JP2006350308A - フォトニッククリスタルファイバ用コネクタとその製造方法、光ファイバ接続方法及び光ファイバ用コネクタ製造方法 - Google Patents

フォトニッククリスタルファイバ用コネクタとその製造方法、光ファイバ接続方法及び光ファイバ用コネクタ製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】フォトニッククリスタルファイバ(PCF)とSMFとを低い接続損失でコネクタ接続することが可能なPCF用コネクタとその製造方法の提供。
【解決手段】クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFをフェルールに挿入してなるPCF用コネクタであって、前記PCFは、その一端側に設けられた中実部と、該中実部に隣接した領域の細孔が前記中実部に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部とを有することを特徴とするPCF用コネクタ。
【選択図】図1

Description

本発明は、フォトニッククリスタルファイバ(以下、PCFと略記する。)と汎用シングルモード光ファイバ(以下、SMFと略記する。)とを低い接続損失でコネクタ接続することが可能なPCF用コネクタとその製造方法、光ファイバ接続方法及び光ファイバ用コネクタ製造方法に関する。
PCFは、クラッド部に細孔を有する光ファイバであり、従来のコア/クラッド構造を有する光ファイバでは実現不可能な特性を達成することが可能であり、様々な種類の機能性ファイバや将来の伝送用光ファイバとして開発が行われている。PCFは、コア部の周囲に配置した細孔の低屈折率性を利用し、等価的に低屈折率のクラッドを構成している。細孔配置の設計によってPCFは、様々な特性を得ることができ、クラッド部より高い屈折率を持つコア周囲に複数の細孔を配置した孔アシスト型PCFは、曲げ損失を小さくすることができ、低曲げ損失ファイバとして提案されている。
このようなPCFを各分野に適用させるためには、PCFと、現在汎用されているSMFとを低い接続損失で接続することが可能な接続方法の提供が不可欠である。
本出願人は、PCFとSMFとを低い接続損失で融着接続することが可能な接続方法を発明し、既に特許出願している(特許文献1参照。)。
また、PCFとSMFとをコネクタ接続するPCF用コネクタとしては、例えば、特許文献2、非特許文献1に開示されている。
特開2005−301024号公報 特開2003−307653号公報 信学技報 OFT2003−63
前記従来技術のうち、特許文献2には、コネクタ端面にPCFの細孔があると、研磨材などが細孔内に侵入する影響を解決するため、中実部を設けることが記載されている。しかし、中実部長が短いとコネクタ挿入後、端面を研磨加工するときに、誤って中実部すべてを研磨してしまい、細孔内に研磨材や研磨屑などが侵入し、PCFとしての特性が得られなくなる恐れがある。
また、非特許文献1では、PCF端部にSMFを融着したものをコネクタフェルール内に挿入しているが、フェルール内に融着点を有する構造では、コネクタの耐久性という点で問題がある。また、融着部の外径はファイバ外径より数μm太くなるため、通常よりも内径の大きなフェルールを使用する必要があり、コネクタ加工時の同軸性も悪くなると考えられる。
また、特許文献1にあるように、空孔部のテーパ形状によっても接続損失に大きく影響する。
本発明は前記事情に鑑みてなされ、PCFとSMFとを低い接続損失でコネクタ接続することが可能なPCF用コネクタとその製造方法の提供を目的とする。
前記目的を達成するため、本発明は、クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFをフェルールに挿入してなるPCF用コネクタであって、前記PCFは、その一端側に設けられた中実部と、該中実部に隣接した領域の細孔が前記中実部に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部とを有することを特徴とするPCF用コネクタを提供する。
本発明のPCF用コネクタにおいて、前記中実部の長さは0.1〜1.0mmの範囲であることが好ましい。
本発明のPCF用コネクタにおいて、前記テーパ空孔部の長さは0.1〜1.0mmの範囲であることが好ましい。
本発明のPCF用コネクタにおいて、前記テーパ空孔部及び前記中実部は、融着接続機のアーク放電をファイバ長手方向に移動させながら前記PCFの一端側を加熱することにより形成されたものであることが好ましい。
また本発明は、クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFを用意し、該PCFの一端側に細孔を潰した中実部を形成すると共に、該中実部に隣接した領域の細孔を前記中実部に向けて漸次縮径したテーパ空孔部とを形成し、次いで該PCFをフェルールに挿入してPCF用コネクタを得ることを特徴とするPCF用コネクタ製造方法を提供する。
