JP2006339634A - リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも1つの反射性の手段又はブレードを含むマスク・マスキング機器MDを提供する。反射性ブレードは走査Y方向において使用され、かつ、投影ビームを横切って移動するミラー付ブレードを含む。反射性ブレードは、リソグラフィ装置内のマスク又はレチクルMAのための有効スリットを照明システムIL内に設ける。
【選択図】図1
Description
・放射の投影ビームを供給するための照明システムであって、使用の際に投影ビームが通過する焦点面を規定する照明システムと、
・パターン形成手段を1つの場所に支持するための支持構造体であって、パターン形成手段は所望のパターンに従って投影ビームをパターン形成するために機能する支持構造体と、
・投影ビームからパターン形成手段の少なくとも一部を覆い隠すためのマスキング機器であって、前記場所に関して第1の方向において当該場所の一部を覆い隠すように構成された第1のマスキング手段と、前記場所に関して第2の異なった方向において当該場所の一部を覆い隠すように構成された第2のマスキング手段とを含むマスキング機器と、
・基板を保持するための基板テーブルと、
・パターン形成されたビームを基板の目標部分上に画像形成するための投影システムとを含む。
・マスク。マスクの概念はリソグラフィにおいては十分に知られており、かつ、二値、交番位相シフト、及び、減衰位相シフトなどのマスク・タイプ、並びに、様々な混成マスク・タイプを含む。放射ビーム内へのこのようなマスクの設置は、マスク上のパターンに従って、マスク上に突き当たる放射の選択的な(透過型マスクの場合には)透過、又は、(反射型マスクの場合には)反射をもたらす。マスクの場合、支持構造体は一般にマスク・テーブルであり、このマスク・テーブルは、マスクが入来放射ビーム内の所望の位置に保持され得ること、及び、所望であればマスクがビームを基準として移動され得ることを確実にする。
・プログラム可能ミラー・アレイ。このような機器の実施例は、粘弾性を持つ制御層及び反射性表面を有するマトリクス・アドレス可能表面である。このような装置の背後にある基本原理は、(例えば)反射性表面のアドレスされた領域が入射光を回折光として反射するのに対して、アドレスされていない領域は入射光を未回折光として反射することである。適切なフィルタを使用すると、未回折光は反射ビームから濾過され得て、回折光のみを残し、このようにして、ビームはアドレス可能表面のアドレスしているパターンに従ってパターン形成される。プログラム可能ミラー・アレイの代案実施例は小さなミラーのマトリクス配列を採用しており、ミラーの各々は、適した局所電場を印加することにより、又は、圧電作動手段を採用することにより、軸について個別に傾けることができる。再び、ミラーは、アドレスされたミラーがアドレスされていない各ミラーに異なった方向において入来放射ビームを反射し、このようにして、反射ビームはマトリクス・アドレス可能なミラーのアドレスしているパターンに従ってパターン形成されるように、マトリクス・アドレス可能である。必要なアドレスは適した電子的手段を使用して実行することができる。
・プログラム可能LCDアレイ。上記のように、この場合の支持構造体は、例えば必要に応じて固定又は可動とされ得るフレーム又はテーブルとして実施することができる。とを含む。
・広い(高価な)境界領域を有する必要性を除去するため。
・遮断しなければ境界領域ピンホールを介して漏出する可能性のある光を遮断するため。
・パターン形成手段MA全体の選択された回路のみが露光されることを可能にするため。
・位置合わせマーク(M1、M2)がウェハ上に印刷されないように、パターン形成手段MA上の位置合わせマーク(M1、M2)を選択的に遮断するため。
・パターン形成手段MA上に十分に小さなエッジ幅でマスキング機器MDを画像形成する。
・(代表的に、1倍から4倍の係数で)所望のサイズにフィールドを拡大する。
・パターン形成手段MAの均一な照明を供給する。
放射の投影ビームを供給するための照明システムと、
パターン形成手段を支持するための支持構造体であって、パターン形成手段は投影ビームに投影ビームの断面においてパターンを与えるために機能する支持構造体と、
基板を保持するための基板テーブルと、
パターン形成されたビームを基板の目標部分上に投影するための投影システムとを含むリソグラフィ装置であって、装置は少なくとも1つの反射性又はミラー付手段を含むマスキング手段又は機器をさらに含むリソグラフィ装置が提供される。
基板を設ける工程と、
照明システムを使用して放射の投影ビームを提供する工程と、
投影ビームに投影ビームの断面においてパターンを与えるためにパターン形成手段を使用する工程と、
放射のパターン形成されたビームを基板の目標部分上に投影する工程とを含み、反射性手段を含むマスキング機器を使用して投影ビームからパターン形成手段の少なくとも一部をマスキング又は覆い隠す工程も含むデバイス製造方法が提供される。
・(例えば、UV放射又はEUV放射などの)放射の投影ビームPBを供給するための照明システム(照明器)ILと、
・(例えば、マスクなどの)パターン形成手段MAを支持するためであり、かつ、パターン形成手段MAを物品PSに関して正確に位置決めするための第1の位置決め手段PMに接続された(例えば、マスク・テーブルなどの)第1の支持構造体MTと、
・(例えば、レジストがコーティングされたウェハなどの)基板Wを保持するためであり、かつ、物品PSに関して基板を正確に位置決めするための第2の位置決め手段PWに接続された(例えば、ウェハ・テーブルなどの)基板テーブルと、
・基板Wの(例えば、1つ又は複数のダイを含む)目標部分C上に、パターン形成手段MAにより投影ビームPBに与えられたパターンを画像形成するための(例えば、屈折性投影レンズなどの)投影システムPSとを含む。
・パターン形成手段MAの所定の領域上に投影ビームPBを差向けるように構成された、積分器INの後ろに配置された従来のマスキング・ブレードMDX及び積分器INとパターン形成手段MAの間に構成され、かつ、配列された可動ミラー又はブレードMDYを含むマスキング機器MDと、
・可動ミラー又はブレードMDY上に投影ビームPBを差向けるように構成され、かつ、配列された固定ミラーFMと、
・パターン形成手段MA上に十分に小さなエッジ幅で従来のマスキング機器MDを画像形成する少なくとも機能を有する2つのレンズLS1及びLS2を含むマスキング機器レンズMDLとを含む。
AS 光吸収表面
BD ビーム送達システム
FM 固定ミラー
C 目標部分
IF 位置センサ
IL 照明システム(照明器)
IN 積分器
IS 照明スリット
LS1、LS2、LS3 レンズ
M1、M2、P1、P2 位置合わせマーク
MA パターン形成手段、マスク
MD マスキング機器
