JP2006278761A - グリーン基板の製造方法、セラミック基板の切断方法およびチップ状電子部品の製造方法 - Google Patents

グリーン基板の製造方法、セラミック基板の切断方法およびチップ状電子部品の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 焼成前および焼成中には、比較的に大面積の基板のままで取り扱うことが可能であり、ハンドリング性に優れ、しかも、焼成後には、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品に分離することが容易であり、しかも、切断刃が傷み難く、製造効率に優れたグリーン基板の製造方法、セラミック基板の切断方法およびチップ状電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】 焼成前のグリーン基板2を完全に分離しない切り込み線12,14であり、焼成後には個別のチップ状電子部品10に分離するための分離線となる切り込み線12,14が形成された焼成前のグリーン基板2を製造する方法である。切断刃20の刃先が長手方向に沿って凹部32と凸部34との繰り返しである凹凸パターンを有する切断刃20を用い、切断刃20をグリーン基板2に食い込ませることにより、焼成前の前記グリーン基板2を完全に分離することなく、当該グリーン基板2に、切り込み線12,14の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みを形成する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、焼成後にチップ状部品に分離しやすいグリーン基板を製造する方法、その方法を利用したセラミック基板の切断方法およびチップ状電子部品の製造方法に関する。
ガラス粉末とセラミック粉末の混合物を低温焼成して得られるガラスセラミック基板を電子回路用基板として用いることが注目されている。ガラスセラミックは、誘電率が低く、高周波用絶縁基板として好適であり、またガラスセラミックは800〜1000℃程度の低温で焼成することができることから、銅、銀、金等の低抵抗金属を配線層として使用できるメリットがある。
ガラスセラミック基板を製造する際の切断方法としては、大きく分けて2種類ある。1つは、焼結済セラミックスを切断する方法であり、もう1つは、焼結する前のガラスセラミックグリーンシートまたはその積層体を、焼成前の状態で所定のサイズに切断する方法である。
前者の方法では、焼結後の硬いセラミックスを切断する関係で切断効率が悪い。それに比べ、後者の方法は、焼結前のセラミック粉(粒径0.数μm〜数μm)を有機バインダと混練、成形、乾燥させたシート状のいわゆるセラミックグリーンシート、もしくはセラミックグリーンシートに電極ペーストを印刷したもの、またはそれらの積層体(以下、これらを「グリーン基板」とも呼ぶ)を軟らかい状態で切断するので、効率が良い。
特に、有機バインダの軟化温度以上の温度(通常50〜150℃)で切断すると一層軟らかく、切断効率が著しく向上するという利点がある。このことより、後者が、ガラスセラミック基板を製造する際の切断方法として、広く用いられている。この方法の一例として、下記の特許文献1に示す方法が知られている。
この方法においては、まず、複数の吸引孔を有する台の上に樹脂または紙などの多孔質のシートを敷き、その上に。切断するグリーン基板を置き、下から真空吸引することにより固定する。なお、固定の方法としては、常温にて接着性を有するが所定の熱を加えることにより剥離する性質をもつ熱剥離シート等を用いてもよい。
次に、このように固定した状態で台をX軸方向、Y軸方向に所定の切断幅からなるピッチで動かすとともに、切断刃を上下動させることにより、必要な寸法に切断する。
しかしながら、このような従来の切断方法によると、グリーン基板の厚みが厚かったり、切断ピッチが小さくなると、切断面が斜めになるという傾向がある。特に、刃先が一定である場合には、ガラスセラミックグリーンシートの任意の深さまで切断することができるが、いわゆるチョコレートブレイク状態であり、その後に焼成し、焼成後の基板を、個々のチップ状電子部品に分割する際に、チップ状電子部品の切断面には、斜め分割面が生じてしまう。斜め分割面とは、正規の切断面に対して飛び出したりする凸部分や窪んだりする凹部分が生じる面である。
斜め分割面が生じると、その凹部分がチップ状電子部品の内部における導体パターン層の部分にまで到達する可能性があり、不良品を生じさせてしまう。また、斜め分割が生じると、その凸部分がチップ状電子部品のサイズを規格範囲外のサイズにするおそれがあり、不良品と判断されてしまうこともある。
また、グリーン基板にはセラミック粉が含まれているので、一種の研磨剤として作用し、切断回数が増加するにつれて切断刃の刃先が摩耗する。刃先が摩耗すると、切断面が粗悪になる、あるいは切断部にバリがたつ等により切断状態が悪くなる。また、上記のようにセラミックグリーンシートの厚みが厚くなったり、切断ピッチが小さい場合、斜め分割が生じやすくなるため、切断回数の増加とともに刃先が偏った摩耗を起こすことになり、ますます斜め分割が助長され、製造歩留まり低下に繋がる。
このような粗悪な切断状況を回避するためには、切断刃を頻繁に交換しなければならず、切断刃のコストのみならず、切断刃交換のため頻繁に工程を止める必要が生じることより、作業効率が著しく低下するという問題があった。
なお、下記の特許文献2に示すように、焼成前に、切断刃を用いてグリーン基板を完全にグリーンチップ状に切断分離する方法も知られている。
しかしながら、この方法では、焼成前に電子部品がチップ状に分離されていることから、脱バインダ作業や焼成作業時に、各チップの取り扱いが煩雑である。焼成前および焼成中の段階では、チップ状に分離されていない比較的に大面積の基板の状態で取り扱い、焼成後に完全にチップ状に分離したいという要請が高い。
また、焼成前のグリーン基板には切り込みを形成せずに、焼成後の基板にレーザ光を照射し、切断線を形成し、基板を分離してチップ状電子部品を得る試みもある。しかしながら、この方法では、特に、低融点ガラスセラミック基板の場合に、レーザ光を照射すると、ガラスセラミック基板からガラス成分が熔融・飛散してガラスセラミック基板の表面に飛散してしまうとともに分割面に入り込み、良好に分割することが困難である。
特開2003−45738号公報 特開2003−177491号公報
本発明は、このような実状に鑑みてなされ、その目的は、焼成前および焼成中には、比較的に大面積の基板のままで取り扱うことが可能であり、ハンドリング性に優れ、しかも、焼成後には、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品に分離することが容易であり、しかも、切断刃が傷み難く、製造効率に優れたグリーン基板の製造方法、セラミック基板の切断方法およびチップ状電子部品の製造方法を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明に係るグリーン基板の製造方法は、
焼成前のグリーン基板を完全に分離しない切り込み線であり、焼成後には個別のチップ状電子部品に分離するための分離線となる切り込み線が形成された焼成前のグリーン基板を製造する方法であり、
切断刃の刃先が長手方向に沿って凹部と凸部との繰り返しである凹凸パターンを有する切断刃を用い、
前記切断刃を前記グリーン基板に食い込ませることにより、焼成前の前記グリーン基板を完全に分離することなく、当該グリーン基板に、切り込み線の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みを形成することを特徴とする。
本発明において、グリーン基板とは、焼結前のセラミック粉を有機バインダと混練、成形、乾燥させたシート状のいわゆるセラミックグリーンシート単体、もしくは、そのセラミックグリーンシートに電極ペーストを印刷したもの、またはそれらの積層体を意味する。
本発明の方法では、凹凸パターンを有する切断刃をグリーン基板に食い込ませることにより、焼成前のグリーン基板を完全に分離することなく、当該グリーン基板に、切り込み線の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みを形成する。このため、焼成前の状態では、グリーン基板は、チップ状に分離されておらず、基板のままであり、ハンドリング性に優れている。
また、本発明の方法では、従来の方法とは異なり、グリーン基板の切り込み線には、切り込み線の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みが形成されている。そのため、本発明の方法では、切り込み線に沿って厚みが異なる切り込み残余部分が形成され、深い方の切り込み部分は、グリーン基板の表裏面を貫通していてもよい。このため、本発明の方法では、焼成後の基板の切り込み線に沿って曲げ力や切断力などの破断力を加えるのみで、チップ状電子部品の相互を連絡している切り込み残余部分が切り込み線に沿って容易に破断される。その結果、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品に分離される。
ちなみに従来では、グリーン基板の切り込み線には、切り込み線の長手方向に沿って同じ深さの切り込みが形成され、切り込み線に沿って同じ厚みの切り込み残余部分が連続して形成されていた。このため、従来では、切り込み線に沿って基板を割る際に、斜め分割面などが生じやすかった。
これに対して、本発明の方法では、切り込み線に沿って同じ厚みの切り込み残余部分が連続して形成されるのではなく、異なる厚みの切り込み残余部分が交互に形成され、あるいは、同じ厚みの切り込み残余部分が貫通切断部と交互に断続的に形成される。そのため、焼成後には、基板の切り込み線に沿って、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品に分離される。
また、本発明の方法では、切断刃には、凹凸パターンが形成してあり、切断刃が傷み難く、切断刃の寿命が向上し、グリーン基板の製造効率が向上する。
本発明において、グリーン基板に形成される凹凸状の切り込みの深さや幅は、焼成前では、基板がチップ状に分離されないように、しかも、焼成後には分離しやすいように決定され、切り込みの一部が、グリーン基板の表面を貫通するように形成してもよい。
好ましくは、前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)が、前記グリーン基板の厚み(t0)よりも小さい。好ましくは、前記グリーン基板の厚み(t0)から前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)を引いた値(t0−t1)が、t0/10より大きく、t0/3よりも小さいように設定してある。
このような関係とすることで、本発明では、グリーン基板に、切り込み線の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込み(凹凸状の切り残し部)を、容易に形成することが可能になる。
好ましくは、前記切断刃に沿った前記チップ状電子部品の幅をW0とし、前記切断刃における凹部の幅をW1とし、凸部の幅をW2とした場合に、W0>W1であり、W0>W2である。チップ状電子部品の幅W0に比べて、切断刃における凹部の幅をW1が大きすぎると、切り込み残り部分の幅W1が大きくなり過ぎ、焼成後に、チップ状に破断することが困難になる傾向にある。また、チップ状電子部品の幅W0に比べて、切断刃における凸部の幅W2が大きすぎると、切り込み貫通部分(または薄い切り込み残余部分)の幅W2が大きくなり過ぎ、焼成前のグリーン基板の状態で、チップ状に破断しやすくなり、ハンドリング特性が悪くなる傾向にある。
ただし、切り込み残り部分の幅W1があまりに小さすぎると、焼成前のグリーン基板の状態で、チップ状に破断しやすくなり、ハンドリング特性が悪くなる傾向にあるため、好ましくは、W1≧W0/3である。これに対して、切り込み貫通部分(または薄い切り込み残余部分)の幅W2があまりに小さくなると、本発明の効果が少なくなることから、W2≧W0/3である。
好ましくは、W0がW1+W2と略等しい。すなわち、単一のチップ状電子部品に対して、切り込み残り部分W1と、切り込み貫通部分W2(または薄い切り込み残余部分)とが必ず存在するように切り込みを形成することが好ましい。
本発明では、好ましくは、前記切断刃によりグリーン基板に形成される切り込み残余部分が、切り込み線の長手方向に沿って断続的に形成された所定厚みの第1残余部分と、切り込み貫通部分との繰り返しパターンである。第1残余部分が、切断刃における凹部に対応する部分であり、切り込み貫通部分が、切断刃における凸部に対応する部分である。
その場合には、前記第1残余部分の厚み(t3)が、前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)に略等しくなる。
一般的には、切断刃における凸部が、グリーン基板を貫通するように、この切断刃をグリーン基板に食い込ませるが、用途によっては、切断刃の凸部がグリーン基板を貫通する直前位置で停止させても良い。その場合には、前記切断刃によりグリーン基板に形成される切り込み残余部分が、切り込み線の長手方向に沿って断続的に形成された所定厚みの第1残余部分と、前記第1残余部分よりも厚みが薄い第2残余部分との繰り返しパターンとなる。
その場合には、前記第2残余部分の厚み(t2)が、前記切断刃の凸部が前記グリーン基板に切り込み残した部分に相当する厚みであり、前記第1残余部分の厚み(t3)が、前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)に前記第2残余部分の厚み(t2)を加えた値に略等しい。
本発明では、前記切断刃の刃先に形成された凹凸パターンは、特に限定されず、矩形の凹凸パターン、三角状の凹凸パターン、または曲線の凹凸パターンであっても良い。
本発明では、前記切り込み線が、グリーン基板の表面から見て、直線状または曲線状のいずれかであっても良い。
好ましくは、本発明の方法は、前記切り込み線を形成する前に、導体パターン層が表面に形成されたグリーンシートおよび/または導体パターン層が形成されていないグリーンシートを積層し、加圧成形する工程を有する。
好ましくは、前記グリーンシートがガラスセラミックグリーンシートである。本発明の方法は、特に、ガラスセラミックグリーンシートの積層体に切り込み線を入れる場合に有効である。
本発明に係るセラミック基板の製造方法は、上記のいずれかに記載の製造方法を用いて製造されたグリーン基板を焼成する工程を有する。
セラミック基板の切断方法は、上記に記載の製造方法により製造されたセラミック基板を、前記切り込み線に沿って破断力を加えてチップ状電子部品に分離することを特徴とする。破断力としては、特に限定されないが、折り曲げ力、剪断力などが例示される。
本発明のチップ状電子部品の製造方法は、上記に記載の製造方法により製造されたセラミック基板を、前記切り込み線に沿って破断力を加えてチップ状電子部品に分離することを特徴とする。
本発明では、チップ状電子部品としては、特に限定されないが、ガラスセラミック多層基板、アンテナスイッチモジュール、トランシーバーモジュール、フロントエンドモジュール、レーザーダイオードモジュール、パワーアンプモジュール、SAWディプレクサーなどが例示される。
以下、本発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。
図1は本発明の一実施形態に係るグリーン基板の製造方法を示すグリーン基板の斜視図、
図2は図1に示すグリーン基板に切断刃により切り込みを入れた状態における切断面の要部断面図、
図3は切り込みが入れられたグリーン基板における切断面の要部断面図、
図4は本発明の他の実施形態に係るグリーン基板における切断面の要部断面図である。
図1に示すように、本発明の一実施形態に係るグリーン基板2は、ガラスセラミック基板であり、以下のようにして製造される。
(1)まず、ガラスセラミックグリーンシートを準備する。ガラスセラミックグリーンシートは、たとえばガラスセラミックペーストを用いて、ドクターブレード法などによりシート状に成形される。ガラスセラミックペーストとしては、ガラス粉末、セラミック粉末、さらに有機バインダ、可塑剤、有機溶剤等を混合したものを用いることができる。
ガラス粉末としては、特に限定されないが、たとえば、SiO−B系、SiO−B−Al系、SiO−B−Al−MO系、SiO−Al−M1O−M2O系、SiO−B−Al−M1O−M2O系、SiO−B−M3O系、SiO−B−Al−M3O系、Pb系ガラス、Bi系ガラス等が挙げられる。但し、記号MはCa、Sr、Mg、BaまたはZnを示し、記号M1および記号M2はCa、Sr、Mg、BaまたはZnを示し、記号M3はLi、NaまたはKを示す。
セラミック粉末としては、特に限定されないが、たとえば、Al、SiO、ZrOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物、TiOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物、AlおよびSiOから選ばれる少なくとも1種を含む複合酸化物(たとえばスピネル、ムライト、コージェライト)等が挙げられる。
ガラス粉末とセラミック粉末の混合割合は、特に限定されず、重量比で、たとえば40:60〜99:1とすることができる。
有機バインダとしては、特に限定されず、たとえばアクリル系(アクリル酸、メタクリル酸またはそれらのエステルの単独重合体または共重合体、具体的にはアクリル酸エステル共重合体、メタクリル酸エステル共重合体、アクリル酸エステル−メタクリル酸エステル共重合体等)、ポリビニルブチラ−ル系、ポリビニルアルコール系、アクリル−スチレン系、ポリプロピレンカーボネート系、セルロース系等の単独重合体または共重合体が挙げられる。
