JP2007059292A - 加熱装置の設定方法 - Google Patents

加熱装置の設定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007059292A
JP2007059292A JP2005245313A JP2005245313A JP2007059292A JP 2007059292 A JP2007059292 A JP 2007059292A JP 2005245313 A JP2005245313 A JP 2005245313A JP 2005245313 A JP2005245313 A JP 2005245313A JP 2007059292 A JP2007059292 A JP 2007059292A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distribution
generation density
heat generation
temperature distribution
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005245313A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4745757B2 (ja
Inventor
Yasuo Nakamura
靖夫 中村
Kenichi Tsujio
賢一 辻尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuyama Corp filed Critical Tokuyama Corp
Priority to JP2005245313A priority Critical patent/JP4745757B2/ja
Publication of JP2007059292A publication Critical patent/JP2007059292A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4745757B2 publication Critical patent/JP4745757B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • General Induction Heating (AREA)

Abstract

【課題】 本発明は加熱装置の設計方法及び最適運転化方法に関し、目標となる温度分布を先に決定して、最初に流動解析を1回行なうだけで、後は電磁場解析のみで理想的な発熱分布に近いコイルレイアウトと電圧設定を行なえる加熱装置の設計方法を提供することを目的としている。
【解決手段】 誘導加熱により中空状の被加熱体を加熱し、該被加熱体の中空内に流体が存在する加熱装置を設計するに際し、被加熱体の内表面の目標となる温度分布を設定する工程1と、前記温度分布を1つの条件として流動解析を行ない、熱流束分布を算出する工程2と、前記熱流束分布のプロファイルを発熱密度分布のプロファイルに変換する工程3と、電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程4と、前記工程3で求めた発熱密度分布と前記工程4で算出した発熱密度分布とを比較し、比較結果に応じて工程4の条件を変更し、誘導加熱の条件決定を行なう工程5とを含んで構成される。
【選択図】 図1