本発明のPCF用コネクタ製造方法において、前記中実部の長さを0.1〜1.0mmの範囲とすることが好ましい。
本発明のPCF用コネクタ製造方法において、前記テーパ空孔部の長さを0.1〜1.0mmの範囲とすることが好ましい。
本発明のPCF用コネクタ製造方法において、前記テーパ空孔部及び前記中実部を形成する工程が、融着接続機のアーク放電をファイバ長手方向に移動させながら前記PCFの一端側を加熱することにより行われることが好ましい。
本発明のPCF用コネクタ製造方法において、前記PCFの一端側に加工補助ファイバの一端側を突き合わせてスイープ機能付融着接続機にセットし、PCFの一端側をスイープ放電加工しながら前記加工補助ファイバの一端側に融着接続し、その後融着接続部又は融着接続部よりもPCF側の所定位置で切断し、そのPCFをフェルールに挿入してPCF用コネクタを得ることが好ましい。
また本発明は、クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFと同種、又は異種の光ファイバとの融着接続工程を有する光ファイバ接続方法において、両方のファイバ端面を突合わせてその部位を放電加熱して融着した後、該融着接続部にPCFの長手方向に移動させながらアーク放電を複数回繰り返し行うことを特徴とする光ファイバ接続方法を提供する。
本発明の光ファイバ接続方法において、PCF長手方向に移動させながら行う1回目のアーク放電でPCFの細孔を完全に中実化しないことが好ましい。
本発明の光ファイバ接続方法において、融着放電後に行うアーク放電がスイープ放電機能を用いたスイープ放電であり、該スイープ放電を少なくとも2回繰り返すことが好ましい。
その場合、1次スイープ放電出力を10bit以上45bit以下、1次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下、2次スイープ放電出力を0bit以上40bit以下、2次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下で行うことが好ましい。
また本発明は、クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFと同種、又は異種の光ファイバとの融着放電後、アーク放電を複数回繰り返しPCF長手方向に移動させながら融着接続を行った融着点を持つことを特徴とするPCF用コネクタを提供する。
前記PCF用コネクタにおいて、クラッド部に設けられた複数の細孔が端面に向かってテーパ状に先細りとなったテーパ空孔部を有することが好ましい。
また本発明は、クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するPCFと同種、又は異種の光ファイバとをそれぞれの端面を突合わせ、融着接続を行い、融着点を含まないように光ファイバを切断した後、フェルールに挿入した光ファイバコネクタの製造方法において、前記PCFと同種、又は異種の光ファイバとを、融着放電後、アーク放電を複数回繰り返しPCF長手方向に移動させることを特徴とする光ファイバ用コネクタ製造方法を提供する。
本発明の光ファイバ用コネクタ製造方法において、PCF長手方向に移動させながら行う1回目のアーク放電でPCFの細孔を完全に中実化しないことが好ましい。
本発明の光ファイバ用コネクタ製造方法において、融着放電後に行うアーク放電がスイープ放電機能を用いたスイープ放電であり、該スイープ放電を少なくとも2回繰り返すことが好ましい。
本発明の光ファイバ用コネクタ製造方法において、1次スイープ放電出力を10bit以上45bit以下、1次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下、2次スイープ放電出力を0bit以上40bit以下、2次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下で行うことが好ましい。
本発明のPCF用コネクタは、一端側に設けられた中実部と、該中実部に隣接した領域の細孔が前記中実部に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部とを有するPCFをフェルールに挿入してなり、中実部側にSMFをコネクタ接続することによって、PCFとSMFとを低い接続損失でコネクタ接続することができる。
