JP2007057416A - 測定誤差の補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電子部品110は、高周波信号の印加または検出に係わる信号ラインポート以外に、非信号ラインポートを有する。信号ラインポート及び非信号ラインポートを測定可能な第1の試験治具130と、信号ラインポートのみ測定可能な基準治具120との間で相対補正を行うための数式を決定する。第2の試験治具140と第1の試験治具130との間で相対補正を行うための数式を決定する。電子部品110を第2の試験治具140に実装した状態での測定値を、第1の試験治具130に実装した状態に相対補正し、さらに、基準治具120に実装した状態に相対補正する。
【選択図】 図1
Description
GAKU KAMITANI(Murata manufacturing Co., Ltd.) "A METHOD TO CORRECT DIFFERENCE OF IN−FIXTURE MEASUREMENTS AMONG FIXTURES ON RF DEV1CES" APMC Vol.2, p1094−1097, 2003 J.P.DUNSMORE, L.BETTS (Agilent Technologies) "NEW METHODS FOR CORRELATING FIXTURED MEASUREMENTS" APMC Vol.1, p568−571, 2003
・DUT 不平衡入力−平衡出力2.4GHz帯LCフィルタ
・測定器 ADVANTEST R3767CG(8GHz 4ポートネットワークアナライザ)
・周波数範囲 500MHz〜3.5GHz
・データ点数 401点
・IF帯域幅 3kHz
・基準治具 DCポートにRFコネクタを取り付けた4ポート治具
・試験治具 基準治具のDCポートに1pFのコンデンサをシャント接続した4ポート治具
・標準試料 非信号ラインポートに対する補正データ取得用試料として、Open、Short、Loadの3種類の標準試料を用意した。
・評価内容 S11、S21、S31、Sds21、Sdd22、Phase Differentia1
20,70,120 基準治具
30,80,130,140 試験治具
Claims (1)
- 高周波信号の印加または検出に係わる信号ラインに接続される信号ラインポートと、該信号ラインポート以外の非信号ラインポートとを有する電子部品について、前記信号ラインポート及び前記非信号ラインポートを測定可能である試験治具に実装した状態での電気特性の測定結果から、前記信号ラインポートのみ測定可能である基準治具に実装した状態での電気特性の推定値を算出する、測定誤差の補正方法であって、
少なくとも3種類の補正データ取得用試料の信号ラインポートの少なくとも一つについて、第1の前記試験治具(以下、「前記第1試験治具」という。)に実装した状態と前記基準治具に実装した状態とで電気特性を測定する第1のステップと、
信号ラインポートの少なくとも一つと非信号ラインポートの少なくとも一つとが電気的に接続された補正データ取得用スルーデバイスについて、前記第1試験治具に実装した状態で前記信号ラインポート及び前記非信号ラインポートの電気特性を測定し、かつ、前記基準治具に実装した状態で前記信号ラインポートの電気特性を測定する第2のステップと、
前記第1及び第2のステップで得られた電気特性の測定値に基づいて、前記電子部品の前記第1試験治具に実装した状態での電気特性の測定値から、前記電子部品を前記基準治具に実装した状態での電気特性の推定値を算出するための数式を決定する第3のステップと、
少なくとも3種類の補正データ取得用試料を前記第1試験治具に実装した状態と第2の前記試験治具(以下、「前記第2試験治具」という。)に実装した状態とで、信号ラインポートの少なくとも一つと非信号ラインポートの少なくとも一つの電気特性を測定する第4のステップと、
前記第4のステップで得られた電気特性の測定値に基づいて、前記第1試験治具と前記第2試験治具の対応するポートの測定値を関連付ける数式を決定する第5のステップと、
前記電子部品について、前記第2試験治具に実装した状態で前記信号ラインポートおよび前記非信号ラインポートの電気特性を測定する第6のステップと、
前記第6のステップで得られた電気特性の測定値に基づいて、前記第3及び第5のステップで決定した前記数式を用いて、前記電子部品を前記基準治具に実装した状態で前記信号ラインポートを測定したならば得られるであろう電気特性の推定値を算出する第7のステップとを備えたことを特徴とする、測定誤差の補正方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011106819A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-02 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の電気特性測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 |
JP2011169667A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波部品のsパラメータを補正する方法、及び高周波部品を搭載したモジュールの特性算出方法 |
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JP2000162257A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Advantest Corp | マルチポ―トデバイス解析装置及び解析方法 |
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WO2005116669A1 (ja) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 |
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2005
- 2005-08-25 JP JP2005243934A patent/JP4670549B2/ja active Active
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