Description

本発明は加熱装置の設定方法に関する。
従来、誘導加熱により被加熱体を加熱する、例えば高周波により被加熱体を加熱する装置を設計する際には、系内に存在する流体が、どの程度熱量を吸収するかを流動解析により確認し、その熱量分が被加熱体にかかるように、コイルの設計(電磁場解析)を行ない、装置の設計を行なっていた。つまり、流動解析、電磁場解析を別々に行ない、装置を設計していた。
このような装置を設計する際に、より精度の高い装置を作成するためには、流動解析−電磁場解析の連成解析を行ない、被加熱体の温度分布を算出して設計する方法が考えられる。例えば、先ず予め推定できる条件から電磁場解析により発熱密度を算出し、この発熱密度を使用して流動解析を行ない、被加熱体の温度分布を求め、その際の高周波の設定(高周波を発生するコイルのレイアウト,電圧の設定等)を元に装置を設計することが考えられる。
そして、この設計により作成された実装置において、高周波の設定(コイルのレイアウト,電圧の設定)を変更し、被加熱体が目的の温度分布となるように運転すれば、被加熱体を目標の温度分布とすることができるものと考えられる。つまり、ある程度の流動解析−電磁場解析の連成を行なった後、実装置を作成し、その実装置を運転しながら装置の設定,運転条件等を決定すれば、より被加熱体の温度分布を制御した(理想の温度分布を再現できる)装置を設計できるものと考えられる。
なお、本発明は新規な発想によりなしえたものであり、従来技術は存在しない。
前述した装置では、実装置において条件を決定して初めて最適な運転条件が確立されるため、複雑な形状の加熱装置や、流動解析により求めた温度分布が理想の温度分布と大きく異なる場合等は、大幅な条件変更、例えばコイルのレイアウトの大幅変更、電圧設定の変更等が必要となり、ひいては装置を作り直す必要があった。また、被加熱体が理想の温度分布となるように、流動解析−電磁場解析の連成を行ない、装置を設計することも考えられるが、本発明者等の検討では、単に流動解析−電磁場解析を連成するだけでは、何度も電磁場解析と流動解析を繰り返す必要があった。
また、近年、加熱装置の形状が複雑化し、更に高度に被加熱体を制御する必要が生じており、複数のコイルを用いた装置が設計されている。このような装置の設計を行なうに際し、従来のように、電磁場解析のみを行ない、被加熱体の発熱密度の分布を計算し、装置の設計、作成を行なうと、実装置において、被加熱体の温度分布(発熱密度の分布)の実測値と、設計した際の計算値とにズレが生じる場合があった。
このズレは加熱装置を大型化する場合や、高温で高度に制御して被加熱体を加熱しなければならない場合等において、エネルギーのロスにつながり、効率的ではなく、改善の余地があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、目標となる温度分布を先に決定して、最初に流動解析を1回行なうだけで、後は電磁場解析のみで理想的な発熱分布に近いコイルレイアウトと電圧設定を行なうことができる。ここで、加熱装置の設定方法とは、加熱装置を設計する方法と、加熱装置を最適運転条件で運転する方法とを含むものである。
(1)請求項1記載の発明は、誘導加熱により中空状の被加熱体を加熱し、該被加熱体の中空内に流体が存在する加熱装置を設計するに際し、被加熱体の内表面の目標となる温度分布を設定する工程1と、前記温度分布を1つの条件として流動解析を行ない、熱流束分布を算出する工程2と、前記熱流束分布のプロファイルを発熱密度分布のプロファイルに変換する工程3と、電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程4と、前記工程3で求めた発熱密度分布と前記工程4で算出した発熱密度分布とを比較し、比較結果に応じて前記工程4の条件を変更し、誘導加熱の条件決定を行なう工程5とを含んで構成されることを特徴とする。
(2)請求項2記載の発明は、前記工程4で求めた発熱密度分布を1つの条件として流動解析を行ない、被加熱体の内表面の温度分布を求める工程6と、該工程6で求めた温度分布と、工程1で設定した温度分布とを比較し、これら温度分布が満足すべきものであった場合には、誘導加熱の条件を決定する工程7と、工程7における比較結果が満足できないものであった場合には、前記工程6で求めた温度分布を少なくとも1つの条件とし、前記工程4とは誘導加熱の条件を変更して電磁場解析を行ない、発熱密度分布を算出する工程8と、前記工程6において、工程8で求めた発熱密度分布を少なくとも1つの条件とし、流動解析を行ない、被加熱体の内表面の温度分布を再度求め、この求めた温度分布と、工程1で設定した温度分布とを比較し、誘導加熱の条件を決定する工程と、を含んで構成されることを特徴とする。
(1)請求項1記載の発明によれば、目標となる温度分布を先に決定して、最初に流動解析を1回行なうだけで、後は電磁場解析のみで理想的な発熱分布に近いコイルレイアウトと電圧設定を行なうことができ、加熱装置の設計を行なうことができる。また、本発明によれば、加熱装置を運転するに際し、最適な電圧条件を決定して運転することが可能となる。
(2)請求項2記載の発明によれば、前記発熱密度分布を採用することで、流動解析−電磁場解析の連成回数を最小にしながら、実測値に非常に近い温度分布を達成することができ、その結果に基づき、加熱装置を設計してやれば、より理想に近い発熱密度分布となる加熱装置を設計することができる。また、本発明によれば、加熱装置を運転するに際し、最適な電圧条件を決定して運転することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。
