JP2006521543A - 固体の輪郭形状の非接触式動的検出方法 - Google Patents
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Abstract
レーザ装置(2)によって発生させられて少なくとも1つのライン状光ビーム帯(3)に拡げられた少なくとも1つのビームが固体(1)の表面に照射され、前記固体(1,1a)の表面で反射された光(RL)は前記レーザ装置(2)に対して固定的な基準距離(B)を保って配置されている結像装置(5)内で集束され、固体(1)の運動速度(v)に比して高い周波数でエリア型の受光素子(6)によって検出され、その後に、前記受光素子(6)によって出力された信号から、データ処理装置内で、三角測量角度(φ)と基準距離(B)とに基づいて、三角法関係式の利用及び前記固体(1)の運動速度(v)に応じて決定された補正値との線形結合で輪郭形状(P)の測定値が得られ、データ処理装置にプロフィログラム(PG)として格納される。
Description
この場合、好適には、基礎値は、プロフィログラムの検出ないし部分プロフィログラムの検出と同様にして行われる、同じく従動固体の非接触式の動的測定によって求められる少なくとも3つの測定値から算定することができる。これには、従動固体を所定の時間間隔で少なくとも3つの時点に、ライン状光ビーム帯に拡げられた単一のビームによって測定する方法と、光ビーム帯が照射される固体表面の領域間の間隔を所定の間隔として、それぞれライン状光ビーム帯に拡げられた少なくとも3つのビームによって同時に測定する方法とがある。
− 結果の高度な再現性ならびに高度な測定精度の観点から、発生させられる光ビーム帯の波長は400nm〜1000nmの範囲内、特に650nm〜700nmの範囲内にあること。
− 同じく前記の観点から、レーザ装置の電力は0.5〜50mWの範囲内にあること。
− 高度な労働安全性(DIN EN 60825−1:2001−11に定めるレーザ等級2)の観点から、光ビーム帯の波長は可視域内にあり、レーザ装置の接触可能なビームの限界値(GZS)は1mW以下であること。ここで、レーザ電力が1mW以上の場合には、接触可能なビームの限界値は適切な対策によって、要求される値にまで低下させることができるように注意しなければならない。
− 本方法のコスト抑制の観点から、たとえば半導体材料たとえばGaAs,AlGaAs,InGaP,GaAsSb,InP,PbSnTe等からなるcw(連続波)固体ダイオード、好ましくはレーザポインタに使用されるようなVLD(可視レーザダイオード)を使用すること。こうした可視光ビーム帯はさらに、測定さるべき固体に対するレーザ装置の調節を容易にする。
− 光ビーム帯の幅は0.3mm〜6.5mmの範囲内、特に0.8mm〜2.2mmの範囲内にあること。 拡散によって場合により平均動作距離(測定距離)の意図的な増大と共に測定精度を低下させることになる光ビーム帯の幅の拡大が生ずる。
− 光ビーム帯の長さは、 測定さるべき固体表面の領域のジオメトリに応じて、50mm〜750mmの範囲内、特に200mm〜400mmの範囲内にあること。
− 三角測量角度は15°〜40°の範囲内、特に20°〜30°の範囲内にあること。角度の増大は測定精度を高めるが、固体表面の不均一な照射ならびに陰影発生の危険も高める。
− 結像装置、特に結像装置の集束レンズの中心点とレーザ装置の光学軸との間の基準距離は30mm〜450mmの範囲内、特に60mm〜270mmの範囲内にあること。
− 光ビーム帯が照射される固体表面の領域からのレーザ装置および/または結像装置の平均動作距離は20mm〜650mmの範囲内、特に150mm〜350mmの範囲内にあること。
− 固体の、場合によって行われる並進運動の速度は3.5m/s以下、好ましくは1.5m/s以下であること。
− 固体の、場合によって行われる回転運動の角速度は15s-1以下、好ましくは6s-1以下および好ましくはコンスタントであること。
− 固体表面によって反射された光が受光素子によって検出される周波数は25Hz〜100kHzの範囲内、好ましくは1kHz〜10kHzの範囲内にあること。
本発明のその他の有利な実施形態は従請求項ならびに下記の詳細な説明に述べられている。
図面の各図において同一の部分には常に同一の符号を付してあることから、それらの説明は一般にそれぞれ一回だけ行われている。
固体1の表面への光ビーム帯の照射箇所ZAには、光の拡散散乱(反射光R)により測定スポットが形成されるが、これはレーザ装置2の光学軸O−Oによって定まる入射方向から逸れた方向からも検知される。
この場合、本発明による方法に使用される装置の幾何学的配置構成は、固定設定される三角測量角度φのほかに、その光学軸O−Oによって決定されるレーザ装置2のポジションに対する結像装置5の集束レンズ4の光学軸A−Aの固定基準距離Bによって定まる。
ZA=H/(1−B/XA) (1)
(式中、Hは、図1が具体的に示しているように、受光素子6に対する結像装置5の集束レンズ4の距離である)によって決定することができる。
この場合、相対測定精度dZA/ZAは
dZA/ZA=1/(1−XA/B)*dXA/XA (2)
であり、ここで画像スポット位置の相対解像度dXA/XAは、反射光RLが受光素子6によって受光される際の周波数fと関連した固体の速度v、ならびに信号雑音および受光素子6の種類に依存している。ここで式(2)中の値dZAは測定精度の絶対値を表している。