本発明で用いるガラスセラミックペーストは、ガラス粉末、セラミック粉末、有機バインダに対して、必要に応じて、所定量の可塑剤、溶剤(有機溶剤、水等)を加えてスラリー化される。このペーストは、ドクターブレード、圧延、カレンダーロール、金型プレス等によりシート化され、ガラスセラミックグリーンシートとなる。
ガラスセラミックグリーンシートの表面には、必要に応じて、導体パターン層(図1に示す導体パターン層6となる)が形成される。導体パターン層6を形成するには、ガラスセラミックグリーンシート表面に、たとえば導体材料粉末をペースト化した導体ペーストをスクリーン印刷法やグラビア印刷法等により印刷するか、あるいは所定パターン形状の金属箔を転写する等の方法が挙げられる。導体材料としては、たとえばAu、Ag、Cu、Pd、Pt等の1種または2種以上が挙げられ、2種以上の場合は混合、合金、コーティング等のいずれの形態であってもよい。
なお、表面の導体パターンには、上下の層間の導体パターン同士を接続するためのビア導体やスルーホール導体等の貫通導体が表面に露出した部分も含まれる。これら貫通導体は、パンチング加工等によりガラスセラミックグリーンシートに形成した貫通孔に、導体材料粉末をペースト化した導体ペーストを印刷により埋め込む等の手段によって形成される。
(2)次に、上述のようにして準備したガラスセラミックグリーンシート(厚さ25〜400μm)を、図1に示す支持シート4の上に多数枚を積層して、ガラスセラミックグリーンシートの積層体であるグリーン基板2を準備する。なお、支持シートとしては、たとえばPETフィルムなどが用いられる。
ガラスセラミックグリーンシートの積層には、積み重ねたグリーンシートに熱と圧力を加えて熱圧着する方法、有機バインダ、可塑剤、溶剤等からなる接着剤をシート間に塗布して熱圧着する方法等が採用可能である。
ガラスセラミックグリーンシートの積層数は、特に限定されず、たとえば数層〜数百層程度とされる。熱圧着後のグリーン基板2の厚みt0は、特に限定されないが、たとえば0.5〜3mm程度とされる。
(3)次に、グリーン基板2に、個別のチップ状電子部品10に焼成後に分離するための切り込み線12および14を形成する。これらの切り込み線12および14は、格子状に形成される。
縦方向Yの切り込み線14は、横方向Xの切り込み線12と同様にして形成されるので、以下の説明では、横方向Xの切り込み線12を形成する方法について説明し、縦方向Yの切り込み線14の形成方法については省略する。
縦方向Yの切り込み線14は、以下の説明において、切断刃20の長手方向(この場合には、基板2の横方向Xに一致する)に沿ったチップ状電子部品10の横幅W0を、その縦幅W0’に置き換える以外は、同様にして形成することができる。なお、チップ状電子部品10の横幅W0が、その縦幅W0’と略同程度であれば、切り込み線12を形成するものと同じ切断刃20を用いて切り込み線14を形成することも可能である。
本実施形態では、グリーン基板2の縦方向Yに沿って並んで平行に配置される切り込み線12は、切断刃20により形成される。支持シート4の上に形成されたグリーン基板2は、図2に示すように、吸着台8の上に位置決めされて固定される。吸着台8は、基板2を加熱する加熱手段を具備しても良い。基板2を、たとえば90°C程度に加熱しながら、切断刃2を用いて、基板2に切り込み線12を形成することが好ましい。加熱により、切断刃2による切り込みが容易になる。切断刃2の材質は、特に限定されないが、ステンレスなどの鋼材で構成される。
吸着台8に対して、切断刃20は、基板2の縦方向Yに沿って相対的に平行移動可能に、しかも、基板2に対して、厚み方向Zに相対的に移動可能に配置してある。なお、切断刃20は、吸着台8に対して90度の角度で相対回転移動自在になっていても良い。相対的に移動とは、切断刃20が移動しても良いし、吸着台8が移動しても良いという意味である。
切断刃20は、基板2に対して、基板2に形成されたアライメントマークなどを利用して位置決めされる。そして、切断刃20は、切り込み線12が形成される予定の直上部に位置決めされ、図2に示すように、鉛直方向Zの下方に移動して、切断刃20の刃先が基板2に食い込み、切り込み線12が形成される。切り込み線12に沿って切断刃20が基板2に食い込む際には、切断刃20は、その長手方向Xに沿っては移動せず、基板2に対して押し込まれるのみである。