本発明は誘導加熱により中空状の被加熱体を加熱し、該被加熱体の中空内に流体が存在する加熱装置を設定する技術に関するものである。なお、本発明において、加熱装置を設定する方法とは、加熱装置を設計する方法及び加熱装置の最適運転条件を決定する方法とを含むものである。
具体的には、例えば、材質、流体条件、コイルレイアウト(コイルの材質、巻数(ピッチ)、形状等)、電圧条件を決定して、加熱装置を設計する方法、及び加熱装置を運転するに際し、最適な発熱密度分布となるように電圧条件を決定して運転する、加熱装置の最適運転条件を決定する方法とを含むものである。
図1はコイルと流体の関係を示す図である。図において、1は被加熱体、2は被加熱体1の内表面、3は該被加熱体1の中を流れる流体である。流体は、気体、液体の何れであってもよい。4は被加熱体1の外周に巻回された誘導加熱用のコイルである。このように構成された装置において、コイル4に高周波の電流を流すと誘導加熱により被加熱体1内部を流れる流体3は誘導加熱されて温度が上昇する。本発明は、この流体3を加熱するシステムに関するものである。
図2は本発明の第1の実施の形態例の動作を示すフローチャートである。この第1の実施の形態例は、工程1〜工程5から構成されている。工程1は目標とする被加熱体の内表面の温度分布を設定する工程である。工程2は、前記温度分布を1つの条件として流動解析を行ない、流束分布を算出する工程である。
工程3は、前記熱流束分布のプロファイルを発熱密度のプロファイルに変換する工程である。工程4は、電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程である。工程5は、前記工程3で求めた発熱密度分布と前記工程4で算出した発熱密度分布とを比較し、比較結果に応じて工程4の条件を変更し、誘導加熱の条件決定を行なう工程である。以下、各工程毎の動作について説明する。
(a)工程1
目標とする内表面の温度分布設定は、マニュアルで行なう。工程1で設定された温度分布は、工程2に与えられる。
(b)工程2
工程2は入力された温度分布を1つの条件として流動解析を行ない、熱流束分布を算出するものである。先ず、解析モデルを作成する(S1)。解析モデルは、形状作成とメッシュ分割を利用して、例えば有限要素法等を用いて作成される。次に、作成された解析モデルを元に材料・境界条件設定を行なう(S2)。設定される条件は、物理モデル設定、材料物性設定、境界条件設定及び内表面の温度設定である。ここで、内表面とは図3に示した被加熱体1の内表面を示す。ここで、設定される条件の内、内表面の温度設定では、工程1で設定された温度設定が使用される。
これら条件設定を元に流動解析を実行する(S3)。流動解析を実行することにより、熱流束分布が得られる。
(c)工程3
工程3は熱流束分布のプロファイルを発熱密度分布のプロファイルに変換する工程である。流動解析工程2から出力された熱流束分布は、工程3により発熱密度分布に変換される(S4)。流動解析工程2から出力された熱流束分布を発熱密度分布に変換する方法を例示すると、以下の通りである。例えば、先ず被加熱体の体積を内表面面積で除した値を求める。次いで、流動解析工程2から出力された熱流束分布を前記値で除することにより、発熱密度分布に変換することができる。このようにして求めた発熱密度分布を(a)とする。
(d)工程4
工程4は、電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程である。ここでは、先ず解析モデルを作成する(S5)。解析モデルは、形状作成(コイルレイアウト)とメッシュ分割を利用して工程2に示した要領で作成される。次に、材料・境界条件を設定する(S6)。材料・境界条件の設定としては、材料物性設定と、境界条件の設定(電圧設定)と、回路条件設定等が考えられる。このようにして条件が設定されたら、これら条件を使用して電磁場解析を実行する(S7)。この電磁場解析により、発熱密度分布(b)が得られる(S8)。
また、この工程4において、電磁場解析を行なうに際し、回路の設計を行なうための回路解析と、コイル(コイルレイアウト)の設計を行なうための電磁場解析とを連成解析することが、より精度の高い装置を設計するために好ましい。中でも、回路解析と電磁場解析とを直接連成により解析を行なうことが、より高精度な装置の設計を短時間で解析できるため好ましい。
(e)工程5
工程5では、工程3で得られた発熱密度分布(a)と、工程4で得られた発熱密度分布(b)との比較が行われる。具体的には、発熱密度分布(a)と発熱密度分布(b)の値が近いかどうかが判断される(S9)。この判断は、発熱密度分布(a)と、発熱密度分布(b)の値の絶対値のみを評価するのでなく、プロファイルのフィット状態で判断するものである。
発熱密度分布(a)の値と発熱密度分布(b)との値が近い場合、誘導加熱の条件決定(電圧設定)と、コイルレイアウトの決定を行なう(S10)。ステップS9において、満足すべき結果が得られなかった場合には、工程4に戻って電磁場解析を繰り返す。
この実施の形態例によれば、目標となる温度分布を先に決定して、最初に流動解析を1回行なうだけで、後は電磁場解析のみで理想的な発熱分布に近いコイルレイアウトと電圧設定を行なうことができる。発明者らのシミュレーションによれば、目標値を100とした場合、90という数値が得られた。
