JP2006328531A - 酸化物誘電層の形成方法及びその形成方法で得られた酸化物誘電層を備えたキャパシタ層形成材 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ゾル−ゲル法による酸化物誘電層の形成方法において、以下の(a)〜(c)の工程を備えることを特徴とする酸化物誘電層の形成方法等を採用する。(a)工程:所望の酸化物誘電層を製造するゾル−ゲル溶液調製のための溶液調製工程。(b)工程:前記ゾル−ゲル溶液を金属基材の表面に塗工し、酸素含有雰囲気中で乾燥し、酸素含有雰囲気中で熱分解を行う一連の工程を1単位工程とし、この1単位工程を複数回繰り返し、1単位工程と1単位工程との間に任意に550℃〜1000℃の不活性ガス置換等の予備焼成処理を設けて膜厚調整を行う塗工工程。(c)工程:最終的に550℃〜1000℃の不活性ガス置換等の焼成処理を行い誘電層とする焼成工程。
【選択図】図1
Description
(b)前記ゾル−ゲル溶液を金属基材の表面に塗工し、酸素含有雰囲気中で120℃〜250℃で乾燥し、酸素含有雰囲気中で270℃〜390℃で熱分解を行う一連の工程を1単位工程とし、この1単位工程を複数回繰り返すにあたり、1単位工程と1単位工程との間に任意に550℃〜1000℃の不活性ガス置換又は真空中での予備焼成処理を設けて膜厚調整を行う塗工工程。
(c)そして、最終的に550℃〜1000℃の不活性ガス置換又は真空中での焼成処理を行い誘電層とする焼成工程。
本件発明に係る酸化物誘電層の形成方法は、ゾル−ゲル法による酸化物誘電層の形成方法であって、以下の(a)〜(c)の工程を備えることを特徴とする。以下、工程ごとに説明する。
本件発明に係るキャパシタ層形成材は、上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるキャパシタ層形成材において、当該誘電層を上述の製造方法のいずれかに記載の酸化物誘電層の形成方法により得られたものであることが好ましい。即ち、金属基材に前記下部電極形成に用いる第2導電層となる金属箔等を用いて、その表面に上述の誘電層の形成方法によって酸化物誘電層を形成する。そして、得られた誘電層の上に第1導電層を形成し、キャパシタ層形成材とするのである。ここで誘電層の上に第1導電層を形成する方法としては、金属箔を用いて張り合わせる方法、メッキ法で導電層を形成する方法、スパッタリング蒸着等の方法を採用することが可能である。
そして、上記本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いることで、高品質の内蔵キャパシタ層を備えたことを特徴とするプリント配線板を得ることが出来る。
ここでは、圧延法で製造した50μm厚さのニッケル箔を使用した。なお、圧延法で製造したニッケル箔の厚さはゲージ厚さとして示したものである。このニッケル箔が、キャパシタ層形成材となったときの第2導電層を構成することになる。
当該ニッケル箔の表面にゾル−ゲル法を用いて誘電層を形成した。ゾル−ゲル法で誘電層を形成する前のニッケル箔は、前処理として、250℃×15分の加熱を行い、紫外線の1分間照射を行い、表面の清浄化を図った。
試料1−3に対しては、2回目の1単位工程と3回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料1−4に対しては、3回目の1単位工程と4回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料1−5に対しては、4回目の1単位工程と5回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料1−6に対しては、1回目の1単位工程と2回目の1単位工程との間及び3回目の1単位工程と4回目の1単位工程との間の計2回の予備焼成工程を設けたものである。
そして、試料1−7及び試料1−8に対しては、1回目の1単位工程から6回目の1単位工程との間の各工程間に計5回の予備焼成工程を設けたものである。
以上のようにして、各試料に形成した誘電層の上に、スパッタリング蒸着法により2μm厚さの銅層を第1導電層として形成し、誘電層の両面に第1導電層と第2導電層とを備える8種のキャパシタ層形成材とした。
前記各キャパシタ形成材の第1導電層の表面にエッチングレジスト層を設け、上部電極形状を形成するための、エッチングパターンを露光し、現像した。その後、塩化銅系銅エッチング液で第1導電層をエッチングして、エッチングレジスト剥離を行うことで、上部電極面積が1mm×1mmサイズと上部電極面積が4mm×4mmサイズの各100個のキャパシタ回路を形成した。
生産歩留り: キャパシタ回路の形成後に、各試料の100個のキャパシタ回路に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行い、上部電極と下部電極との間でのショート現象の見られない割合をみた。その結果、1mm×1mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは80%〜100%であり、4mm×4mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは10%〜83%であった。
ここでは、実施例1と同じ、圧延法で製造した50μm厚さのニッケル箔を使用した。このニッケル箔が、キャパシタ層回路を形成したときの下部電極を構成することになる。
当該ニッケル箔の表面に実施例1と同様のゾルーゲル法及びゾル−ゲル液を用いて誘電層を形成した。従って、実施例1の場合と同様の誘電層が得られているはずであり、ここでの重複した説明は省略する。そして、複数の試料として、試料2−1〜試料2−8を得た。
試料2−3に対しては、2回目の1単位工程と3回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料2−4に対しては、3回目の1単位工程と4回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料2−5に対しては、4回目の1単位工程と5回目の1単位工程との間に1回の予備焼成工程を設けたものである。
