JPH06291023A - 露光光投射装置 - Google Patents

露光光投射装置

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JPH06291023A
JPH06291023A JP5078400A JP7840093A JPH06291023A JP H06291023 A JPH06291023 A JP H06291023A JP 5078400 A JP5078400 A JP 5078400A JP 7840093 A JP7840093 A JP 7840093A JP H06291023 A JPH06291023 A JP H06291023A
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exposure
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幹雄 笹野
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Sources And Details Of Projection-Printing Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Projection-Type Copiers In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】従来、行なっていたアパーチャの交換操作を無
くして光学部品の汚染を防止するとともに無駄な時間の
浪費を無くす。また、転写パターンに適合する露光光の
遮光形状に瞬時に変えられるようにして適切なコヒーレ
ンスファクタをもつ照明光を投射する。 【構成】露光光5を一方向に反射するミラー1を四角形
状のセグメント1aに分割し、これらセグメント1aの
一端を支点として回転し得るようにし、これらセグメン
ト1aの中から任意に選択し選ばれたセグメント1aを
回転させミラーの反射面から外し、セグメント1aの回
転により生ずる開口より露光光2を通過させ所望の遮光
形状を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は露光装置における照明系
である露光光投射装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置の高集積化に伴ない微
細化技術が進み、特にフォトリソグラフィ技術の進歩が
目まぐるしい。このフォトリソグラフィ技術の進歩は露
光装置の開発に負うところが多い。しかしながら、年々
微細化が進む現在では、投影レンズの開発だけで解像力
や焦点深度の向上を行なうには限界があり対応できなく
なる。ところが、最近、照明レンズ系をもつ露光光投射
装置の投射光の遮光分の形状を変えることで解像度、焦
点深度を向上させる方法が検討されている。
【0003】図4は従来の露光光投射装置の一例を説明
するための露光装置の構成の概略を示す図、図5は従来
の露光光投射装置の他の例を説明するためのアパーチャ
を保持する円板を示す平面図である。従来、この種の露
光光投射装置は、例えば、図4に示すように、光源から
の露光光を透過する蠅の目レンズ9と、蠅の目レンズ9
を透過した露光光を部分的に遮光するアパーチャ10
と、アパーチャ10を透過した露光光を一方向に反射す
るミラー11とで構成されていた。
【0004】この露光光投射装置で遮光形状(またはコ
ヒーレンスファクターσ値)を変える場合は、アパーチ
ャ10を変えることで行なっていた。また、他の装置例
としては、図5に示すように、何種類かの遮光形状をも
つアパーチャ10が保持された円板16を回転し、適切
なアパーチャ10をミラー11と蠅の目レンズ9との間
に挿入していた。
【0005】そして、アパーチャ10で遮光形状が変え
られた露光光はコンデンサレンズ12を介してレチクル
13に投射され、投影レンズ14でレチクル13のパタ
ーンを縮小しウェーハ15に転写していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の露光光
投射装置では、遮光形状を変えるのにアパーチャを交換
しなければらない。このことは自動にせよ手動にせよ、
機械的にアパーチャを動かす動作が伴なう。その結果、
交換時に発塵し光学系に損傷をもたらす恐れがある。ま
た、遮光形状に制限があるため露光するパターンに適合
する遮光形状にすることが困難となる。さらに、この交
換動作を行なうのに時間がかかり、何種類のパターンを
連続して転写するのに不都合が生じ、量産性を阻害させ
る問題もある。
【0007】従って、本発明の目的は、交換動作を必要
とすること無くパターンに適合する露光光の遮光形状に
瞬時に変えられる量産向きの露光光投射装置を提供する
ことである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、光源部
から蠅の目レンズを介して投射される露光光を一方向に
反射するミラーを備える露光光投射装置において、前記
ミラーを四角形状または輪帯形状の複数のセグメントに
分割し、分割されたこれらセグメントの中から任意に選
択して反射面から外し、残りの該セグメントで構成され
る反射面で前記露光光を反射する露光光投射装置であ
る。
【0009】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0010】図1(a)および(b)は本発明の露光光
投射装置の一実施例を説明するためのミラーを示す平面
図およびミラーを含めた付近にある構成部品を示す断面
図である。この露光光投射装置は、図1に示すように、
露光光2を一方向に反射するミラー1を四角形状のセグ
メント1に分割し、これらセグメント1aの一端を支点
として回転し得るようにし、これらセグメント1aの中
から任意に選択し選ばれたセグメント1aを回転させミ
ラーの反射面から外し、セグメント1aの回転により生
ずる開口より露光光2を通過させ所望の遮光形状を形成
することである。
【0011】なお、このセグメント1aで構成する領域
は、短径に対して長径が√2倍である楕円形状の領域と
したことである。さらに、このセグメント1aを反射面
に対して45度回転するように回転自在ピンを介して棒
部材6を連結したことである。勿論、図面には示してい
ないが、棒部材6の後端には、棒部材6を直線案内用の
ブッシュと直線移動駆動用の電磁ソレノイドとスプリン
グがそれぞれに備えられている。また、セグメント1の
裏面側に回転支点となる蝶番機構が取付けられている。
また、通過した露光光2が他の光路に干渉しないように
吸収板3を設けることが望ましい。
【0012】図2(a)〜(c)は図1のミラーによる
各種遮光形状のパターンを示す図である。このようにセ
グメントを選択し、セグメントを回転させ窓を明け、任
意の遮光形状を形成することが出来る。例えば、図2
(a)に示す二分割照明や図2(b)に示す四分割照明
あるいは図2(c)の輪帯照明といった照明パターンを
瞬時に変えることが出来る。また、これらセグメントを
選択し開閉する制御技術は市販のコンピュータ内蔵のプ
