JP2006235617A - Ultraviolet-light irradiating device and irradiating method, and substrate manufacturing device and manufacturing method - Google Patents

Ultraviolet-light irradiating device and irradiating method, and substrate manufacturing device and manufacturing method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate unnecessary consumption of energy when a sealant laminated two substrates is irradiated with ultraviolet light to be cured. <P>SOLUTION: Disclosed is an ultraviolet-light irradiating device 10 which irradiates the sealant 2 laminated two substrates 1 with ultraviolet light to cure the sealant, the ultraviolet-light irradiating device using a light emitting diode for ultraviolet light as an irradiating means 20 for irradiating the applied sealant with ultraviolet light. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させる紫外光照射装置及び照射方法、基板製造装置及び基板製造方法に関する。   The present invention relates to an ultraviolet light irradiation apparatus and an irradiation method, a substrate manufacturing apparatus, and a substrate manufacturing method for irradiating and curing a sealing agent obtained by bonding two substrates together with ultraviolet light.

液晶ディスプレイパネルに代表されるフラットディスプレイパネルなどの製造工程では、2枚の基板を所定の間隔で対向させ、これら基板間に液晶を封入してシール剤によって貼り合わせる、貼り合わせ作業が行なわれる。   In a manufacturing process of a flat display panel or the like typified by a liquid crystal display panel, a bonding operation is performed in which two substrates are opposed to each other at a predetermined interval, liquid crystal is sealed between the substrates and bonded together with a sealant.

上記貼り合わせ作業は、2枚の基板のどちらかに上記シール剤を枠状に塗布し、その基板或いは他方の基板の上記シール剤の枠内に対応する部分に所定量の上記液晶を滴下供給する。   In the bonding operation, the sealing agent is applied in a frame shape to one of the two substrates, and a predetermined amount of the liquid crystal is supplied dropwise to a portion corresponding to the inside of the sealing agent frame of the substrate or the other substrate. To do.

次に、上記2枚の基板を上部保持テーブルと下部保持テーブルとに保持し、上下方向に所定の間隔で離間させて対向させ、その状態でこれら基板の水平方向であるX、Y及び回転方向であるθ方向の位置決めを行なってから、これら基板を貼り合わせる。2枚の基板を貼り合わせたならば、これら基板の位置決め精度が損なわれないよう、上記シール剤を硬化させて貼り合わせ、基板を製造する。   Next, the two substrates are held on the upper holding table and the lower holding table, and are opposed to each other at a predetermined interval in the vertical direction. In this state, the horizontal directions X and Y of these substrates and the rotation direction These substrates are bonded together after positioning in the θ direction. When the two substrates are bonded together, the sealing agent is cured and bonded to manufacture the substrates so that the positioning accuracy of these substrates is not impaired.

シール剤には紫外光硬化型のものがあり、このようなシール剤を用いて2枚の基板を貼り合わせたならば、特許文献1に記載の如く、紫外光ランプによりそれら基板の全面に均一に紫外光を照射してシール剤を硬化させている。
特開平8-101395号公報
There is an ultraviolet light curing type sealant, and when two substrates are bonded together using such a sealant, as described in Patent Document 1, the entire surface of the substrate is uniformly applied by an ultraviolet light lamp. The sealant is cured by irradiating with UV light.
Japanese Patent Laid-Open No. 8-101395

従来技術には以下の問題点がある。
(1)紫外光ランプとして使用されているメタルハライドランプは、消灯後すぐに再点灯できず、再点灯に少なくとも数分の時間を必要とするため、常時点灯状態で使用される。このため、基板のないときにもメタルハライドランプを点灯していて無駄なエネルギを消費している。
The prior art has the following problems.
(1) A metal halide lamp used as an ultraviolet lamp cannot be re-lighted immediately after it is turned off, and requires at least several minutes for re-lighting. For this reason, even when there is no substrate, the metal halide lamp is lit and wasteful energy is consumed.

(2)メタルハライドランプは紫外光とともに多大な熱も発生する。この熱がシール剤に接する液晶封入部に及ぶことは避けられないし、液晶は紫外光の照射熱により加熱されると変質するおそれを有し、基板に形成された回路は加熱によって損傷するおそれがあるから、これらを防止するための液晶封入部の冷却が必要になり、冷却装置の付加に伴なう装置の大型化、冷却のためのエネルギコストの増加が発生する。   (2) Metal halide lamps generate a great deal of heat along with ultraviolet light. It is inevitable that this heat reaches the liquid crystal sealing portion in contact with the sealant, and the liquid crystal may be altered when heated by the irradiation heat of ultraviolet light, and the circuit formed on the substrate may be damaged by heating. Therefore, it is necessary to cool the liquid crystal encapsulating portion in order to prevent these problems, and an increase in the size of the device and an increase in energy cost for cooling accompanying the addition of the cooling device occur.

(3)紫外光ランプにより基板の全面を照射するため、シール剤のない液晶封入部等までも確実に照射するものになり、エネルギの有効利用効率を低下する上に、上述(2)の液晶封入部の変質防止のための冷却の必要を生ずる。   (3) Since the entire surface of the substrate is irradiated with an ultraviolet light lamp, it is possible to irradiate even the liquid crystal encapsulating part without a sealant, and the effective use efficiency of energy is reduced. This necessitates cooling to prevent deterioration of the enclosure.

本発明の課題は、2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させるに際し、無駄なエネルギの消費をなくすことにある。   An object of the present invention is to eliminate wasteful energy consumption when ultraviolet light is applied to a sealant obtained by bonding two substrates and cured.

請求項1の発明は、2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させる紫外光照射装置において、紫外光の照射手段として、紫外光の発光ダイオードを用いるようにしたものである。   The invention of claim 1 uses an ultraviolet light emitting diode as an ultraviolet light irradiation means in an ultraviolet light irradiation apparatus for irradiating and curing an ultraviolet light on a sealing agent bonded with two substrates. It is.

請求項2の発明は、請求項1の発明において更に、基板に設けられたシール剤の位置情報を予め取得し、その位置情報により前記照射手段による紫外光の照射位置を特定する制御手段を有するようにしたものである。   The invention of claim 2 further comprises control means for acquiring in advance the position information of the sealing agent provided on the substrate in the invention of claim 1 and specifying the irradiation position of the ultraviolet light by the irradiation means based on the position information. It is what I did.

請求項3の発明は、請求項1又は2の発明において更に、前記照射手段と基板とを相対的に移動させる際に、照射手段と基板との距離を一定に保つようにしたものである。   According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the distance between the irradiation unit and the substrate is kept constant when the irradiation unit and the substrate are relatively moved.

請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれかの発明において更に、前記照射手段と基板とを相対的に回転させて移動させるようにしたものである。   According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects of the present invention, the irradiation means and the substrate are relatively rotated and moved.

請求項5の発明は、請求項1〜4のいずれかの発明において更に、前記照射手段が複数の発光ダイオードを隣り合わせてなり、相隣る発光ダイオードの各個が基板に対する距離、及びそれらの隣り合わせピッチを、相隣る発光ダイオードの各個の照度が互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度が必要最小照度以上になる距離、及びピッチに定めてなるようにしたものである。   According to a fifth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to fourth aspects, the irradiation means includes a plurality of light emitting diodes adjacent to each other, and each of the adjacent light emitting diodes is a distance to the substrate, and an adjacent pitch thereof. Are set to a distance and a pitch at which the illuminances of adjacent light emitting diodes are substantially equal to each other and their combined illuminance is equal to or greater than the necessary minimum illuminance.

請求項6の発明は、請求項1〜5のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードの照度を測定する照度計を備えるようにしたものである。   The invention of claim 6 further comprises an illuminometer for measuring the illuminance of the light emitting diode of the irradiating means in any one of the inventions of claims 1 to 5.

請求項7の発明は、請求項6の発明において更に、前記照度計により測定した照度に基づいて、前記発光ダイオードに対する給電量を調整する手段を備えるようにしたものである。   According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect of the present invention, further, there is provided means for adjusting the amount of power supplied to the light emitting diode based on the illuminance measured by the illuminometer.

請求項8の発明は、請求項6又は7の発明において更に、前記発光ダイオードからの照射光をガラス内で反射させて照度計に導くようにしたものである。   According to an eighth aspect of the present invention, in the sixth or seventh aspect of the present invention, the irradiation light from the light emitting diode is reflected in the glass and led to an illuminometer.

請求項9の発明は、請求項6〜8のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードと照度計とを相対的に移動させる手段を備えるようにしたものである。   According to a ninth aspect of the present invention, there is provided the apparatus according to any one of the sixth to eighth aspects, further comprising means for relatively moving a light emitting diode and an illuminance meter of the irradiation means.

請求項10の発明は、請求項6〜9のいずれかの発明において更に、前記照度計の測定結果を表示させる表示手段を備えるようにしたものである。   The invention of claim 10 further comprises display means for displaying the measurement result of the illuminometer in any of the inventions of claims 6-9.

請求項11の発明は、請求項10の発明において更に、前記表示手段は、前記照度計の測定結果とともに、前記発光ダイオードに対する給電量に関する情報を表示するようにしたものである。   According to an eleventh aspect of the present invention, in the tenth aspect of the present invention, the display means displays information on the amount of power supplied to the light emitting diode together with the measurement result of the illuminance meter.

請求項12の発明は、請求項6〜10のいずれかの発明において更に、前記照度計の測定結果から発光ダイオードの寿命をチェックする手段を備えるようにしたものである。   According to a twelfth aspect of the present invention, in any one of the sixth to tenth aspects of the present invention, a means for checking the lifetime of the light emitting diode from the measurement result of the illuminance meter is further provided.

請求項13の発明は、請求項1〜12のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードをパルス点灯させるようにしたものである。   According to a thirteenth aspect of the present invention, in any one of the first to twelfth aspects, the light emitting diode of the irradiating means is pulse-lit.

請求項14の発明は、請求項1〜13のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードからの照射光を集光させてシール剤に照射する手段を備えるようにしたものである。   According to a fourteenth aspect of the present invention, there is provided the apparatus according to any one of the first to thirteenth aspects, further comprising means for condensing the irradiation light from the light emitting diode of the irradiation means and irradiating the sealing agent.

請求項15の発明は、請求項1〜14のいずれかの発明において更に、前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤の位置に紫外光を照射する発光ダイオードだけを点灯可能にするようにしたものである。   According to a fifteenth aspect of the present invention, in any one of the first to fourteenth aspects of the present invention, the irradiation means further includes a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit is located at a position of the sealant on the substrate. Only the light-emitting diode that irradiates ultraviolet light can be turned on.

請求項16の発明は、請求項1〜14のいずれかの発明において更に、前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオードを設けてなるようにしたものである。   According to a sixteenth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to fourteenth aspects, the irradiation means further includes a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate. A light emitting diode is provided only at a position where light irradiation is required.

請求項17の発明は、請求項1〜16のいずれかの発明において更に、前記照射手段が発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットは発光ダイオードのための取付台を有し、発光ダイオードを取付台に対し着脱自在にするようにしたものである。   The invention of claim 17 is the invention of any one of claims 1 to 16, wherein the irradiation means has a light emitting diode unit, the light emitting diode unit has a mounting base for the light emitting diode, and the light emitting diode is attached. It is designed to be detachable from the base.

請求項18の発明は、請求項1〜17のいずれかの発明において更に、前記照射手段と基板を相対的にシール剤の塗布幅以下の揺動ストロークで揺動可能にするようにしたものである。   According to an eighteenth aspect of the present invention, in any one of the first to seventeenth aspects of the present invention, the irradiation means and the substrate can be made to swing relative to each other with a swing stroke that is less than or equal to the application width of the sealant. is there.

請求項19の発明は、2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させる紫外光照射方法において、紫外光の発光ダイオードを用いて紫外光を照射するようにしたものである。   The invention of claim 19 is an ultraviolet light irradiation method for irradiating an ultraviolet light onto a sealing agent bonded with two substrates and curing the ultraviolet light using an ultraviolet light emitting diode. is there.

請求項20の発明は、請求項19の発明において更に、基板に設けられたシール剤の位置情報を予め取得し、その位置情報により前記発光ダイオードによる紫外光の照射位置を特定するようにしたものである。   According to a twentieth aspect of the present invention, in addition to the nineteenth aspect of the present invention, position information of the sealing agent provided on the substrate is acquired in advance, and the irradiation position of the ultraviolet light by the light emitting diode is specified by the position information. It is.