また、本発明によれば、誘導加熱により中空状の被加熱体1を加熱し、該被加熱体1の中空内に流体3が存在する加熱装置を運転するに際し、被加熱体1の内表面2の目標となる温度分布を決定する工程1と、該温度分布を1つの条件として第1の流動解析を行ない、熱流束分布を算出した後、前記熱流束分布のプロファイルを発熱密度分布のプロファイルに変換する工程2と、次いで、電磁場解析により算出する発熱密度分布が、前記熱流束分布を変換した発熱密度分布と同じになるように、前記第1の電磁場解析に使用する複数の条件の内の少なくとも電圧の条件を決定して、加熱装置を運転するようにすることができる。
この実施の形態例によれば、電磁場解析により算出した発熱密度分布が、前記熱流束分布を変換した発熱密度分布と同じになるように少なくとも電圧の条件を決定して加熱装置を運転することで、電磁場解析により加熱装置の内表面を理想的な温度分布に近付けることが可能となる。
図3は本発明の第2の実施の形態例の動作を示すフローチャートである。図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。この図に示す装置は、図1の装置に改良を施したものである。発熱密度分布(b)の出力(S8)までは、図1の実施の形態例と同じなのでその説明は省略する。なお、工程1で設定される目標とする内表面の温度分布設定を(A)とする。以下、第2の実施の形態例について説明する。
(f)工程5
発熱密度分布(a)と(b)が求まると、(a),(b)の値の比較を行なう(S9)。この場合には、(a)と(b)の値(プロファイル)をより近付けることを前提にしているので、工程6に進むことになる。
(g)工程6
工程6は入力された発熱密度分布を1つの条件として流動解析を行ない、温度分布を算出するものである。先ず、解析モデルを作成する(S10)。解析モデルは、形状作成とメッシュ分割を利用して作成される。次に、作成された解析モデルを元に材料・境界条件設定を行なう(S11)。設定される条件は、物理モデル設定、材料物性設定、境界条件設定及び発熱密度設定(b)である。この発熱密度設定(b)は、工程4で得られた値である。これら条件設定を元に流動解析を実行する(S12)。流動解析を実行することにより、温度分布の結果(B)が得られる。
(h)工程7
工程7では、工程1で設定した温度分布(A)と、工程6で得られた温度分布(B)が比較される(S14)。比較の結果が満足できるものであった場合には、誘導加熱の条件決定(電圧設定)等を行なう(S15)。ステップS15では、この他にコイルレイアウトの決定を行なう。1回目の決定は、工程4の条件を元に決定し、2回目の決定は工程8の条件を元に決定する。ステップS15で得られた結果を用いて加熱装置の設計を行なうことになる。ステップS14において、(A)と(B)との値の比較が満足できないものであった場合には、工程8に進む。
(i)工程8
工程8では電磁場解析を行なう。工程8は、電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程である。ここでは、先ず解析モデルを作成する(S16)。解析モデルは、形状作成(コイルレイアウト)とメッシュ分割を利用して作成される。次に、材料・境界条件を設定する(S17)。材料・境界条件の設定としては、材料物性設定と、境界条件の設定(電圧設定)と、回路条件設定と、ステップS14で得られた温度依存材料物性の設定(温度分布の結果(B))等が考えられる。このようにして条件が設定されたら、これら条件を使用して電磁場解析を実行する(S19)。この電磁場解析により、発熱密度分布(c)が得られる(S20)。
また、この工程8において、電磁場解析を行なうに際し、回路の設計を行なうための回路解析と、コイル(コイルレイアウト)の設計を行なうための電磁場解析とを連成解析することが、より精度の高い装置を設計するために好ましい。中でも、回路解析と電磁場解析とを直接連成により解析を行なうことが、より高精度な装置の設計を短時間で解析できるため好ましい。
ステップS20で発熱密度分布(c)が得られたら、ステップS11で得られた発熱密度分布(b)を(c)に置き換える(S21)。発熱密度設定(b)が(c)に置き換えられたら、この置き換えた値を元に流動解析を実行し、温度分布(B)を得ることになる。そして、得られた温度分布の結果(B)を、ステップS14で更に(A)と比較することになる。このようにして所定の工程を繰り返し、満足できるものであった場合には、ステップS15に移行し、不満足な場合には、電磁場解析を行ない、流動解析を行なう処理を繰り返すことになる。
この発明の実施の形態例によれば、発熱密度分布を採用することで、流動解析−電磁場解析の連成回数を最小限にしながら、実測値に非常に近い温度分布を達成することができる。本発明らのシミュレーションによれば、目標値を100とした場合、実施の形態例2のシミュレーション値は95となり、図2に示す実施の形態例に比較して+5だけ精度が高められた。
また、本発明によれば、最初の内表面の目標とする温度分布と第2の流動解析で求めた温度分布とを比較して電圧の条件を決定することで、加熱装置の最適運転条件を決定することができる。
コイルと流体の関係を示す図である。 本発明の第1の実施の形態例の動作を示すフローチャートである。 本発明の第3の実施の形態例の動作を示すフローチャートである。
符号の説明
1 被加熱体
2 被加熱体の内表面
3 流体
4 コイル

