JP2006275750A - シート厚み測定装置 - Google Patents

シート厚み測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006275750A
JP2006275750A JP2005094894A JP2005094894A JP2006275750A JP 2006275750 A JP2006275750 A JP 2006275750A JP 2005094894 A JP2005094894 A JP 2005094894A JP 2005094894 A JP2005094894 A JP 2005094894A JP 2006275750 A JP2006275750 A JP 2006275750A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sheet
ray
thickness measuring
thickness
measuring apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005094894A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryutaro Fukumoto
龍太郎 福元
Masanori Osone
正紀 大曽根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2005094894A priority Critical patent/JP2006275750A/ja
Publication of JP2006275750A publication Critical patent/JP2006275750A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

【課題】 シートの厚さをシートの幅方向に順次測定する形態の厚さ測定装置において、シートの走行方向に直交する一直線上の厚さを測定することのできる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、所定速度で走行するシートSに照射するX線を発生するX線源1と、シートSを透過したX線量を検知し、かつシートSの幅方向に配列される複数のX線検知素子と、複数のX線検知素子で検知したX線量に基づいて、かつ複数のX線検知素子について順次シートSの厚さを計測する制御部6と、を備え、複数のX線検知素子は、所定速度及び複数のX線検知素子についての全計測時間に応じて、シートSの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列されることを特徴とするシート厚さ測定装置10によって、前記課題を解決する。
【選択図】図1

Description

本発明は、走行するシートにX線を透過させることにより、シートの厚みを測定する装置に関する。
X線を利用してシートの厚みを測定する従来のシート厚み測定装置は、1対のX線源及びX線センサを所定距離離間した位置に配置し、走行するシートの走行方向と交差する方向、例えば幅方向に往復動作しながら厚みを測定していた。
上述した従来のシート厚み測定装置のX線源及びX線センサは、移動するシートの表面に対してシートの幅方向に振幅する連続した弧状の波形状の軌跡を描き、シートの移動方向におけるこの軌跡のピッチはシート状物の走行速度が速くなるにしたがって長くなる。このために、シートの走行速度が速くなるに従ってシートの厚みの測定密度が粗くなる。測定密度を向上させるには、シートの幅方向におけるX線源及びX線センサの往復速度を向上させて、移動するシートの表面に対してシートの幅方向に振幅する連続した弧状の波形状の軌跡のピッチが短くなるようにすれば良いが、シートの幅が大きくなるにつれて上記往復速度は小さくなってしまう。即ち、上述した従来のシート厚み測定装置では、シートの走行速度が速くなるに従い、またシートの幅が大きくなると厚みの測定精度が劣ってくる。
以上の問題点に対して、特許文献1は、複数のX線源が直線状に所定間隔で配置されたX線管と、X線管の複数のX線源に対向して配置され複数のX線源から所定距離離間した複数のX線センサとを備えており、X線管の複数のX線源と複数のX線センサとの間の所定位置に於いてシートを通過させ、複数のX線源と複数のX線源に対向した複数のX線センサとにより複数のX線源に対向した複数のX線センサとの間でシートの複数の位置の厚みを測定する、ことを特徴とするシート厚み測定装置を開示している。
特開平10−281747号公報
特許文献1に開示されたシート厚み測定装置によれば、複数のX線源と複数のX線源に対向した複数のX線センサとにより複数のX線源に対向した複数のX線センサとの間でシートの複数の位置の厚みを測定するため、シートの走行速度が速く、かつシートの幅が大きくなっても厚みの測定精度を向上することができる。
シートの厚みを測定する場合、シートの走行方向に垂直な方向のライン上の厚みを測定することが、シートの厚みを制御する上で望ましい。そうするためには、シートの幅方向に配設された複数のX線センサで同時にX線量を計測すればよいが、高価な信号処理回路が必要となる。この信号処理回路にマルチプレクサを用いると信号処理回路の価格上昇を抑えることができる。しかしこの場合、シートの幅方向の一端側から他端側に向けて複数のX線センサで得られたX線量に基づいて順次シートの厚みを演算処理により求める(以下、計測)と、シートは所定速度で走行しているため、測定されたシートの幅方向の厚みは、シートの走行方向に垂直な方向のライン上のものとはならない。
