JP2006261706A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体レーザ装置は、半導体基板2の上面に、下側クラッド層3、活性層4、上側クラッド層5、コンタクト層9、絶縁膜6が生成されている。また、上側クラッド層5、コンタクト層9、絶縁膜6は、エッチングによってリッジ部12をなしている。さらに、半導体基板2の下面に負電極1が生成され、多層膜基板31の上面には導電体層7が生成されている。また、導電体層7は、リッジ部12の側面において少なくとも150nmの厚みを有し、リッジ部12は砂時計形の断面形状を有する。
【選択図】 図1
Description
図1は、この発明の実施の形態である半導体レーザ装置の概要構成を示す断面図である。また、図4(c)は、図1に示したリッジ部12の拡大断面図である。図1において、この半導体レーザ装置を形成する多層膜基板31は、半導体基板2の上面に、下側クラッド層3、活性層4、上側クラッド層5、コンタクト層9、絶縁層6を生成している。上側クラッド層5、コンタクト層9、絶縁層6は、リッジ部12を形成している。加えて、正電極として機能する導電体層7を半導体基板2の上面に形成し、負電極1を多層膜基板31の下面に形成する。
2 半導体基板
3 下側クラッド層
4 活性層
5 上側クラッド層
6 絶縁層
7 導電体層
9 コンタクト層
9A コンタクト層端部
10,11 レジスト
12 リッジ部
21 亀裂
22 侵食
23 傾斜面
24 ギャップ
31 多層膜基板
41 下側ボディセクション
42 上側ボディセクション
43 リッジ中心線
Claims (6)
- 半導体基板上に多層膜構造のリッジ部を形成した半導体装置において、
前記リッジ部は、前記半導体基板に接するリッジ底面と、前記リッジ底面の上方に形成された第1のボディセクションと、前記リッジ部の上面と前記第1のボディセクションとの間に形成された第2のボディセクションと、前記第2のボディセクションの側面の一部と前記第1のボディセクションの側面とを少なくとも被覆する誘電体膜と、を備え、
前記第1のボディセクションの側面は、垂直メサ傾斜もしくは順メサ傾斜を形成し、前記第2のボディセクションの側面は逆メサ傾斜を形成することを特徴とする半導体装置。 - 前記誘電体層は、前記第1のボディセクションの側面と前記第2のボディセクションの側面とを全て被覆することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記リッジ部の上面近傍は、前記誘電体層に比してプラズマエッチングに対して大きな耐性を有する材質によって形成することを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
- 前記誘電体層、前記リッジ部の上面および前記リッジ部側面の上面近傍の一部を被覆する導電体層をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の半導体装置。
- 前記リッジ部は、前記リッジ底面において2.7μmから4.5μmまでの幅を備え、
前記リッジ部の上面は、前記リッジ底面の幅の40%以上65%以下の幅を備え、
前記第1のボディセクションと前記第2のボディセクションとの接触面は、前記リッジ部の上面の幅の80%以上95%以下の幅を備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の半導体装置。 - 前記リッジ底面から前記第1のボディセクションと前記第2のボディセクションとの接触面までの高さは1.3μm以上1.4μm以下に形成され、
前記第1のボディセクションと前記第2のボディセクションとの接触面から前記リッジ部の上面までの高さは0.4μm以上0.6μm以下に形成されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の半導体装置。
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