JP2006253644A - 微細パターン形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この微細パターン形成装置は、一定の処理空間を有するチャンバーと、前記チャンバーの内部に備えられ、感光性有機膜がコーティングされた基板を支持するステージと、前記ステージから一定の距離だけ離隔し、基板の有機膜側にエッチング及び非エッチング領域を区分するための前処理パターンをインプリントするためのテンプレートと、前記ステージを前記テンプレートと接触するように前記ステージを駆動する駆動手段とを含む。
【選択図】図1
Description
2 ステージ
4 テンプレート
6 駆動手段
8 X−Y駆動テーブル
10 ランプ
12 吸入部
13 フレーム
14 排気部
15 開口
16 透過窓
17 クランプ
18 緩衝機
20 ビジョンカメラ
22 ホルダー
24 ジグバー
26 固定用ピン
Claims (11)
- 一定の処理空間を有するチャンバー;
感光性有機膜がコーティングされた基板を流体の浮力で支持するステージ;
前記ステージと一定の距離だけ離隔して、基板の有機膜側にエッチング及び非エッチング領域を区分するための前処理パターンをインプリントするためのテンプレート;及び
前記テンプレートに形成されたパターンが前記基板の有機膜に形成され得るように、前記ステージをテンプレート側に移動させる駆動手段;を含む微細パターン形成装置。 - 前記テンプレートの上部に備えられて前記テンプレートと基板上に光を照射する発光手段をさらに含む、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 前記ステージは流体が満たされ得る空間を有し、この空間の上部側は開口されたことを特徴とする、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 前記ステージは、その上面に形成された開口部側に板部材が流体上に浮かべられている、請求項3に記載の微細パターン形成装置。
- 前記ステージの開口部には、基板をローディングするためのクランプが提供される、請求項3に記載の微細パターン形成装置。
- 前記チャンバーは、その一側に備えられてガスを注入するための吸入部と、他側に備えられてチャンバー内部のガスを排出して真空状態にするための排気部と、上面に備えられて光が透過できる透過窓と、その下部に備えられてチャンバーを支持する複数のフレームとを含む、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 前記ステージ上の基板を位置合わせさせ得る制御部をさらに含む、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 前記制御部によって前記流体ステージをX、Y、θ側に補正する補正手段をさらに含む、請求項6に記載の微細パターン形成装置。
- 前記テンプレートは、微細パターンが形成されたモールドと、前記モールドを固定するモールド固定用基板とを含む、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 前記発光手段はUVランプを含む、請求項1に記載の微細パターン形成装置。
- 一定の処理空間を有するチャンバー;
前記チャンバーの内部に備えられており、感光性有機膜がコーティングされた基板を流体の浮力で支持するステージ;
前記ステージと一定の距離だけ離隔して、基板の有機膜側にエッチング及び非エッチング領域を区分するための前処理パターンをインプリントするためのテンプレート;及び
前記ステージをインプリント位置に移動させる駆動手段;
前記ステージにローディングされる前記基板のインプリント位置を補正するためのX−Y駆動テーブル;を含む微細パターン形成装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050018738A KR100729427B1 (ko) | 2005-03-07 | 2005-03-07 | 미세패턴 형성장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006253644A true JP2006253644A (ja) | 2006-09-21 |
Family
ID=36942891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005359409A Pending JP2006253644A (ja) | 2005-03-07 | 2005-12-13 | 微細パターン形成装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7670128B2 (ja) |
JP (1) | JP2006253644A (ja) |
KR (1) | KR100729427B1 (ja) |
CN (1) | CN100533270C (ja) |
TW (1) | TWI314670B (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20070164476A1 (en) * | 2004-09-01 | 2007-07-19 | Wei Wu | Contact lithography apparatus and method employing substrate deformation |
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-
2005
- 2005-03-07 KR KR1020050018738A patent/KR100729427B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-12-13 JP JP2005359409A patent/JP2006253644A/ja active Pending
- 2005-12-20 TW TW094145252A patent/TWI314670B/zh active
- 2005-12-28 US US11/319,637 patent/US7670128B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-29 CN CNB2005101329591A patent/CN100533270C/zh not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100729427B1 (ko) | 2007-06-15 |
KR20060097862A (ko) | 2006-09-18 |
CN100533270C (zh) | 2009-08-26 |
TW200632544A (en) | 2006-09-16 |
US7670128B2 (en) | 2010-03-02 |
CN1831645A (zh) | 2006-09-13 |
TWI314670B (en) | 2009-09-11 |
US20060196415A1 (en) | 2006-09-07 |
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