JP2007047073A - 試験装置 - Google Patents
試験装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007047073A JP2007047073A JP2005233215A JP2005233215A JP2007047073A JP 2007047073 A JP2007047073 A JP 2007047073A JP 2005233215 A JP2005233215 A JP 2005233215A JP 2005233215 A JP2005233215 A JP 2005233215A JP 2007047073 A JP2007047073 A JP 2007047073A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- voltage
- circuit
- terminal
- response
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
【課題】 本発明は、試験装置に関し、例えばPDP用ドライバIC等の高電圧で動作する集積回路の試験装置に適用して、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができるようにする。
【解決手段】 本発明は、端子電圧の監視により試験対象5への接続を遮断する。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明は、端子電圧の監視により試験対象5への接続を遮断する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、試験装置に関し、例えばPDP(Plasma Display Panel)用ドライバIC等の高電圧で動作する集積回路の試験装置に適用することができる。本発明は、端子電圧の監視により試験対象への接続を遮断することにより、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができるようにする。
従来、半導体試験装置は、例えば特開2000−292502号公報等に開示されているように、いわゆるディジタルI/Oピンカードによりテスト用信号を印加して応答を確認することにより、論理回路等のディジタル集積回路を試験している。
すなわち図2は、このディジタルI/Oピンカードに係る試験装置の構成を示すブロック図である。試験装置1において、ディジタルI/Oピンカード2は、メモリに記録された試験用データに基づいて信号発生回路3によりテスト用信号を生成し、このテスト用信号の信号レベルを増幅回路4により試験対象5に応じた信号レベルに設定する。またこの増幅回路4の出力信号をリレー9を介して試験対象5に印加する。またディジタルI/Oピンカード2は、リレー9を介して試験対象5からの応答を比較回路6に入力し、ここでメモリに記録された確認用データによりこの応答を判定する。試験装置1は、この信号発生回路3、比較回路6等を上位のコントローラにより制御して一連の試験を実行し、また比較回路6による判定結果を取得して例えば試験対象5の良否を判定する。
ここで試験装置1では、例えば試験対象5が不良品の場合、試験対象5に印加した動作用の電源とディジタルI/Oピンカード2の出力端とが試験対象の内部で短絡してしまう場合もあり、このような場合には、ディジタルI/Oピンカード2の出力端に大きな電圧が印加される場合がある。
これにより従来の試験装置1は、ディジタルI/Oピンカード2の出力端が、ダイオード7及び8を介して所定の電源+V、−Vに接続され、これによりこの電源+V、−V及びダイオード7、8により決まるクランプ電圧に出力端の電圧変化を制限する。これにより試験装置1は、このディジタルI/Oピンカード2の出力端をこれらダイオード7及び8によるクランプ回路によりクランプしてディジタルI/Oピンカード2の損傷を防止していた。
ところでPDPドライバ等の集積回路は、従来の集積回路に比して高電圧により動作し、さらに消費電流も大きな特徴がある。これによりこのような集積回路の試験では、試験装置1から試験対象に印加する電源電圧等にあっても、高電圧でかつ大電流となる。
これによりこのような集積回路の試験において、試験対象5が不良品の場合、クランプ用のダイオード7、8には大きな電流が流れることになり、この状況を放置したのでは、クランプ用のダイオード7、8が破壊して機能しなくなり、遂にはディジタルI/Oピンカード2におけるテスト用信号の出力段、応答の入力段を構成する集積回路が2次破壊する問題がある。
特開2000−292502号公報
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる試験装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため請求項1の発明は、テスト用信号を試験対象に印加して応答を判定することにより、前記試験対象を試験する試験装置に適用して、前記テスト用信号の出力端及び又は前記応答の入力端を前記試験対象に接続するリレーと、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧を監視し、監視結果を出力する電圧監視回路と、前記電圧監視回路の監視結果に基づいて、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧の異常により、前記リレーをオフ制御する制御回路とを備えるようにする。
また請求項2の発明は、請求項1の構成において、前記制御回路は、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧の異常により、上位のコントローラを介して警告を発する。
請求項1の構成により、テスト用信号を試験対象に印加して応答を判定することにより、前記試験対象を試験する試験装置に適用して、前記テスト用信号出力端及び又は前記応答の入力端を前記試験対象に接続するリレーと、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧を監視し、監視結果を出力する電圧監視回路と、前記電圧監視回路の監視結果に基づいて、前記出力端及び又は入力端の端子電圧の異常により、前記リレーをオフ制御する制御回路とを備えるようにすれば、試験対象の異常により前記出力端及び又は入力端の端子電圧が異常に変化すると、前記出力端及び又は入力端の前記試験対象への接続を遮断することができる。これによりテスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる。
また請求項2の構成により、請求項1の構成において、前記制御回路は、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧の異常により、上位のコントローラを介して警告を発すれば、試験を完了する前に、試験対象の異常をオペレータに通知して対応を図ることができる。
