JP2007119336A - 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 385
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 215
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 150
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 67
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 152
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 52
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 claims description 6
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 42
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 36
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 28
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 27
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 16
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 15
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 15
- 238000003426 chemical strengthening reaction Methods 0.000 description 14
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 13
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 11
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 10
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 7
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 7
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 7
- 239000000047 product Substances 0.000 description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 description 4
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 4
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000929 Ru alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N cobalt platinum Chemical compound [Co].[Pt].[Pt].[Pt] GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 229910000521 B alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGGYKLULVSLVBW-UHFFFAOYSA-N [Pt].[B].[Cr].[Co] Chemical compound [Pt].[B].[Cr].[Co] UGGYKLULVSLVBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DRVLHCMOXCBPHN-UHFFFAOYSA-N aluminum ruthenium Chemical compound [Al].[Ru] DRVLHCMOXCBPHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 1
- VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N chromium molybdenum Chemical compound [Cr].[Mo] VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000005329 float glass Substances 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000002440 industrial waste Substances 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007500 overflow downdraw method Methods 0.000 description 1
- 239000010702 perfluoropolyether Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001414 potassium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010333 potassium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004323 potassium nitrate Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 1
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 description 1
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
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Abstract
【解決手段】ガラス母材2の主表面に対しこのガラス母材2の厚さの50%乃至85%にあたる深さを有しガラス母材2における磁気ディスク用ガラス基板となる領域の外縁をなす閉曲線を描く切り込みを入れ、この切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域をガラス母材2より分離させる。
【選択図】図2
Description
そして、磁気ディスク用の基板としては、ガラス製の基板を好適に用いることができる。ガラス基板においては、平滑な表面が得られるので、磁気ディスク上を飛行走行しながら記録再生を行う磁気ヘッドの浮上量を狭隘化することが可能だからである。すなわち、ガラス基板を用いることにより、高い情報記録密度の磁気ディスクを得ることができる。
板状のガラス母材から磁気ディスク用ガラス基板を切り出す磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラス母材の主表面に対しこのガラス母材の厚さの50%乃至85%にあたる深さを有し該ガラス母材における磁気ディスク用ガラス基板となる領域の外縁をなす閉曲線を描く切り込みを入れ、この切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域をガラス母材より分離させることを特徴とするものである。
構成1を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラス母材の主表面に対し、切り込みの描く閉曲線の外側となる部分において力を加えることにより、切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域を前記ガラス母材より分離させることを特徴とするものである。
構成1、または、構成2を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、切り込みは、ガラス母材の主表面に対して略々垂直に形成されることを特徴とするものである。
構成1乃至構成3のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、切り込みは、カッター刃によって形成され、カッター刃は、カッター刃の稜線の両側におけるガラス母材の主表面に対する刃角が略々同一となされて使用されることを特徴とするものである。
構成1乃至構成4のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラス母材の厚さは、2.0mm以下であり、磁気ディスク用ガラス基板となる領域は、直径30mm以下の円形であることを特徴とするものである。
構成1乃至構成5のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラス母材は、アルミノシリケートガラスからなることを特徴とするものである。
構成1乃至構成6のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、1インチ型ハードディスクドライブ、または、1インチ型ハードディスクドライブよりも小径の磁気ディスクを用いるハードディスクドライブに搭載する磁気ディスク用ガラス基板を製造することを特徴とするものである。
構成1乃至構成7のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、板状のガラス母材は、溶融金属の上で板状とされたものであり、ガラス母材が溶融金属に接触した側の面に、切り込みを入れることを特徴とするものである。
