JP2011169667A - 高周波部品のsパラメータを補正する方法、及び高周波部品を搭載したモジュールの特性算出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】全ての第1端子及び第2端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して高周波部品2のSパラメータである第1パラメータを取得する第1ステップと、第2端子を終端状態として、全ての第1端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して高周波部品2のSパラメータである第2パラメータを取得する第2ステップと、第1ステップで取得した第1パラメータの第1端子に関する各要素を、第2ステップで取得した第2パラメータの対応する各要素に基づいて補正する第3ステップとを含む。また、補正したSパラメータに基づいて高周波部品2をモジュール基板に実装したモジュールの高周波特性を算出する。
【選択図】図2
Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る高周波部品のSパラメータを補正する方法を説明するための高周波部品及び測定器の構成を示す模式図である。図1に示すように、測定器1は、高周波部品2のSパラメータを取得するため、第1測定基板3(モジュール基板)に高周波部品2を実装し、第1測定基板3の配線4a〜4hと測定ポート5とを接続する。
本実施の形態2では、実施の形態1で説明した高周波部品2のSパラメータを補正する方法とは別の高周波部品2のSパラメータを補正する方法を説明する。図7は、本発明の実施の形態2に係る高周波部品2のSパラメータを補正する方法を説明するためのフローチャートである。なお、測定器1、高周波部品2及び第1測定基板3の構成は、実施の形態1で説明した構成と同じであり、以下の説明では、実施の形態1の図面を用いて説明する。
2 高周波部品
3、7 測定基板(モジュール基板)
4、4a〜4h 配線
5 測定ポート
6、6a〜6h 端子
Claims (6)
- 高周波信号の入出力を行う少なくとも一つの第1端子と、前記第1端子以外の少なくとも一つの第2端子とを有する高周波部品のSパラメータを補正する方法であって、
全ての前記第1端子及び前記第2端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して前記高周波部品のSパラメータである第1パラメータを取得する第1ステップと、
前記第2端子を終端状態として、全ての前記第1端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して前記高周波部品のSパラメータである第2パラメータを取得する第2ステップと、
前記第1ステップで取得した前記第1パラメータの前記第1端子に関する各要素を、前記第2ステップで取得した前記第2パラメータの対応する各要素に基づいて補正する第3ステップと
を含むことを特徴とする高周波部品のSパラメータを補正する方法。 - 前記第1ステップでは、前記第1端子又は前記第2端子から測定器の測定ポートまでの配線に生じる誤差を補正した前記第1パラメータを取得し、
前記第2ステップでは、前記第1端子から前記測定器の測定ポートまでの配線に生じる誤差を補正した前記第2パラメータを取得することを特徴とする請求項1に記載の高周波部品のSパラメータを補正する方法。 - 前記第3ステップで補正した前記第1パラメータに対して、前記第1端子又は前記第2端子から測定器の測定ポートまでの配線に生じる誤差を補正する第4ステップをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の高周波部品のSパラメータを補正する方法。
- 前記第3ステップは、前記第1ステップで取得した前記第1パラメータの前記第1端子に関する各要素を、前記第2ステップで取得した前記第2パラメータの対応する各要素に合わせることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の高周波部品のSパラメータを補正する方法。
- 前記第2端子は、少なくとも一つのグランド端子を含むことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の高周波部品のSパラメータを補正する方法。
- 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法で補正した前記高周波部品のSパラメータと、
前記高周波部品を実装するモジュール基板の回路動作をシミュレーションして算出した前記モジュール基板の回路特性とに基づいて、
前記高周波部品を前記モジュール基板に実装したモジュールの高周波特性を算出することを特徴とする高周波部品を搭載したモジュールの特性算出方法。
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