請求項21の発明は、請求項19又は20の発明において更に、 前記照射手段と基板とを相対的に移動させる際に、照射手段と基板との距離を一定に保つようにしたものである。   According to a twenty-first aspect of the present invention, the distance between the irradiation unit and the substrate is kept constant when the irradiation unit and the substrate are relatively moved.

請求項22の発明は、請求項19〜21のいずれかの発明において更に、前記照射手段と基板とを相対的に回転させて移動させるようにしたものである。   According to a twenty-second aspect of the present invention, in any one of the nineteenth to twenty-first aspects, the irradiation unit and the substrate are relatively rotated and moved.

請求項23の発明は、請求項19〜22のいずれかの発明において更に、前記照射手段が複数の発光ダイオードを隣り合わせてなり、相隣る発光ダイオードの各個が基板に対する距離、及びそれらの隣り合わせピッチを、相隣る発光ダイオードの各個の照度が互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度が必要最小照度以上になる距離、及びピッチに定めるようにしたものである。   The invention of claim 23 is the invention of any one of claims 19 to 22, wherein the irradiating means comprises a plurality of light emitting diodes adjacent to each other, and each of the adjacent light emitting diodes is a distance to the substrate, and their adjacent pitch. Is set to a distance and a pitch at which the illuminances of the adjacent light emitting diodes are substantially equal to each other and their combined illuminance is equal to or greater than the necessary minimum illuminance.

請求項24の発明は、請求項19〜23のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードの照度を照度計により測定するようにしたものである。   According to a twenty-fourth aspect of the present invention, the illuminance of the light emitting diode of the irradiating means is further measured by an illuminometer in any of the nineteenth to twenty-third aspects of the invention.

請求項25の発明は、請求項24の発明において更に、前記照度計により測定した照度に基づいて、前記発光ダイオードに対する給電量を調整するようにしたものである。   According to a twenty-fifth aspect of the present invention, in the twenty-fourth aspect of the present invention, the amount of power supplied to the light emitting diode is adjusted based on the illuminance measured by the illuminometer.

請求項26の発明は、請求項24又は25の発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードと照度計とを相対的に移動させるようにしたものである。   According to a twenty-sixth aspect of the present invention, in the twenty-fourth or twenty-fifth aspect of the present invention, the light emitting diode of the irradiating means and the illuminometer are relatively moved.

請求項27の発明は、請求項24〜26のいずれかの発明において更に、前記照度計の測定結果を表示手段に表示させるようにしたものである。   According to a twenty-seventh aspect of the present invention, in the invention according to any one of the twenty-fourth to twenty-sixth aspects, the measurement result of the illuminometer is displayed on the display means.

請求項28の発明は、請求項27の発明において更に、前記照度計の測定結果とともに、前記発光ダイオードに対する給電量に関する情報を前記表示手段に表示するようにしたものである。   According to a twenty-eighth aspect of the present invention, in the twenty-seventh aspect of the present invention, information on the amount of electric power supplied to the light emitting diode is displayed on the display means together with the measurement result of the illuminance meter.

請求項29の発明は、請求項24〜28のいずれかの発明において更に、前記照度計の測定結果から発光ダイオードの寿命をチェックするようにしたものである。   According to a twenty-ninth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the twenty-fourth to twenty-eighth aspects, the lifetime of the light emitting diode is checked from the measurement result of the illuminance meter.

請求項30の発明は、請求項19〜29のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードをパルス点灯させるようにしたものである。   According to a thirty-third aspect of the present invention, the light emitting diode of the irradiating means is further lit in a pulsed manner.

請求項31の発明は、請求項19〜30のいずれかの発明において更に、前記照射手段の発光ダイオードからの照射光を集光させてシール剤に照射するようにしたものである。   According to a thirty-first aspect of the invention, in the invention of any one of the nineteenth to thirty-third aspects, the irradiation light from the light emitting diode of the irradiating means is condensed to irradiate the sealing agent.

請求項32の発明は、請求項19〜31のいずれかの発明において更に、前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤の位置に紫外光を照射する発光ダイオードだけを点灯するようにしたものである。   According to a thirty-second aspect of the invention, in the invention according to any one of the nineteenth to thirty-first aspects, the irradiating means further comprises a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit is located at a position of the sealing agent on the substrate. Only the light emitting diode that irradiates ultraviolet light is turned on.

請求項33の発明は、請求項19〜31のいずれかの発明において更に、前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオードを設けるようにしたものである。   According to a thirty-third aspect of the present invention, in the invention according to any one of the nineteenth to thirty-first aspects, the irradiating means has a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit is applied to the substrate sealant with an ultraviolet ray. A light emitting diode is provided only at a position where light irradiation is necessary.

請求項34の発明は、請求項19〜33のいずれかの発明において更に、前記照射手段と基板を相対的にシール剤の塗布幅以下の揺動ストロークで揺動するようにしたものである。   According to a thirty-fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the nineteenth to thirty-third aspects, the irradiating means and the substrate are relatively swung with a swing stroke less than or equal to a coating width of the sealant.

請求項35の発明は、少なくとも一方にシール剤が矩形枠状に塗布された2枚の基板を上記シール剤を介して貼り合わせた後、上記シール剤に紫外光を照射することにて硬化させ貼り合わせ基板を製造する基板製造装置において、請求項1〜18のいずれかに記載の紫外光照射装置を具備したものである。   In the invention of claim 35, after two substrates having a sealing agent applied to at least one of them in a rectangular frame shape are bonded together via the sealing agent, the sealing agent is cured by irradiating with ultraviolet light. The board | substrate manufacturing apparatus which manufactures a bonded substrate board is equipped with the ultraviolet light irradiation apparatus in any one of Claims 1-18.

請求項36の発明は、少なくとも一方にシール剤が矩形枠状に塗布された2枚の基板を上記シール剤を介して貼り合わせた後、上記シール剤に紫外光を照射することにて硬化させ貼り合わせ基板を製造する基板製造方法において、請求項19〜34のいずれかに記載の紫外光照射方法を用いたものである。   In the invention of claim 36, after the two substrates having the sealing agent applied to at least one of them in a rectangular frame shape are bonded together via the sealing agent, the sealing agent is cured by irradiating with ultraviolet light. In the board | substrate manufacturing method which manufactures a bonded substrate board, the ultraviolet light irradiation method in any one of Claims 19-34 is used.

本発明によれば、無駄なエネルギーの消費をなくすことができる。   According to the present invention, useless energy consumption can be eliminated.

図1は実施例1の紫外光照射装置を示し、(A)は正面図、(B)は(A)のB−B線に沿う断面図、図2は照射手段の発光ダイオードユニットを示し、(A)は格子配列を示す斜視図、(B)は千鳥配列を示す斜視図、図3は照射手段の発光ダイオードユニットとシール剤位置検出ユニットを示し、(A)は斜視図、(B)は平面図、図4は照度計の一例を示す模式図、図5は照度計の他の例を示す模式図、図6は発光ダイオードの照射距離と照度の関係を示す模式図、図7は発光ダイオードの横方向位置と照度の関係(照度分布)を示す模式図、図8は相隣る発光ダイオードの合成照度分布を示す模式図、図9は発光ダイオードの照射高さによる照度分布の相違を示す模式図、図10は発光ダイオードのパルス点灯と励起物質の励起エネルギを示す模式図、図11は発光ダイオードの反射板による集光手段を示す模式図、図12は発光ダイオードのレンズによる集光手段を示す模式図、図13は照射手段の回転手段を示す模式図、図14は紫外光照射装置の変形例を示し、(A)は正面図、(B)は(A)のB−B線に沿う断面図、図15は照射手段のシール剤位置検出ユニットを示す正面図、図16は照射手段の発光ダイオードユニットとシール剤位置検出ユニットを示す平面図、図17は実施例2の紫外光照射装置を示す正面図、図18は照射手段の発光ダイオードユニットを示す平面図、図19は発光ダイオードユニットの要部を拡大して示し、(A)は断面図、(B)は平面図、図20は発光ダイオードを示し、(A)は正面図、(B)は側面図、(C)は平面図、図21は基板のシール剤塗布パターンを示す平面図、図22は発光ダイオードユニットにおける発光ダイオード着脱状態を示す断面図、図23はダミーブロックを示し、(A)は正面図、(B)は平面図、図24は図21の基板に対応する発光ダイオードユニットを示し、(A)は平面図、(B)は断面図、図25は発光ダイオードユニットの変形例を示す断面図、図26は実施例3の紫外光照射装置を示す断面図、図27は発光ダイオードユニットの取付台を取付基台から分離した状態を示す断面図、図28は発光ダイオードユニットを示す平面図、図29は実施例4の紫外光照射装置を示す正面図、図30は紫外光照射装置の変形例を示す正面図、図31は発光ダイオードユニットの揺動作用を示す模式図、図32は相隣る発光ダイオードによる照度むらを示す模式図、図33は相隣る発光ダイオードによる照度むらを示す模式図である。   1 shows an ultraviolet light irradiation apparatus of Example 1, (A) is a front view, (B) is a cross-sectional view taken along line BB of (A), FIG. 2 shows a light emitting diode unit of irradiation means, (A) is a perspective view showing a lattice arrangement, (B) is a perspective view showing a staggered arrangement, FIG. 3 shows a light emitting diode unit and a sealant position detection unit of an irradiation means, (A) is a perspective view, and (B). Is a plan view, FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of an illuminometer, FIG. 5 is a schematic diagram showing another example of the illuminometer, FIG. 6 is a schematic diagram showing the relationship between the irradiation distance of the light emitting diode and the illuminance, and FIG. FIG. 8 is a schematic diagram showing a relationship between the lateral position of a light emitting diode and illuminance (illuminance distribution), FIG. 8 is a schematic diagram showing a combined illuminance distribution of adjacent light emitting diodes, and FIG. 9 is a difference in illuminance distribution depending on the irradiation height of the light emitting diode. FIG. 10 is a diagram showing a pulse lighting of a light emitting diode and an excitation energy of an excitation substance. FIG. 11 is a schematic diagram showing a light collecting means using a light emitting diode reflector, FIG. 12 is a schematic view showing a light collecting means using a light emitting diode lens, and FIG. 13 is a schematic diagram showing a rotating means of the irradiation means. 14 and 14 show a modification of the ultraviolet light irradiation device, (A) is a front view, (B) is a sectional view taken along line BB in (A), and FIG. 15 is a sealant position detection unit of irradiation means. FIG. 16 is a plan view showing the light emitting diode unit and the sealant position detection unit of the irradiating means, FIG. 17 is a front view showing the ultraviolet light irradiation apparatus of Example 2, and FIG. 18 is the light emitting diode unit of the irradiating means. 19 is an enlarged view of the main part of the light-emitting diode unit, (A) is a cross-sectional view, (B) is a plan view, FIG. 20 shows a light-emitting diode, (A) is a front view, B) is a side view, (C) is a plan view, 1 is a plan view showing a sealing agent coating pattern on a substrate, FIG. 22 is a cross-sectional view showing a light emitting diode attached / detached state in a light emitting diode unit, FIG. 23 shows a dummy block, (A) is a front view, and (B) is a plan view. 24 shows a light-emitting diode unit corresponding to the substrate of FIG. 21, (A) is a plan view, (B) is a cross-sectional view, FIG. 25 is a cross-sectional view showing a modification of the light-emitting diode unit, and FIG. 27 is a sectional view showing a state in which the mounting base of the light emitting diode unit is separated from the mounting base, FIG. 28 is a plan view showing the light emitting diode unit, and FIG. 29 is a fourth embodiment. FIG. 30 is a front view showing a modification of the ultraviolet light irradiation device, FIG. 31 is a schematic view showing the swinging action of the light emitting diode unit, and FIG. 32 shows adjacent light emitting diodes. FIG. 33 is a schematic diagram showing illuminance unevenness due to adjacent light emitting diodes.