また本発明のPCF用コネクタ製造方法は、PCFとSMFとを低い接続損失でコネクタ接続可能な前記PCF用コネクタを歩留まり良く製造することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図1は、本発明のPCF用コネクタ製造方法の一実施形態を示す図である。本実施形態の製造方法では、クラッド部4より高い屈折率のコア部3と、コア部3の周囲に設けられたクラッド部4と、コア部3を囲むようにクラッド部4に設けられた複数の細孔5とを有するPCF2(孔アシスト型PCF)と、融着接続に使用する加工補助ファイバを用意する。この加工補助ファイバとしては、屈折率がクラッドより高いコア7とそれを囲むクラッド8とからなる汎用のSMF6を用いることができるが、これに限定されない。
本発明で用いるPCF2は特に限定されないが、本発明のPCF用コネクタ1のPCF用端面12側に接続されるPCFとコア部直径やクラッド外径、比屈折率差などの構造パラメータが等しいPCFを用いることが好ましい。図3は、本発明で用いるPCF2の一例を示す端面図であり、このPCF2は、GeOをドープしたSiOからなる中心のコア部3と、これを囲むSiOからなるクラッド部4と、コア部3を囲むようにクラッド部4に設けられた複数の細孔5とからなっている。このPCF2において細孔5は、孔径の大きな3つの細孔と孔径の小さな3つの細孔がコア部の周囲に交互に並ぶような構成になっている。
加工補助ファイバとしてのSMF6は、PCF2と融着接続することから、PCF2の外径と同一あるいはほぼ等しい外径のものを用いることが望ましい。ただし、PCF2の端部は、細孔5を潰して中実部11を形成することで外径が若干変化する(外径が縮小する)ことから、中実部11形成前のPCF2とSMF6の外径が同一である必要はない。また、SMF6は、一旦PCF2と融着接続し、その後融着接続部9よりもPCF2側で切断し、PCF用コネクタ1には残らないことから、使用するSMF6のコア径、モードフィールド径、比屈折率差などの構造パラメータがPCF2と異なっていてもよい。
次に、図1(a)に示すように、PCF2の一端とSMF6の一端とを合わせた状態で、融着接続機にセットする。なお、図1(a)中の符号13はアーク放電発生用の電極である。ここで用いる融着接続機としては、汎用のSMF同士の融着接続を行うための各種市販品の中から適宜選択して使用することができるが、特に、スイープ放電加工を実施可能なスイープ機能を持つ融着接続機が好ましい。スイープ機能とは、放電直後、図1(a)に示すようにファイバを長手方向に移動させる機能である。
図1(a)に示すように、PCF2の一端とSMF6の一端とを合わせた状態で、融着接続機にセットした後、スイープ機能を用いて融着接続する。これによってPCF2の一端とSMF6の一端とが融着接続される。図1(b)は、融着接続後のファイバを示し、この図中符号9は融着接続部である。
図1(b)に示す通り、この融着接続後、SMF6の一端側には、細孔5が潰れて中実になった中実部11が形成されると共に、該中実部11に隣接した領域には、細孔5が中実部11に向けて漸次縮径したテーパ空孔部14が形成される。この中実部11の長さ及びテーパ空孔部14の長さは、融着接続時のスイープ放電加工の条件設定によって適宜変更可能である。
次に、図1(b)に示す融着接続後のファイバを、その融着接続部9で、或いは融着接続部9よりもPCF2側の所定位置で切断する。
次に、図1(c)に示すように、切断したPCF部分(コネクタ本体部)をフェルール10に挿入し、中実部11側の端面を研磨し、必要であればPCF側端面12も研磨し、本発明のPCF用コネクタ1を製造する。このフェルール10は、従来より光ファイバのコネクタ接続用に用いられている各種のフェルールの内から適宜選択して用いることができるが、テーパ空孔部14がフェルール10内に収まるような寸法のものが望ましい。
本発明のPCF用コネクタ1は、図1(c)に示すように、クラッド部4より高い屈折率のコア部3と、コア部3の周囲に設けられたクラッド部4と、コア部3を囲むようにクラッド部4に設けられた複数の細孔5を有するPCF2をフェルール10に挿入してなり、PCF2は、その一端側に設けられた中実部11と、該中実部11に隣接した領域の細孔5が中実部11に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部14とを有している。
このPCF用コネクタ1は、一端側に設けられた中実部11と、該中実部11に隣接した領域の細孔5が中実部11に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部14とを有するPCF2をフェルール10に挿入してなるものなので、中実部11側にSMFをコネクタ接続することによって、PCFとSMFとを低い接続損失でコネクタ接続することができる。
このPCF用コネクタ1において、中実部11の長さは0.1〜1.0mmの範囲とすることが好ましい。中実部11の長さが0.1mm未満であると、中実部11側の端面を研磨する際に中実部11がなくなり、端面に細孔5が開口してしまい、細孔5内に研磨材や研磨屑が侵入してPCF2の特性を劣化させることから、コネクタの製造における歩留まりが悪化する。また、中実部11の長さが1.0mmを超えると、細孔5の中実部11及びテーパー空孔部14の制御が困難になるため好ましくない。