Claims (2)

  1. 誘導加熱により中空状の被加熱体を加熱し、該被加熱体の中空内に流体が存在する加熱装置を設計するに際し、被加熱体の内表面の目標となる温度分布を設定する工程1と、
    前記温度分布を1つの条件として流動解析を行ない、熱流束分布を算出する工程2と、
    前記熱流束分布のプロファイルを発熱密度分布のプロファイルに変換する工程3と、
    電磁場解析により発熱密度分布を算出する工程4と、
    前記工程3で求めた発熱密度分布と前記工程4で算出した発熱密度分布とを比較し、比較結果に応じて工程4の条件を変更し、誘導加熱の条件決定を行なう工程5と、
    を含んで構成されることを特徴とする加熱装置の設定方法。
  2. 前記工程4で求めた発熱密度分布を1つの条件として流動解析を行ない、被加熱体の内表面の温度分布を求める工程6と、
    該工程6で求めた温度分布と、工程1で設定した温度分布とを比較し、これら温度分布が満足すべきものであった場合には、誘導加熱の条件を決定する工程7と、
    工程7における比較結果が満足できないものであった場合には、前記工程6で求めた温度分布を少なくとも1つの条件とし、更に前記工程4とは誘導加熱の条件を変更して電磁場解析を行ない、発熱密度分布を算出する工程8と、
    前記工程6において、工程8で求めた発熱密度分布を少なくとも1つの条件とし、流動解析を行ない、被加熱体の内表面の温度分布を再度求め、この求めた温度分布と、工程1で設定した温度分布とを比較し、誘導加熱の条件を決定する工程と、
    を含んで構成されることを特徴とする請求項1記載の加熱装置の設定方法。
JP2005245313A 2005-08-26 2005-08-26 加熱装置の設定方法 Expired - Fee Related JP4745757B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005245313A JP4745757B2 (ja) 2005-08-26 2005-08-26 加熱装置の設定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005245313A JP4745757B2 (ja) 2005-08-26 2005-08-26 加熱装置の設定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007059292A true JP2007059292A (ja) 2007-03-08
JP4745757B2 JP4745757B2 (ja) 2011-08-10

