JP2007011056A - 液晶表示装置のtft素子電極形状 - Google Patents

液晶表示装置のtft素子電極形状 Download PDF

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Abstract

【課題】アクティブマトリックス方液晶表示装置において、ゲート線上のゲート電圧の遅延に伴うフリッカを防止する。
【解決手段】ゲートライバの位置から遠くに配置されたTFT素子のゲート・ソース寄生容量Cgsが近くに配置されたTFT素子のそれよりも大きくするが、TFT素子各々のチャネル幅WとチャネルギャップLが一定となるようドレイン電極とソース電極の形状・寸法を形成している。
【選択図】図6

Description

本発明は、アクティブマトリックス液晶表示装置に係り、特にTFT素子の電極構造に関する。
TFTスイッチング素子を含むアクティブマトリックスLCD(液晶表示装置)構成の各画素において、TFT素子がオンの際に画素電極と共通電極との間に液晶を駆動する電圧が与えられる。画素電極には信号(データ)電圧、共通電極には一定の共通電圧VCOMが印加される。線順次駆動の走査形式では、マトリックスの各行を順次に走査し、走査されている1つの行ライン上の全てのTFT素子を一水平走査期間のVだけオンにするアドレス電圧(ゲート電圧)がアドレス線に印加される。即ち、V期間の間だけ信号電圧が画素電極に印加され、1フレーム期間の残りの期間における信号電圧は、画素電極に並列な蓄積容量に蓄積された電荷により維持される。次のフレームにおいて走査されたとき、その蓄積電荷は次のデータにより更新される。
液晶は直流電圧で駆動すると寿命が短くなること等から、極性反転駆動方式が一般的に採用され、図1にフレーム反転コモンDC駆動方式での液晶に印加される電圧の波形を示す。即ち、フレーム毎に正と負の極性反転の信号電圧を印加する。フレームFで正極性なら、フレームFi+1で負極性とする。TFT素子がオンであるV期間、信号電圧がTFT素子を介して画素電極に直接印加されると同時に、蓄積容量が信号電圧まで充電される。その後TFT素子がオフになったとき、本来は信号電圧に対応する充電電圧が残りのフレーム期間そのまま維持されるべきであるが、画素電極に結合されているゲート・ソース(又はゲート・ドレイン)間の寄生容量Cgsに対し流れ又は流れ込み、信号電圧が正極性においては充電電圧がΔVgだけ低下し、一方信号電圧が負極性においては、+ΔVgだけ上昇する。このΔVgは突き抜け電圧と称される。信号電圧の極性によってこのΔVgは充電電圧を低下させる方向又は上昇させる方向に作用するから、画素電極の電圧である充電電圧は正と負極性で非対称となり、いわゆる“フリッカ”が生ずる。この非対称性を補うため、共通電極の共通電圧VCOMは、信号電圧の中心レベルから負極性側にΔVCOMだけシフトさせて正と負極性の信号電圧に対称性を取り、フリッカを抑制している。
即ち、信号電圧が正極性、負極性共に充電電圧が突き抜け電圧ΔVgだけ低下する。又、TNの場合、黒表示と白表示で液晶容量が違うので、白表示と黒表示で突き抜け電圧の最適Vcomの値が違う。通常、中間階調表示でフリッカ調整を行うことでフリッカを抑制している。
一方、各画素のTFT素子のソース電極(又はドレイン電極)はゲート(アドレス)配線と重なって形成され、ゲート配線の寄生容量Cgsを形成する。このCgsは、ゲート線においてゲートドライバ側の近くから遠くになるにつれてゲートパルスを遅延させる原因となる(又はゲートパルスの波形がなまってくる)。これは、突き抜け電圧ΔVgの大きさに影響を与え、ゲートドライバから遠い画素になるにつれてΔVgが小さくなる。前述のように、フリッカをなくすために信号電圧の正・負電極性での対象性を得るようシフトして設定したVCOMは、ΔVgの大きさに依存する。
そうすると、寄生容量Cgsの影響でΔVgがゲート線の位置で変わってくることは、フリッカをなくすためにVCOMが設定すべき値はゲート線の位置で変わってくることを意味する。このように、ゲート線に遅延がある際に、フリッカをなくすためのゲート線の位置に対するVCOM値を図2に示す。フリッカをなくすには、以下の式で示されるΔVgを一定にしてこのVCOM値がフラットであるべきである。
ΔVg = (Vgh Vgl) x Cgs / (Cgs + Clc + Cs)
Vgh:ゲート電圧のオンレベル
Vgl:ゲート電圧のオフレベル
Cgs:ゲート・ソース間の寄生容量
Clc:画素容量
Cs:蓄積容量