MDL マスキング機器レンズ
MDX,MDY マスキング・ブレード
MT 支持構造体
PB 投影ビーム
PM、PW 位置決め手段
PS 投影システム、物品、偏光ビーム分割器
SL スリット
SO 光源
W 基板
WT 基板テーブル
Claims (29)
- リソグラフィ装置であって、
放射の投影ビームを供給するための照明システムと、
パターン形成手段を支持するための支持構造体であって、前記パターン形成手段は前記投影ビームに該投影ビームの断面においてパターンを与えるために機能する支持構造体と、
基板を保持するための基板テーブルと、
前記パターン形成されたビームを前記基板の目標部分上に投影するための投影システムとを含み、少なくとも1つの反射性手段を含むマスキング機器をさらに含むリソグラフィ装置。 - 前記反射性手段は反射性ブレードを含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性ブレードはミラー・ブレードである請求項2に記載のリソグラフィ装置。
- 前記マスキング機器は、使用において、前記投影ビームから前記パターン形成手段の少なくとも一部をマスキングする請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 使用において、前記少なくとも1つの反射性手段から反射された放射は前記パターン形成手段及び基板を露光するために使用される請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性手段を移動するための手段が設けられている請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記マスキング機器は、スリットを有する可動放射吸収ブレードを含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性手段は固定された位置にある請求項7に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性手段は、使用において放射が通過する穴又はスリットを提供する請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記少なくとも1つの反射性手段は、使用において放射の通過の方向を含むZ方向に垂直なY方向において放射からの前記パターン形成手段のマスキングを提供する形で配置され、かつ、可動である単一の反射性ブレードを含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記Y方向は走査方向を含む請求項10に記載のリソグラフィ装置。
- 使用において、走査の開始時において、前記反射性手段は有効スリットが開かれるように、前記投影ビーム内に1つの方向において可動であり、前記ブレードにより提供された前記有効スリットが開かれると、前記反射性手段は停止させられ、かつ、走査の終了時において、前記反射性手段は前記有効スリットが閉じられるように、同じ方向において可動である請求項11に記載のリソグラフィ装置。
- 前記Z方向及びY方向に垂直なX方向における放射のマスキングは1対のXブレードにより提供され、前記Xブレードは細孔を提供し、かつ、前記Xブレードは互いに関して可動である請求項10に記載のリソグラフィ装置。
- 前記少なくとも1つの反射性手段は前記照明システム内に配置されている請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記少なくとも1つの反射性手段は鋭角で入力放射経路を横切るように配置されている請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性ブレードを移動するための手段が設けられている請求項2に記載のリソグラフィ装置。
- 前記反射性手段はSiO2/Al2O3でコーティングされた水晶基板を含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記放射の投影ビームは紫外(UV)領域又は極紫外(EUV)領域における波長を有する請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 365、248、193、157、若しくは、126nmのうちの1つ、又は、5と20nmの間の波長から選択された波長での使用に対して構成された請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記Xブレードは前記照明システムの焦点面内に配置されている請求項13に記載のリソグラフィ装置。
- 前記少なくとも1つの反射性手段を移動するための前記手段は第1及び第2のモータを含む請求項6に記載のリソグラフィ装置。
- 前記マスキング機器は、前記パターン形成手段が第1の方向において支持される位置の一部を覆い隠すように配列された第1のマスキング手段と、第2の異なった方向において前記位置の一部を覆い隠すように配列された第2のマスキング手段とを含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記第1のマスキング手段は少なくとも1つの反射性手段を含み、前記第2のマスキング手段は1対の非反射性ブレードを含む請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 少なくとも第1及び第2の反射性手段が設けられている請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記投影ビームを偏光するための手段が設けられている請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 使用において、前記投影ビームは、前記パターン形成手段への露光に先立ち前記マスキング機器によりマスキングされる請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 少なくとも1つの反射性又はミラー付の手段又はブレードを含むマスキング機器。
- 請求項1から26のいずれかに記載のリソグラフィ装置における使用に対する、又は、おいて使用される時の反射性手段又はブレード。
- デバイス製造方法であって、
基板を設ける工程と、
照明システムを使用して放射の投影ビームを提供する工程と、
前記投影ビームに前記投影ビームの断面においてパターンを与えるためにパターン形成手段を使用する工程と、
前記放射のパターン形成されたビームを前記基板の目標部分上に投影する工程と、を含み、反射性手段を含むマスキング機器を使用して前記投影ビームから前記パターン形成手段をマスキングする工程も含むデバイス製造方法。
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