試料2−6に対しては、1回目の1単位工程と2回目の1単位工程との間及び3回目の1単位工程と4回目の1単位工程との間の計2回の予備焼成工程を設けたものである。
そして、試料2−7及び試料2−8に対しては、1回目の1単位工程から6回目の1単位工程との間の各工程間に計5回の予備焼成工程を設けたものである。
以上のようにして、各試料に形成した誘電層の上に、上部電極を形成する位置を上部電極形状に開口した蒸着用メタルマスクを配して、スパッタリング蒸着法により2μm厚さの銅層を上部電極として形成し、キャパシタ回路を形成した。このとき、上部電極面積が1mm×1mmサイズと上部電極面積が4mm×4mmサイズの各100個のキャパシタ回路を形成した。
生産歩留り: キャパシタ回路の形成後に、各試料の100個のキャパシタ回路に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行い、上部電極と下部電極との間でのショート現象の見られない割合をみた。その結果、1mm×1mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは60%〜100%であり、4mm×4mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは10%〜70%であった。
この比較例1では、実施例1と同様の製造フローを採用しているが、(b)工程、(c)工程が異なる。従って、異なる工程に関してのみ説明する。
生産歩留り: 実施例1と同様にしてキャパシタ回路を形成した後に、各試料の100個のキャパシタ回路に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行い、上部電極と下部電極との間でのショート現象の見られない割合をみた。その結果、1mm×1mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは25%〜80%であり、4mm×4mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは0%であった。
この比較例2では、実施例2と同様の製造フローを採用しているが、(b)工程、(c)工程が異なる。従って、異なる工程に関してのみ説明する。
生産歩留り: キャパシタ回路の形成後に、各試料の100個のキャパシタ回路に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行い、上部電極と下部電極との間でのショート現象の見られない割合をみた。その結果、1mm×1mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは50%〜90%であり、4mm×4mmサイズのキャパシタ回路の生産歩留りは0%〜20%であった。
以下、実施例と比較例との対比を行うにあたり、上記実施例及び比較例は、キャパシタ形状の形成にエッチング法とマスク法との両者を用いた理由に関して、述べておく。本件発明に係る製造方法の予備焼成の本質的な効果は、エッチング時にエッチング液が膜中を通過し基板にダメージを与えるから、この現象による誘電層自体の損傷(具体的には誘電層がなくなってしまうこと)を防ぐことができるという点にある。この現象のみの評価を行うのであれば、エッチング法で作成したキャパシタの評価結果だけで足りると考える。
2 第1層
3,15 上部電極
4,19 下部電極
5 異相
10 プリント配線板
11 キャパシタ層形成材
12 第1導電層
14 第2導電層
16 銅箔層
17 半硬化樹脂層
17’ 絶縁層
18 樹脂付銅箔
21 エッチングレジスト層
22 外層回路
23 ビアホール
24 銅メッキ層
Claims (8)
- ゾル−ゲル法による酸化物誘電層の形成方法において、
以下の(a)〜(c)の工程を備えることを特徴とする酸化物誘電層の形成方法。
(a)所望の酸化物誘電層を製造するためのゾル−ゲル溶液を調製するための溶液調製工程。
(b)前記ゾル−ゲル溶液を金属基材の表面に塗工し、酸素含有雰囲気中で120℃〜250℃で乾燥し、酸素含有雰囲気中で270℃〜390℃で熱分解を行う一連の工程を1単位工程とし、この1単位工程を複数回繰り返すにあたり、1単位工程と1単位工程との間に任意に550℃〜1000℃の不活性ガス置換又は真空中での予備焼成処理を設けて膜厚調整を行う塗工工程。
(c)そして、最終的に550℃〜1000℃の不活性ガス置換又は真空中での焼成処理を行い誘電層とする焼成工程。 - 前記ゾル−ゲル溶液は、酸化物誘電層として(Ba1−x Srx)TiO3(0≦x≦1)膜又はBiZrO3膜を形成するものである請求項1に記載の酸化物誘電層の形成方法。
- 前記ゾル−ゲル溶液は、マンガン、ケイ素、ニッケル、アルミニウム、ランタン、ニオブ、マグネシウム、スズから選ばれる一種又は二種以上を0.01mol%〜5.00mol%含有する酸化物誘電層を形成するものである請求項1又は請求項2に記載の酸化物誘電層の形成方法。
- 前記誘電層は、厚さが20nm〜2μmとするものである請求項1〜請求項3のいずれかに記載の酸化物誘電層の形成方法。
- 前記金属基材は、厚さが1μm〜100μmであるニッケル箔、ニッケル合金箔、ニッケル層を表層に備える複合箔、ニッケル合金層を表層に備える複合箔のいずれかである請求項1〜請求項4のいずれかに記載の酸化物誘電層の形成方法。
- 前記ニッケル合金箔又はニッケル合金層を表層に備える複合箔のニッケル合金層は、ニッケル−リン合金よりなるものである請求項5に記載の酸化物誘電層の形成方法。
- 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるキャパシタ層形成材において、
当該誘電層は、請求項1〜請求項6のいずれかに記載の酸化物誘電層の形成方法により得られたものであることを特徴としたキャパシタ層形成材。 - 請求項7に記載のキャパシタ層形成材を用いて得られる内蔵キャパシタ層を備えたことを特徴とするプリント配線板。
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