35‥は、供給管33の揺動に追従して自在に屈曲する。また、隔壁15に形成され、噴射ノズル34,34‥の先端を処理室11内に露出させる開口31,31‥は、こうした噴射ノズル34,34‥の揺動を阻害しない程度の直径に形成されればよい。
配管室12の一端には、調圧装置(コンプレッサ)37が接続される。この調圧装置37は、配管室12に空気を送り込んで配管室12内を過給気状態にすることで、隔壁15を介して隣接する処理室11よりも配管室12の内圧が高くなるように保つ。なお、隔壁15には開口31,31‥が形成されているが、隔壁15全体の表面積に対しては開口31,31‥全体のの面積は充分に小さいので、処理室11より配管室12の内圧を高く保つことができる。また、配管室12に送り込まれた空気は、開口31,31‥から常に処理室11に向けて流れる状態とされる。
なお、こうした開口31,31‥と噴射ノズル34,34‥との間の隙間を、噴射ノズル34,34‥の揺動を許容するような柔軟な部材、例えばゴム膜やスポンジで塞ぐような構造であってもよい。また、処理室11よりも配管室12の内圧が高くなるように保つ調圧装置としては、処理室11を過給気にするコンプレッサ以外にも、処理室11に接続され、処理室11内の空気を吸い出すことで処理室11よりも配管室12の内圧が高くなるように保つ減圧ポンプなどであってもよい。
処理室11に隣接して、洗浄室13が形成されている。この洗浄室13は、処理室11との間で被処理物5を受渡す開閉可能なシャッタ41を備えている。そして、洗浄室13の内部には被処理物5を搬出口42に向けて搬送するコンベア(搬送装置)43が形成されている。また、洗浄室13の上部には、一端が洗浄タンク44に接続された洗浄配管45が形成されている。洗浄タンク44には、例えば純水が貯留されていればよい。これにより、洗浄配管45の端部から、コンベア43上を移動する被処理物5に向けて純水(洗浄液)が噴霧され、被処理物5が洗浄される。なお、この洗浄室13は、コンプレッサなどによって処理室11よりも内圧が高くなるようにされているのが好ましい。
以上のような構成のフォトレジスト現像装置(処理装置)の作用について以下に説明する。まず、フォトレジスト現像工程について図3に示す。基板51上に均一に形成されたITO(透明電極)層52を所定のパターンに形成する場合、ITO層52上にポジ型のフォトレジスト層53を形成し、パターンマスク54を用いてフォトレジスト層53を露光させる(図3a参照)。
次に、例えばNaOHなどのアルカリ溶液をフォトレジスト層53に噴霧するなどして、フォトレジスト層53の露光部53aを溶解し、未露光部53bだけを残す(図3b参照)。これにより、ITO層52上には、ITO層52に形成する配線パターンを象ったフォトレジスト層53の未露光部53bが形成される。この後、純水などで洗浄することで、フォトレジスト現像工程が完了する(図3c参照)。なお、上述した説明は、フォトレジスト層53をポジ型としたが、ネガ型であってもよい。
こうしたフォトレジスト現像工程の後工程で、配線パターンを象ったフォトレジスト層53の未露光部53bをマスクとしてITO層52の露出部分をエッチングすることにより、ITO層52を所定の配線パターンに仕上げることができる。
以上のようなフォトレジスト現像工程で使用されるフォトレジスト現像装置(処理装置)10は、搬入口22から被処理物5が挿入されると、コンベア(搬送装置)21によって処理室11の中央部分まで搬送される。そして、開口31,31‥から露出した噴射ノズル34,34‥から、被処理物5に向けて現像液が噴射される。この時、回動装置36によって噴射ノズル34,34‥が揺動し、被処理物5に現像液がムラ無く吹き付けられる。
こうして被処理物5に向けて現像液を噴射するにあたって、処理室11と配管室12との間に隔壁15を形成し、かつ、調圧装置37によって配管室12の内圧を処理室11の内圧よりも高く保つことによって、処理室11で噴射された現像液のミストが配管室12に配された供給管33などに付着するのを防止する。
従来の処理装置ように、処理室内に供給管が露出していると、飛散した現像液のミストが供給管に付着して乾燥し、高濃度に固化した現像液成分が供給管から落下して被処理物に付着し、この部分が過剰に溶解されるなどして所定の現像パターンが得られないなどの課題があった。しかし、本発明のように、供給管12を配管室12に形成して処理室11との間に隔壁15を設け、かつ調圧装置37によって配管室12の内圧を処理室11よりも高く保つことで、処理室11で飛散した現像液が配管室12に入り込んで供給管12に付着することを確実に防止できる。
これにより、配管室12に付着して固化した現像液成分が落下して被処理物5に付着し、予め設定した箇所以外の部分が溶解されるなどの不具合の発生も無くなり、所定のパターンのフォトレジスト層を形成することが可能になる。
また、現像液が飛散する処理室11と、供給管12が配された配管室12とを隔壁15で区画することにより、供給管12など清掃がしにくい部分に付着した現像液などを除去する手間が大幅に軽減され、処理室11と配管室12とを分離可能に形成すれば、処理室11の清掃やメンテナンスも容易にすることができる。さらに、調圧装置を処理室に接続して、処理室の内圧を大気圧よりも低くする構成をとれば、処理室内に飛散した現像液ミストなどを外気に漏洩させることがなくなり、設置環境を良好に保つことができる。
5…被処理物、10…フォトレジスト現像装置(処理装置)、11…処理室、12…配管室、13…洗浄室、15…隔壁、21…コンベア(搬送装置)、31…開口、34…供給管、34…噴射ノズル、36…回動装置、37…調圧装置。
Claims (7)
- 被処理物に向けて液体を噴射する噴射ノズルを備えた供給管と、前記供給管を収容する配管室と、被処理物を収容する処理室と、前記噴射ノズルの少なくとも先端を前記処理室に導入する開口が形成され、前記配管室と前記処理室とを区画する隔壁と、前記配管室を前記処理室よりも高圧に保つ調圧装置とを備えたことを特徴とする処理装置。
- 前記供給管の長さ方向を回転軸にして、前記供給管を回動させる回動装置をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の処理装置。
- 前記処理室に被処理物を搬送する搬送装置をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の処理装置。
- 前記調圧装置は前記配管室に給気するコンプレッサであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の処理装置。
- 前記処理室との間で被処理物を受渡し可能であり、前記処理室に隣接して形成され、被処理物を洗浄する洗浄室を更に備えたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の処理装置。
- 前記洗浄室は、前記処理室によりも高圧に保たれることを特徴とする請求項5に記載の処理装置。
- 前記噴射ノズルから噴射される前記液体は、被処理物を現像する現像液であることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005311229A JP2007121520A (ja) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | 処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005311229A JP2007121520A (ja) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | 処理装置 |
Publications (1)
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JP2007121520A true JP2007121520A (ja) | 2007-05-17 |
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ID=38145449
Family Applications (1)
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JP2005311229A Withdrawn JP2007121520A (ja) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | 処理装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011228500A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Toppan Printing Co Ltd | 現像処理方法及び現像処理装置 |
WO2014026416A1 (zh) * | 2012-08-13 | 2014-02-20 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种彩膜显影机 |
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2005
- 2005-10-26 JP JP2005311229A patent/JP2007121520A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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