(実施例1)(図1〜図16)
基板製造装置を構成する紫外光照射装置10は、2枚のガラス基板1を貼り合わせたシール剤2に紫外光を照射してこれを硬化させる。貼り合わされた2枚の基板1からは、例えば4つの液晶ディスプレイを形成することができるようになっており、その液晶ディスプレイの数に応じて2枚の基板1は4つの矩形枠状に描画されて塗布されたシール剤2によって貼り合わされている。2枚の基板1の間のシール剤2によって囲まれる空間には、液晶3が充填され、封入される。
Example 1 (FIGS. 1 to 16)
The ultraviolet light irradiation device 10 constituting the substrate manufacturing apparatus irradiates the sealing agent 2 bonded with two glass substrates 1 with ultraviolet light to cure it. For example, four liquid crystal displays can be formed from the two substrates 1 bonded together, and the two substrates 1 are drawn in four rectangular frame shapes according to the number of the liquid crystal displays. The sealing agent 2 applied in this manner is bonded together. A space surrounded by the sealant 2 between the two substrates 1 is filled with liquid crystal 3 and sealed.

即ち、基板製造装置においては、シール塗布装置にて、少なくとも一方の基板にシール剤が矩形枠状に塗布される。次いで、液晶滴下装置にて、シール剤が塗布された基板或いは他方の基板におけるシール剤の枠内に対応する部分に必要量の液晶が滴下される。そして、基板貼り合わせ装置における上部保持テーブルに一方の基板が保持され、また下部保持テーブルに他方の基板が保持されて、上下に所定の間隔で対向された状態でこれら2枚の基板の位置合わせが行なわれた後、シール剤を介して貼り合わされる。シール剤2によって貼り合わされた2枚の基板1が紫外光照射装置10に供給され、シール剤2を紫外光の照射によって硬化するものである。   That is, in the substrate manufacturing apparatus, the sealant is applied in a rectangular frame shape to at least one of the substrates by the seal application device. Next, in the liquid crystal dropping device, a necessary amount of liquid crystal is dropped onto a portion corresponding to the inside of the frame of the sealing agent on the substrate on which the sealing agent is applied or the other substrate. Then, one substrate is held by the upper holding table in the substrate bonding apparatus, and the other substrate is held by the lower holding table, and the two substrates are aligned in a state of being opposed to each other at a predetermined interval. After being performed, it is bonded through a sealant. The two substrates 1 bonded together by the sealing agent 2 are supplied to the ultraviolet light irradiation device 10 and the sealing agent 2 is cured by irradiation with ultraviolet light.

紫外光照射装置10は、図1に示す如く、基台11の上に設けた支持台12(XYテーブルでも可)の上にステージ13を設け、ステージ13の上に、前述の如くにシール剤2によって貼り合わされた2枚の基板1が供給される。ステージ13への基板1の搬入/搬出はロボットアーム(不図示)により行なわれる。ロボットアームとステージ13との間での基板1の受け渡しは、ステージ13に内蔵してある突没自在のリフトピンを介してなされる。   As shown in FIG. 1, the ultraviolet light irradiation apparatus 10 is provided with a stage 13 on a support 12 (or an XY table is acceptable) provided on a base 11, and on the stage 13 as described above, a sealing agent. Two substrates 1 bonded together by 2 are supplied. Loading / unloading of the substrate 1 to / from the stage 13 is performed by a robot arm (not shown). Delivery of the substrate 1 between the robot arm and the stage 13 is performed via a retractable lift pin built in the stage 13.

紫外光照射装置10は、基台11の上で、支持台12及びステージ13を挟む左右両側にコラム14を設け、各コラム14の上にガイドレール15を設け、各ガイドレール15に沿って移動するリニアモータ16の上に左右の高さ調整手段17を設けている。高さ調整手段17は、モータ17Aにより駆動されるボールねじ機構を備えた上下駆動装置17Bを有し、上下駆動装置17Bにより上下動される昇降板17Cを有する。紫外光照射装置10は、左右の高さ調整手段17の昇降板17Cに紫外光の照射手段20を支持し、基板1のシール剤2に紫外光を照射する。   The ultraviolet light irradiation device 10 is provided with columns 14 on both the left and right sides of the support 11 and the stage 13 on the base 11, guide rails 15 are provided on the columns 14, and move along the guide rails 15. Left and right height adjusting means 17 are provided on the linear motor 16. The height adjusting means 17 has a vertical drive device 17B having a ball screw mechanism driven by a motor 17A, and has a lift plate 17C that is moved up and down by the vertical drive device 17B. The ultraviolet light irradiation device 10 supports the ultraviolet light irradiation means 20 on the lifting plate 17 </ b> C of the left and right height adjustment means 17 and irradiates the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light.

紫外光照射装置10は、制御装置25を有し、制御装置25は、リニアモータ16、モータ17A、レーザ変位計18、照射手段20、シール剤位置検出ユニット22に接続されており、これらを制御する。   The ultraviolet light irradiation device 10 includes a control device 25, which is connected to the linear motor 16, the motor 17A, the laser displacement meter 18, the irradiation means 20, and the sealant position detection unit 22, and controls them. To do.

以下、紫外光照射装置10における、(A)照射手段20の構成、(B)照射手段20の照射位置の制御、(C)照射手段20と基板1との距離の制御、(D)照射手段20の照度の測定、(E)照射手段20の照度分布、(F)照射手段20のパルス点灯、(G)照射手段20の照射光の集光のそれぞれについて説明する。   Hereinafter, in the ultraviolet light irradiation apparatus 10, (A) the configuration of the irradiation means 20, (B) the control of the irradiation position of the irradiation means 20, (C) the control of the distance between the irradiation means 20 and the substrate 1, (D) the irradiation means. Each of measurement of illuminance 20, (E) illuminance distribution of the irradiation means 20, (F) pulse lighting of the irradiation means 20, and (G) collection of irradiation light of the irradiation means 20 will be described.

(A)照射手段20の構成(図1、図2)
紫外光照射装置10の照射手段20は、図2に示す如く、紫外光の発光ダイオード21A(UV-LED)を多数配列した発光ダイオードユニット21を有する。発光ダイオードユニット21は、発光ダイオード21Aを格子配列し(図2(A))又は発光ダイオード21Aを千鳥配列して構成できる(図2(B))。
(A) Configuration of irradiation means 20 (FIGS. 1 and 2)
The irradiation means 20 of the ultraviolet light irradiation apparatus 10 includes a light emitting diode unit 21 in which a large number of ultraviolet light emitting diodes 21A (UV-LEDs) are arranged as shown in FIG. The light-emitting diode unit 21 can be configured by arranging light-emitting diodes 21A in a lattice arrangement (FIG. 2A) or staggered arrangement of light-emitting diodes 21A (FIG. 2B).

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
(a)紫外光の照射手段20として紫外光の発光ダイオード21Aを用いることにより、点灯の立ち上がり時間を瞬時にできる。点灯を必要とするときにだけ直ちに点灯できるから、常時点灯状態として使用する必要がなく、無駄なエネルギの消費をなくすことができる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
(a) By using the ultraviolet light emitting diode 21A as the ultraviolet light irradiation means 20, the rise time of lighting can be instantaneous. Since it can be lit immediately only when it is necessary to illuminate, it is not necessary to use it as a constantly lit state, and wasteful energy consumption can be eliminated.

(b)発光ダイオード21Aは、メタルハライドランプに比して照射光に熱を持たず、基板1との距離を狭くすることができ、シール剤2に対する照度を向上し、エネルギの利用効率を向上できる。また、シール剤2に接する液晶3の封入部を徒に加熱することが防止できるので、液晶3が加熱により変質することや基板に形成された回路が加熱により損傷することを防止することができる。   (b) The light emitting diode 21A does not have heat in the irradiated light as compared with the metal halide lamp, can reduce the distance from the substrate 1, can improve the illuminance with respect to the sealant 2, and can improve the energy utilization efficiency. . In addition, since the encapsulated portion of the liquid crystal 3 in contact with the sealing agent 2 can be prevented from being heated, it is possible to prevent the liquid crystal 3 from being altered by heating and the circuit formed on the substrate from being damaged by heating. .

(B)照射手段20の照射位置の制御(図1〜図3)
制御装置25は、照射手段20がステージ13上の基板1に対し、リニアモータ16によりガイドレール15に沿うX方向(この方向を基板1の幅方向と直交する方向とする)に移動する過程で、照射手段20が有するシール剤位置検出ユニット22を用いて予め取得されるシール剤2の位置情報により紫外光の照射位置(シール剤2が存在する位置)を特定し、紫外光の照射位置に到達した発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aを点灯制御し、当該シール剤2に紫外光を照射してこれを硬化させる。
(B) Control of irradiation position of irradiation means 20 (FIGS. 1 to 3)
The control device 25 is a process in which the irradiation means 20 moves with respect to the substrate 1 on the stage 13 in the X direction along the guide rail 15 by the linear motor 16 (this direction is a direction orthogonal to the width direction of the substrate 1). Then, the irradiation position of the ultraviolet light (position where the sealing agent 2 exists) is specified by the position information of the sealing agent 2 acquired in advance using the sealing agent position detection unit 22 of the irradiation means 20, and the ultraviolet light irradiation position is determined. The light emitting diode 21A of the reached light emitting diode unit 21 is turned on, and the sealing agent 2 is irradiated with ultraviolet light to be cured.

尚、シール剤位置検出ユニット22によりシール剤2の位置情報を取得するタイミングとしては、次のいずれでも良い。一つは、照射手段20をX方向に移動させ、ガラス基板1全体におけるシール剤2の位置情報を予め取得し、その後、この位置情報に基づいて、紫外光の照射位置に到達した発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aを点灯制御する。他の方法としては、照射手段20をX方向に移動させ、シール剤2の位置情報を取得しつつ、その位置情報に基づいて発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aを点灯制御する、つまり発光ダイオードの照射直前にシール剤2の位置情報を取得する。   The timing for acquiring the position information of the sealant 2 by the sealant position detection unit 22 may be any of the following. One is to move the irradiation means 20 in the X direction, acquire in advance the positional information of the sealing agent 2 in the entire glass substrate 1, and then, based on this positional information, the light emitting diode unit that has reached the irradiation position of ultraviolet light The 21 light emitting diodes 21A are controlled to be turned on. As another method, the light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 is controlled to be turned on based on the position information while the irradiation unit 20 is moved in the X direction and the position information of the sealant 2 is acquired. The position information of the sealant 2 is acquired immediately before irradiation.

ここで、シール剤位置検出ユニット22は、図1、図3に示す如く、発光ダイオードユニット21のY方向(この方向を基板1の幅方向とする)に沿う両側縁のそれぞれに設けたレーザ光等の照射ユニット22Aと受光ユニット22Bにより構成される。シール剤位置検出ユニット22は、図1(B)に示す如く、照射ユニット22Aから照射されて上のガラス基板1を透過して下のガラス基板1で反射し、上のガラス基板1を再び透過した光が受光ユニット22Bに受光されるように設けられている。制御装置25は、照射ユニット22Aと受光ユニット22B間の光路中におけるシール剤2の有無による受光量の差からシール剤2の有無を検出する。   Here, as shown in FIGS. 1 and 3, the sealant position detection unit 22 is provided with laser beams provided on both side edges along the Y direction of the light emitting diode unit 21 (this direction is the width direction of the substrate 1). The irradiation unit 22A and the light receiving unit 22B. As shown in FIG. 1B, the sealant position detection unit 22 is irradiated from the irradiation unit 22A, passes through the upper glass substrate 1 and is reflected by the lower glass substrate 1, and passes through the upper glass substrate 1 again. So that the received light is received by the light receiving unit 22B. The control device 25 detects the presence / absence of the sealant 2 from the difference in the amount of light received due to the presence / absence of the sealant 2 in the optical path between the irradiation unit 22A and the light receiving unit 22B.

即ち、制御装置25は、シール剤位置検出ユニット22をX方向において基板1の一方の端から他方の端に亘って移動させる過程で、各受光ユニット22Bから送られる受光量の情報を取得する。そして、制御装置25は、受光量がシール剤2「有」を示した受光ユニット22Bの取り付け位置からシール剤2のY方向の位置情報を取得する。また、上記受光ユニット22Bがシール剤2「有」の受光量を出力しているときのリニアモータ16に付帯されるリニアエンコーダ等の位置検出手段による位置情報から、シール剤2のX方向の位置情報を取得する。このようにして得られたシール剤2のX方向位置情報とY方向位置情報とから、シール剤2の実測情報を取得する。   That is, the control device 25 acquires information on the amount of received light transmitted from each light receiving unit 22B in the process of moving the sealant position detection unit 22 from one end of the substrate 1 to the other end in the X direction. And the control apparatus 25 acquires the positional information on the Y direction of the sealing agent 2 from the attachment position of the light reception unit 22B in which the received light quantity showed sealing agent 2 "presence". Further, the position of the sealant 2 in the X direction is determined based on position information obtained by position detection means such as a linear encoder attached to the linear motor 16 when the light receiving unit 22B outputs the amount of received light with the sealant 2 “present”. Get information. The actual measurement information of the sealant 2 is acquired from the X-direction position information and the Y-direction position information of the sealant 2 thus obtained.