同図から、この摩耗テストスタンド8では、複数のプロフィログラムPGが(図7にもPGa,PGbおよびPGcとして表されている)部分プロフィログラムとして、固体1の表面のそれぞれ異なった面D1,D2,Mにある領域に光ビーム帯3a,3b,3cを照射する3基のレーザ装置2とそれらに対応する結像装置5とを使用して測定されることが理解でいる。部分プロフィログラムPGa,PGbおよびPGcはデータ処理装置に格納され、これらから総プロフィログラムGPGを得ることができる。
転動中の車輪1aの基準半径Rは測定値Z1,Z2,Z3の測定後、以下の連立方程式、
R2=X1 2+Z1 2 (3)
R2=X2 2+Z2 2 (4)
R2=X3 2+Z3 2 (5)
X1−X2=k*(X2−X3) (6)
から求めることができる。
前記式中、値RならびにX1、X2およびX3はそれぞれ未知数を表している。式(6)中の値kは、既知の所定の時間間隔Δtかまたは車輪1aの表面の領域間の間隔N1,N2に対応する係数であり、これは時間間隔Δtが一定であるかまたは間隔N1,N2が等しいかする好ましいケースにつき値1を取る。
さらに、当業者は、本発明の範囲を逸脱することなく、追加的な好適な方策によって本発明を補充することが可能である。たとえば、一切の演算操作−たとえば前述した(1)から(6)までの式の演算操作−を実行するために、データ処理装置に適切なソフトウェアモジュールを使用することが可能である。
1a 車輪
2 レーザ装置
3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3 光ビーム帯
4 5のレンズ
5 結像装置
6 受光素子
7 ケーシング
8 摩耗テストスタンド
9 レール
10 軌条車両
A−A 6の光学軸
B 基準距離
b 3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3の幅
Dz zの測定範囲
dZA ZAの解像度
D1,D2 1,1aの側面
F 周波数
GPG 総プロフィログラム
H 距離4/6(図1)
Kv v,ωに応じた補正値
Ko 3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3の領域/位置に応じた補正値
k N1,N2ないしΔtに応じた係数
L 動作距離
LL 3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3の線長
M 1,1aの外周面
N1,N2 3c1,3c2,3c3の間の間隔
O−O 2の光学軸
P 輪郭形状
PG プロフィログラム
PGa,PGb,PGc 部分プロフィログラム
R 半径
RL 反射光
V 1,1aの並進運動速度
tk,t1,t2,t3 測定時点
S1,S2,S3 半径Rの円上の点
sl1,sl2,sl3 S1,S2,S3における弦長
x 横座標
XA 6におけるRL画像スポットの位置
Xmax Xの最大値
Xmin Xの最小値
X1,X2,X3 S1,S2,S3における横座標値
y 横座標
Z 縦座標
ZA 測定値、3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3の照射箇所
ZB ZAからの補正測定値
Zmax Zの最大値
Zmin Zの最小値
Z1,Z2,Z3 S1,S2,S3における高さ測定値
ΔPG 輪郭形状偏差
Δt 時間間隔
φ 三角測量角度
Claims (33)
- 特に固体(1,1a)に生じた摩耗の測定を目的とした、前記固体(1,1a)の輪郭形状(P)の非接触式動的検出を行うための方法において、
レーザ装置(2)によって発生させられて少なくとも1つのライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)に拡げられた少なくとも1つのビームが固体(1,1a)の表面の少なくとも1つの領域に照射され、その際、前記固体(1,1a)は前記レーザ装置(2)の側方を通過し、前記固体(1,1a)の表面の前記領域によって反射された光(RL)は結像装置(5)内で集束され、この結像装置(5)は前記レーザ装置(2)に対して固定的な基準距離(B)を保って配置されるとともに、前記レーザ装置(2)の照射方向(O−O)に対して固定的な三角測量角度(φ)をなす光学軸(A−A)を有するものであり、前記集束された反射光(RL)は固体(1,1a)の運動速度(v)に比して高い周波数(f)でエリア型の受光素子(6)によって検出され、その後に、前記受光素子(6)によって出力された信号から、データ処理装置内で、三角測量角度(φ)と基準距離(B)とに基づいて、三角法関係式の利用及び前記固体(1,1a)の運動速度(v)に応じて決定された補正値(Kv)との線形結合で輪郭形状(P)の測定値(ZB)が得られ、この測定値(ZB)が前記データ処理装置にプロフィログラム(PG)として格納される方法。 - 前記輪郭形状(P)の測定値(ZB)は固体(1,1a)の表面の領域に応じて決定される補正値(Ko)との組み合わせで得られることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)は回転運動を実施することを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)は実質的に回転対称体、特に車両車輪(1a)であり、転動運動を行うことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 回転運動は一定の角速度(ω)で進行することを特徴とする請求項3または4に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)の回転運動の角速度(ω)は15s−1以下、好ましくは6s−1以下であることを特徴とする請求項3から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)の表面領域に応じて決定される補正値(Ko)は、回転対称体の半径(R)に応じて決定されるベクトルの係数または加数あるいはその両方であることを特徴とする請求項2および請求項4から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)の運動速度(v,ω)に応じて決定される補正値(Kv)は、運動速度(v,ω)に比例するベクトルの係数または加数あるいはその両方であることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記運動速度(v,ω)に応じて求められる補正値(Kv)を決定するために、運動速度(v,ω)と反射光(RL)の検出周波数(f)との相補的な組み合わせが行われることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
- 複数のプロフィログラム(PG)が、固体(1,1a)の表面のそれぞれ異なった側にある領域に光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)を照射する少なくとも3つのレーザ装置(2)と該装置を組み込んだ結像装置(5)とを使用して、部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)として測定され、これらの部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)がデータ処理装置に格納され、それから総プロフィログラム(GPG)が得られることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 基本形状が実質的に円筒状またはリング状の固体(1,1a)たとえば車両車輪(1a)の場合に、光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)が照射される少なくとも3つの領域は円筒またはリングの両側の側面(D1,D2)と外周面(M)とに位置していることを特徴とする請求項10に記載の方法。
- 転動する固体(1,1a)の総プロフィログラム(GPG)は両側面(D1,D2)と外周面(M)とで同時にある検出時点(tk)に測定された部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)から得られ、その際、個々の部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)の検出時点(tk)は、この検出時点(tk)に求められた測定値(Zk)が最大値を取るように選択され、その際前記測定値(Zk)は、側面(D1,D2)の一方において半径(R)の円弧上でそれぞれ連続した時点(t1,t2,t3)に、一方向でのライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)のそれぞれの長さから決定されるとともに、それぞれ円弧の弦(sl1,sl2,sl3)の半分の長さに対応する少なくとも3つの測定値(Z1,Z2,Z3)からなることを特徴とする請求項11に記載の方法。
- プロフィログラム(PG)、部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)および/または総プロフィログラム(GPG)はそれぞれ1または複数の基準プロフィログラム(BP1,BP2)と比較され、それぞれの基準プロフィログラム(BP1,BP2)からのそれぞれの偏差(ΔPG)が確認されることを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載の方法。
- プロフィログラム(PG)、部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)、総プロフィログラム(GPG)、それぞれの基準プロフィログラム(BP1,BP2)またはそれぞれの偏差(ΔPG)あるいはそれらの両方は、固定的な、長期的に不変の幾何学的基礎値たとえば非摩耗性の車輪リム内径(R)を基礎としていることを特徴とする請求項1から13のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基礎値は、プロフィログラム(PG)の検出ないし部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)の検出と同様にして行われる、従動固体(1,1a)の非接触式の動的測定によって求められる少なくとも3つの測定値から算定されることを特徴とする請求項14に記載の方法。
- 前記従動固体(1,1a)の非接触式の動的測定は、所定の時間間隔(Δt)で、少なくとも3つの時点(t1,t2,t3)に、ライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)に拡げられた単一のビームによって行われることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記従動固体の非接触式の動的測定は、ライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)が照射される固体(1,1a)の表面の領域間の間隔を所定の間隔(N1,N2)として、それぞれライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)に拡げられた少なくとも3つのビームによって同時に行われることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記基礎値は転動する回転対称体の半径(R)であり、該半径は以下の連立方程式
R2 =X1 2+Z1 2 (1)
R2=X2 2+Z2 2 (2)
R2 =X3 2+Z3 2 (3)
X1−X2=k*(X2−X3) (4)
、式中、Z1,Z2,Z3は、半径(R)の円弧上にある、それぞれ一方向において求められた、デカルト座標系の縦座標値(Z)に相当する、それぞれ円弧の弦(sl1,sl2,sl3)の半分の長さに対応する、ライン状光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)の長さの3測定値であり、X1,X2,X3 はそれぞれこれらの測定値に属する横座標値(X)であり、kは所定の時間間隔(Δt)または固体(1,1a)の表面領域間の間隔(n1,N2)に対応する係数である、
から求められることを特徴とする請求項14から17のいずれか一項に記載の方法。 - プロフィログラム(PG)、部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)、総プロフィログラム(GPG)、それぞれの基準プロフィログラム(BP1,BP2)およびそれぞれの偏差(ΔPG)あるいはそれら両方はディスプレイのような表示装置に視覚化されることを特徴とする請求項1から18のいずれか一項に記載の方法。
- 前記受光素子(6)として、ディジタル化された信号を供給する装置たとえばトリガ制御式CCDカメラが使用されることを特徴とする請求項1から19のいずれか一項に記載の方法。
- 前記受光素子(6)として、フォトダイオードディスプレイのような位置敏感型検出器たとえばが使用されることを特徴とする請求項1から20のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)の光は400nm〜1000nmの範囲内、特に650〜700nmの範囲内の波長を有することを特徴とする請求項1から21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)の光は可視域内の波長を有し、レーザ装置(2)の接触可能なビームの限界値(GZS)は1mW以下であることを特徴とする請求項1から22のいずれか一項に記載の方法。
- 前記レーザ装置(2)の電力は0.5〜50mWの範囲内にあることを特徴とする請求項1から23のいずれか一項に記載の方法。
- 前記レーザ装置(2)は、cw(連続波)固体ダイオード、たとえばGaAs,AlGaAs,InGaP,GaAsSb,InP,PbSnTeなどの半導体材料等からなるダイオード、好ましくはVLD(可視レーザダイオード)を含むことを特徴とする請求項1から24のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)は0.3mm〜6.5mmの範囲内、特に0.8mm〜2.2mmの範囲内の幅(b)を有することを特徴とする請求項1から25のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)は50mm〜750mmの範囲内、特に200mm〜400mmの範囲内の長さ(LB)を有することを特徴とする請求項1から26のいずれか一項に記載の方法。
- 前記三角測量角度(φ)は15°〜40°の範囲内、特に20°〜30°の範囲内の値を有することを特徴とする請求項1から27のいずれか一項に記載の方法。
- 前記固体(1,1a)の表面によって反射された光(RL)が受光素子(6)によって検出される周波数(f)は25Hz〜100kHzの範囲内、好ましくは1kHz〜10kHzの範囲内にあることを特徴とする請求項1から28のいずれか一項に記載の方法。
- 固体の並進運動速度(v)は3.5m/s以下、好ましくは1.5m/s以下であることを特徴とする請求項1から29のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光ビーム帯(3,3a,3b,3c,3c1,3c2,3c3)が照射される固体(1,1a)の表面領域からのレーザ装置(2)または結像装置(5)あるいはその両方からの平均動作距離(L)は20mm〜650mmの範囲内、特に150mm〜350mmの範囲内にあることを特徴とする請求項1から30のいずれか一項に記載の方法。
- 前記結像装置(5)、特に結像装置(5)の集束レンズ(4)の中心点とレーザ装置の光学軸(O−O)との間の基準距離(B)は30mm〜450mmの範囲内、特に60mm〜270mmの範囲内にあることを特徴とする請求項1から31のいずれか一項に記載の方法。
- プロフィログラム(PG)、部分プロフィログラム(PGa,PGb,PGc)、総プロフィログラム(GPG)、それぞれの基準プロフィログラム(BP1,BP2)またはそれぞれの偏差(ΔPG)あるいはそれら両方にとって、2.0mm以下、特に0.5mm以下の解像度(dZA)が基礎とされることを特徴とする請求項1から32のいずれか一項に記載の方法。
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