このために、ゲートドライバから遠くなる位置のTFT素子について、Cgsを大きくすることでゲート線遅延に伴うΔVgが小さくなることを補償することが提案され、そのためにTFT素子のチャネル幅W/チャネル長を大きくしていくことが採用されている(特開平10−206823号)。
一方、ゲート線への負荷容量を減少させるべく、ゲートドライバから遠くなる位置の、ゲート線と画素電極との間に形成される容量Csを徐々に小さくしていくことも提案されている(特開平2002−303882号)。
しかしながら、上述のような従来技術では、TFT素子のWとLが変わることによりゲート線の負荷容量が増えたり、TFT素子のターンオン電流Ion、ターンオフ電流Ioffが変わるという副作用を伴い、設計上の困難さがあった。
本発明の課題は、そのような設計上の困難さが軽減された、フリッカ防止の手法を提供することにある。
特開平10−206823号 特開2002−303882号
第1と第2の基板間に配置された液晶、第1の基板上でマトリックス上に配置された、表示領域を画成しているゲート線とデータ線、第1の基板上で、ゲート線とデータ線の交点各々に規定された画素領域内に形成された画素電極、第1又は第2の基板上で、画素電極との間に液晶駆動電圧を印加するよう形成された共通電極、表示領域の外側に設けられ、ゲート線各々を逐次操作するよう、ゲート線に信号を印加するゲートドライバ、表示領域の外側に設けられ、データ線各々にデータ信号を印加するデータドライバ及び、画素領域各々に設けられたTFT素子であって、ゲート線上のゲート信号によってオンになったとき、データ線上のデータ信号を画素電極に印加するTFT素子とからなるアクティブマトリックス液晶表示装置において、TFT素子は、ゲートライン上に配置されたアモルファス半導体パッチ、パッチ上に配置されたドレイン電極とソース電極とからなり、ゲートドライバの位置から遠くに配置されたTFT素子のゲート−ソース寄生容量Cgs″が、近くに配置されたTFT素子のゲート−ソース寄生容量Cgs′より大きくなるが、TFT素子のチャネル幅Wとチャネルギャップはゲートドライバの位置からの距離に関わらず一定であるようドレイン電極とソース電極の形状・寸法が形成されている。
以上述べたように、本発明のアクティブマトリックスLCDでは、寄生容量Cgsがゲートドライバから遠くになるにつれて大きくなるようにし、フリッカ防止のためのVCOMカーブを略一定にしているが、チャネル幅W、チャネルギャップLを一定に維持しているので、TFT素子のターンオン電流Ion、ターンオフ電流Ioffが各TFT素子で一定であり、Cgsを変化させることによる他の設計事項に与える問題が少ない。又、このように変化するTFT素子構造をとっても、ゲート線に与える負荷容量が一定となるようにしているので、VCOMの設定値の選択に困難性がない。
本発明の実施例としてのアクティブマトリックスLCD構成における1画素領域での構造を図3に示す。ゲート線(アドレス線)10とデータ線20が画成する1画素領域に、TFT素子と画素電極が形成される。TFT素子はアモルファス半導体領域(パッチ)30、ドレイン電極40、ソース電極50を含み、ゲート電極はゲート線10から延在する突出部10aで構成される。ドレイン電極40はデータ線20に接続され、ソース電極50はコンタクトホールを介して画素電極50に接続されている。画素電極50の一部は次のゲート線10と重複して領域60で蓄積容量Csを形成している。
図4は、TFT素子構造部を含むTN型液晶表示装置の断面を示す。基板a上にゲート配線10とその突出部10aが形成され、絶縁層b上にアモルファス半導体パッチ30が形成され、その左右にドレイン電極40とソース電極30が接触層としてのn + α Si膜cを介して形成される。それらをカバーする保護膜dがつけられ、コンタクトホールeを介して画素電極60がソース電極50に接続されている。液晶fをはさみ、対向基板g上にブラックマトリクスh、カラーフィルタi、対向(共通)電極jが設けられる。
発明に従うTFT構造について、ゲートドライバに近い位置にあるTFT構成を図5、遠い位置にあるTFT構成を図6に示す。図5と図6において、30′と30″はアモルファス半導体パッチ、40′と40″はドレイン電極、そして50′と50″はソース電極であり、ゲート電極となるゲート線突出部10a′と10a″上に形成されている。図5において、アモルファス半導体パッチ30′は斜線区域として示されている。TFT素子製造工程でマスク枚数を減らすため、パッチ30′はドレイン電極40′と同一境界線で形成され、ドレイン電極40′の外郭と一致している。