尚、照射ユニット22A及び受光ユニット22Bは、各発光ダイオード21Aと1対1で設けても良く、また、隣接する複数個の発光ダイオード21Aによる照射範囲毎に一対ずつ設けるようにしても良い。   Note that the irradiation unit 22A and the light receiving unit 22B may be provided on a one-to-one basis with each light emitting diode 21A, or a pair may be provided for each irradiation range by a plurality of adjacent light emitting diodes 21A.

尚、制御装置25は、シール剤位置検出ユニット22を用いた上述の実測情報によらず、基板1の設計情報から予め取得されるシール剤2の位置情報により紫外光の照射位置を特定し、発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aを点灯制御するものでも良い。この場合には、ステージ13の上に供給された基板1の基準位置からの位置ずれを正しく把握する必要がある。この基板の位置ずれを把握するためには、基板に付した位置認識用のマーク又は基板のエッジ、シール剤等の位置をパターン認識技術を用いて検出する公知の位置検出手法を用いることができる。   The control device 25 specifies the irradiation position of the ultraviolet light based on the position information of the sealant 2 obtained in advance from the design information of the substrate 1, not based on the above-described actual measurement information using the sealant position detection unit 22. The light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 may be controlled to be turned on. In this case, it is necessary to correctly grasp the positional deviation from the reference position of the substrate 1 supplied on the stage 13. In order to grasp the positional deviation of the substrate, a known position detecting method for detecting the position of the position recognition mark attached to the substrate or the edge of the substrate, the sealant, etc. using a pattern recognition technique can be used. .

また、紫外光照射装置10にあっては、シール剤位置検出ユニット22を用いた前述のシール剤2の実測位置情報と、基板1の設計情報に基づくシール剤2の設計位置情報を照合し、適合していれば発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aを点灯制御し、不適合であれば基板1の品種違いを警報することもできる。   Further, in the ultraviolet light irradiation device 10, the above-described actual position information of the sealant 2 using the sealant position detection unit 22 is collated with the design position information of the sealant 2 based on the design information of the substrate 1, If it is compatible, the lighting of the light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 can be controlled, and if it is not compatible, a difference in the type of the substrate 1 can be warned.

例えば、シール剤2の設計位置情報と実測位置情報との照合は、設計位置情報より得たシール剤2の塗布パターン(基板に塗布形成されるべき矩形枠の数、矩形枠の短辺長さ及び長辺長さ等)と、実測位置情報より得たシール剤2の塗布パターンとを比較して、両者が一致するか否か、或いは一致度が予め設定した許容値内となるか否かを判別することで行なうことができる。   For example, the design position information of the sealant 2 and the measured position information are collated by applying the sealant 2 application pattern obtained from the design position information (the number of rectangular frames to be applied and formed on the substrate, the short side length of the rectangular frames). And the long side length etc.) and the application pattern of the sealant 2 obtained from the measured position information, whether or not they match, or whether or not the matching level is within a preset allowable value. This can be done by discriminating.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
基板1に設けられたシール剤2の位置情報を実測情報又は設計情報により取得し、その位置情報により紫外光の照射位置を特定する。従って、紫外光はシール剤2にだけ照射され、シール剤2のない液晶3の封入部に照射されることが極力防止されるから、エネルギの有効利用効率が向上する上に、紫外光が照射されることによる液晶3の封入部の加熱が防止される。これにより、加熱による液晶3の変質や基板1に形成された回路の損傷を防止できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
The position information of the sealing agent 2 provided on the substrate 1 is acquired by actual measurement information or design information, and the irradiation position of the ultraviolet light is specified by the position information. Therefore, since the ultraviolet light is irradiated only to the sealing agent 2 and is prevented from being irradiated to the encapsulating portion of the liquid crystal 3 without the sealing agent 2 as much as possible, the effective use efficiency of energy is improved and the ultraviolet light is irradiated. As a result, heating of the enclosing portion of the liquid crystal 3 is prevented. Thereby, it is possible to prevent deterioration of the liquid crystal 3 due to heating and damage to the circuit formed on the substrate 1.

(C)照射手段20と基板1との距離の制御
紫外光照射装置10の照射手段20は、ステージ13上の基板1に対し前述の如くに移動する過程で、前述の高さ調整手段17とレーザ変位計18を用いて、基板1との距離を一定に保つ。
(C) Control of the distance between the irradiation means 20 and the substrate 1 The irradiation means 20 of the ultraviolet light irradiation apparatus 10 is in the process of moving as described above with respect to the substrate 1 on the stage 13 and the height adjustment means 17 described above. A laser displacement meter 18 is used to keep the distance from the substrate 1 constant.

レーザ変位計18は発光ダイオードユニット21と一体で設けられ、ステージ13上の基板1の両端部分にそれぞれ対応する左右のレーザ変位計18A、18Bからなる。レーザ変位計18は、基板1の大きさが品種切替え等で変わったときに対応できるように、発光ダイオードユニット21の長手方向に沿って位置調整できるように設けられる。レーザ変位計18は、レーザ光の照射部と受光部とを備え、照射部から照射されて上の基板1の表面で反射して受光部に受光したレーザ光の、受光部での受光位置に基づいて、基板1の表面までの距離を測定するものである。
照射手段20と基板1との距離を一定に保つ動作は以下の如くなされる。
The laser displacement meter 18 is provided integrally with the light emitting diode unit 21 and includes left and right laser displacement meters 18A and 18B respectively corresponding to both end portions of the substrate 1 on the stage 13. The laser displacement meter 18 is provided so that the position of the laser displacement meter 18 can be adjusted along the longitudinal direction of the light emitting diode unit 21 so that it can cope with the change of the size of the substrate 1 due to product type switching or the like. The laser displacement meter 18 is provided with a laser beam irradiation unit and a light receiving unit, and the laser beam irradiated from the irradiation unit and reflected by the surface of the upper substrate 1 is received by the light receiving unit at the light receiving position at the light receiving unit. Based on this, the distance to the surface of the substrate 1 is measured.
The operation of keeping the distance between the irradiation means 20 and the substrate 1 constant is performed as follows.

(1)レーザ変位計18による距離測定は、発光ダイオードユニット21による貼り合わせ基板1のシール剤2に対する紫外光の照射と合わせて行なう。即ち、シール剤2に紫外光を照射すべく発光ダイオードユニット21が貼り合わせ基板1のX方向に沿う一端から他端まで移動する間中、レーザ変位計18による距離測定を予め設定した時間間隔置きに行なう。   (1) The distance measurement by the laser displacement meter 18 is performed together with the irradiation of the ultraviolet light to the sealing agent 2 of the bonded substrate 1 by the light emitting diode unit 21. That is, while the light emitting diode unit 21 moves from one end to the other end along the X direction of the bonded substrate 1 so as to irradiate the sealing agent 2 with ultraviolet light, distance measurement by the laser displacement meter 18 is performed at predetermined time intervals. To do.

(2)2つのレーザ変位計18A、18Bの測定値をそれぞれ制御装置25に送る。制御装置25は、測定値が送られる毎に、2つの測定値を平均し、予め設定された基準値と比較する。比較の結果、測定値が基準値と異なる場合には、測定値が基準値と一致するように左右の高さ調整手段17のモータ17Aを制御する。このとき2つのモータ17Aを同期制御する。   (2) The measured values of the two laser displacement meters 18A and 18B are sent to the control device 25, respectively. Each time the measurement value is sent, the control device 25 averages the two measurement values and compares them with a preset reference value. If the measured value is different from the reference value as a result of the comparison, the motors 17A of the left and right height adjusting means 17 are controlled so that the measured value matches the reference value. At this time, the two motors 17A are synchronously controlled.

尚、2つのレーザ変位計18A、18Bの測定値をそれぞれ基準値と比較し、左右の高さ調整手段17のモータ17Aを別々に制御しても良い。即ち、左側のレーザ変位計18Aの測定値に基づいて左側の高さ調整手段17のモータ17Aを制御し、右側のレーザ変位計18Bの測定値に基づいて右側の高さ調整手段17のモータ17Aを制御する。   The measured values of the two laser displacement meters 18A and 18B may be compared with reference values, respectively, and the motors 17A of the left and right height adjusting means 17 may be controlled separately. That is, the motor 17A of the left height adjusting means 17 is controlled based on the measured value of the left laser displacement meter 18A, and the motor 17A of the right height adjusting means 17 is controlled based on the measured value of the right laser displacement meter 18B. To control.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
照射手段20と基板1とを相対的に移動させることにより、照射手段20が備える発光ダイオード21Aの個数を少なくしながら、基板1の広範囲に渡るシール剤2に紫外光を照射でき、紫外光の消費エネルギを低減できる。このとき、照射手段20と基板1との距離を一定に保つことにより、照射手段20が照射する紫外光のエネルギを基板1の各所のシール剤2に過不足なく均等に照射し、各所のシール剤2を均等に硬化できるものになり、エネルギの有効利用効率を向上できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
By relatively moving the irradiating means 20 and the substrate 1, it is possible to irradiate the sealing agent 2 over a wide area of the substrate 1 with ultraviolet light while reducing the number of light emitting diodes 21A provided in the irradiating means 20, and the ultraviolet light. Energy consumption can be reduced. At this time, by keeping the distance between the irradiating means 20 and the substrate 1 constant, the energy of the ultraviolet light irradiated by the irradiating means 20 is evenly applied to the sealant 2 at various locations on the substrate 1 without excess or deficiency. The agent 2 can be uniformly cured, and the effective use efficiency of energy can be improved.

(D)照射手段20の照度の測定(図1、図4、図5)
紫外光照射装置10は、ステージ13上のX方向端部位置に照度計30をY方向に移動自在に設けており、照射手段20の発光ダイオードユニット21を構成している発光ダイオード21Aの照度を測定可能にする。照射手段20のX方向移動と照度計30のY方向移動により、発光ダイオードユニット21の各発光ダイオード21Aの直下に照度計30を順次位置付け、照度計30に対向する発光ダイオード21Aを順次点灯させて各発光ダイオード21Aの照度を照度計30により測定する。
(D) Measurement of illuminance of the irradiation means 20 (FIGS. 1, 4, and 5)
The ultraviolet light irradiation apparatus 10 is provided with an illuminance meter 30 at the X direction end position on the stage 13 so as to be movable in the Y direction, and the illuminance of the light emitting diode 21A constituting the light emitting diode unit 21 of the irradiation means 20 is adjusted. Make measurable. By moving the irradiation means 20 in the X direction and moving the illuminance meter 30 in the Y direction, the illuminance meter 30 is sequentially positioned immediately below each light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21, and the light emitting diodes 21A facing the illuminance meter 30 are sequentially turned on. The illuminance of each light emitting diode 21 </ b> A is measured by the illuminometer 30.

制御装置25は、照度計30による各発光ダイオード21Aの照度測定結果等を表示するモニタ26等の表示手段を有する。また、制御装置25は各発光ダイオード21Aの照度測定結果に基づき、各発光ダイオード21Aの測定照度が適正照度にあるか否かをチェックする。発光ダイオード21Aの測定照度が適正照度より低下しているとき、当該発光ダイオード21Aへの給電量を増加させ、当該発光ダイオード21Aの照度を適正照度とするように補正する。更に、紫外光照射装置10は各発光ダイオード21Aの照度測定結果に基づき、各発光ダイオード21Aの寿命をチェックする手段を有する。   The control device 25 includes display means such as a monitor 26 for displaying the illuminance measurement result of each light emitting diode 21A by the illuminometer 30. Further, the control device 25 checks whether or not the measured illuminance of each light emitting diode 21A is at an appropriate illuminance based on the illuminance measurement result of each light emitting diode 21A. When the measured illuminance of the light emitting diode 21A is lower than the appropriate illuminance, the amount of power supplied to the light emitting diode 21A is increased, and the illuminance of the light emitting diode 21A is corrected to the appropriate illuminance. Furthermore, the ultraviolet light irradiation device 10 has means for checking the lifetime of each light emitting diode 21A based on the illuminance measurement result of each light emitting diode 21A.