構成1乃至構成7のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、板状のガラス母材は、溶融金属の上で板状とされたものであり、ガラス母材の2つの表面のうち、相対的に表面うねりが小さい面に、切り込みを入れることを特徴とするものである。
磁気ディスクの製造方法であって、構成1乃至構成9のいずれか一を有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
この実施例1においては、以下の工程を経て、磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
まず、溶融させたアルミノシリケートガラスをプレス加工によりディスク形状に成型し、アモルファスの板状ガラスを得た。なお、アルミノシリケートガラスとしては、化学強化用のガラスを使用した。
次に、ダイヤモンドカッタを用いてガラス母材を切断し、このガラス母材から、直径29mmのガラスディスクを切り出した。ガラス母材の直径は96mmであり、1枚のガラス母材から、6枚のガラスディスクを採取することができた。
次に、ガラスディスクの端面について、従来より用いられているブラシ研磨方法により、鏡面研磨を行った。このとき、研磨砥粒としては、酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いた。次に、内周側端面については、磁気研磨法により鏡面研磨を行った。
次に、得られたガラスディスクの両主表面について、第1研削工程と同様に、第2研削加工を行った。この第2研削工程を行うことにより、前工程である切り出し工程や端面研磨工程において主表面に形成された微細な凹凸形状を予め除去しておくことができ、後続の主表面に対する研磨工程を短時間で完了させることができるようになる。
(5−1)第1研磨工程
次に、主表面研磨工程として、第1研磨工程を施した。この第1研磨工程は、前述の研削工程において主表面に残留したキズや歪みの除去を主たる目的とするものである。この第1研磨工程においては、遊星歯車機構を有する両面研磨装置により、硬質樹脂ポリッシャを用いて、主表面の研磨を行った。研磨剤としては、酸化セリウム砥粒を用いた。
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2研磨工程を施した。この第2研磨工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2研磨工程においては、遊星歯車機構を有する両面研磨装置により、軟質発泡樹脂ポリッシャを用いて、主表面の鏡面研磨を行った。研磨剤としては、第1研磨工程で用いた酸化セリウム砥粒よりも微細な酸化セリウム砥粒を用いた。
次に、前述の研削工程及び研磨工程を終えた磁気ディスク用ガラス基板に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400°Cに加熱しておくとともに、洗浄済みの磁気ディスク用ガラス基板を300°Cに予熱し、化学強化溶液中に約3時間浸漬することによって行った。この浸漬の際には、磁気ディスク用ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数の磁気ディスク用ガラス基板が端面で保持されるように、ホルダーに収納した状態で行った。
次に、以下の工程を経て、磁気ディスクを製造した。
この実施例2においては、切り出し工程における切り込みCの深さを、ガラス母材2の厚さの50%(0.3mm)とし、他は実施例1と同様に磁気ディスク用ガラス基板を作成し、さらに、磁気ディスクを作成した。
この実施例3においては、切り出し工程における切り込みCの深さをガラス母材2の厚さの83%(0.5mm)とし、他は実施例1と同様に磁気ディスク用ガラス基板を作成し、さらに、磁気ディスクを作成した。
この実施例4においては、ガラス母材2をフロート法によって製造し、このガラス母材2が溶融金属に接触していた側の面(ボトム面)に切り込みCを入れ、または、このガラス母材2の2つの表面のうち、相対的に表面うねりが小さい面に切り込みCを入れて、他は実施例1と同様に磁気ディスク用ガラス基板を作成し、さらに、磁気ディスクを作成した。
1)測定領域:内周の半径が16mm、外周の半径が29mmであるドーナツ状の領域
2)測定面積:1837mm2
3)選択した形状波長:0.1mm以上5mm以下である形状波長帯域
この比較例1においては、切り出し工程における切り込みCの深さをガラス母材2の厚さの17%(0.1mm)とした。
この比較例2においては、切り出し工程における切り込みCの深さをガラス母材2の厚さの33%(0.2mm)とした。
この比較例3においては、切り出し工程における切り込みCの深さをガラス母材2の厚さの100%(0.6mm)とした。
2 ガラス母材
3 ガラスディスク
4 磁気ディスク用ガラス基板
5 シード層
6 下地層
7 磁性層
8 保護層
9 潤滑層
10 磁気ディスク
C 切り込み
Claims (10)
- 板状のガラス母材から磁気ディスク用ガラス基板を切り出す磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記ガラス母材の主表面に対し、前記ガラス母材の厚さの50%乃至85%にあたる深さを有し、前記ガラス母材における磁気ディスク用ガラス基板となる領域の外縁をなす閉曲線を描く切り込みを入れ、
前記切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域を前記ガラス母材より分離させる
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記ガラス母材の主表面に対し、前記切り込みの描く閉曲線の外側となる部分において力を加えることにより、前記切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域を前記ガラス母材より分離させる
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記切り込みは、前記ガラス母材の主表面に対して略々垂直に形成される
ことを特徴とする請求項1、または、請求項2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記切り込みは、カッター刃によって形成され、
前記切り込みを形成するときには、前記カッター刃は、前記カッター刃の稜線の両側における前記ガラス母材の主表面に対する刃角が略々同一となされて使用される
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記ガラス母材の厚さは、2.0mm以下であり、磁気ディスク用ガラス基板となる領域は、直径30mm以下の円形である
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記ガラス母材は、アルミノシリケートガラスからなる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
1インチ型ハードディスクドライブ、または、1インチ型ハードディスクドライブよりも小径の磁気ディスクを用いるハードディスクドライブに搭載する磁気ディスク用ガラス基板を製造する
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記板状のガラス母材は、溶融金属の上で板状とされたものであり、
前記ガラス母材が前記溶融金属に接触した側の面に、前記切り込みを入れる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記板状のガラス母材は、溶融金属の上で板状とされたものであり、
前記ガラス母材の2つの表面のうち、相対的に表面うねりが小さい面に、前記切り込みを入れる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 請求項1乃至請求項9のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成する
ことを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006260069A JP5111818B2 (ja) | 2005-09-30 | 2006-09-26 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005286673 | 2005-09-30 | ||
JP2005286673 | 2005-09-30 | ||
JP2006260069A JP5111818B2 (ja) | 2005-09-30 | 2006-09-26 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007119336A true JP2007119336A (ja) | 2007-05-17 |
JP5111818B2 JP5111818B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=38143564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006260069A Active JP5111818B2 (ja) | 2005-09-30 | 2006-09-26 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
Country Status (1)
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---|---|
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