JP2006237197A - 薄膜トランジスタの製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ゲート電極2、ゲート絶縁膜3、ソース・ドレイン電極5及び半導体層6を有する薄膜トランジスタの製造方法において、チャネル長のより短い薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】ソース・ドレイン電極5が形成されるゲート絶縁膜3の表面で、ソース・ドレイン電極間のチャネル形成領域31の表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理した後、湿式プロセスでソース・ドレイン電極5を形成することを特徴。
【選択図】図1

Description

本発明は薄膜トランジスタの製造方法に関するものである。
近年,フレキシブル化,軽量化,低コスト化などの観点から,印刷法による薄膜トラン
ジスタ(印刷TFT)の研究が盛んであり、有機ELや電子ペーパーなどの駆動回路や電子タグなどへの応用が期待されている。印刷TFTの形成方法としては、オフセット印刷によりレジストインキや遮光性インキを塗布し半導体パターンや回路基板を形成する方法(例えば、特許文献1)、スクリーン印刷やロールコーターにより導電ペーストを印刷し各種電極を形成する方法(例えば、特許文献2)、インクジェットにより金属微粒子溶液を塗布し各種電極を形成する方法(例えば、特許文献3)等が知られている。
以下に公知の文献を記す。
特開平7−240523号公報 特開2004−80026号公報 特開2004−31933号公報
印刷TFTでは、溶媒に可溶な有機半導体が半導体層に用いられることが多いが、一般に有機半導体はキャリア移動度が小さく、溶媒に可溶なタイプはとりわけ小さい。よって、実用上十分な動作周波数を達成するにはソース・ドレイン電極間隔(チャネル長)をできるだけ短くする必要があり、印刷TFT形成プロセスにおける技術的課題の一つとなっている。
ソース・ドレイン電極は、金属粉等の導電材が溶剤に分散した電極形成材を印刷することで形成されるが、チャネル長を短く形成しようとするほど、電極形成材の印刷後の流動によるソース・ドレイン電極の短絡が生じやすくなる。印刷後の流動は電極形成材の高粘度化により抑制されるが、所望のチャネル長がある程度以下となると、チャネル形成と印刷適性を両立することは困難である。例えば、高粘度化によりインクジェット適性が失われるのは言うまでもないが、一般に高粘度材料の印刷に適したスクリーン印刷においても、チャネル長を特に短くしようとすると、スクリーンメッシュの格子状パターンが印刷物に残ってしまう等の問題が生じる。
本発明はこれらの問題点を鑑みてなされたものであり、チャネル長が短い薄膜トランジスタの製造方法を提供することを課題とする。
本発明者らは、前記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、印刷TFT製造プロセスにおいて、ソース・ドレイン電極が形成される表面において、チャネルを形成しようとする部分の表面エネルギーがその他の部分より小さくなるようパターニングした後、ソース・ドレイン電極を形成することが、短いチャネル長と印刷適性の両立に有効であることを見いだし本発明に到達した。
すなわち、本発明おける請求項1の発明は、ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース・ドレイン電極及び半導体層を有する薄膜トランジスタの製造方法において、ソース・ドレイン電極が形成されるゲート絶縁膜の表面で、ソース・ドレイン電極間のチャネル形成領域の表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理した後、湿式プロセスでソース・ドレイン電極を形成することを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法である。
本発明はこのような構成であるので、ソース・ドレイン電極間のチャネル形成領域の表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理した後に、湿式プロセスでソース・ドレイン電極を形成するときに、電極形成の材料がチャネル形成領域から弾かれ、チャネル部分への流入を抑制される。
請求項2の発明は、前記チャネル形成領域に表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理することが、チャネル形成領域に撥水層を設けパターニング処理することであることを特徴とする請求項1記載の薄膜トランジスタの製造方法である。
請求項3の発明は、前記パターニング処理が印刷法により処理されることを特徴とする請求項1または2記載の薄膜トランジスタの製造方法である。
請求項4の発明は、前記印刷法が、フレキソ印刷またはオフセット印刷であることを特徴とする請求項3に記載の薄膜トランジスタの製造方法である。
本発明はこのような構成であるので、撥水層形成材料のインキングが少量、あるいは不要とすることができ、またソース・ドレイン電極形成後に容易に除去できる。
請求項5の発明は、前記ソース・ドレイン電極が、スクリーン印刷により形成されることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタの製造方法である。
本発明では、印刷TFT製造プロセスにおいて、ソース・ドレイン電極が形成される表面において、チャネルを形成しようとする部分の表面エネルギーがその他の部分より小さくなるようパターニングした後、ソース・ドレイン電極を形成することで、チャネル長がより短いTFTを製造することができる。
以下に本発明を詳しく説明する。図1は本発明の一実施の形態として、プレーナー型TFTの製造方法を断面で示した部分説明図である。基材1上にゲート電極2およびゲート絶縁膜3を順次形成する。次に、ゲート絶縁膜3表面のチャネルを形成しようとする部分31に、表面エネルギーを小さくするためにパターニング処理した撥水層4を形成する。続いて湿式プロセスでソース・ドレイン電極5を形成する。続いて、ソース・ドレイン電極5間に半導体層6を形成することでプレーナー型TFTが製造される。この工程で、撥水層4を設けいてるため、湿式プロセスでソース・ドレイン電極を形成するときに、ソース・ドレイン電極形成材のチャネル部分への流入が抑制される。
基材1は特に限定されるものではないが、各種ガラス基板をはじめ適当な機械的剛性をもつ公知のプラスチックフィルムもしくはシートより耐熱性や可撓性などの観点から適宜選択して用いることができる。具体的には、ソーダライムガラス、石英、シリコンウエハーや、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ポリイミド、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリカーボネート、ポリアリルレートな
どを使用することができる。
ゲート電極2は、例えば導電性インクをスクリーン印刷した後、必要に応じ熱処理することや、銅箔を貼った銅貼り基板のパターニングにより形成できるが、勿論、真空蒸着、スパッタ、CVDなどの気相法やその他の塗布法などで形成してもよい。導電材料としてはNi、Al、Cu、Ag、Auなどの金属材料、あるいはNi、Al、Cu、Ag、Au、カーボン等の微粉体、Ag、Cu、Au等のナノ粒子、有機Ag化合物等の導電材を含有する各種導電性ペーストないし導電性インク等の公知の材料を用いることができる。
ゲート絶縁膜3は公知の材料を用いて形成することができる。具体的には、SiO2、BaxSr(1-x)TiO3、BaTixZr(1-x)3等の無機系材料や、ポリエステル/メラミン樹脂ペースト、ポリメチルメタクリレート、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアルコール、ポリビニルフェノール、ポリスチレン、シアノエチルプルランなどの有機系材料を用いることができる。絶縁層の形成には、例えば、スピンコート、ディップコート、スプレーコート、スクリーン印刷、凸版印刷、凹版印刷、平版印刷、インクジェット、真空蒸着、CVD等の公知の方法が用いられる。
撥水層4は、ゲート絶縁膜3表面においてソース・ドレイン電極5の形成によりチャネルとなる部分31に設けられ、ソース・ドレイン電極形成材のチャネル部分への流入を抑制する効果を有する。撥水層4の材料としては、例えば、長鎖アルキル基、長鎖フルオロアルキル基、フルオロポリエーテル部位などを有する各種化合物やジメチルシロキサン類などの公知材料を用いることが可能であるが、ゲート絶縁膜3への付着を強固にするために反応性官能基を有するものが好ましい。このような材料としては、アルコキシシランなどの加水分解基、(メタ)アクリル基などの重合性官能基を有するものが挙げられる。これらの撥水材料をパターニング処理して撥水層4を形成する。撥水層4はゲート電極2と半導体層6の間に形成されるため、TFTの動作電圧を高める悪影響が予想される。よって、撥水層4の膜厚は薄いほうが好ましく単分子層であることがさらに好ましい。撥水層4のパターン形成方法は、チャネル長と同等レベル以上の解像度を有していれば、フォトリソ法や各種印刷法などの公知の手法が可能であるが、プロセスの簡易性の観点から印刷法が好ましい。このような印刷法としてはフレキソ印刷やオフセット印刷が挙げられる。特に、フレキソ印刷においてフレキソ版にシリコーンゴムを用いる場合は、フレキソ版中にシリコーンオイル成分を残存させ表面にブリードアウトさせることもできる。このようにブリードアウトさせたシリコーンオイル成分が撥水層形成材として機能し、フレキソ版への撥水層形成材料のインキングが不要となる場合もある。撥水層4は後述のソース・ドレイン電極5の形成後に除去してもよい。特に撥水材料として単分子層を用いた場合は、UVオゾン洗浄処理等により容易に除去可能であることが多い。
ソース・ドレイン電極5は、ゲート絶縁膜3に形成した撥水層4上にチャネルが位置するように電極形成材を印刷することで形成される。撥水層4の存在により、ソース電極・ドレイン電極部分に印刷された流動性の電極材料はチャネル方向には濡れ広がらず、ソース電極とドレイン電極の短絡を防ぐことができる。印刷方法は、例えば、スクリーン印刷、凸版印刷、凹版印刷、平版印刷、インクジェット等の公知の方法より適宜選択して用いられる。電極形成材の粘度が高い場合および低い場合の適した印刷方法として、それぞれ、スクリーン印刷、インクジェットが挙げられる。電極形成材は、特に限定されるものではなく、Ni、Al、Cu、Ag、Au、カーボン等の微粉体、Ag、Cu、Au等のナノ粒子、有機Ag化合物等の導電材を含有する各種導電性ペーストないし導電性インク等の公知の材料を用いることができる。
半導体層6は、各種公知の材料で形成可能である。例えは、ペンタセン、ポリチオフェン、ポリアリルアミン、フルオレンビオチオフェン共重合体などの有機系材料、カーボン
ナノチューブやフラーレンなどの炭素化合物材料、セレン化カドミウム粒子などの無機系の材料が挙げられる。半導体層6は、各種公知の方法で形成可能である。例えば、スピンコート、ディップコート、スクリーン印刷、凸版印刷、凹版印刷、平版印刷、インクジェット、真空蒸着などから半導体材料に応じ適宜選択して用いられる。
本発明は、スタガー型TFTにも同様に適用可能である。基材上のチャネルを形成しようとする部分に撥水層をパターン形成した後、ソース・ドレイン電極を撥水層上にチャネルが位置するように印刷形成し、続いて半導体層およびゲート絶縁膜、ゲート電極が順次形成され、スタガー型TFTが製造される。
本発明はまた、ゲート絶縁膜としてプラスチックフィルムを用いたTFTにも適用可能である。プラスチックフィルム絶縁膜としては、PETやPEN、PES等のフィルムが用いられ、適当な剛性を有するものであれば、基材を兼ねることもできる。この場合、撥水層はプラスチックフィルム絶縁膜上のチャネルを形成しようとする部分にパターン形成される。
<実施例1>
図1に示した方法でプレーナー型TFTを製造した。
a)ゲート電極/ゲート絶縁膜の形成
ガラス基板上にAgをマスク蒸着しゲート電極をパターン形成した。続いて、テトラメトキシシランを0.1N塩酸水溶液で加水分解しアルコールで濃度調整した塗布液を、前記ゲート電極形成基板上にスピンコート後熱硬化させ、ゲート絶縁膜を成膜した。
b)撥水層パターンの形成
オクタデシルトリクロロシランのヘキサン溶液を前記ゲート絶縁膜上にフレキソ印刷し撥水層を形成した。撥水層のパターン形状は100μ×10μmの矩形であり、膜厚は単分子層程度である。
c)ソース・ドレイン電極の形成
ソース・ドレイン電極は、前記撥水層パターン上にチャネルが位置するよう、導電ペーストをスクリーン印刷したのち熱処理することで形成した。スクリーン版はステンレスメッシュ640線/インチを用いた。また、スクリーン版におけるソース・ドレイン電極のパターンは、それぞれの電極幅が50μm、電極長(チャネルに平行な部分)が100μmおよびチャネル長が10μmに形成されている。導電ペーストは、市販のAgペースト(粘度400Pas)を用いた。このように形成したソース・ドレイン電極を顕微鏡観察したところ、チャネル長がほぼ10μmのチャネルが形成されていた。また、電極部分における印刷カスレは認められず印刷適性も良好であった。
d)半導体層の形成
ポリ(3−ヘキシルチオフェン)溶液を、前記ソース・ドレイン電極間にインクジェットで塗布した後乾燥させ半導体層を形成した。
最後に、ソース・ドレイン電極上にボンディングパッドを設け、ボンディングパッドを除く基板表面の前面を保護膜で覆ってTFTを完成させた。このTFTのドレイン電圧Vとドレイン電流Iの相関(V−I特性)のゲート電圧依存性を評価した結果、FET特性が確認された。
<比較例1>
実施例1において、撥水層パターンを形成しない点以外は全て実施例1と同様の手順で、プレーナー型TFTを形成した。このように形成したソース・ドレイン電極を顕微鏡観察したところ、ソース電極とドレイン電極が短絡しておりチャネルは形成されていなかった。印刷時の導電ペーストの流動が原因と考えられる。勿論これはトランジスタとして動作するものではない。
<比較例2>
比較例1において、導電ペーストとして高粘度のもの(粘度1000Pas)を用いた点以外は全て比較例1と同様の手順でプレーナー型TFTを形成した。このように形成したソース・ドレイン電極を顕微鏡観察したところ、チャネルは形成されていたが、電極部分は印刷カスレにより連続したパターンとなっておらず、印刷適性は不良であった。これは比較例1と同様にトランジスタとして動作するものではない。
本発明のプレーナー型TFTの製造方法の1例を断面で示す部分説明図である。
符号の説明
1・・・基材
2・・・ゲート電極
3・・・ゲート絶縁膜
31・・チャネル形成部
4・・・撥水層
5・・・ソース・ドレイン電極
6・・・半導体層

Claims (5)

  1. ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース・ドレイン電極及び半導体層を有する薄膜トランジスタの製造方法において、ソース・ドレイン電極が形成されるゲート絶縁膜の表面で、ソース・ドレイン電極間のチャネル形成領域の表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理した後、湿式プロセスでソース・ドレイン電極を形成することを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
  2. 前記チャンネル形成領域に表面エネルギーが他の部分より小さくなるようパターニング処理することが、チャンネル形成領域に撥水層を設けパターニング処理することであることを特徴とする請求項1記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  3. 前記パターニング処理が印刷法により処理されることを特徴とする請求項1または2記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  4. 前記印刷法が、フレキソ印刷またはオフセット印刷であることを特徴とする請求項3に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  5. 前記ソース・ドレイン電極が、スクリーン印刷により形成されることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
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