発光ダイオード21Aの寿命をチェックする手段は、例えば、制御装置25に、給電量の補正可能範囲の上限値を予め設定して記憶する記憶器、各発光ダイオード21Aに対する給電量と上記上限値とを比較する比較器、上記比較器による比較の結果、給電量が上限を越えた場合、その発光ダイオード21Aは寿命であると判定する判定器、この判定器によって寿命であると判定された発光ダイオード21Aの交換を促す警報器を設けることで構成することができる。   The means for checking the lifetime of the light emitting diode 21A includes, for example, a storage device that stores in advance the upper limit value of the power supply amount correction range in the control device 25, the power supply amount for each light emitting diode 21A, and the upper limit value. If the power supply amount exceeds the upper limit as a result of comparison by the comparator to be compared and the comparator, the light emitting diode 21A is determined to have a lifetime, and the light emitting diode 21A that has been determined to have a lifetime by this determiner. It can be configured by providing an alarm device that prompts replacement.

尚、警報器は、モニタ等の表示手段で、図2(A)、(B)に示す発光ダイオードの配列に対応する配置図が表示され、寿命と判定された発光ダイオード21Aの配置位置を点滅表示するように構成すると、寿命と判定された発光ダイオード21Aの位置を視覚的に捉えることができ好ましい。   The alarm device is a display means such as a monitor, and a layout diagram corresponding to the arrangement of the light emitting diodes shown in FIGS. 2A and 2B is displayed, and the arrangement position of the light emitting diode 21A determined to have a lifetime blinks. When configured to display, it is preferable that the position of the light emitting diode 21A determined to have a lifetime can be visually grasped.

ここで、給電量の補正可能範囲の上限値とは、発光ダイオード21Aに安全に付与することができる給電量に安全率を乗じて定めた値であり、例えば、これを越えて給電した場合、発光ダイオード21Aに破損の危険が生じる値である。   Here, the upper limit value of the correctable range of the power supply amount is a value determined by multiplying the power supply amount that can be safely given to the light emitting diode 21A by the safety factor. For example, when power is supplied beyond this, This is a value that causes a risk of damage to the light emitting diode 21A.

また、上述の寿命のチェックを自動的に行なう代わりに、モニタ26に、各発光ダイオード21Aの照度計測定結果とその照度測定時におけるそれぞれの発光ダイオード21Aに対する給電量を、給電量に関する情報として表示させ、その表示内容に基づいて、作業者が発光ダイオード21Aの寿命をチェックするようにすることもできる。   Further, instead of automatically performing the above-described life check, the monitor 26 displays the illuminometer measurement result of each light emitting diode 21A and the power supply amount to each light emitting diode 21A at the time of the illuminance measurement as information on the power supply amount. Based on the display contents, the operator can check the life of the light emitting diode 21A.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
照射手段20の発光ダイオード21Aの照度を照度計30により測定するようにしたから、発光ダイオード21Aの測定照度が適正照度にあるか否かを自動的にチェックし、そのチェック結果に基づいて発光ダイオード21Aへの給電量を調整する等により当該発光ダイオード21Aの照度を補正することができ、眼球等人体に紫外光が照射される危険性を回避して、シール剤2の硬化不良を防止する。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
Since the illuminance of the light emitting diode 21A of the irradiating means 20 is measured by the illuminance meter 30, it is automatically checked whether or not the measured illuminance of the light emitting diode 21A is at an appropriate illuminance, and the light emitting diode is based on the check result. The illuminance of the light emitting diode 21A can be corrected by adjusting the amount of power supplied to 21A, etc., avoiding the danger of irradiating the human body such as the eyeball with ultraviolet light and preventing the curing failure of the sealant 2.

照射手段20の発光ダイオード21Aと照度計30を相対的に移動させることで、少数の照度計30で多数の発光ダイオード21Aの照度をチェックできる。   By relatively moving the light emitting diode 21A and the illuminance meter 30 of the irradiating means 20, the illuminance of a large number of the light emitting diodes 21A can be checked with a small number of illuminance meters 30.

照度計30の測定結果を表示できる。   The measurement result of the illuminometer 30 can be displayed.

照度計30の測定結果から発光ダイオード21Aの寿命をチェックできる。発光ダイオード21Aの照度は当該発光ダイオード21Aへの給電量の調整等により補正できるが、この補正可能範囲から逸脱した発光ダイオード21Aについては交換の必要を警報する。これにより、発光ダイオード21Aの照度不足によって生じるおそれのあるシール剤2の硬化不良を未然に防止でき、紫外光照射装置10を用いた基板製造装置の歩留まり向上が図れるとともに製造される液晶ディスプレイの表示品質を向上させることができる。   The lifetime of the light emitting diode 21A can be checked from the measurement result of the illuminometer 30. The illuminance of the light emitting diode 21A can be corrected by adjusting the amount of power supplied to the light emitting diode 21A, etc., but the light emitting diode 21A that deviates from this correctable range is warned of the necessity of replacement. As a result, it is possible to prevent the curing failure of the sealing agent 2 that may occur due to insufficient illuminance of the light emitting diode 21A, thereby improving the yield of the substrate manufacturing apparatus using the ultraviolet light irradiation device 10 and displaying the liquid crystal display to be manufactured. Quality can be improved.

尚、紫外光照射装置10は、図4に示す如く、ステージ13上のY方向に沿う位置で、発光ダイオードユニット21のY方向長さより長い範囲に断面矩形状の棒状ガラス(ガラスレンズ)31を横置きし、ガラス31の左右両端(又は片端)に照度計30(左右の照度計30A、30B)を配置しても良い。発光ダイオードユニット21をガラス31の直上に位置付け、発光ダイオードユニット21の任意の発光ダイオード21Aを点灯させたとき、当該発光ダイオード21Aから照射され棒状ガラス31内を図4に矢印で示すように反射しながら棒状ガラス31の左右両端に導かれる光を照度計30で検出することで、当該発光ダイオード21Aの照度を測定できる。   As shown in FIG. 4, the ultraviolet light irradiation device 10 has a rod-shaped glass (glass lens) 31 having a rectangular cross section in a range longer than the length of the light emitting diode unit 21 in the Y direction on the stage 13. The illuminance meter 30 (left and right illuminance meters 30A and 30B) may be disposed horizontally and on both left and right ends (or one end) of the glass 31. When the light emitting diode unit 21 is positioned immediately above the glass 31 and any light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 is turned on, the light is emitted from the light emitting diode 21A and the inside of the rod-shaped glass 31 is reflected as indicated by an arrow in FIG. However, the illuminance of the light emitting diode 21 </ b> A can be measured by detecting the light guided to the left and right ends of the rod-shaped glass 31 with the illuminometer 30.

照射手段20の各発光ダイオード21Aからの照射光をガラス31経由で照度計30A、30Bに導き、各発光ダイオード21Aの照度を測定できる。各発光ダイオード21Aから照度計30A、30Bに至る紫外光の透過距離La、Lbと、照度計30A、30Bにより各透過距離La、Lbに対応して受光すべき適正受光量を予め求めておき、照度計30A、30Bによる各発光ダイオード21Aの測定照度を適正受光量と比較することで、当該発光ダイオード21Aの照度を補正することができる。   Irradiation light from each light emitting diode 21A of the irradiation means 20 can be guided to the illuminance meters 30A and 30B via the glass 31, and the illuminance of each light emitting diode 21A can be measured. The ultraviolet light transmission distances La and Lb from the light emitting diodes 21A to the illuminance meters 30A and 30B and the appropriate light reception amounts to be received corresponding to the transmission distances La and Lb by the illuminance meters 30A and 30B are obtained in advance. The illuminance of the light emitting diode 21A can be corrected by comparing the measured illuminance of each light emitting diode 21A by the illuminance meters 30A and 30B with the appropriate amount of received light.

また、紫外光照射装置10は、図5に示す如く、照射手段20の発光ダイオードユニット21の下方にて該発光ダイオードユニット21に重なるように配置される移動治具32に照度計30を設け、この移動治具32を発光ダイオードユニット21の下方でXY方向に移動可能にするものでも良い。移動治具32をX方向に移動して照度計30を発光ダイオードユニット21の下方に位置付けた状態で、移動治具32をY方向に移動させ、照度計30を任意の発光ダイオード21Aの直下に位置付け、当該発光ダイオード21Aの照度を測定できる。移動治具32に複数個の照度計30を設けても良い。また、複数個の移動治具32を設けても良い。   Further, as shown in FIG. 5, the ultraviolet light irradiation device 10 is provided with an illuminometer 30 on a moving jig 32 arranged to overlap the light emitting diode unit 21 below the light emitting diode unit 21 of the irradiation means 20. The moving jig 32 may be movable below the light emitting diode unit 21 in the XY directions. In a state where the moving jig 32 is moved in the X direction and the illuminance meter 30 is positioned below the light emitting diode unit 21, the moving jig 32 is moved in the Y direction so that the illuminance meter 30 is directly below the arbitrary light emitting diode 21A. The illuminance of the light emitting diode 21A can be measured. A plurality of illuminance meters 30 may be provided on the moving jig 32. A plurality of moving jigs 32 may be provided.

(E)照射手段20の照度分布(図6〜図9)
紫外光照射装置10は、照射手段20の照度のばらつきを小さく、かつ照射手段20の照射光が基板1において必要最小照度以上の照度を確保し得るように、照射手段20の発光ダイオードユニット21を以下の如くに構成する。
(E) Illuminance distribution of the irradiation means 20 (FIGS. 6 to 9)
The ultraviolet light irradiation apparatus 10 reduces the illuminance variation of the irradiation unit 20 and the light emitting diode unit 21 of the irradiation unit 20 so that the irradiation light of the irradiation unit 20 can secure an illuminance exceeding the necessary minimum illuminance on the substrate 1. The configuration is as follows.

(1)発光ダイオードユニット21の各発光ダイオード21Aの照度分布を求める。まず、発光ダイオード21Aを照度計30の中心に同軸配置し、発光ダイオード21Aと照度計30の距離Hを変化させたときの照度Lを照度計30により測定し、図6(B)を得る。図6(B)より、照射手段20の必要最小照度L0を越える一定の基準照度Laに対応する基準距離Haを発光ダイオード21A毎に求める。   (1) The illuminance distribution of each light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 is obtained. First, the light emitting diode 21A is coaxially arranged at the center of the illuminance meter 30, and the illuminance L when the distance H between the light emitting diode 21A and the illuminance meter 30 is changed is measured by the illuminance meter 30 to obtain FIG. From FIG. 6B, a reference distance Ha corresponding to a certain reference illuminance La exceeding the necessary minimum illuminance L0 of the irradiating means 20 is obtained for each light emitting diode 21A.

次に、発光ダイオード21Aと照度計30の距離Hを上述の基準距離Haに保ち、発光ダイオード21Aを照度計30の中心に対する横方向に移動させ、各横方向移動距離と照度Lとの関係を照度計30により測定し、当該発光ダイオード21Aの図7に示す如くの照度分布Aを求める。相隣る他の発光ダイオード21Aについても、同様に照度分布Bを求める。   Next, the distance H between the light emitting diode 21A and the illuminance meter 30 is maintained at the reference distance Ha described above, the light emitting diode 21A is moved in the lateral direction with respect to the center of the illuminance meter 30, and the relationship between each lateral movement distance and the illuminance L is as follows. Measured by the illuminance meter 30, the illuminance distribution A of the light emitting diode 21A as shown in FIG. 7 is obtained. Similarly, the illuminance distribution B is obtained for the other adjacent light emitting diodes 21A.

(2)相隣る発光ダイオード21Aを隣り合わせピッチPで隣り合わせし、各発光ダイオード21Aの照度分布A、Bを重ね合わせたときの、それらの図8に示す如くの合成照度分布Zを求める。図8の合成照度分布Zより、相隣る発光ダイオード21Aの隣り合わせピッチPを、相隣る発光ダイオード21A間における合成照度の最小値が必要最小照度L0以上になるピッチPaに定める。つまりこれにより、相隣る発光ダイオード21Aの各個の照度、つまり各発光ダイオード21Aの光軸上に位置する基板面での照度Lが互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度、詳細には相隣る発光ダイオード21A間における合成照度の最小値が必要最小照度L0以上になる距離Ha、及びピッチPaに定められる。この(1)、(2)の作業は、各発光ダイオード21Aについて実験等にて事前に行なう。そして、この実験にて定められたピッチPaを有し、かつ発光ダイオード21A毎に求めたHaの差分だけ上下方向における取り付け位置をずらし、結果的に図2に示したよう発光ダイオードユニット21を製作する。   (2) Adjacent light emitting diodes 21A are adjacent to each other at the adjacent pitch P, and a combined illuminance distribution Z as shown in FIG. 8 is obtained when the illuminance distributions A and B of the respective light emitting diodes 21A are overlapped. From the combined illuminance distribution Z of FIG. 8, the adjacent pitch P of the adjacent light emitting diodes 21A is determined to be a pitch Pa at which the minimum value of the combined illuminance between the adjacent light emitting diodes 21A is not less than the required minimum illuminance L0. That is, as a result, the illuminance of each individual light emitting diode 21A, that is, the illuminance L on the substrate surface located on the optical axis of each light emitting diode 21A is substantially equal to each other, and their combined illuminance, more specifically, The minimum value of the combined illuminance between adjacent light emitting diodes 21A is determined to be a distance Ha and a pitch Pa at which the minimum required illuminance L0 is equal to or greater. The operations (1) and (2) are performed in advance for each light-emitting diode 21A through an experiment or the like. Then, the mounting position in the vertical direction is shifted by the difference of Ha obtained for each light emitting diode 21A with the pitch Pa determined in this experiment, and as a result, the light emitting diode unit 21 is manufactured as shown in FIG. To do.

尚、一般に発光ダイオード21Aの基板1面での照度分布は、発光ダイオード21Aと基板1との距離が近ければ高く急峻に、遠ければ低くなだらかになるので、相隣る発光ダイオード21Aの照度分布A、Bが図9に示す如くの差を有するものであるとき、各発光ダイオード21Aと基板1の距離を変えることでその差を小さくできる。   In general, the illuminance distribution on the surface of the substrate 1 of the light-emitting diode 21A is high and steep when the distance between the light-emitting diode 21A and the substrate 1 is short, and becomes gentle when the distance is long. Therefore, the illuminance distribution A of adjacent light-emitting diodes 21A , B has a difference as shown in FIG. 9, the difference can be reduced by changing the distance between each light emitting diode 21 </ b> A and the substrate 1.

上述の要領で、図2に示すような発光ダイオードユニット21の各発光ダイオード21Aの配列を想定して、各発光ダイオード21Aの基板に対する距離Ha及び相隣る発光ダイオード21A同士の隣り合わせピッチPaを決定する。   As described above, assuming the arrangement of the light emitting diodes 21A of the light emitting diode unit 21 as shown in FIG. 2, the distance Ha to the substrate of each light emitting diode 21A and the adjacent pitch Pa between the adjacent light emitting diodes 21A are determined. To do.

尚、発光ダイオードユニット21の各発光ダイオード21Aの製造誤差による照度分布のバラツキが許容される範囲内にあり個別に照度分布を求める必要がない場合には、1つの発光ダイオード21Aにつき照度分布を求め、他の発光ダイオード21Aについては求めた照度分布と同じ照度分布と見做しても良い。   In the case where variations in the illuminance distribution due to manufacturing errors of the respective light emitting diodes 21A of the light emitting diode unit 21 are within an allowable range and there is no need to obtain the illuminance distribution individually, the illuminance distribution is obtained for each light emitting diode 21A. The other light emitting diodes 21A may be regarded as the same illuminance distribution as the obtained illuminance distribution.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
照射手段20を構成するように相隣る発光ダイオード21Aの各個が基板1に対する距離、及びそれらの隣り合わせピッチPを、相隣る発光ダイオード21Aの各個の照度Lが互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度Lが必要最小照度L0以上になる距離Ha、及びピッチPaに定めることにより、各発光ダイオードの照度Lのバラツキをなくし、しかも必要最小照度L0を確保でき、紫外光のエネルギを基板1上の各所のシール剤2に均一に照射し、各所のシール剤2を均一にかつ確実に硬化されることができる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
The light emitting diodes 21A adjacent to each other so as to constitute the irradiating means 20 have a distance to the substrate 1 and their adjacent pitch P, and the illuminances L of the light emitting diodes 21A adjacent to each other are substantially equal to each other, and By setting the distance Ha and the pitch Pa so that the combined illuminance L becomes equal to or more than the necessary minimum illuminance L0, variations in the illuminance L of each light-emitting diode can be eliminated, and the necessary minimum illuminance L0 can be secured, and the energy of ultraviolet light can be obtained. By uniformly irradiating the sealant 2 at the various places above, the sealant 2 at the various places can be uniformly and reliably cured.

従って、シール剤2の不均一な硬化に起因する封入部からの液晶のもれ、気体の侵入が防止でき、液晶ディスプレイの品質並びに信依性を向上させることができる。   Therefore, the liquid crystal leaks from the encapsulating portion due to the uneven curing of the sealant 2 and gas can be prevented from entering, and the quality and reliability of the liquid crystal display can be improved.

(F)照射手段20のパルス点灯(図10)
紫外光照射装置10は、照射手段20の発光ダイオード21Aを、図10に示す如く、パルス点灯させる。即ち、発光ダイオード21Aのオンにより紫外光が照射されると、シール剤2を構成する樹脂内に励起状態の物質が生成される。シール剤2の樹脂内に励起状態の物質が生成されると、樹脂内で励起状態の物質とそうでない物質が反応を起こし、樹脂の硬化が開始される。物質の励起エネルギが十分になる時間で発光ダイオード21Aをオフすると、励起エネルギが減衰するため樹脂の硬化反応が停止に向かうが、既に励起状態とされた物質の励起エネルギが消失するまで硬化反応は進む。次に硬化反応が停止しないうちに発光ダイオード21Aを再オンさせる。これにより、硬化反応が停止する前に励起状態の物質が再生成され、硬化反応は止まることなく進行する。
(F) Pulse lighting of the irradiation means 20 (FIG. 10)
The ultraviolet light irradiation device 10 turns on the light emitting diode 21A of the irradiation means 20 in a pulsed manner as shown in FIG. That is, when ultraviolet light is irradiated by turning on the light emitting diode 21 </ b> A, an excited substance is generated in the resin constituting the sealing agent 2. When a substance in an excited state is generated in the resin of the sealant 2, the substance in the excited state reacts with a substance that is not in the resin, and the curing of the resin is started. If the light emitting diode 21A is turned off in a time when the excitation energy of the substance is sufficient, the excitation energy is attenuated and the resin curing reaction is stopped. However, the curing reaction is not performed until the excitation energy of the already excited substance disappears. move on. Next, before the curing reaction stops, the light emitting diode 21A is turned on again. Thereby, the substance in the excited state is regenerated before the curing reaction stops, and the curing reaction proceeds without stopping.

ここで、発光ダイオード21Aによる照射光は、シール剤2の深層部ほど到達し難くなるので、発光ダイオード21Aのパルス点灯のオン(ON)時間を経過時間に伴い増加させても良い。このとき、パルス点灯のオフ(OFF)時間を反対に減少させるようにしても良い。   Here, since the light emitted from the light emitting diode 21A is less likely to reach the deeper portion of the sealant 2, the pulse lighting on (ON) time of the light emitting diode 21A may be increased with the elapsed time. At this time, the OFF time of pulse lighting may be decreased on the contrary.

また、パルス点灯のオン(ON)時間を予め設定した基準時間から、設定時間Δtずつ例えば5段階で増加させた後、また基準時間に戻して前記5段階で増加させるといった動作を繰り返すようにしても良い。このときにも、パルス点灯のオフ(OFF)時間を基準時間に対する時間の増加分ずつ減少させるようにしても良い。   Further, the pulse lighting on (ON) time is increased from the preset reference time by the set time Δt, for example, in five steps, and then returned to the reference time and increased in the five steps. Also good. Also at this time, the OFF time of pulse lighting may be decreased by increments of time with respect to the reference time.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
照射手段20の発光ダイオード21Aに間欠的に給電し発光ダイオード21Aをパルス点灯させることにより、シール剤2の樹脂内に硬化反応を進行させるに十分な励起状態の物質を起こすに必要なだけのエネルギをもつ紫外光を短時間だけシール剤2に照射し、励起状態の物質と他の物質との反応により硬化反応を進行させ、その後励起状態の物質がなくなる前に再度、励起状態の物質を起こすに必要なだけのエネルギをもつ紫外光を短時間だけシール剤2に照射することを繰り返す。照射手段20を常時点灯させることがないから、エネルギを有効に利用でき、かつシール剤2を十分に硬化させることができる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
Energy required to cause a substance in an excited state sufficient to advance the curing reaction in the resin of the sealant 2 by intermittently supplying power to the light emitting diode 21A of the irradiating means 20 and pulsing the light emitting diode 21A. The sealant 2 is irradiated with ultraviolet light having a short time, and the curing reaction is caused to proceed by the reaction between the excited substance and another substance, and then the excited substance is generated again before the excited substance disappears. Repeatedly irradiating the sealant 2 with ultraviolet light having energy required for the short time. Since the irradiation means 20 is not always lit, energy can be used effectively and the sealing agent 2 can be sufficiently cured.

発光ダイオード21Aは、瞬間的には大きな電流を流すことができるため、パルス点灯により常時点灯を上回る照度を得ることができる。このため、励起状態の物質をより多く生成することができ、結果としてシール剤2の硬化速度は早くなる。また、常時点灯方式に比して、シール剤2の表面層だけが固まってしまうというようなことが防止され、反応が進行しても未反応の物質を残すことがなく、完全な反応が起こり、シール剤2の十分な硬化が可能になる。これにより、紫外光照射装置10を用いた基板製造装置にて製造される液晶ディスプレイの表示品質を向上させることができる。   Since the light emitting diode 21A can flow a large current instantaneously, it is possible to obtain an illuminance higher than that of the constant lighting by pulse lighting. For this reason, more substances in an excited state can be generated, and as a result, the curing rate of the sealant 2 is increased. Further, as compared with the constant lighting method, only the surface layer of the sealant 2 is prevented from being hardened, and even if the reaction proceeds, no unreacted substance is left and a complete reaction occurs. , Sufficient curing of the sealant 2 becomes possible. Thereby, the display quality of the liquid crystal display manufactured with the board | substrate manufacturing apparatus using the ultraviolet light irradiation apparatus 10 can be improved.

また、上述により基板1に対する紫外光の照射時間を必要最小限に留めることができるので、シール剤2が存在する部分のみならず基板1における液晶封入部に対する紫外光の照射時間を少なくすることができるので、紫外光の照射に起因する液晶の変質や基板の回路の損傷等の不具合をより確実に防止することができ、基板製造装置の製造歩留まり及び製造される液晶ディスプレイの表示品質をより一層向上させることが可能になる。   Moreover, since the irradiation time of the ultraviolet light with respect to the board | substrate 1 can be kept to the minimum necessary by the above-mentioned, not only the part in which the sealing agent 2 exists but the irradiation time of the ultraviolet light with respect to the liquid crystal enclosure part in the board | substrate 1 may be reduced. As a result, it is possible to more reliably prevent defects such as deterioration of the liquid crystal and damage to the circuit of the substrate due to the irradiation of ultraviolet light, and further improve the manufacturing yield of the substrate manufacturing apparatus and the display quality of the manufactured liquid crystal display. It becomes possible to improve.

(G)照射手段20の照射光の集光(図11、図12)
紫外光照射装置10は、照射手段20の発光ダイオード21Aからの照射光を集光させて基板1のシール剤2に照射する手段として、例えば反射板41、レンズ42、43を有する。
(G) Condensing of the irradiation light of the irradiation means 20 (FIGS. 11 and 12)
The ultraviolet light irradiation apparatus 10 includes, for example, a reflection plate 41 and lenses 42 and 43 as means for condensing the irradiation light from the light emitting diode 21 </ b> A of the irradiation means 20 and irradiating the sealing agent 2 of the substrate 1.

図11(A)、(B)は、発光ダイオードユニット21の両側縁に反射板41を設け、発光ダイオードユニット21からの照射光の散乱光部分を基板1のシール剤2に向けて集光したものである。尚、図11(A)、(B)の例は、図1の例とは異なり、発光ダイオードユニット21を、基板全域を網羅するように平行配置したものである。   11A and 11B, reflectors 41 are provided on both side edges of the light emitting diode unit 21, and the scattered light portion of the irradiation light from the light emitting diode unit 21 is condensed toward the sealing agent 2 of the substrate 1. Is. 11A and 11B differs from the example in FIG. 1 in that the light emitting diode units 21 are arranged in parallel so as to cover the entire substrate.

図12(A)は、発光ダイオードユニット21の直下にレンズ42を配置したものである。レンズ42は横断面の凸面を発光ダイオードユニット21の側に、平面を基板1の側に向けたものであり、発光ダイオードユニット21からの照射光は基板1に向けて拡散するため、シール剤2に対し必要最小照度以上の照度となるように、発光ダイオードユニット21と基板1の距離、発光ダイオードユニット21とレンズ42の距離を定める。   In FIG. 12A, a lens 42 is disposed immediately below the light emitting diode unit 21. The lens 42 has a convex surface in the cross section facing the light emitting diode unit 21 and a flat surface facing the substrate 1, and the irradiation light from the light emitting diode unit 21 diffuses toward the substrate 1. The distance between the light emitting diode unit 21 and the substrate 1 and the distance between the light emitting diode unit 21 and the lens 42 are determined so that the illuminance is higher than the minimum necessary illuminance.

図12(B)は、発光ダイオードユニット21の直下にレンズ43を配置したものである。レンズ43は横断面の平面を発光ダイオードユニット21の側に、凸面を基板1の側に向けたものであり、発光ダイオードユニット21からの照射光は集中するため、基板1上で集中した光がシール剤2の幅より狭くならないように、発光ダイオードユニット21と基板1の距離、発光ダイオードユニット21とレンズ43の距離を定める。   In FIG. 12B, a lens 43 is arranged immediately below the light emitting diode unit 21. The lens 43 has a cross-sectional plane directed to the light emitting diode unit 21 side and a convex surface directed to the substrate 1 side. Since the irradiation light from the light emitting diode unit 21 is concentrated, the light concentrated on the substrate 1 is concentrated. The distance between the light emitting diode unit 21 and the substrate 1 and the distance between the light emitting diode unit 21 and the lens 43 are determined so as not to be narrower than the width of the sealant 2.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
照射手段20の発光ダイオード21Aからの照射光を集光させてシール剤2に照射することにより、シール剤2に対する照度を向上し、エネルギの利用効率を向上できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
By condensing the irradiation light from the light emitting diode 21A of the irradiation means 20 and irradiating the sealing agent 2, the illuminance with respect to the sealing agent 2 can be improved and the energy utilization efficiency can be improved.

図13は紫外光照射装置10の変形例であり、照射手段20を旋回アーム50に支持し、照射手段20をステージ13上の基板1に対して平行に保ちながら、回転させて移動させるようにしたものである。   FIG. 13 shows a modification of the ultraviolet light irradiation apparatus 10, in which the irradiation means 20 is supported by the turning arm 50, and the irradiation means 20 is rotated and moved while being kept parallel to the substrate 1 on the stage 13. It is a thing.

この紫外光照射装置10は、(B)照射手段20の照射位置の制御で説明した照射手段20と同様に、シール剤位置検出ユニット22を発光ダイオードユニット21に平行して配置する。この発光ダイオードユニット21とシール剤位置検出ユニット22は、旋回アーム50に対して水平方向(矢印方向)にスライド自在に設ける。これにより、発光ダイオードユニット21の平面視における中央位置(スライド方向巾の中央位置)と、シール剤位置検出ユニット22の平面視における中央位置とをそれぞれ旋回アーム50の回転中心に一致するように移動させることを可能とする。   In the ultraviolet light irradiation device 10, the sealant position detection unit 22 is arranged in parallel with the light emitting diode unit 21 in the same manner as the irradiation unit 20 described in (B) Control of the irradiation position of the irradiation unit 20. The light emitting diode unit 21 and the sealant position detection unit 22 are provided so as to be slidable in the horizontal direction (arrow direction) with respect to the turning arm 50. As a result, the center position of the light emitting diode unit 21 in the plan view (the center position of the width in the sliding direction) and the center position of the sealant position detection unit 22 in the plan view are moved to coincide with the rotation center of the swivel arm 50. It is possible to make it.

そして、シール剤2の位置情報(実測情報)を取得するときには、まず、シール剤位置検出ユニット22の中央位置を旋回アーム50の回転中心に一致させる。この状態で、シール剤位置検出ユニット22を旋回アーム50にて基板1上で回転させ、シール剤位置検出ユニット22の受光ユニット22Bの受光量がシール剤2「有」を示したときの、その受光ユニット22Bの上記回転中心(中央位置)を基準とした長手方向の取り付け位置と旋回アーム50の回転角度とから、シール剤2の位置情報を上記回転中心を原点位置とした座標系に関する位置情報として実測する。   When acquiring the position information (actual measurement information) of the sealing agent 2, first, the center position of the sealing agent position detection unit 22 is matched with the rotation center of the turning arm 50. In this state, the sealant position detection unit 22 is rotated on the substrate 1 by the swing arm 50, and the amount of light received by the light receiving unit 22B of the sealant position detection unit 22 indicates that the sealant 2 is “present”. Position information regarding the coordinate system with the position information of the sealant 2 as the origin position, based on the attachment position in the longitudinal direction with respect to the rotation center (center position) of the light receiving unit 22B and the rotation angle of the swivel arm 50. Measured as

基板1間のシール剤2に紫外光を照射するときには、発光ダイオードユニット21の中央位置を旋回アーム50の回転中心に一致させる。そして、上述で取得した実測情報に基づいて、旋回アーム50による照射手段20の回転移動中にシール剤2の存在位置に到達した発光ダイオード21Aを点灯させる。   When irradiating the sealing agent 2 between the substrates 1 with ultraviolet light, the center position of the light emitting diode unit 21 is made to coincide with the rotation center of the turning arm 50. Then, based on the actual measurement information acquired above, the light emitting diode 21A that has reached the position where the sealant 2 is present is turned on during the rotational movement of the irradiation means 20 by the swing arm 50.

この紫外光照射手段10によれば、照射手段20が備える発光ダイオード21Aの個数を少なくしながら、基板1の広範囲に渡るシール剤2に紫外光を照射できる。   According to the ultraviolet light irradiation means 10, ultraviolet light can be irradiated to the sealing agent 2 over a wide range of the substrate 1 while reducing the number of light emitting diodes 21 </ b> A included in the irradiation means 20.

図14、図15は紫外光照射装置10の変形例であり、シール剤位置検出ユニット22の照射ユニット22Aと受光ユニット22Bを透過型としたものである。即ち、照射ユニット22Aを発光ダイオードユニット21の一側縁に設けるとともに(図16)、受光ユニット22Bをステージ13のガラス板13Aの下側中空部13Bに配置し、この受光ユニット22Bの両端部を左右の高さ調整手段17の昇降板17Cに支持したものである。シール剤位置検出ユニット22は、照射ユニット22Aからの照射光を上下のガラス基板1、ステージ13のガラス板13Aに透過させて受光ユニット22Bで受光するものであり、制御装置25は、その光路中におけるシール剤2の有無による受光ユニット22Bの受光量の差からシール剤2の有無を検出する。   14 and 15 show modifications of the ultraviolet light irradiation device 10 in which the irradiation unit 22A and the light receiving unit 22B of the sealant position detection unit 22 are transmissive. That is, the irradiation unit 22A is provided at one side edge of the light emitting diode unit 21 (FIG. 16), and the light receiving unit 22B is disposed in the lower hollow portion 13B of the glass plate 13A of the stage 13, and both ends of the light receiving unit 22B are disposed. It is supported by a lifting plate 17C of the left and right height adjusting means 17. The sealant position detection unit 22 transmits the irradiation light from the irradiation unit 22A through the upper and lower glass substrates 1 and the glass plate 13A of the stage 13, and receives the light by the light receiving unit 22B. The presence or absence of the sealant 2 is detected from the difference in the amount of light received by the light receiving unit 22B depending on the presence or absence of the sealant 2 in FIG.

尚、この場合、ステージ13の中空部13B内に照射手段20と対向するように他の照射手段を設け、照射手段20による紫外光の点灯に合わせて他の照射手段を点灯させるようにしても良い。このように構成することで、紫外光をシール剤2に基板1の上下両側から同時に照射することができ、シール剤2の硬化を効率良くかつ確実に行なうことができ、これによっても、基板製造装置の製造歩留まりの向上、及び製造される液晶ディスプレイの表示品質の向上を図ることが可能となる。   In this case, another irradiating means is provided in the hollow portion 13B of the stage 13 so as to face the irradiating means 20, and the other irradiating means is turned on in accordance with the lighting of the ultraviolet light by the irradiating means 20. good. By configuring in this way, ultraviolet light can be simultaneously applied to the sealing agent 2 from both the upper and lower sides of the substrate 1, and the curing of the sealing agent 2 can be performed efficiently and reliably. It is possible to improve the manufacturing yield of the device and the display quality of the manufactured liquid crystal display.

以上、本発明の実施例を図面により詳述したが、本発明の具体的な構成はこの実施例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。   The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration of the present invention is not limited to this embodiment, and even if there is a design change or the like without departing from the gist of the present invention. It is included in the present invention.

例えば、上記実施例において、シール剤を硬化させるときに、紫外光の照射手段を基板上で移動させる例で説明したが、これに限らず、照射手段を固定配置とし、基板を移動、或いは照射手段と基板双方を移動させるようにしても良い。   For example, in the above embodiment, the example in which the ultraviolet light irradiation means is moved on the substrate when the sealant is cured has been described. However, the present invention is not limited thereto, and the irradiation means is fixedly arranged to move or irradiate the substrate. You may make it move both a means and a board | substrate.

また、紫外光の発光ダイオードを、基板全域を網羅するように行列配置し、基板のシール剤に対する発光ダイオードを点灯させることにより、基板間のシール剤に対して同時に紫外光を照射してシール剤を硬化させるようにしても良い。   Also, ultraviolet light emitting diodes are arranged in a matrix so as to cover the entire area of the substrate, and the light emitting diodes for the substrate sealing agent are turned on to simultaneously irradiate the sealing agent between the substrates with ultraviolet light to seal the sealing agent. May be cured.

また、シール剤の塗布パターンに合わせて発光ダイオードを配列した発光ダイオードユニットをシール剤の塗布パターン毎に用意しておき、シール剤の塗布パターンが代わる度に、発光ダイオードユニットをシール剤の塗布パターンに対応するものに交換するようにしても良い。   In addition, a light emitting diode unit in which light emitting diodes are arranged according to the sealing agent coating pattern is prepared for each sealing agent coating pattern, and each time the sealing agent coating pattern is changed, the light emitting diode unit is replaced with the sealing agent coating pattern. You may make it replace | exchange for the thing corresponding to.

(実施例2)(図17〜図25)
図17〜図19に示す基板製造装置を構成する紫外光照射装置10は、実施例1におけると同様に、2枚のガラス基板1を貼り合わせたシール材2に紫外光を照射してこれを硬化させる。
Example 2 (FIGS. 17 to 25)
The ultraviolet light irradiation apparatus 10 constituting the substrate manufacturing apparatus shown in FIGS. 17 to 19 irradiates the sealing material 2 bonded with two glass substrates 1 with ultraviolet light, as in the first embodiment. Harden.

紫外光照射装置10は、基板支持ユニット60を有する。基板支持ユニット60は、不図示の昇降装置により昇降せしめられるリフトピン61を有し、ロボットアームとの間で受け渡しされる基板1をリフトピン6の上端支持部62に支持し、後述する下照射手段20Aに搬入/搬出可能にする。基板支持ユニット60は、リフトピン61の上端支持部62に、基板1を吸着する真空吸着部を設けても良い。   The ultraviolet light irradiation device 10 includes a substrate support unit 60. The substrate support unit 60 includes lift pins 61 that can be lifted and lowered by a lifting device (not shown). The substrate support unit 60 supports the substrate 1 transferred to and from the robot arm on an upper end support portion 62 of the lift pins 6, and lower irradiation means 20A described later. To be able to carry in / out. The substrate support unit 60 may be provided with a vacuum suction portion that sucks the substrate 1 at the upper end support portion 62 of the lift pin 61.

紫外光照射装置10は、基板支持ユニット60に支持される基板1の下部に下照射手段20Aを、上部に上照射手段20Bを設けてある。   The ultraviolet light irradiation apparatus 10 is provided with a lower irradiation means 20A at the lower part of the substrate 1 supported by the substrate support unit 60 and an upper irradiation means 20B at the upper part.