このPCF用コネクタ1において、テーパ空孔部14の長さは0.1〜1.0mmの範囲とすることが好ましい。テーパ空孔部14の長さが0.1mm未満であると、中実部11にSMFコネクタを接続した際に接続損失が高くなってしまう。テーパ空孔部14の長さが1.0mmを超えると、細孔5のテーパ形状の制御が困難になり、好ましくない。
本発明の光ファイバ用コネクタは、細孔がテーパ空孔部及び中実部の長さを形成するように融着した融着点をフェルールに挿入して製造される。そのため、PCFを、同種又は異種の光ファイバと融着接続する際に、融着接続後、アーク放電を複数回繰り返しPCF長手方向に移動させながら行う。このとき、アーク放電量、ファイバ移動速度は、各アーク放電ごとに最適な条件にする。この融着接続後に行うアーク放電は、スイープ放電機能を用いたスイープ放電であり、該スイープ放電を少なくとも2回繰り返すことが好ましい。複数回のスイープ放電において、1次スイープ放電出力を10bit以上45bit以下、1次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下、2次スイープ放電出力を0bit以上40bit以下、2次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下で行うことが好ましい。
[実施例1]
図2に示すように、一端側の細孔5を潰して中実部11が形成されると共に、中実部11に向けて細孔5を漸次縮径させたテーパ空孔部14が形成されるように、一端側を加熱処理したPCFを作製し、これを図1(c)に示すようにフェルール10に挿入してPCF用コネクタ1を製造し、汎用SMFコネクタとの接続損失を測定した。
使用したPCF2の構造を図3に示す。このPCF2は、GeOをドープしたSiOからなる中心のコア部3と、これを囲むSiOからなるクラッド部4と、コア部3を囲むようにクラッド部4に設けられた複数の細孔5とからなっている。このPCF2において細孔5は、孔径の大きな3つの細孔と孔径の小さな3つの細孔とがコア部3の周囲に交互に並んだ構成になっている。
PCFの一端部に中実部とテーパ空孔部を形成するための加熱処理は、フジクラ社製の融着接続機FSM−40Fを用いて行った。テーパ空孔部14を形成するため、端面を溶融後、前記融着接続機のスイープ放電機能を使用し、PCFに向かって軸方向にスイープ放電加工を行った。
テーパ空孔部14の長さ(以下、テーパ長aと記す。)を0〜1.0mmの範囲で変化させたPCF用コネクタ1を製造した。なお、テーパ長aは、図2に示すように孔径の大きな細孔のテーパ長a1と、孔径の小さな細孔のテーパ長a2を測定し、その内の短い方の長さをとり、テーパ長aとした。また、テーパ長aが0mmのPCF用コネクタ15は、図5に示す通り、PCFの一端側に中実部が形成されているが、中実部に隣接するPCFの細孔5が中実部との境界でいきなり潰れた状態になっている。
前記の通り、各種のテーパ長aを持ったPCF用コネクタ1を製造し、このコネクタの中実部11側に汎用SMFコネクタを接続し、その接続損失を測定した。測定された接続損失とテーパ長aの関係を図4に示す。
図4より、テーパ長aが0.1mm以上あれば、PCF用コネクタと汎用SMFコネクタとの接続損失を低減可能であることがわかる。一方、テーパ長aが1.0mmを超えると、細孔のテーパ形状の制御が困難になるため好ましくない。
[実施例2]
図6に示すように、一端側の細孔5を潰して中実部11が形成されると共に、中実部11に向けて細孔5を漸次縮径させたテーパ空孔部14が形成されるように、一端側を加熱処理したPCFを作製し、これを図1(c)に示すようにフェルール10に挿入してPCF用コネクタ1を製造した。
PCFとしては、実施例1と同じく、図3に示す6つの細孔を持ったPCFを用いた。実施例1と同様に、フジクラ社製の融着接続機FSM−40Fを用い、テーパ空孔部14を形成するため、端面を溶融後、前記融着接続機のスイープ放電機能を使用し、PCFに向かって軸方向にスイープ放電加工を行った。
中実部長bを種々に変えてPCF用コネクタ1を製造し、それぞれのコネクタをフェルールに挿入後、端面を研磨加工し、中実部長bと歩留まりとの関係を調べた。中実部長bが短いと、コネクタをフェルールに挿入後、端面を研磨加工するときに、中実部すべてを研磨してしまい、細孔内に研磨材や研磨屑が侵入し、PCFとしての特性が得られなくなる恐れがある。また、端面に細孔が開口していると、細孔端面でカケなどが発生し、コネクタでの接続ロスが大きくなる。
図7は、中実部長bと歩留まりとの関係を示すグラフである。図7より、中実部長bが0.1mm未満であると、劇的に歩留まりが悪くなり、中実部長bが0.1mm以上であれば、コネクタとして70%以上の歩留まりが望めることがわかる。一方、中実部長bが1.0mmを超えると、中実部及びテーパ空孔部の形成の制御が困難になるため好ましくない。