Family

ID=37922584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005245313A Expired - Fee Related JP4745757B2 (ja) 2005-08-26 2005-08-26 加熱装置の設定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4745757B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010055427A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Neturen Co Ltd 誘導加熱コイル設計支援のためのシミュレーション方法
JP2013050805A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Neturen Co Ltd 誘導加熱コイルの設計支援用シミュレーション方法および設計支援用シミュレーション装置
CN115950916A (zh) * 2023-03-14 2023-04-11 中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所 一种物体表面热流密度检测方法、装置以及设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09118584A (ja) * 1995-08-10 1997-05-06 Wacker Siltronic G Fuer Halbleitermaterialien Ag 単結晶の成長方法及び装置
WO2001063023A1 (fr) * 2000-02-22 2001-08-30 Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd. Procede permettant de faire pousser des monocristaux de semi-conducteur
JP2002245097A (ja) * 2000-12-12 2002-08-30 Fujitsu Ltd 連成解析方法、その解析条件設定方法、その記憶媒体及びそのプログラム
JP2005104751A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Kyocera Corp 単結晶育成装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09118584A (ja) * 1995-08-10 1997-05-06 Wacker Siltronic G Fuer Halbleitermaterialien Ag 単結晶の成長方法及び装置
WO2001063023A1 (fr) * 2000-02-22 2001-08-30 Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd. Procede permettant de faire pousser des monocristaux de semi-conducteur
JP2002245097A (ja) * 2000-12-12 2002-08-30 Fujitsu Ltd 連成解析方法、その解析条件設定方法、その記憶媒体及びそのプログラム
JP2005104751A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Kyocera Corp 単結晶育成装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010055427A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Neturen Co Ltd 誘導加熱コイル設計支援のためのシミュレーション方法
JP2013050805A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Neturen Co Ltd 誘導加熱コイルの設計支援用シミュレーション方法および設計支援用シミュレーション装置
CN115950916A (zh) * 2023-03-14 2023-04-11 中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所 一种物体表面热流密度检测方法、装置以及设备
CN115950916B (zh) * 2023-03-14 2023-05-26 中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所 一种物体表面热流密度检测方法、装置以及设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP4745757B2 (ja) 2011-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104833106A (zh) 电热水器的控制方法、装置和电热水器
JP5286623B2 (ja) 高周波焼入れシミュレーション装置
CN105247426B (zh) 生产过程的优化
JP6385446B2 (ja) 空調システムの制御装置および空調システムの制御方法
JP6197359B2 (ja) シミュレーション方法、シミュレーションプログラム、シミュレーション装置、および、システム
CN105020843A (zh) 空调器的控制方法和空调器的控制装置以及空调器
JP4745757B2 (ja) 加熱装置の設定方法
JP2010281315A (ja) グロープラグの温度を制御する方法及びグロープラグ制御ユニット
CN103154834A (zh) 确定用于调整加热、通风和空气调节系统的参数的方法
US20100057412A1 (en) Circuit simulator, circuit simulation method and program
US10562090B2 (en) Method of controlling a superplastic forming machine and corresponding machine
Silva et al. Design optimization of conformal cooling channels for injection molds: 3D transient heat transfer analysis
CN109101673B (zh) 高频变压器磁芯损耗计算方法
JP2009157691A (ja) オートチューニング方法、温度調節器および熱処理装置
Raghavan Understanding process-structure relationship for site-specific microstructure control in electron beam powder bed additive manufacturing process using numerical modeling
CN105476440A (zh) 电饭煲及其加热控制方法
JP5897847B2 (ja) 誘導加熱コイルの設計支援用シミュレーション方法および設計支援用シミュレーション装置
KR101767387B1 (ko) 사용자 요소가 반영된 건물 에너지 모델링 시스템 및 방법
JP4745771B2 (ja) 被加熱体の温度制御方法
JP6086344B2 (ja) 熱処理のシミュレーションプログラム
JP5687105B2 (ja) シミュレータ自動生成装置およびシミュレータ検証システム
Grozdanov et al. Synthesis of Induction Brazing System Control Based on Artificial Intelligence. Electronics 2021, 10, 1190
JP7446381B2 (ja) 冷却シミュレーション方法、冷却シミュレーションプログラム、冷却シミュレーション装置及びワークの冷却方法
Fisk Validation of induction heating model for alloy 718 components
Virostek et al. RF, thermal and structural analysis of the 201.25 MHz Muon ionization cooling cavity

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080204

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100209

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100407

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101102

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110121

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110204

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110303

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110510

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110512

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4745757

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees