JP2006329955A - 熱特性測定装置、及び熱特性測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】既知の線膨張率の部材からなり、変形可能な梁部1と、梁部1の面に形成される試料薄膜3と、梁部1の温度を制御する温度制御装置と、梁部1の変形を測定する変位測定装置5と、を備え、梁部1の温度変化により梁部1と試料薄膜3のバイメタル効果による変形を測定する、熱特性測定装置、又は熱特性測定方法。
【選択図】 図1
Description
(2)また、本発明は、物質の熱特性を多点同時に測定することにある。
(3)また、本発明は、薄膜状の微小な物質の熱特性を測定することにある。
(4)また、本発明は、金属ガラスの線膨張率、ガラス転移温度、及び結晶化開始温度の熱特性を測定することにある。
(5)また、本発明は、コンビナトリアルマテリアル技術に適した熱特性測定手段又は方法を提供することにある。
(2)本発明は、変形可能で既知の線膨張率の梁部の面に試料を付着し、梁部の温度を変化させ、バイメタル効果による梁部の変形を測定する、熱特性測定方法にある。
(2)また、本発明は物質の熱特性を多点同時に測定することができる。
(3)また、本発明は、薄膜状の物質の熱特性を測定することができる。
(4)また、本発明は、金属ガラスの線膨張率、ガラス転移温度、及び結晶化開始温度の熱特性を測定することができる。
(5)また、本発明は、コンビナトリアルマテリアル技術に適した熱特性測定手段又は方法を提供することができる。
本発明の熱特性測定は、物質の線熱膨張率、過冷却液体域などの熱特性を、バイメタル効果を利用して測定するものである。この熱特性測定は、特に、多数のサンプル群を一度に製作し、高速評価するコンビナトリアルマテリアル技術に適するものである。
熱特性測定装置は、変形可能な梁部と、梁部に試料を形成してバイメタル構造とした試料梁部と、梁部の温度を制御する温度制御装置と、梁部の変形を測定する変位測定装置と、を備えている。熱特性測定装置は、例えば図1のように、基板2上に梁材を形成し、梁材から梁部1が突出し、梁部1の下方の基板には、穴が形成されている。梁部1の上面に試料薄膜3を形成すれば、梁部1と試料薄膜3のバイメタル構造とすることができる。試料は、梁部以外の梁材の面に形成してもよい。梁部1の近くに図示しない温度制御装置を配置し、梁部の温度を温度測定装置で測定して、加熱したり、冷却する。温度制御装置は、昇温の場合は、加熱装置を使用し、温度を下げる場合、冷却装置を使用する。加熱装置、冷却装置、温度測定装置などが使用でき、これらは従来から様々なものがあり、適宜選択することができる。梁部1の温度を変化させて、バイメタル効果により梁部1の変形を変位測定装置5で測定する。このような構成にすると、基板2上に多数の梁部1を形成することができるので、熱特性測定装置は、多数の試料群を一度に製作でき、高速評価するコンビナトリアルマテリアル技術に適するものである。梁部1には、試料を形成しない参照梁部4を設けると、試料を形成した試料梁部(1と3)の変形を参照梁部4の変形を参照することにより、梁部1と試料薄膜3のバイメタル効果による変形以外のノイズを除去することができる。
熱特性測定方法は、熱特性(過冷却液体域、線熱膨張率)を測定したい試料薄膜3を、スパッタ法、蒸着法など既知の成膜方法により蒸着し、試料梁部(1と3)とする。この時、少なくもと1本の梁部には、マスキングを行い試料薄膜を成膜せず参照梁部4とすることが好ましい。この参照梁部4との変位の差分を測定することで、熱膨張などの影響を軽減できる。成膜した基板を、図示しないチャンバ内に入れ、雰囲気を制御した状態で、図示しない温度制御装置で加熱しながら試料梁部および参照梁部4の変位を、変位測定装置5で測定する。この時、加熱は昇温しつつ、矩形または正弦波状(図2参照)に温度の増減を繰り返しながら昇温することが望ましい。これにより、試料薄膜3やベースとなる梁部1内の内部応力など熱膨張以外の原因による昇温時のノイズ変位を軽減することができる。