[実施例3]
図8(a)〜(d)は、本発明の光ファイバ用コネクタの製造方法を工程順に示す断面図である。
(1)クラッド部22よりも高い屈折率を持つコア部21周囲に複数の細孔23を持つ孔アシスト型PCF20と、融着接続に使用する加工補助ファイバとしてのSMF6とを用意する。
(2)光ファイバ融着接続機(例えば、フジクラ社製融着接続機FSM−40M)を用いて、孔アシスト型PCF20とSMF6との融着接続を行った後、スイープ放電パワーsp1、ファイバ移動速度v1で、コネクタ付けに挿入するPCF20側にスイープ機能を用いて融着接続する。スイープ機能とは、放電直後、ファイバを長手方向に移動させる機能である(図8(a)参照。)。
(3)続いて放電電極13を融着点に移動させ、スイープ放電パワーsp2、ファイバ移動速度v2でコネクタ付けに挿入するPCF20側に放電しながらファイバを移動させる(図8(b)参照。)。
(4)コネクタ付けに挿入する。PCF20側から見て融着接続点よりも手前側で切断し、コネクタに挿入する(図8(c)参照。)。
(5)切断したPCF20を、そのテーパ空孔部24がフェルール26内に収まるようにフェルール26に挿入し、端面を研磨してコネクタ25を製造する(図8(d)参照。)。
(試作1)
図9に示すように、クラッド部22よりも高い屈折率を持つコア部21周囲に6個の細孔23を持つ孔アシスト型のPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、光ファイバ融着接続機としてフジクラ社製融着接続機FSM−40Mを使用して、1次スイープ放電出力を5,10,30,45,50bitとし、それ以外の条件は以下に示す条件で融着接続を行った。
・1次スイープ速度 :1mm/min。
・2次スイープ放電出力 :0bit。
・2次スイープ速度 :1mm/min。
このとき、図10に示すテーパ長aと、中実部長bを表1に示す。
Figure 2006350308
試作1−1〜1−5を用いてPCFコネクタを作製したところ、試作1−2〜1−4では接続ロス増、研磨不良は起きなかったが、試作1−1は研磨不良、試作1−5は接続ロス増が発生した。ここで研磨不良とは、端面研磨時に端面に細孔が出現する不良である。
(試作2)
図9に示すPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、フジクラ社製融着接続機FSM−40Mを使用して、1次スイープ速度を0.5,0.8,6.0,15.0mm/minとし、それ以外の条件は以下に示す条件で融着接続を行った。
・1次スイープ放電出力 :25bit。
・2次スイープ放電出力 :0bit。
・2次スイープ速度 :1mm/min。
このとき、図10に示すテーパ長aと、中実部長bを表2に示す。
Figure 2006350308
試作2−1〜2〜4を用いてPCFコネクタを作製したところ、試作2−2〜2−3では接続ロス増、研磨不良は起きなかったが、試作2−1は接続ロス増、試作2−4は研磨不良が発生した。
(試作3)
図9に示すPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、フジクラ社製融着接続機FSM−40Mを使用して、2次スイープ出力を0,20,40,45bitとし、それ以外の条件は以下に示す条件で融着接続を行った。
・1次スイープ放電出力 :25bit。
・1次スイープ速度 :1mm/min。
・2次スイープ速度 :1mm/min。
このとき、図10に示すテーパ長aと、中実部長bを表3に示す。
Figure 2006350308
試作3−1〜3〜4を用いてPCFコネクタを作製したところ、試作3−2〜3−3では接続ロス増は起きなかったが、試作3−4は接続ロス増が発生した。
(試作4)
図9に示すPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、フジクラ社製融着接続機FSM−40Mを使用して、2次スイープ速度を0.5,0.8,6.0,15.0mm/minとし、それ以外の条件は以下に示す条件で融着接続を行った。
・1次スイープ放電出力 :25bit。
・1次スイープ速度 :1mm/min。
・2次スイープ放電出力 :0bit。
このとき、図10に示すテーパ長aと、中実部長bを表4に示す。
Figure 2006350308
試作4−1〜4〜4を用いてPCFコネクタを作製したところ、試作4−2〜4−3では接続ロス増、研磨不良は起きなかったが、試作4−1は接続ロス増、試作4−4は研磨不良が発生した。
(試作5)