本実施形態では、切断刃20は、その刃先に、長手方向に沿って凹部22と凸部24との繰り返しである凹凸パターンを有する。切断刃20の凹部22と凸部24との刃先の位置の差、すなわち、凹凸パターンの深さt1が、グリーン基板2の厚みt0よりも小さく設定してある。
すなわち、グリーン基板2の厚みt0から切断刃20の凹凸パターンの深さt1を引いた値(t0−t1)が、t0/10より大きく、t0/3よりも小さくなるように設定してある。図2に示すように、切断刃20の凸部24の刃先が支持シート4の表面で停止するように、切断刃20の刃先が基板2に食い込み、その後、切断刃20が上方向に移動することで、切り込み線12の断面には、図3に示すように、第1残余部分30と、切り込み貫通部分32との繰り返しパターンが、切り込み線12の長手方向に沿って形成される。
第1残余部分30は、切断刃20における凹部22に対応する部分であり、凹部22による切り込み残り部分である。切り込み貫通部分32は、切断刃20における凸部24に対応して形成され、その部分において、基板2の表裏面を貫通する。
本実施形態では、図3に示すように、第1残余部分30の厚みt3は、切断刃20における凹凸パターンの深さt1に略等しい。第1残余部分30の上に存在する切り込み深さは、t0−t1に対応する。この切り込み深さ(t0−t1)が、t0/10より大きく、t0/3よりも小さく成るように切り込み線12を形成する。この切り込み深さ(t0−t1)が浅すぎると、焼成後において、この切り込み線12に沿って基板2を破断することが困難になる傾向にあり、深すぎると、焼成前の段階で、基板2が切り込み線12に沿って分離されやすくなる傾向にある。
図3に示す第1残余部分30の幅は、切断刃20の刃先における凹部22の幅W1に略同じになり、切り込み貫通部分32の幅は、凸部24の幅W2に略同じになる。切断刃20に沿ったチップ状電子部品10の幅をW0とし、切断刃20における凹部22の幅をW1とし、凸部24の幅をW2とした場合に、W0>W1、W0>W2の関係となるように、刃先の凹凸パターンが設定してある。
具体的には、本実施形態では、W0がW1+W2と略等しくなるように設定してあり、W0≧W2≧W0/3であり、W0≧W1≧W0/3となるように設定してある。その結果、図3に示すように、チップ状電子部品10の幅W0の範囲内では、必ず第1残余部分30と切り込み貫通部分32とが存在することになり、焼成後に、チップ状電子部品10に分離しやすくなる。
なお、第1残余部分30の幅が狭すぎる場合には、焼成前の段階で、基板2が切り込み線に沿って分離しやすくなり、逆に、広すぎる場合には、焼成後の段階で、基板2が切り込み線に沿って分離し難くなる傾向にある。また、切り込み貫通部分32の幅が狭すぎる場合には、焼成後の段階で、基板2が切り込み線に沿って分離し難くなり、逆に広すぎる場合には、焼成前の段階で、基板2が切り込み線に沿って分離しやすくなる傾向にある。
切断刃20を用いて、横方向Xの切り込み線12を形成した後、あるいは、その前に、同様にして、縦方向の切り込み線14を形成する。縦方向の切り込み線14は、電子部品10の横寸法W0と縦寸法W0’とが大差ない場合には、同じ切断刃20を用いて、同様にして行われる。縦寸法W0’が、横寸法W0に比較して、著しく異なる場合には、切断刃20の刃先における凹凸のパターン寸法関係を、上記と同様な関係となるように設定してある異なる切断刃を用いて切り込み線14を形成する。
その後に、このグリーン基板2は、必要に応じて脱バインダ処理が施され、その後に、焼成炉に導入され、たとえば空気中で800〜850℃、90〜120分の保持条件で焼成される。なお、導体ペースト層6がNi、Cuの場合は還元または中性雰囲気で焼成する。これにより、未焼成状態の基板は、複数のチップ状電子部品10が格子状に形成されたセラミック基板となる。そして、このセラミック基板を、切り込み線12および14に沿って曲げ応力あるいは剪断力を加えて、図3に示す切り込み線32の内部に位置する第1残余部分30を、切り込み線32に沿って破断させる。その結果、多数のチップ状電子部品10が得られる。
本実施形態によれば、凹凸パターンを有する切断刃20を、焼成前のグリーン基板2に食い込ませることにより、焼成前のグリーン基板2を完全に分離することなく、当該グリーン基板2に、切り込み線12(14含む、以下同様)の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みを形成する。このため、焼成前の状態では、グリーン基板2は、チップ状に分離されておらず、基板のままであり、ハンドリング性に優れている。