本発明によれば、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる。
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
(1)実施例の構成
図1は、本発明の実施例に係る試験装置を示すブロック図である。この試験装置11において、図2について上述した試験装置1と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重複した説明は省略する。この試験装置11は、上位のコントローラ13により所定の処理プログラムを実行することにより、全体の動作を制御して試験対象5を試験する。この処理において、コントローラ13は、バス(BUS)により接続された各回路ブロックからの要求により、スピーカ14を駆動して警告音を発生する。
図1は、本発明の実施例に係る試験装置を示すブロック図である。この試験装置11において、図2について上述した試験装置1と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重複した説明は省略する。この試験装置11は、上位のコントローラ13により所定の処理プログラムを実行することにより、全体の動作を制御して試験対象5を試験する。この処理において、コントローラ13は、バス(BUS)により接続された各回路ブロックからの要求により、スピーカ14を駆動して警告音を発生する。
ディジタルI/Oピンカード12は、このバス(BUS)によりコントローラ13に接続される回路ブロックの1つである。ディジタルI/Oピンカード12は、コントローラ16により各部の動作を制御して、上位のコントローラ13による指示に従って動作し、信号発生回路3で生成したテスト用信号を試験対象5に印加し、その応答を比較回路6により判定する。
+側電圧監視回路17及び一側電圧監視回路18は、図2について上述したクランプ回路に係る電源+V及び−Vをそれぞれ基準にして、ディジタルI/Oピンカード12の入出力端の電圧を監視し、その監視結果をコントローラ16に出力する。なおこの電源+V及び−Vは、コントローラ16の制御により、試験対象5に印加するテスト信号の信号レベルに応じて設定される。
コントローラ16は、この電圧監視回路17、18の監視結果に基づいて、ディジタルI/Oピンカード12の入出力端の電圧が正側及び負側に異常に変化すると、リレー9をオフ制御し、これによりディジタルI/Oピンカード12の入出力端を試験対象から遮断する。また同時に、バス(BUS)を介して上位のコントローラ13に警告音の発生を要求する。
インターフェース(I/F)19は、バス(BUS)とコントローラ16との間で、種々のデータを送受する。
(2)実施例の動作
以上の構成において、この試験装置11では、例えば半導体ウエハの状態の試験対象5に対して、又はパッケージングされた状態の試験対象5に対して、図示しない電源回路により電源が供給される。またディジタルI/Oピンカード12の信号発生回路3によりテスト信号が生成され、このテスト信号が増幅回路4、リレー9を介して試験対象5に印加される。またリレー9を介してこの試験対象5の応答が比較回路6により判定され、これらにより試験対象5が正しく動作するか否かが判定される。
以上の構成において、この試験装置11では、例えば半導体ウエハの状態の試験対象5に対して、又はパッケージングされた状態の試験対象5に対して、図示しない電源回路により電源が供給される。またディジタルI/Oピンカード12の信号発生回路3によりテスト信号が生成され、このテスト信号が増幅回路4、リレー9を介して試験対象5に印加される。またリレー9を介してこの試験対象5の応答が比較回路6により判定され、これらにより試験対象5が正しく動作するか否かが判定される。
しかしてこの試験対象5が不良品の場合、このようにして印加する電源に係る配線パターンとディジタルI/Oピンカード12が接続される端子に係る配線パターンとがショートしている場合もあり、また試験の開始によりこれらの配線パターン間がショートする場合もあり、このような場合には、増幅回路4の出力端、比較回路6の入力端に、試験対象5の電源が印加されることになり、試験対象5によっては、この電源の電圧が高いものもある。
試験装置11では、このため電圧監視回路17、18により、それぞれ正側及び負側の電源+V及び−Vを基準にしてディジタルI/Oピンカード12の入出力端の電圧が監視され、この監視結果がコントローラ16により判定される。これによりこの試験装置11では、試験対象5の不良等により、ディジタルI/Oピンカード12の入出力端の電圧が異常に立ち上がったり、異常に立ち下がったりした場合には、コントローラ16によりリレー9がオフ制御され、これによりディジタルI/Oピンカード12の入出力端の試験対象への接続が遮断される。
これにより試験装置11では、ディジタルI/Oピンカード12の入出力端における電圧の異常が回避され、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる。
また試験装置11では、このような異常が発生すると、コントローラ16からの要求によりコントローラ13で警告が発せられ、これによりオペレータは、試験の完了を待つことなく、即座に異常に対応して被害の拡大を防止することができる。
(3)実施例の効果
以上の構成によれば、端子電圧の監視により試験対象への接続を遮断することにより、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる。
以上の構成によれば、端子電圧の監視により試験対象への接続を遮断することにより、高電圧の集積回路を試験する場合でも、テスト用信号の出力段、応答の入力段の破壊を確実に防止することができる。
また上位のコントローラを介して警告を発することにより、試験の完了前に、試験対象の異常をオペレータに通知して対応を図ることができる。
なお上述の実施例においては、テスト信号の出力端と応答の入力端とを一体化した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これらを個別に設ける場合にも広く適用することができる。
また上述の実施例においては、クランプ回路に代えて電圧監視回路を設ける場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これらを併用してもよい。
本発明は、試験装置に関し、例えばPDP(Plasma Display Panel)用ドライバIC等の高電圧で動作する集積回路の試験装置に適用することができる。
1、11……試験装置、2、12……ディジタルI/Oピンカード、3……信号発生回路、4……増幅回路、5……試験対象、6……比較回路、9……リレー、13、16……コントローラ