図9に示すPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、光ファイバ融着接続機としてフジクラ社製融着接続機FSM−40Mで融着接続を行った。融着接続を行った後、1次スイープ放電として、スイープ放電出力25bit、スイープ速度1mm/secでファイバを動かしながら放電を行った。このとき図10に示すテーパ長aと、中実部長bは、それぞれ、0.5mm、0.8mmであった。この製造方法で30サンプル作製し、各サンプルの融着接続部をフェルールに挿入してPCFコネクタを作製したところ、波長1.55μmでの接続損失の平均値は0.09dB/km、最大値は0.11dB/kmであった。また、サンプルをフェルールに固定し端面研磨した後、細孔が存在するなどの研磨不良はゼロであった。
[比較例1]
図9に示すPCF20を使用し、加工補助ファイバとして汎用SMF6を用い、光ファイバ融着接続機としてフジクラ社製融着接続機FSM−40Mで融着接続を行った。融着接続を行った後、スイープ放電出力30bit、スイープ速度0.5,0.75,1.5,3.0mm/secでファイバを動かしながら放電を行った。このとき、図10に示すテーパ長aと、中実部長bを表5に示す。
Figure 2006350308
これらのサンプルを試作5と同様にPCFコネクタを作製したところ、比較例1−1〜1−3のサンプルはテーパ長が短いため、MFDの急激な変化により接続ロスが発生し、比較例1−4のサンプルは中実長が短いため、端面研磨時に端面に細孔が出現し、不良となった。
本発明のPCF用コネクタ製造方法の一実施形態を示す側面断面図である。 実施例1で製造したPCF用コネクタの側面断面図である。 PCF用コネクタの製造に用いたPCFの断面図である。 実施例1において測定したテーパ長と接続損失の関係を示すグラフである。 実施例1で製造したテーパ長が0mmのPCF用コネクタの側面断面図である。 実施例2で製造したPCF用コネクタの側面断面図である。 実施例2において測定した中実部長と歩留まりとの関係を示すグラフである。 実施例3のコネクタ製造方法を示す側面断面図である。 実施例3コネクタの製造に用いたPCFの断面図である。 実施例3で製造したPCF用コネクタの側面断面図である。
符号の説明
1…PCF用コネクタ、2…PCF、3…コア部、4…クラッド部、5…細孔、6…SMF、7…コア、8…クラッド、9…融着接続部、10…フェルール、11…中実部、12…PCF側端面、13…電極、14…テーパ空孔部、15…PCF用コネクタ、20…PCF、21…コア部、22…クラッド部、23…細孔、24…テーパ空孔部、25…コネクタ、26…フェルール。

Claims (19)

  1. クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するフォトニッククリスタルファイバをフェルールに挿入してなるフォトニッククリスタルファイバ用コネクタであって、前記フォトニッククリスタルファイバは、その一端側に設けられた中実部と、該中実部に隣接した領域の細孔が前記中実部に向けて漸次縮径して形成されたテーパ空孔部とを有することを特徴とするフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  2. 前記中実部の長さが0.1〜1.0mmの範囲であることを特徴とする請求項1に記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  3. 前記テーパ空孔部の長さが0.1〜1.0mmの範囲であることを特徴とする請求項1又は2に記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  4. 前記テーパ空孔部及び前記中実部が、融着接続機のアーク放電をファイバ長手方向に移動させながら前記フォトニッククリスタルファイバの一端側を加熱することにより形成されたものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  5. クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するフォトニッククリスタルファイバを用意し、該フォトニッククリスタルファイバの一端側に細孔を潰した中実部を形成すると共に、該中実部に隣接した領域の細孔を前記中実部に向けて漸次縮径したテーパ空孔部とを形成し、次いで該フォトニッククリスタルファイバをフェルールに挿入してフォトニッククリスタルファイバ用コネクタを得ることを特徴とするフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ製造方法。
  6. 前記中実部の長さを0.1〜1.0mmの範囲とすることを特徴とする請求項5に記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ製造方法。