熱特性測定装置の具体的な例を図1を用いて説明する。基板2として厚さ300μmのシリコン基板を使用する。基板2上に、梁材として厚さ1μmの窒化シリコンを形成する。梁材をパターニングして、長さ500μm、幅100μmの片持ち梁(カンチレバー)の梁部1を多数形成する。図1では、梁部1を6個示している。試料薄膜3は、梁部1と協働してバイメタル効果が生じるように、梁部1を覆うように形成し、試料梁部を形成する。試料薄膜3は、約1μmで成膜される。梁部の内、少なくとも一本は試料が成膜されない、参照梁部4とする。変位測定装置5としてレーザ発生装置と光テコ式変位センサを使用する。レーザ発生装置からの測定用レーザを各梁部1の先端部で反射し、反射光を光テコ式変位センサで受光し、梁部1の変形を測定する。図示しないが、梁部1の温度を制御する温度制御装置を配置する。温度測定装置は、加熱用として抵抗線加熱ヒータを使用でき、冷却用としてペルチェ素子を使用でき、温度の測定として温度測定装置である熱電対を使用できる。各梁部1に対して、変位測定装置と温度測定装置を設けるとよい。この状態で、熱特性測定装置を図示しない真空チャンバ内に設置し、真空中で毎分10℃の一定速度で梁部を昇温する。この時の温度Tに対する試料梁部と参照梁部4との変位の差分をプロットすることで、線熱膨張係数、ガラス転移温度、及び結晶化開始温度を測定することができる。熱特性測定装置は、多数の試料梁部に、異なった成分の試料の薄膜を作成することができ、多数の試料群を一度に製作できるので、コンビナトリアルマテリアル技術に適している。
熱特性測定装置の構成は、実施例1と同様であるが、梁部1の昇温を温度の増減を繰り返しながら行い、例えば図2に示したように行う。すなわち、温度を正弦波状に加熱、冷却を繰り返しながら昇温する。この時、一度加熱、冷却を行った後、再度昇温する領域、例えば、図2中のt0〜t1、t2〜t3、t4〜t5、t6〜t7で例示される時間内で、温度Tに対する各試料梁部(1と3)と参照梁部4との変位の差分をプロットする。これにより、バイメタル効果以外の要因、例えば各試料薄膜3内の内部応力や基板2の変形などによる影響を低減することができる。参照梁部4を複数個、試料梁部と隣接して設けることにより、梁部1の環境を近づけることができる。それにより、バイメタル効果以外の要因による影響を更に低減することができる。
図3に、熱特性測定装置の他の具体的な例を示す。基板11として厚さ700μmの石英基板を使用する。基板11上に、梁材として厚さ1μmのアルミナ膜を形成する。アルミナ膜をパターニングして、梁材から突出し、基板11の穴部を跨ぐ梁部12を形成する。梁部12は、両持ち梁構造となる。梁部12上に試料薄膜13を成膜し、試料梁部とする。
2・・・基板
3・・・試料薄膜
4・・・参照梁部
5・・・変位測定装置
11・・基板
12・・梁部
13・・試料
14・・参照レンズ
15・・参照面
Claims (11)
- 既知の線膨張率の部材からなり、変形可能な梁部と、
梁部の面に形成される試料と、
梁部の温度を制御する温度制御装置と、
梁部の変形を測定する変位測定装置と、を備え
梁部の温度変化により梁部と試料のバイメタル効果による変形を測定する、熱特性測定装置。
- 請求項1に記載の熱特性測定装置において、
梁部を複数設け、各梁部の面にそれぞれ組成の異なる試料が形成してあり、複数種類の試料を一括して測定する、熱特性測定装置。
- 請求項1に記載の熱特性測定装置において、
複数の穴が形成された基板と、
基板の表面に配置された梁材と、を備え、
梁部は、梁材から延びて、基板の穴を一部覆うように複数形成され、
各梁部の面にそれぞれ組成の異なる試料が形成されており、複数種類の試料を一括して測定する、熱特性測定装置。
- 請求項1に記載の熱特性測定装置において、
試料を形成する試料梁部と試料を形成しない参照梁部とを備え、
参照梁部の変形を基準として、試料梁部の変形を測定する、熱特性測定装置。
- 請求項1に記載の熱特性測定装置において、
温度制御装置は、梁部の温度の増減を繰り返しながら、梁部を昇温する、熱特性測定装置。
- 変形可能で既知の線膨張率の梁部の面に試料を付着し、
梁部の温度を変化させ、
バイメタル効果による梁部の変形を測定する、熱特性測定方法。
- 請求項7に記載の熱特性測定方法において、
梁部を複数設け、各梁部の面にそれぞれ組成の異なる試料を付着し、梁部の温度を変化させ、複数種類の試料を一括して測定する、熱特性測定方法。
- 請求項7に記載の熱特性測定方法において、
梁部の温度の増減を繰り返しながら、梁部を昇温し、バイメタル効果による梁部の変形を測定する、熱特性測定方法。
- 請求項7に記載の熱特性測定方法において、
梁部を昇温してバイメタル効果による梁部の変形を測定し、試料の線熱膨張係数を求める、熱特性測定方法。
- 請求項7に記載の熱特性測定方法において、
梁部を昇温してバイメタル効果による梁部の変形を測定し、更に昇温して梁部の変形の戻りを測定し、梁部の温度からガラス転移温度を求める、熱特性測定方法。
- 請求項7に記載の熱特性測定方法において、
梁部を昇温してバイメタル効果による梁部の変形とその変形の戻りを測定し、更に梁部を昇温して再度バイメタル効果による梁部の変形を測定し、梁部の温度から結晶化開始温度を求める、熱特性測定方法。
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