Claims (2)
- テスト用信号を試験対象に印加して応答を判定することにより、前記試験対象を試験する試験装置において、
前記テスト用信号出力端及び又は前記応答の入力端を前記試験対象に接続するリレーと、
前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧を監視し、監視結果を出力する電圧監視回路と、
前記電圧監視回路の監視結果に基づいて、前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧の異常により、前記リレーをオフ制御する制御回路と
を備えることを特徴とする試験装置。 - 前記制御回路は、
前記出力端及び又は前記入力端の端子電圧の異常により、上位のコントローラを介して警告を発する
ことを特徴とする請求項1に記載の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005233215A JP2007047073A (ja) | 2005-08-11 | 2005-08-11 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005233215A JP2007047073A (ja) | 2005-08-11 | 2005-08-11 | 試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007047073A true JP2007047073A (ja) | 2007-02-22 |
Family
ID=37850006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005233215A Pending JP2007047073A (ja) | 2005-08-11 | 2005-08-11 | 試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007047073A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007074352A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Murata Mfg Co Ltd | 被測定デバイスの測定装置及び測定方法 |
CN102540058A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-07-04 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 等离子扫描驱动芯片测试装置 |
-
2005
- 2005-08-11 JP JP2005233215A patent/JP2007047073A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007074352A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Murata Mfg Co Ltd | 被測定デバイスの測定装置及び測定方法 |
JP4506624B2 (ja) * | 2005-09-07 | 2010-07-21 | 株式会社村田製作所 | 被測定デバイスの測定装置及び測定方法 |
CN102540058A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-07-04 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 等离子扫描驱动芯片测试装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004185795A (ja) | メモリ故障救済回路 | |
US8713236B2 (en) | Maintenance guidance display device, maintenance guidance display method, and maintenance guidance display program | |
JP2007047073A (ja) | 試験装置 | |
JP2004213454A (ja) | 負荷の故障診断方法および装置 | |
JP2005039385A (ja) | 車両用制御装置 | |
JP5326898B2 (ja) | 集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置 | |
JP4693362B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JP2004020364A (ja) | バーンイン試験装置 | |
JP5573638B2 (ja) | 情報処理装置及びその作動方法 | |
JP7124808B2 (ja) | 電源装置 | |
JP2003172767A (ja) | 半導体装置 | |
KR100422533B1 (ko) | 차량용 전자 제어 유니트 시험 장치 | |
JPH03282270A (ja) | 半導体集積回路の試験装置 | |
JP2010063312A (ja) | 電源装置の制御切替方法および制御切替装置 | |
JPH11296261A (ja) | コネクタの接続確認装置 | |
KR100197621B1 (ko) | 전자기기의 이상상태 점검장치 및 방법 | |
JP4179190B2 (ja) | ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法 | |
JPH10312229A (ja) | 電源制御装置 | |
KR20200113385A (ko) | 전류 제한 기능을 갖는 스위칭 회로 장치 | |
JPH06232227A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0291587A (ja) | 半導体論理集積回路 | |
JP3348688B2 (ja) | 不要警報抑圧回路 | |
KR19990055280A (ko) | 번-인 테스트 장치의 모니터 보드 감시장치 | |
KR20150050031A (ko) | Smps 검사 장치 | |
JP2008096335A (ja) | 半導体試験システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080710 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090728 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091124 |