  7. 前記テーパ空孔部の長さを0.1〜1.0mmの範囲とすることを特徴とする請求項5又は6に記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ製造方法。
  8. 前記テーパ空孔部及び前記中実部を形成する工程が、融着接続機のアーク放電をファイバ長手方向に移動させながら前記フォトニッククリスタルファイバの一端側を加熱することにより行われることを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ製造方法。
  9. 前記フォトニッククリスタルファイバの一端側に加工補助ファイバの一端側を突き合わせてスイープ機能付融着接続機にセットし、フォトニッククリスタルファイバの一端側をスイープ放電加工しながら前記加工補助ファイバの一端側に融着接続し、その後融着接続部又は融着接続部よりもフォトニッククリスタルファイバ側の所定位置で切断し、そのフォトニッククリスタルファイバをフェルールに挿入してフォトニッククリスタルファイバ用コネクタを得ることを特徴とする請求項5〜8のいずれかに記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ製造方法。
  10. クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するフォトニッククリスタルファイバと同種、又は異種の光ファイバとの融着接続工程を有する光ファイバ接続方法において、両方のファイバ端面を突合わせてその部位を放電加熱して融着した後、該融着接続部にフォトニッククリスタルファイバの長手方向に移動させながらアーク放電を複数回繰り返し行うことを特徴とする光ファイバ接続方法。
  11. フォトニッククリスタルファイバ長手方向に移動させながら行う1回目のアーク放電でフォトニッククリスタルファイバの細孔を完全に中実化しないことを特徴とする請求項10に記載の光ファイバ接続方法。
  12. 融着放電後に行うアーク放電がスイープ放電機能を用いたスイープ放電であり、該スイープ放電を少なくとも2回繰り返すことを特徴とする請求項10又は11に記載の光ファイバ接続方法。
  13. 1次スイープ放電出力を10bit以上45bit以下、1次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下、2次スイープ放電出力を0bit以上40bit以下、2次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下で行うことを特徴とする請求項12に記載の光ファイバ接続方法。
  14. クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するフォトニッククリスタルファイバと同種、又は異種の光ファイバとの融着放電後、アーク放電を複数回繰り返しフォトニッククリスタルファイバ長手方向に移動させながら融着接続を行った融着点を持つことを特徴とするフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  15. クラッド部に設けられた複数の細孔が端面に向かってテーパ状に先細りとなったテーパ空孔部を有することを特徴とする請求項14に記載のフォトニッククリスタルファイバ用コネクタ。
  16. クラッド部より高い屈折率のコア部と、コア部の周囲に設けられたクラッド部と、コア部を囲むようにクラッド部に設けられた複数の細孔を有するフォトニッククリスタルファイバと同種、又は異種の光ファイバとをそれぞれの端面を突合わせ、融着接続を行い、融着点を含まないように光ファイバを切断した後、フェルールに挿入した光ファイバコネクタの製造方法において、前記フォトニッククリスタルファイバと同種、又は異種の光ファイバとを、融着放電後、アーク放電を複数回繰り返しフォトニッククリスタルファイバ長手方向に移動させることを特徴とする光ファイバ用コネクタ製造方法。
  17. フォトニッククリスタルファイバ長手方向に移動させながら行う1回目のアーク放電でフォトニッククリスタルファイバの細孔を完全に中実化しないことを特徴とする請求項16に記載の光ファイバ用コネクタ製造方法。
  18. 融着放電後に行うアーク放電がスイープ放電機能を用いたスイープ放電であり、該スイープ放電を少なくとも2回繰り返すことを特徴とする請求項16又は17に記載の光ファイバ用コネクタ製造方法。
  19. 1次スイープ放電出力を10bit以上45bit以下、1次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下、2次スイープ放電出力を0bit以上40bit以下、2次スイープ速度を0.8mm/min以上6.0mm/min以下で行うことを特徴とする請求項18に記載の光ファイバ用コネクタ製造方法。

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