JP2006275592A - 検体保持用のデバイス、それを用いた検体検出装置及び検体検出方法 - Google Patents
検体保持用のデバイス、それを用いた検体検出装置及び検体検出方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】 そこで本発明は、電磁波を伝送するための伝送線路と、検体を前記伝送線路に保持するための検体保持部と、空間から電磁波を入力するための空間結合器と、前記伝送線路を伝搬してきた前記電磁波を空間に出力するための空間結合器とを備え、空間から電磁波を入力するための前記空間結合器が前記伝送線路と接続している検体保持用のデバイス又はそれを用いた検体検出装置を提供するものである。
【選択図】 図1
Description
Chemical Physics Letters 332 (2000) 389−395
または、空間結合器のうち、一方の空間結合器の空間との結合効率の強い電磁波の偏波面と他方の空間結合器の空間との結合効率の強い電磁波の偏波面とが90度異なることが好ましい。
2、7、11、12 電磁波(テラヘルツ波)
3、6 空間結合器
13 基板
14 高周波絶縁材料
15a、15b、22、41 パッチアンテナ
16a、16b スリット
4、17、21、31、42、51 伝送線路
5、18、32 検体保持部
8、19 偏光フィルタ
9、20 電磁波(テラヘルツ波)検出装置
23 切れ込み
33 空隙部
43 プリントダイポールアンテナ
52 光伝導膜
53 ダイポールアンテナ
54 ギャップ部分
55 テラヘルツパルス
56 バイアス電圧
57 光パルス(フェムト秒レーザー)
Claims (9)
- 電磁波を伝送するための伝送線路と、検体を前記伝送線路に保持するための検体保持部と、空間から電磁波を入力するための空間結合器と、前記伝送線路を伝搬してきた前記電磁波を空間に出力するための空間結合器とを備え、空間から電磁波を入力するための前記空間結合器が前記伝送線路と接続していることを特徴とする検体保持用のデバイス。
- 一方の前記空間結合器の空間との結合効率の強い電磁波の偏波面と、他方の空間結合器の空間との結合効率の強い電磁波の偏波面とが90度異なることを特徴とする請求項1記載の検体保持用のデバイス。
- 前記空間結合器がアンテナであることを特徴とする請求項1又は2のいずれか記載の検体保持用のデバイス。
- 前記検体保持用のデバイスが、複数の空間結合器を備えていることを特徴とする請求項1から3のいずれか記載の検体保持用のデバイス。
- 前記空間結合器にスリットを備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか記載の検体保持用のデバイス。
- 請求項1から5のいずれか記載の検体保持用のデバイスと前記検体保持用デバイスに電磁波を照射するための発生部と前記検体保持用デバイスから出力される電磁波を検出するための検出部とを備えることを特徴とする検体検知装置。
- 前記検体検知装置が、前記検体保持用デバイスと前記検出部との間に偏光フィルタを備えることを特徴とする請求項6記載の検体検知装置。
- 前記電磁波の周波数領域が30GHz〜30THz領域から選択された電磁波であることを特徴とする請求項6又は7のいずれか記載の検体検知装置。
- 電磁波を伝送するための伝送線路と、検体を前記伝送線路に保持するための検体保持部と、空間から電磁波を入力するための空間結合器と、前記伝送線路を伝搬してきた前記電磁波を空間に出力するための空間結合器とを備え、空間から電磁波を入力するための前記空間結合器が前記伝送線路と接続している検体保持用のデバイスと前記検体保持用デバイスに電磁波を照射するための発生部と前記検体保持用デバイスから出力される電磁波を検出するための検出部とを備える検体検知装置であって、前記検体と前記伝送線路を伝搬する電磁波との相互作用によって、前記伝送線路での電磁波の伝搬状態を変化させ、前記伝搬状態の変化から検体の検知を行うことを特徴とした検体検知方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005091565A JP4636917B2 (ja) | 2005-03-28 | 2005-03-28 | 検体保持用のデバイス、それを用いた検体検出装置及び検体検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
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JP2006275592A true JP2006275592A (ja) | 2006-10-12 |
JP2006275592A5 JP2006275592A5 (ja) | 2008-06-19 |
JP4636917B2 JP4636917B2 (ja) | 2011-02-23 |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4636917B2 (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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