図5と図6において、ソース電極50′、50″とその周辺の点区域がゲート・ソース寄生容量Cgsを形成する。寄生容量Cgsは図5のものに対し、図6のものが大きくなっている。このため、ソース電極の幅は図6のゲートドライバから遠い位置のTFTのものが広くなっている。一方、TFT素子のチャネル幅は図5においてW′、図6においてW″として示され、TFT素子のチャネルギャップは図5においてL′、図6においてL″として示されている。本発明によると、寄生容量Cgsを変えてもTFT素子のチャネル幅とチャネルギャップは同じに維持される。即ち、W′=W″、L′=L″となるように、ソース電極とドレイン電極が設計される。
図5と図6の実施例では、入れ子状に凹形のドレイン電極の中にソース電極が入っている基本構造をしている。図6で寄生容量Cgsを大きくするためソース電極の幅を広くした分、チャネル長を一定(即ちW′=W″)にすべくドレイン電極の両側の辺は短くなっている。即ちIVの長さを大きくしている。又、チャネルギャップを一定(即ちL′=L″)にすべく、ドレイン電極のへこみ部の横幅は広くしている。又、チャネルギャップLを一定にすべくドレイン電極の下辺の幅を広くしている。このように、寄生容量Cgsを変えて突き抜け電圧ΔVgをゲート線(アドレス線)についてゲートドライバの近端から遠端にわたって一定にし、VCOMをゲート線にわたって一定であってもフリッカが生じないようにしているが、チャネル幅WとギャップLを一定にしているので、TFT素子のターンオン電流Ion、ターンオフ電流Ioffも一定になり、寄生容量Cgsを変化させることによる設計上の弊害がない。
具体的には、先ず所望のCgsを得るようソース電極50″の幅を決め、図6に示すI、II、III、IV及びVの幅を適宜選択することで、一定のチャネル長とチャネルギャップを実現している。
TFT素子構造がゲート線に与える負荷容量は、ゲート線上のアモルファス半導体パッチの面積(図5の斜線領域)による。負荷容量がゲート線の位置で変わると、遅延の量が変化してVCOM部分に影響する。このため、突き抜け電圧ΔVgがCgs/(Cs + Clc + Cgs)だけで決まらず、仮にCgsを適当に変えてもΔVgを精度良く一定にすることが困難になる。つまり、最適改善ポイントとなる寄生容量Cgsの変化の仕方、又VCOMの設定値の選択が困難となる。
図5と図6の実施例では、前述のようにアモルファス半導体パッチは、ドレイン電極外郭と一致している。従って、寄生容量Cgsを変える際にゲート線に与える負荷容量を一定に保つには、ドレイン電極外郭サイズ(特にドレイン電極の横幅)を一定に保ちながら、図6に示すI、II、III、IV、及びVを調節することが必要である。
図7に示すTFT素子構造は、アモルファス半導体パッチの露光工程専用のマスクを用いるもので、アモルファス半導体パッチ30(斜線領域)がドレイン電極外郭より大きくなっているタイプである。このタイプでは、アモルファス半導体パッチ30の面積はドレインとソース電極の形状に関わりなく一定であるので、チャネル幅W、チャネルギャップLを維持しながら寄生容量Cgsを変えるようドレインとソース電極の形状を変えても、TFT素子構造がゲート線に与える負荷容量は変わらないことになる。
従って、本発明の図5と図6の実施例ではドレイン電極の横幅のDを略一定に保つようにしている。このため、本発明実施例ではTFT素子のアモルファス半導体パッチのサイズを一定にしている。即ち、Dを一定に保ちながら図6のI、II、III、IV及びVで示す長さを調節して、寄生容量Cgsを大きくしてもTFT素子各々のゲート線に与える負荷容量が一定になるようにしている。図6の場合では、幅Dを一定にして幅Vを大きくした分、ドレイン電極の両側辺の幅IとIIが細くなっている。
本発明の実施例として、画素電極と共通電極が対向する異なる基板上にそれぞれ形成されているTN型液晶表示装置において説明されたが、第1の基板(アレイ基板)上にゲート線、データ線、画素電極と共に共通電極が形成される液晶表示装置のTFT構造にも適用できることは明らかであり、即ち、TN、IPS、FFS、MVA型の液晶表示装置に適用できるものである。
画素電極電圧とVCOM電圧を示す図である。 フリッカ防止のためのVCOMレベルを示す図である。 本発明の実施例の画素領域内のTFT素子と画素電極を示す図である。 本発明の実施例の液晶表示装置の断面を示す図である。 本発明の実施例のゲート線上におけるゲートドライバに近いTFT素子の構造を示す図である。 本発明の実施例のゲート線上におけるゲートドライバに遠いTFT素子の構造を示す図である。 本発明の実施例のTFT素子構造のゲート線に与える負荷容量を示す図である。
符号の説明
10・・・ゲート線
10a・・ゲート線突出部
20・・・データ線
30・・・アモルファス半導体パッチ
40・・・ドレイン電極
50・・・ソース電極
60・・・画素電極
60a・・蓄積容量部