また、本実施形態の方法では、従来の方法とは異なり、グリーン基板2の切り込み線12には、切り込み線12の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みが形成されている。そのため、この方法では、切り込み線12に沿って第1残余部分30と切り込み貫通部分32とが交互に形成され、焼成後の基板の切り込み線に沿って曲げ力や切断力などの破断力を加えるのみで、チップ状電子部品10の相互を連絡している第1残余部分30が切り込み線12に沿って容易に破断される。その結果、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品10に分離される。
ちなみに従来では、グリーン基板の切り込み線には、切り込み線の長手方向に沿って同じ深さの切り込みが形成され、切り込み線に沿って同じ厚みの切り込み残余部分が連続して形成されていた。このため、従来では、切り込み線に沿って基板を割る際に、斜め分割面などが生じやすかった。
これに対して、本実施形態の方法では、切り込み線12に沿って同じ厚みの切り込み残余部分が連続して形成されるのではなく、第1残余部分30と切り込み貫通部分32とがが交互に形成される。そのため、焼成後には、基板の切り込み線12に沿って、斜め分割面などが生じることなく、容易にチップ状電子部品10に分離される。したがって、チップ状電子部品の製造歩留まりも向上する。
また、本発明の方法では、切断刃20には、凹凸パターンが形成してあり、切断刃20が傷み難く、切断刃20の寿命が向上し、グリーン基板2の製造効率が向上する。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変することができる。
たとえば、図1に示す切断刃20またはその他の切断刃を用いて、図4に示すように、切り込み線12の断面において、切り込み線12に沿って厚みが異なる第1残余部分30aと第2残余部分32aとを形成しても良い。第1残余部分30aは、図1に示す切断刃20における凹部22に対応する部分であり、第2残余部分32aは、切断刃20における凸部24に対応する部分である。凸部24の先端が、支持シート4の表面に到達する前に、切断刃20を停止させた場合には、凸部24の先端に位置する部分に、第1残余部分30aの厚みt3よりも薄い厚みt2の第2残余部分32aが形成される。
この実施形態の場合には、第1残余部分30aの厚みt3は、第2残余部分32aの厚みt2に、図1に示す切断刃20の凹部22の深さt1(凹凸パターンの深さ)を足した値になる。第2残余部分32aの厚みt2は、あまりに厚いと、焼成後に切り込み線12に沿った電子部品10の分離が困難になることから、切断刃20の凹凸パターンの深さt1に対して、0〜1/4倍程度の寸法であることが好ましい。
この実施形態の方法では、異なる厚みの切り込み残余部分30a,32aが交互に形成される以外は、図1〜図3に示す実施形態と同様な作用効果を奏する。
また、本発明の方法では、切断刃20の凹凸パターンにおける深さt1を、切り込み線12を形成しようとするグリーン基板2の厚みt0よりも大きくすることも可能である。その場合には、切断刃20における凸部の刃先の先端が、図2に示す吸着台8の内部にまで貫通することが好ましい。いずれにしても、切断刃20により形成される切り込み線12において、図3または図4に示すような切り込み残余部分30,30a,32aが形成されるように、切り込み線12を形成すればよい。
また、本発明では、切断刃20の刃先に形成された凹凸パターンは、矩形の凹凸パターンのみでなく、三角状の凹凸パターン、または曲線の凹凸パターンであっても良い。その場合には、基板の切り込み線12の断面に形成される切り込み残りのパターンも、三角状の凹凸パターン、または曲線の凹凸パターンとなる。
図1は本発明の一実施形態に係るグリーン基板の製造方法を示すグリーン基板の斜視図である。 図2は図1に示すグリーン基板に切断刃により切り込みを入れた状態における切断面の要部断面図である。 図3は切り込みが入れられたグリーン基板における切断面の要部断面図である。 図4は本発明の他の実施形態に係るグリーン基板における切断面の要部断面図である。
符号の説明
2,2a… グリーン基板
4… 支持シート
6… 導電パターン層
10… チップ状電子部品
12,14… 切り込み線
20… 切断刃
22… 凸部
24… 凹部
30,30a… 第1残余部分
32… 切り込み貫通部分
32a… 第2残余部分

Claims (18)

  1. 焼成前のグリーン基板を完全に分離しない切り込み線であり、焼成後には個別のチップ状電子部品に分離するための分離線となる切り込み線が形成された焼成前のグリーン基板を製造する方法であり、
    切断刃の刃先が長手方向に沿って凹部と凸部との繰り返しである凹凸パターンを有する切断刃を用い、
    前記切断刃を前記グリーン基板に食い込ませることにより、焼成前の前記グリーン基板を完全に分離することなく、当該グリーン基板に、切り込み線の長手方向に沿って深さが異なる凹凸状の切り込みを形成することを特徴とするグリーン基板の製造方法。
  2. 前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)が、前記グリーン基板の厚み(t0)よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載のグリーン基板の製造方法。
  3. 前記グリーン基板の厚み(t0)から前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)を引いた値(t0−t1)が、t0/10より大きく、t0/3よりも小さいように設定してある請求項1または2に記載のグリーン基板の製造方法。
  4. 前記前記切断刃に沿った前記チップ状電子部品の幅をW0とし、前記切断刃における凹部の幅をW1とし、凸部の幅をW2とした場合に、W0>W1であり、W0>W2である請求項1〜3のいずれかであるグリーン基板の製造方法。
  5. W2≧W0/3であり、W1≧W0/3である請求項4に記載のグリーン基板の製造方法。
  6. W0がW1+W2と略等しいことを特徴とする請求項4または5に記載のグリーン基板の製造方法。
  7. 前記切断刃の刃先に形成された凹凸パターンが、矩形の凹凸パターン、三角状の凹凸パターン、または曲線の凹凸パターンである請求項1〜6のいずれかに記載のグリーン基板の製造方法。
  8. 前記切断刃によりグリーン基板に形成される切り込み残余部分が、切り込み線の長手方向に沿って断続的に形成された所定厚みの第1残余部分と、切り込み貫通部分との繰り返しパターンである請求項1〜7のいずれかに記載のグリーン基板の製造方法。
  9. 前記第1残余部分の厚み(t3)が、前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)に略等しい請求項8に記載のグリーン基板の製造方法。
  10. 前記切断刃によりグリーン基板に形成される切り込み残余部分が、切り込み線の長手方向に沿って断続的に形成された所定厚みの第1残余部分と、前記第1残余部分よりも厚みが薄い第2残余部分との繰り返しパターンである請求項1〜7のいずれかに記載のグリーン基板の製造方法。
  11. 前記第2残余部分の厚み(t2)が、前記切断刃の凸部が前記グリーン基板に切り込み残した部分に相当する厚みであり、前記第1残余部分の厚み(t3)が、前記切断刃の凹凸パターンの深さ(t1)に前記第2残余部分の厚み(t2)を加えた値に略等しい請求項10に記載のグリーン基板の製造方法。
  12. 前記切り込み線が、グリーン基板の平面から見て直線状または曲線状のいずれかである請求項1〜11のいずれかに記載のグリーン基板の製造方法。
  13. 前記切り込み線を形成する前に、導体パターン層が表面に形成されたグリーンシートおよび/または導体パターン層が形成されていないグリーンシートを積層し、加圧成形する工程を有する請求項1〜12のいずれかに記載のグリーン基板の製造方法。
  14. 前記グリーンシートがガラスセラミックグリーンシートである請求項13に記載のグリーン基板の製造方法。
  15. 請求項1〜14のいずれかに記載の製造方法を用いて製造されたグリーン基板を焼成する工程を有するセラミック基板の製造方法。
  16. 請求項15に記載の製造方法により製造されたセラミック基板を、前記切り込み線に沿って破断力を加えてチップ状電子部品に分離することを特徴とするセラミック基板の切断方法。
  17. 請求項15に記載の製造方法により製造されたセラミック基板を、前記切り込み線に沿って破断力を加えてチップ状電子部品に分離することを特徴とするチップ状電子部品の製造方法。
  18. 前記チップ状電子部品が、ガラスセラミック多層基板である請求項17に記載のチップ状電子部品の製造方法。
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