JP2007078435A - 形状測定方法および形状測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定面104を倣い走査するプローブ101の走査経路を第1〜第3の測定経路105〜107に分割する。第1の測定経路105による形状測定後に、その測定データと被測定面104の設計形状を比較する形状解析を行い、誤差が大きい場合には、第2の測定経路106における形状測定を強制終了させる。誤差の原因を検討し、適切な処理を行ったうえで第1の測定経路105から形状測定を再開する。すべての測定経路の測定を終了後に形状解析を行って再度測定を行う場合に比べて、トータルの測定タクトを短縮できる。
【選択図】図1
Description
(2)測定環境の不安定性
(3)測定領域
102 プローブ先端球
103 被測定物
104 被測定面
105、405、505 第1の測定経路
105s、405s、505s 第1の測定経路開始点
105e、405e、505e 第1の測定経路終点
106、406、506 第2の測定経路
106s、406s、506s 第2の測定経路開始点
106e、406e、506e 第2の測定経路終点
107、407、507 第3の測定経路
107s、407s、507s 第3の測定経路開始点
107e、407e、507e 第3の測定経路終点
201 X軸ステージ
202 Y軸ステージ
203 Z軸ステージ
209 データサンプリング装置
210 制御/解析用コンピュータ
211 測定良否判定演算手段
310 制御用コンピュータ
311 解析用コンピュータ
Claims (8)
- 被測定物に対して接触式または非接触式のプローブを二次元的に倣い走査させて被測定面の形状を測定する形状測定方法において、
少なくとも2段階の測定経路を設定し、第1段階の測定経路に従ってプローブを倣い走査させて被測定面の形状を測定する第1の測定工程と、
第2段階の測定経路に従ってプローブを走査させて被測定面の形状を測定する第2の測定工程と、
第1の測定工程において取得した測定データのデータ解析を行い、その結果をもとに第2の測定工程を続行するか強制終了するかを選択する工程と、を有することを特徴とする形状測定方法。 - 3段階以上の測定経路を設定し、第3段階以後の各段階の測定経路に従って被測定面の形状を測定する測定工程と、
前段階の測定経路によって取得した測定データについてデータ解析を行い、その結果をもとに測定工程を続行するか強制終了するかを選択する工程と、を有することを特徴とする請求項1記載の形状測定方法。 - 複数の前段階の測定経路によって取得した測定データについて行ったデータ解析結果を互いに比較する工程を有することを特徴とする請求項2記載の形状測定方法。
- 被測定物に対して接触式または非接触式のプローブを少なくとも2段階の測定経路に沿って二次元的に倣い走査させて被測定面の形状を測定する形状測定装置において、
第2段階以後の測定経路に沿った前記プローブの走査中に、前段階の測定経路において得られた測定データに対してデータ解析を行い、前記被測定面の設計形状に対する形状誤差および前記被測定物のセッティング誤差を算出する第1の演算手段と、
前記第1の演算手段によって算出した形状誤差およびセッティング誤差をもとに測定良否を判定する第2の演算手段と、を有し、
前記第2の演算手段による判定結果をもとに測定工程を続行するか強制終了するかを選択することを特徴とする形状測定装置。 - 前記第1および前記第2の演算手段が、装置本体制御コンピュータにインストールされていることを特徴とする請求項4記載の形状測定装置。
- 前記第1および前記第2の演算手段が、装置本体制御コンピュータと双方向に通信可能な状態で接続された解析用コンピュータにインストールされていることを特徴とする請求項4記載の形状測定装置。
- 前記第2の演算手段による判定結果を表示する表示手段を有することを特徴とする請求項4ないし6いずれか1項記載の形状測定装置。
- 装置本体制御コンピュータが、前記第2の演算手段による判定結果をもとに測定工程を強制終了させる機能を有することを特徴とする請求項4ないし7いずれか1項記載の形状測定装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101011203B1 (ko) * | 2007-10-09 | 2011-01-26 | 파나소닉 주식회사 | 3차원 형상 측정 방법 |
JP2013210331A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Konica Minolta Inc | 形状測定方法 |
JP2016223938A (ja) * | 2015-06-01 | 2016-12-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | スタイラスの製造方法及びスタイラス |
JP2017501034A (ja) * | 2013-10-31 | 2017-01-12 | エフ・ヘー・イェー・ランメルティンク・ベヘール・ベスローテン・フエンノートシャップF.G.J. Lammertink Beheer B.V. | 測定プローブの針を洗浄するための装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08334324A (ja) * | 1995-06-07 | 1996-12-17 | Nikon Corp | 形状測定方法 |
JPH1194852A (ja) * | 1997-09-17 | 1999-04-09 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡の測定方法 |
JP2002250620A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Fotonikusu:Kk | 3次元表面形状測定装置および3次元表面形状測定方法 |
JP2005201748A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Sharp Corp | 走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 |
-
2005
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08334324A (ja) * | 1995-06-07 | 1996-12-17 | Nikon Corp | 形状測定方法 |
JPH1194852A (ja) * | 1997-09-17 | 1999-04-09 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡の測定方法 |
JP2002250620A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Fotonikusu:Kk | 3次元表面形状測定装置および3次元表面形状測定方法 |
JP2005201748A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Sharp Corp | 走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101011203B1 (ko) * | 2007-10-09 | 2011-01-26 | 파나소닉 주식회사 | 3차원 형상 측정 방법 |
TWI396825B (zh) * | 2007-10-09 | 2013-05-21 | Panasonic Corp | 三次元形狀測量方法 |
JP2013210331A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Konica Minolta Inc | 形状測定方法 |
JP2017501034A (ja) * | 2013-10-31 | 2017-01-12 | エフ・ヘー・イェー・ランメルティンク・ベヘール・ベスローテン・フエンノートシャップF.G.J. Lammertink Beheer B.V. | 測定プローブの針を洗浄するための装置 |
US10232411B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-03-19 | F.G.J. Lammertink Beheer B.V. | Device for cleaning a stylus of a measuring probe |
JP2016223938A (ja) * | 2015-06-01 | 2016-12-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | スタイラスの製造方法及びスタイラス |
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