Claims (3)

  1. 第1と第2の基板間に配置された液晶、
    該第1の基板上でマトリックス状に配置された、表示領域を画成しているゲート線とデータ線、
    該第1の基板上で、該ゲート線とデータ線の交点各々に規定された画素領域内に形成された画素電極、
    該第1又は第2の基板上で、画素電極との間に液晶駆動電圧を印加するよう形成された共通電極、
    該表示領域の外側に設けられ、該ゲート線各々を順次走査するよう、該ゲート線に信号を印加するゲートドライバ、
    該表示領域の外側に設けられ、該データ線各々にデータ信号を印加するデータドライバ、及び
    画素領域各々に設けられたTFT素子であって、該ゲート線上のゲート信号によってオンになったとき、該データ線上のデータ信号を該画素電極に印加するTFT素子とからなるアクティブマトリックス液晶表示装置において、
    該TFT素子は、ゲートライン上に配置されたアモルファス半導体パッチ、該パッチ上に配置されたドレイン電極とソース電極とからなり、
    該ゲートドライバの位置から遠くに配置されたTFT素子のゲート−ソース寄生容量Cgs″が、近くに配置されたTFT素子のゲート−ソース寄生容量Cgs′より大きくなるが、該TFT素子のチャネル幅WとチャネルギャップLは該ゲートドライバの位置からの距離に関わらず一定であるようドレイン電極とソース電極の形状・寸法が形成されているアクティブマトリックス液晶表示装置。
  2. 請求項1に記載の装置において、該ゲートドライバの位置からの距離に関わらず、該TFT素子各々の該ゲート線に与える負荷容量が一定であるアクティブマトリックス液晶表示装置。
  3. 請求項1又は2に記載の装置において、該TFT素子各々のドレイン電極の形状は凹型であり、該ソース電極が該ドレイン電極の凹型形状のへこみ部に入り込むよう形成されているアクティブマトリックス液晶表示装置。
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