ログラムシーケンサで容易に実現できる。
【0013】図3(a)および(b)は本発明の露光光
投射装置の他の実施例を説明するためのミラーを示す平
面図およびミラーを含めた付近にある構成部品を示す断
面図である。この露光光投射装置は、図3に示すよう
に、セグメント1bを輪帯形状としたことである。そし
て、セグメント1bを選択し、棒部材6aで引き抜いた
り戻したりして所望の径や幅をもつ輪帯形状の遮光を行
なう。この輪帯形状の遮光パターンは前述の実施例でも
可能であるが、この実施例の場合はより精密な輪帯形状
の遮光パターンを形成できる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、露光光を
反射するミラーを複数のセグメントに分割し、これらセ
グメントを任意に選択し、選択されたセグメントを反射
面から外すことによって、従来のように遮光パターンを
もつアパーチャの交換作業をすることなく瞬時に種々の
遮光形状を変えることができるという効果がある。ま
た、清浄な筐体内で操作ができるので光学部品を汚染す
ることもない。さらに、転写パターンごとに露光光の遮
光パターンを変えて適合するコヒーレンスファクタの露
光光で転写できるので、量産向きであるとと同時により
精密な転写ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の露光光投射装置の一実施例を説明する
ためのミラーを示す平面図およびミラーを含めた付近に
ある構成部品を示す断面図である。
【図2】図1のミラーによる各種遮光形状のパターンを
示す図である。
【図3】本発明の露光光投射装置の他の実施例を説明す
るためのミラーを示す平面図およびミラーを含めた付近
にある構成部品を示す断面図である。
【図4】従来の露光光投射装置の一例を説明するための
露光装置の構成の概略を示す図である。
【図5】従来の露光光投射装置の他の例を説明するため
のアパーチャを保持する円板を示す平面図である。
【符号の説明】
1,11 ミーラー 1a,1b セグメント 2 露光光 3 吸収板 4 反射光 5 通過光 6,6a 棒部材 9 蠅の目レンズ 10 アパーチャ 12 コンデンサレンズ 13 レチクル 14 投影レンズ 15 ウェーハ 16 円板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源部から蠅の目レンズを介して投射さ
    れる露光光を一方向に反射するミラーを備える露光光投
    射装置において、前記ミラーを四角形状または輪帯形状
    の複数のセグメントに分割し、分割されたこれらセグメ
    ントの中から任意に選択して反射面から外し、残りの該
    セグメントで構成される反射面で前記露光光を反射する
    ことを特徴とする露光光投射装置。
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Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1262836A1 (en) * 2001-06-01 2002-12-04 Asml Lithographic apparatus
WO2003067304A1 (de) * 2002-02-09 2003-08-14 Carl Zeiss Smt Ag Facettenspiegel mit mehreren spiegelfacetten
US7015491B2 (en) 2001-06-01 2006-03-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method and device manufactured thereby, control system
JP2006339634A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2007531327A (ja) * 2004-03-31 2007-11-01 インテル コーポレイション フォトリソグラフィ用光源
JP2009016558A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Harison Toshiba Lighting Corp 紫外線照射ユニット
EP1870772A3 (en) * 2002-03-18 2010-10-06 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US8094290B2 (en) 2007-11-06 2012-01-10 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8144308B2 (en) 2007-11-08 2012-03-27 Nikon Corporation Spatial light modulation unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8279405B2 (en) 2002-03-18 2012-10-02 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20130271945A1 (en) 2004-02-06 2013-10-17 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US8792081B2 (en) 2007-11-06 2014-07-29 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US9097981B2 (en) 2007-10-12 2015-08-04 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9116346B2 (en) 2007-11-06 2015-08-25 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9423698B2 (en) 2003-10-28 2016-08-23 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
US9885872B2 (en) 2003-11-20 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical integrator and polarization member that changes polarization state of light
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6737662B2 (en) 2001-06-01 2004-05-18 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, device manufactured thereby, control system, computer program, and computer program product