本発明は、シートの厚みをシートの幅方向に順次測定する形態の厚み測定装置において、シートの走行方向に垂直な方向のライン上の厚みを測定することのできる技術を提供することを目的とする。
本発明は、所定速度で走行するシートに照射するX線を発生するX線源と、シートを透過したX線量を検知し、かつシートの幅方向に配列される複数のX線検知素子と、複数のX線検知素子で検知したX線量に基づいて、かつ複数のX線検知素子について順次シートの厚みを計測する制御部と、を備え、複数のX線検知素子は、所定速度及び複数のX線検知素子についての全計測時間に応じて、シートの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列されることを特徴とするシート厚み測定装置によって、前記課題を解決する。
上記シート厚み測定装置において、複数のX線検知素子は、シートの幅方向の所定点を中心に回動可能に配列され、かつ所定速度及び全計測時間に応じて、所定角度傾斜したライン上に配列される形態とすることが好ましい。シート厚み測定装置におけるシートの走行速度の変更に対応して迅速に複数のX線検知素子を配列するのに好適である。
ここで、シートの走行速度をVs、全計測時間をTsとすると、シートの幅方向に配列される複数のX線検知素子の中で、一端側に配置されるX線検知素子に対して、他端側に配置されるX線検知素子は、シートの走行方向に垂直な方向から、下記の式(a)で求められるLだけ、シートの走行方向に変位して配置する。そうすることにより、複数のX線検知素子を、所定速度及び全計測時間に応じて、シートの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列させることができる。
L=Vs×Ts…(a)
複数のX線検知素子は、一体的に構成したラインセンサとすることができるが、所定数ごとのブロックに分割して、シートの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列することもできる。シートの幅が大きくなると、それに対応するラインセンサは高価なものとなる。そこで、シート幅に比べて短いラインセンサを複数用いることを提案するものである。
本発明のシート厚み測定装置において、単一のX線源をシートの幅方向に移動させることも可能であるが、複数のX線源を備えることが好ましい。X線源の移動のための機構を強固にしても、高い測定精度を得るために、移動速度を制限しなければならないためである。
本発明のシート厚み測定装置において、X線源からシートまでの間に、雰囲気制御領域を設けることが好ましい。X線は大気においても減弱し、かつ大気の温度等の変動によってその減弱量が変動し、シートの厚み測定精度に影響を与える。そこで、X線源からシートまでの間のX線の減弱量の変動を規制するために、X線源からシートまでの間に、雰囲気制御領域を設けることが好ましいのである。
特に、X線源を単数とし、かつその位置を固定にする場合に有効である。つまり、X線源を、測定対象であるシートから十分に遠方に配置することにより、単一のX線源でシートの厚みを測定することができるが、この場合、X線源とシートとの間の距離が長くなる分、間に存在する大気によるX線量の減弱の変動が顕著になるからである。雰囲気制御領域は、当該雰囲気を所定の真空度に制御することにより形成することができる。また、雰囲気制御領域は、当該雰囲気に、所定温度に制御されたガスを供給することによっても形成することができる。
周知のように、X線は、電子線をW(タングステン)等のターゲットに照射することにより発生させることができる。したがって、このターゲットであるX線発生手段を測定対象のシートの近傍に配置することにより、測定精度を向上することができる。この場合、電子銃等の電子線発生手段を、X線発生手段から遠方に配置することにより、単一の電子線発生手段によるX線発生を可能とする。ただし、X線発生手段に対して所定の幅で電子線を照射するために、電子線発生手段から発生された電子線を偏向して所定の幅を形成する必要がある。したがって本発明のシート厚み測定装置において、X線源は、電子線発生手段と、電子線発生手段から発生された電子線を偏向する偏向手段と、偏向手段で変更された電子線が照射されかつX線を発生させるX線発生手段と、を備えることができる。
以上説明したように、本発明によれば、シートの厚みをシートの幅方向に順次測定する形態の厚み測定装置において、シートの走行方向に直交する一直線上の厚みを測定することができる。しかも、シートの走行速度及び厚みの計測時間に応じた厚みの測定を行うことができる。
以下、添付図面に示す実施の形態に基づいてこの発明を詳細に説明する。
<第1実施形態>
図1は、第1実施形態によるシート厚み測定装置10の構成概略を示す図である。
シート厚み測定装置10は、フィルム等のシートSを、その幅方向(図1の左右方向)に直交する方向に所定速度で走行させながら、その厚みを測定する装置である。
図1において、シート厚み測定装置10は、被測定物であるシートSにX線を照射するための複数のX線源1と、X線源1から発生され、かつシートSを透過したX線量を検知するためのX線センサ2と、X線源1及びX線センサ2を支持するフレーム5と、各X線源1を覆うフード4を備えている。シート厚み測定装置10はまた、X線センサ2において検知されるX線量に基づいてシートSの厚みを計測する制御部6と、制御部6で求められたシートSの厚みを表示する表示部7を備えている。
シート厚み測定装置10において、X線源1としては、例えば5〜100keV程度の低エネルギーX線源を用いることができる。また、X線センサ2のX線検知素子としては、例えばシンチレータを用いることができる。ここで、X線センサ2は、複数のシンチレータ(X線検知素子)を所定ピッチ(例えば、数mmピッチ、数cmピッチ)で配列したラインセンサ形式のセンサで構成されている。フード4は、X線源1から照射されたX線を適切にシートSに導くために設けてある。
ここで、X線の減弱量は、計測する空間に存在する物質の密度に比例し、一般的には、X線センサ2で検知されるX線量Nは(1)式で求めることができる。制御部6は、基本的には、この(2)式に基づいてシートSの厚みを計測する。
N=N0・eXp(−k・t・ρ)…(1)
N:X線検知量
0:X線発生量
k:物質のX線強度による減弱係数
t:物質の厚み
ρ:物質の密度
シート等のシートSを測定対象とする場合には、X線源1とX線センサ2の間には、シートSの他に大気が存在することになり、X線量Nは(2)式で特定される。
N=N0・eXp(−ka・ta・ρa−ks・ts・ρs)…(2)
N:X線計測量
0:X線発生量
a:大気のX線強度による減弱係数
a:大気の厚み
ρa:大気の密度
s:シートSのX線強度による減弱係数
s:シートSの厚み
ρs:シートSの密度
図2は、第1実施形態によるシート厚み測定装置10の、シートSの走行方向(点線矢印)とX線センサ2の位置関係を示す図である。図2においてシートSの走行方向と垂直な方向に一点鎖線を示しているが、シート厚み測定装置10のX線センサ2はシートSの走行方向に対して角度θだけ傾斜して設けられている。シート厚み測定装置10は、A端側のX線検出素子からB端側のX線検出素子に向けて順次、検知したX線量に基づいてシートSの厚みを計測していくものである。また、シートSの走行速度をVs、X線センサ2の傾斜量をL、A端側からB端側までに必要な全計測時間をTsとする。そうすると、L=Vs×Tsの条件を満足するようにX線センサ2を傾斜させて配置することにより、シート厚み測定装置10はシートSについて、シートSの走行方向と垂直な方向のライン上の厚みを測定することができる。なお、X線センサ2の傾斜量Lは、シートSの幅方向に配列される複数のX線検知素子の中で、一端側に配置されるX線検知素子に対して、他端側に配置されるX線検知素子は、シートSの走行方向に垂直な方向から、傾斜量Lだけシートの走行方向に変位して配置されている。
シートSを製造する場合、シートSの走行速度Vsは一定とは限らない。したがって、X線センサ2の傾斜量Lは、適宜変える必要がある。X線センサ2の傾斜量Lを作業員が手作業で変えることもできるが、例えば図3に示すように、A端側の回動中心Cを中心にしてX線センサ2を回動可能に構成し、図示しないアクチュエータにより、シートSの走行速度Vs、X線センサ2によるシートSの厚み測定に要する全計測時間Tに応じた傾斜量Lを制御部6で算出して、X線センサ2が適切な傾斜量Lを有するように駆動することができる。さらに、シートSの走行速度Vs、X線センサ2による全計測時間Tが変更された場合には、傾斜量Lを制御部6で新たに算出し、算出された傾斜量Lに応じてX線センサ2を駆動する。X線センサ2の駆動は、算出された傾斜量Lから傾斜角θを求めることによって行うことができる。なお、図4に示すように、X線センサ2の中心を回動中心Cとすることもできる。
以上では、一体として構成されたX線センサ2を用いることを想定しているが、シートSの幅が大きくなると、長尺のX線センサ2を一体で構成すると非常に高価になり、また製作自体が困難な場合もある。そこで本発明では、X線センサ2を、シートSの幅方向に分割することもできる。図5及び図6は、分割されたX線センサの例を示している。
図5の例では、X線センサをX線センサ2a、X線センサ2b及びX線センサ2cから構成している。図5において、X線センサ2a、X線センサ2b及びX線センサ2cは、その長手方向に複数のX線検知素子が配列されている。シートSの厚みを測定する場合、X線センサ2a、X線センサ2b及びX線センサ2cにおいて、各々、図中下端側から上端側に向けて順次計測を行う。また、X線センサ2a、X線センサ2b及びX線センサ2cにおける計測は、同時に開始される。
図6の例では、X線センサをX線センサ2d、X線センサ2e及びX線センサ2fから構成している。図6において、X線センサ2d、X線センサ2e及びX線センサ2fは、その長手方向に複数のX線検知素子が配列されている。シートSの厚みを測定する場合、X線センサ2d、X線センサ2e及びX線センサ2fにおいて、各々、図中下端側から上端側に向けて順次計測を行う。また、X線センサ2dにより計測を開始して終了した後に、X線センサ2eによる計測を開始する。そして、X線センサ2eによる計測が終了した後に、X線センサ2fにおける計測を開始する。図6の例は、図5の例よりも、計測時間を短縮することができる。
次に、制御部6の具体的な制御内容について説明する。
制御部6は、図7に示すように、待機モード101、プロファイル取得モード102、厚み計測モード103、オフライン補正モード104及びオンライン補正モード105という5つの動作モードを備えている。
待機モード101では、電源ONの状態で、操作スイッチ等の信号入力により、次のモードに移行する。待機モード101の中では、スイッチの入力処理、表示処理、等の一般的な処理のみ行なう。
プロファイル取得モード102は、待機モード101からプロファイル取得信号により移行する。通常は厚み計測モード103に移行する前に実施される。プロファイル取得モード102は、X線菅球とX線センサ2のプロファイルを計測する。この時のデータとしては、X線菅球の印加電圧、電流、X線センサ2の出力値、プロファイル取得時の大気温度、湿度、気圧等が記録される。
厚み計測モード103は、プロファイル取得モード102から、計測モード信号又は取得モード終了信号で移行する。厚み計測モード103では、上記のプロファイル取得モード102のセンサプロファイルや、補正データを参照しながら、厚み計測を行なう。厚み計測のタイミングは、可能な限り早く計測し多くのデータを蓄積して、フィルムの横(幅)方向だけでなく、縦方向のプロファイルを取る場合や、横一直線のプロファイルを取るために、X線センサ2によるX線量の検知タイミングをずらしながら取る方法がある。横一直線のプロファイルを取るためには、ライン速度との関係があり、ライン速度を計測して計測装置の移動及び計測タイミングの変更を行なう。
例えば、計測幅をLm(m)、シートSの走行速度をVs(m/秒)、幅方向の全計測時間をTs(秒)とした場合、計測幅Lm(m)に対して、前述したように、L=Vs×Ts(m)だけ、X線センサ2を傾斜して配置する必要がある。図3に示すように、X線センサ2の一端が回動軸となっている場合は、反対側を適当な駆動装置でLだけシートSの走行方向に移動させる。また、図4に示すように、X線センサ2の中心部に回動軸がある場合は、X線センサ2の両端でLだけシートSの走行方向に差が出るように回転移動させる。
オフライン補正モード104は、プロファイル取得モード102からオフライン補正信号で移行する。オフライン補正モード104は、基準厚みフィルムの計測を行い、計測モード時の参考データを取得する。基準厚みは色々な基準値を取得することが可能であるが、X線源1の経時変化、センサの経時変化を考慮すると、計測開始直前に実施するのが、妥当である。また、補正センサの走行制御、位置計測、基準厚みフィルムの挿入、送出、位置計測も同時に制御する。
オフライン補正モード104では、まず基準厚みフィルムをX線ラインセンサ上に移動装置を用いて移動する。計測幅全域にわたって基準厚みフィルムが用意される場合は、挿入時のデータと、挿入無しの場合のデータを取得し、シート厚さ測定装置10のX線検知素子毎のばらつきを補正する。基準厚みフィルムが計測幅の一部しかない場合は、計測幅方向の移動装置を設け、計測幅全域を移動させて、挿入時のデータと、挿入無しの場合のデータを取得し、計測装置の各センサのばらつきを補正する。基準厚みフィルムの挿入の有無については、センサと基準厚みフィルムの位置を計測して判断するか、データの変化量から判断する。また、この時にX線源1の印加電圧や電流値毎に補正データを取得しても良い。
オンライン補正モード105は、厚み計測モード103実施中に、オンライン補正信号が発生すると移行する。補正センサによるプロファイル補正、大気の透過率補正等を行なう。また、補正センサの走行制御、位置計測、基準厚みフィルムの挿入、送出、位置計測も同時に制御する。
フィルムの厚みや、材料が大きく変化した場合、それまで使用していたX線源1では入力値に過不足を生じることがある。そこで、制御部6では、入力値の過不足値に応じて、X線源1の強度、すなわちX線菅球の印加電圧を自動的に変更するようにした。もちろん、測定対象物であるシートSの変動が事前にわかっている場合は、手動にて調整できることは言うまでもない。
例えば、計測するフィルムの厚みが厚くなると、減弱量が大きくなり、入力値が低下して、計測精度に支障をきたすようになる。この場合は、X線菅球の印加電圧を上げることにより、透過率が上がるので入力値が上昇して、計測精度を確保できるようになる。逆に、計測するフィルムの厚みが薄くなると、入力値が上昇し過ぎて計測精度に支障をきたすようになる。この場合は、X線菅球の印加電圧を下げることにより、透過率が下がるので入力値が下降して、計測精度を確保できるようになる。
<第2実施形態>
次に、本発明による第2実施形態について説明する。この第2実施形態は、単一のX線源を用いる点に特徴を有している。
シート厚み測定装置20も、フィルム等のシートSを、その幅方向(図8の左右方向)に直交する方向に所定速度で走行させながら、その厚みを測定する装置である。
図8において、シート厚み測定装置20は、被測定物であるシートSにX線を照射するためのX線源21と、X線源21から発生され、かつシートSを透過したX線量を計測するためのX線センサ22を備えている。また、シート厚み測定装置20は、X線源21を覆うフード24を備えている。フード24は、その下端がフード24内を気密にするとともに、X線が透過するX線照射窓24aで封止されている。フード24には、フード24内を真空排気する真空ポンプ25が接続されている。
シート厚み測定装置20は、シートSの厚みを測定する際に、シートSに向けてX線源21からX線を照射する。シートSの厚みを測定する場合、照射するX線の強度は弱いほど厚みの測定感度は高くなる。そのために、シート厚み測定装置20は、単一のX線源21を用い、かつシートSから相当の距離を隔てて配置してある。したがって、フード24内に大気が存在していると、大気によるX線の減弱率の変動が問題となる可能性が高い。そこでシート厚み測定装置20は、フード24内を真空ポンプ25で真空にして、大気によるX線の減弱率の変動の影響を低減して、厚み測定精度向上に寄与する。なお、シート厚み測定装置20の構成、すなわちX線源21を気密なフード24内に配置し、かつフード24内を真空にすることを、第1実施形態のシート厚み測定装置10に適用できることは言うまでもない。
シート厚み測定装置20は、X線源21からシートSの間におけるX線の減弱の影響を低減するために、フード24内を真空にしたが、X線の減弱の影響を低減するために他の手法を採用することができる。その例を図9に示すシート厚み測定装置30に基づいて説明する。
シート厚み測定装置30の基本的な構成は、図8に示したシート厚み測定装置20と同様である。シート厚み測定装置20との相違点は、真空ポンプ25の代わりに、送風機35を設けている。シート厚み測定装置30は、シートSの厚みを測定する際に、シートSに向けてX線源31からX線を照射し、透過したX線をX線センサ32で検知する。その際に、送風機35は、所定温度、例えば常温に管理された大気をフード34内に向けて送風する。したがって、フード34内の温度は所定の温度に制御される。したがって、大気による減弱率の変動を低減することができる。なお、フード34内は、シート厚み測定装置20とは異なり、気密である必要はない。したがって、X線照射窓24aに相当する部材は不要である。
以上ではシートSから相当の距離を隔てた位置に配置されたX線源21、31からX線を発生させているが、シートSの近傍でX線を発生させることが好ましい。大気によるX線の減弱の変動を低減できるとともに、シートSに対するX線の照射方向を制御できるからである。その例を図10に基づいて説明する。
図10に示すシート厚み測定装置40も、フィルム等のシートSを、その幅方向(図10の左右方向)に直交する方向に所定速度で走行させながら、その厚みを測定する装置である。
図10において、シート厚み測定装置40は、電子銃41aと、電子銃41aから照射された電子線の進行方向を所定方向に偏向する電子線偏向装置41bと、電子線が照射されることによりX線を発生するX線発生部41cを備えている。シート厚み測定装置40は、X線発生部41cが厚みの測定対象であるシートSの近傍に配置されている。シート厚み測定装置40は、シートSを透過したX線量を計測するためのX線センサ42を備えている。また、シート厚み測定装置40は、電子銃41aが取り付けられるとともに、電子線偏向装置41b及びX線発生部41cを覆うフード44を備えている。なお、電子線偏向装置41bとしては、電子線を所定方向に偏向する磁界を発生させる磁界発生手段を用いることができる。また、X線発生部41cとしては、W(タングステン)等から構成されるターゲットを用いることができる。
シート厚み測定装置40は、シートSの厚みを測定する場合、電子銃41aから電子線を発生させるとともに、電子線偏向装置41bにて磁界を発生させることにより、電子線を偏向させる。電子線の偏向は、シートSに対してその幅方向に対して、垂直な方向の成分のX線が多くなるようにする。以上のように偏向された電子線は、Wターゲット等からなるX線発生部41cに照射される。そうすると、X線発生部41cから照射された電子線に対応する方向にX線が発生し、シートSに照射される。X線発生部41cに照射された電子線が偏向されているため、X線発生部41cから発生するX線は、シートSに対してその幅方向に対して、垂直な方向の成分のX線が多い。したがって、シート厚み測定の精度を向上することができる。また、シート厚み測定装置40は、X線発生部41cを測定対象であるシートSの近傍に配置することができるので、X線発生部41cとシートSとの間に存在する大気による測定の悪影響を最小限に抑えることができる。
第1実施形態におけるシート厚み測定装置の構成概略を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置のX線センサのシートに対する配置を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置のX線センサのシートに対する配置を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置のX線センサのシートに対する配置を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置のX線センサのシートに対する配置を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置のX線センサのシートに対する配置を示す図である。 第1実施形態におけるシート厚み測定装置の制御部の動作モードを示す図である。 第2実施形態におけるシート厚み測定装置の構成概略を示す図である。 第2実施形態における他のシート厚み測定装置の構成概略を示す図である。 第2実施形態における他のシート厚み測定装置の構成概略を示す図である。
符号の説明
10,20,30,40…シート厚み測定装置、1,21,31…X線源、2,22,32,42…X線センサ、4,24,34…フード、5…フレーム、6…制御部、7…表示部、41a…電子銃、41b…電子線偏向装置、41c…X線発生部、S…シート

Claims (10)

  1. 所定速度で走行するシートに照射するX線を発生するX線源と、
    前記シートを透過したX線量を検知し、かつ前記シートの幅方向に配列される複数のX線検知素子と、
    複数の前記X線検知素子で検知した前記X線量に基づいて、かつ複数の前記X線検知素子について順次前記シートの厚みを計測する制御部と、
    を備え、
    前記複数のX線検知素子は、前記所定速度及び複数の前記X線検知素子についての全計測時間に応じて、前記シートの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列されることを特徴とするシート厚み測定装置。
  2. 複数の前記X線検知素子は、前記シートの幅方向の所定点を中心に回動可能に配列され、かつ前記所定速度及び前記全計測時間に応じて、所定角度傾斜したライン上に配列されることを特徴とする請求項1に記載のシート厚み測定装置。
  3. 前記シートの走行速度をVs、前記全計測時間をTsとすると、
    前記シートの幅方向に配列される複数の前記X線検知素子の中で、一端側に配置される前記X線検知素子に対して、他端側に配置される前記X線検知素子は、前記シートの走行方向に垂直な方向から、下記の式(a)で求められるLだけ、前記シートの走行方向に変位して配置されることを特徴とする請求項1又は2に記載のシート厚み測定装置。
    L=Vs×Ts…(a)
  4. 複数の前記X線検知素子は、所定数ごとのブロックに分割して、前記シートの走行方向に垂直な方向に対して所定角度傾斜したライン上に配列されることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のシート厚み測定装置。
  5. 複数の前記X線源を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のシート厚み測定装置。
  6. 前記X線源から前記シートまでの間に、雰囲気制御領域を設けることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のシート厚み測定装置。
  7. 前記X線源が単数であることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のシート厚み測定装置。
  8. 前記雰囲気制御領域は、所定の真空度に制御されていることを特徴とする請求項6又は7に記載のシート厚み測定装置。
  9. 前記雰囲気制御領域は、所定温度に制御されたガスが供給されることを特徴とする請求項6又は7に記載のシート厚み測定装置。
  10. 前記X線源は、
    電子線発生手段と、
    前記電子線発生手段から発生された電子線を偏向する偏向手段と、
    前記偏向手段で変更された前記電子線が照射されかつ前記X線を発生させるX線発生手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のシート厚み測定装置。
JP2005094894A 2005-03-29 2005-03-29 シート厚み測定装置 Pending JP2006275750A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005094894A JP2006275750A (ja) 2005-03-29 2005-03-29 シート厚み測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005094894A JP2006275750A (ja) 2005-03-29 2005-03-29 シート厚み測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006275750A true JP2006275750A (ja) 2006-10-12

Family

ID=37210673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005094894A Pending JP2006275750A (ja) 2005-03-29 2005-03-29 シート厚み測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006275750A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139330A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Anritsu Sanki System Co Ltd X線質量測定装置
WO2009154827A2 (en) * 2008-03-14 2009-12-23 Varian Semiconductor Equipment Associates Floating sheet measurement apparatus and method