US7015491B2 (en) 2001-06-01 2006-03-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method and device manufactured thereby, control system
EP1262836A1 (en) * 2001-06-01 2002-12-04 Asml Lithographic apparatus
WO2003067304A1 (de) * 2002-02-09 2003-08-14 Carl Zeiss Smt Ag Facettenspiegel mit mehreren spiegelfacetten
EP1870772A3 (en) * 2002-03-18 2010-10-06 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US8279405B2 (en) 2002-03-18 2012-10-02 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
US9885959B2 (en) 2003-04-09 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having deflecting member, lens, polarization member to set polarization in circumference direction, and optical integrator
US9760014B2 (en) 2003-10-28 2017-09-12 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9423698B2 (en) 2003-10-28 2016-08-23 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9885872B2 (en) 2003-11-20 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical integrator and polarization member that changes polarization state of light
US10281632B2 (en) 2003-11-20 2019-05-07 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical member with optical rotatory power to rotate linear polarization direction
US10241417B2 (en) 2004-02-06 2019-03-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US10234770B2 (en) 2004-02-06 2019-03-19 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US10007194B2 (en) 2004-02-06 2018-06-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US20130271945A1 (en) 2004-02-06 2013-10-17 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
JP2007531327A (ja) * 2004-03-31 2007-11-01 インテル コーポレイション フォトリソグラフィ用光源
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
JP2006339634A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2009016558A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Harison Toshiba Lighting Corp 紫外線照射ユニット
US9097981B2 (en) 2007-10-12 2015-08-04 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9857599B2 (en) 2007-10-24 2018-01-02 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8094290B2 (en) 2007-11-06 2012-01-10 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9551942B2 (en) 2007-11-06 2017-01-24 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US9946162B2 (en) 2007-11-06 2018-04-17 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US9268235B2 (en) 2007-11-06 2016-02-23 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US9116346B2 (en) 2007-11-06 2015-08-25 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8792081B2 (en) 2007-11-06 2014-07-29 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US10261421B2 (en) 2007-11-06 2019-04-16 Nikon Corporation Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
US8953147B2 (en) 2007-11-08 2015-02-10 Nikon Corporation Spatial light modulation unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US8144308B2 (en) 2007-11-08 2012-03-27 Nikon Corporation Spatial light modulation unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

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JPH0777191B2 (ja) 1995-08-16

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