JP2014025709A (ja) * 2012-07-24 2014-02-06 Yokogawa Electric Corp 放射線測定方法および放射線測定装置
CN108387192A (zh) * 2018-03-22 2018-08-10 广西南南铝箔有限责任公司 铸轧卷铝板在线x射线测厚装置
CN117109488A (zh) * 2023-10-23 2023-11-24 北京华力兴科技发展有限责任公司 一种高精度x射线测厚仪

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139330A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Anritsu Sanki System Co Ltd X線質量測定装置
WO2009154827A2 (en) * 2008-03-14 2009-12-23 Varian Semiconductor Equipment Associates Floating sheet measurement apparatus and method
WO2009154827A3 (en) * 2008-03-14 2010-02-25 Varian Semiconductor Equipment Associates Floating sheet measurement apparatus and method
US8064071B2 (en) 2008-03-14 2011-11-22 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Floating sheet measurement apparatus and method
JP2014025709A (ja) * 2012-07-24 2014-02-06 Yokogawa Electric Corp 放射線測定方法および放射線測定装置
CN108387192A (zh) * 2018-03-22 2018-08-10 广西南南铝箔有限责任公司 铸轧卷铝板在线x射线测厚装置
CN117109488A (zh) * 2023-10-23 2023-11-24 北京华力兴科技发展有限责任公司 一种高精度x射线测厚仪
CN117109488B (zh) * 2023-10-23 2024-01-23 北京华力兴科技发展有限责任公司 一种高精度x射线测厚仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4868034B2 (ja) 放射線検査装置
JP7007151B2 (ja) 三次元積層造形装置および積層造形方法
US9861328B2 (en) Mobile X-ray imaging apparatus and control method for the same
JP2006275750A (ja) シート厚み測定装置
JP6512980B2 (ja) X線透過検査装置及びx線透過検査方法
US7599472B2 (en) Method, x-ray tube and imaging system for adjusting the position of the x-ray tube focus
US9517043B2 (en) Multi-source radiation generator and radiography system
TW201502501A (zh) X線裝置及構造物之製造方法
US20160199019A1 (en) Method and apparatus for focal spot position tracking
US20140064456A1 (en) Motion correction system and method for an x-ray tube
JP5775415B2 (ja) X線異物検出装置
JP2010005157A (ja) 放射線画像撮影装置およびその制御方法
US6404847B1 (en) Continuously scanning X-ray analyzer having improved readiness and accuracy
US4361764A (en) Device for determining local absorption differences in an object
JP4227369B2 (ja) X線検査装置
JP5670057B2 (ja) X線ct装置
JP2002042709A (ja) 走査型電子顕微鏡の校正方法
US9226720B2 (en) Radiographic apparatus
JP6645709B2 (ja) 線量分布モニタおよび放射線照射システム
JP2020034494A (ja) X線検査装置
JP2000152925A (ja) X線照射位置合わせ方法並びにx線断層撮影方法および装置
JP2001004559A (ja) X線検査装置
JP2006064580A (ja) X線透過法を用いた二層膜シートの測定装置および測定方法
JP6625082B2 (ja) X線検査装置
JP2596905B2 (ja) 金属、特に鋼のストリップの厚さの横方向プロフィルを測定する方法と装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20070328