下照射手段20Aは、基台11(不図示)の上の支持台12(XYテーブルでも可)(不図示)の上に設けられるステージ13の上に設置させる。下照射手段20Aは、ステージ13の上に固定される取付基台70の上に発光ダイオードユニット21を設けてある。発光ダイオードユニット21は、図17〜図19に示す如く、紫外光の発光ダイオード21A(UV-LED)を、例えば格子配列(千鳥配列でも可)により多数配列して備える。発光ダイオードユニット21は、紫外光照射装置10が適用される最大サイズの基板1の全面に相対する面積をもち、実施例1の制御装置25を用いて例えば前述のシール剤位置検出ユニット22が検出した、基板1のシール剤2の側に向けて紫外光を照射する発光ダイオード21Aだけを点灯可能にする。   The lower irradiation means 20A is installed on a stage 13 provided on a support base 12 (which may be an XY table) (not shown) on a base 11 (not shown). The lower irradiation means 20 </ b> A includes a light emitting diode unit 21 on an attachment base 70 fixed on the stage 13. As shown in FIGS. 17 to 19, the light emitting diode unit 21 includes a large number of ultraviolet light emitting diodes 21 </ b> A (UV-LEDs) arranged in, for example, a lattice arrangement (or a zigzag arrangement). The light emitting diode unit 21 has an area opposite to the entire surface of the substrate 1 of the maximum size to which the ultraviolet light irradiation device 10 is applied, and is detected by, for example, the above-described sealant position detection unit 22 using the control device 25 of the first embodiment. Only the light emitting diode 21A that irradiates the ultraviolet light toward the sealing agent 2 side of the substrate 1 can be turned on.

下照射手段20Aにおいて、発光ダイオードユニット21は、発光ダイオード21Aのための取付台71を有し、この取付台71を取付基台70の上に固定し、発光ダイオード21Aを取付台71に対し着脱自在にする。ここで、発光ダイオード21Aは、図20に示す如く、LED素子21B、LED素子21Bに接続されるLED制御部21C、LED素子21Bを被覆する石英等の透明ブロック21D、LED制御部21Cに設けられる端子21Eを有する。取付台71は、図19に示す如く、発光ダイオード21Aの配列位置のそれぞれに端子71Aを備え、発光ダイオード21Aの端子21Eを取付台71の端子71Aに着脱自在にする。発光ダイオード21AはLED制御部21Cと透明ブロック21Dからなる外郭を四角柱状にし、取付台71は、発光ダイオード21Aの配列位置を仕切る仕切り壁71Bを有し、仕切り壁71Bが囲む四角孔状の取付孔71Cに発光ダイオード21A(LED制御部21Cと透明ブロック21D)を挿着し、取付孔71Cの底面の端子71Aに発光ダイオード21Aの端子21Eを係着可能にするとともに、発光ダイオード21Aの上端面を仕切り壁71Bの上端面に面一にする。これにより、発光ダイオード21Aの上面は、仕切り壁71Bの上端面とともに、基板1の支持面を形成する。発光ダイオード21Aの端子21Eは制御装置25に接続される。尚、図17、図18では、取付台71の端子71A、仕切り壁71Bを不図示としている。   In the lower irradiation means 20A, the light emitting diode unit 21 has a mounting base 71 for the light emitting diode 21A. The mounting base 71 is fixed on the mounting base 70, and the light emitting diode 21A is attached to and detached from the mounting base 71. Make it free. Here, as shown in FIG. 20, the light emitting diode 21A is provided in the LED element 21B, the LED control unit 21C connected to the LED element 21B, the transparent block 21D made of quartz or the like covering the LED element 21B, and the LED control unit 21C. A terminal 21E is provided. As shown in FIG. 19, the mounting base 71 includes terminals 71 </ b> A at each of the arrangement positions of the light emitting diodes 21 </ b> A, and makes the terminals 21 </ b> E of the light emitting diodes 21 </ b> A detachable from the terminals 71 </ b> A of the mounting base 71. The light-emitting diode 21A has an outer shape made up of the LED control unit 21C and the transparent block 21D as a square pillar, and the mounting base 71 has a partition wall 71B that partitions the array positions of the light-emitting diodes 21A, and is attached in a square hole shape surrounded by the partition wall 71B. The light emitting diode 21A (the LED control unit 21C and the transparent block 21D) is inserted into the hole 71C, the terminal 21E of the light emitting diode 21A can be engaged with the terminal 71A on the bottom surface of the mounting hole 71C, and the upper end surface of the light emitting diode 21A. Is flush with the upper end surface of the partition wall 71B. Thereby, the upper surface of the light emitting diode 21A forms a support surface of the substrate 1 together with the upper end surface of the partition wall 71B. A terminal 21E of the light emitting diode 21A is connected to the control device 25. 17 and 18, the terminal 71A and the partition wall 71B of the mounting base 71 are not shown.

下照射手段20Aにおいて、取付基台70は真空吸着配管73を備える。取付台71には、この真空吸着配管73に接続される吸着管74を適宜ピッチで備え、吸着管74の上端開口を仕切り壁71Bの上端面と面一にし、基板1を吸着する真空吸着部とする。   In the lower irradiation means 20 </ b> A, the mounting base 70 includes a vacuum suction pipe 73. The mounting base 71 is provided with suction pipes 74 connected to the vacuum suction pipe 73 at an appropriate pitch, the upper end opening of the suction pipe 74 is flush with the upper end surface of the partition wall 71B, and the vacuum suction section that sucks the substrate 1 And

下照射手段20Aにおいて、取付基台70及び取付台71は基板支持ユニット60のリフトピン61のための挿通孔75、76を備える。基板支持ユニット60のリフトピン61を挿通孔75、76内で昇降し、リフトピン61の上端支持部62が取付台71の仕切り壁71Bにより囲まれている挿通孔76から突出する上昇位置で基板1をロボットアームから上端支持部62に受け渡し可能にされ、リフトピン61の上端支持部62が取付台71の挿通孔76に没入する下降位置で基板1を上端支持部62から発光ダイオード21Aの上端面及び仕切り壁71Bの上端面に受け渡し可能にする。   In the lower irradiation unit 20 </ b> A, the mounting base 70 and the mounting base 71 include insertion holes 75 and 76 for the lift pins 61 of the substrate support unit 60. The lift pins 61 of the substrate support unit 60 are moved up and down in the insertion holes 75 and 76, and the upper end support portion 62 of the lift pins 61 is lifted from the insertion hole 76 surrounded by the partition wall 71 </ b> B of the mounting base 71. The robot arm can be transferred to the upper end support portion 62, and the substrate 1 is moved from the upper end support portion 62 to the upper end surface of the light emitting diode 21A and the partition at the lowered position where the upper end support portion 62 of the lift pin 61 is inserted into the insertion hole 76 of the mounting base 71. It can be delivered to the upper end surface of the wall 71B.

上照射手段20Bは、実施例1の高さ調整手段17の昇降板17Cに発光ダイオードユニット21を設けてある。発光ダイオードユニット21は、下照射手段20Aの発光ダイオードユニット21と実質的に同様であり、紫外光の発光ダイオード21Aを多数配列して備え、取付台71に発光ダイオード21Aを着脱自在にする。   The upper irradiation means 20B is provided with a light emitting diode unit 21 on the lifting plate 17C of the height adjusting means 17 of the first embodiment. The light emitting diode unit 21 is substantially the same as the light emitting diode unit 21 of the lower irradiation means 20A, and includes a plurality of ultraviolet light emitting diodes 21A arranged so that the light emitting diode 21A can be attached to and detached from the mounting base 71.

紫外光照射装置10にあっては、下照射手段20Aを構成する発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aの上端面及び仕切り壁71Bの上端面に基板1を移載し、この基板1を吸着管74の上端吸着部に吸着した状態で、下照射手段20Aからの照射光を下基板1の側からシール剤2に照射し、及び/又は上照射手段20Bからの照射光を上基板1の側からシール剤2に照射することができる。このとき、下照射手段20A及び/又は上照射手段20Bの発光ダイオードユニット21は、基板1のシール剤2の描画位置に対応し、当該シール剤2に向けて紫外光を照射する発光ダイオード21Aだけを点灯するように制御される。例えば、基板1のシール剤2が、図21に示す如く、2つの矩形枠状に描画されて塗布されているとき、発光ダイオードユニット21上でこの2つの矩形枠に対応する発光ダイオード21Aだけを点灯する。点灯させる発光ダイオード21Aは、例えば基板の設計情報から予め取得されるシール剤2の位置情報より特定する。   In the ultraviolet light irradiation device 10, the substrate 1 is transferred to the upper end surface of the light emitting diode 21A and the upper end surface of the partition wall 71B of the light emitting diode unit 21 constituting the lower irradiation means 20A. In the state adsorbed to the upper end adsorbing portion, the irradiation light from the lower irradiation means 20A is applied to the sealing agent 2 from the lower substrate 1 side and / or the irradiation light from the upper irradiation means 20B is applied from the upper substrate 1 side. The sealing agent 2 can be irradiated. At this time, the light emitting diode unit 21 of the lower irradiation unit 20A and / or the upper irradiation unit 20B corresponds to the drawing position of the sealing agent 2 on the substrate 1 and only the light emitting diode 21A that irradiates the sealing agent 2 with ultraviolet light. Is controlled to light up. For example, when the sealing agent 2 of the substrate 1 is drawn and applied in two rectangular frames as shown in FIG. 21, only the light emitting diodes 21A corresponding to the two rectangular frames are placed on the light emitting diode unit 21. Light. The light emitting diode 21A to be lit is specified from position information of the sealing agent 2 acquired in advance from, for example, design information of the substrate.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
(a)下照射手段20A(上照射手段20Bも同じ)が基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2の位置に紫外光を照射する発光ダイオード21Aだけを点灯可能にする。従って、同一の発光ダイオードユニット21を用いながら、シール剤2の描画位置の互いに異なる基板1のそれぞれに対し、必要最小限の発光ダイオード21Aだけを点灯して直ちに必要な紫外光を照射できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
(a) The lower irradiation means 20A (the same applies to the upper irradiation means 20B) has a light emitting diode unit 21 having an area opposite to the entire surface of the substrate 1, and the light emitting diode unit 21 is irradiated with ultraviolet light at the position of the sealant 2 on the substrate 1. Only the light-emitting diode 21A that irradiates the light can be turned on. Therefore, while using the same light emitting diode unit 21, only the minimum necessary light emitting diodes 21A can be turned on and immediately irradiated with the necessary ultraviolet light with respect to each of the substrates 1 having different drawing positions of the sealant 2.

(b)発光ダイオードユニット21が最大サイズの基板品種に対応できるとき、同一の発光ダイオードユニット21を用いながら、最大サイズ以下のサイズの各種基板1に対応できる。   (b) When the light emitting diode unit 21 can cope with the substrate type of the maximum size, the same light emitting diode unit 21 can be used and various substrates 1 having a size smaller than the maximum size can be accommodated.

尚、紫外光照射装置10にあっては、下照射手段20A(上照射手段20Bも同じ)の発光ダイオードユニット21が発光ダイオード21Aを取付台71に対し着脱自在にするものであるから、図22に示す如く、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2に紫外光を照射必要とする位置にだけ発光ダイオード21Aを設けるものとしても良い。図22は、発光ダイオードユニット21の不要とされる発光ダイオード21Aを取除いた取付台71の取付孔71Cにダミーブロック77を挿着したことを示す。ダミーブロック77は、図23に示す如く、発光ダイオード21Aと実質的に同一サイズの四角柱状本体77Aと、本体77Aの下面に設けられる脚77Bを備え、本体77Aを取付孔71Cに挿着し、取付孔71Cの端子71Aに脚77Bを係着可能にする。ダミーブロック77を、発光ダイオード21の不要とされる発光ダイオード21Aを取除いた取付台71の取付孔71Cに装着することで、ダミーブロック77の上端面が、発光ダイオード21の上端面とともに基板の支持面として作用する。   In the ultraviolet light irradiation apparatus 10, the light emitting diode unit 21 of the lower irradiation means 20A (the same applies to the upper irradiation means 20B) makes the light emitting diode 21A detachable from the mounting base 71. FIG. As shown, the light emitting diode unit 21 may be provided only at a position where the light emitting diode unit 21 needs to irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light. FIG. 22 shows that the dummy block 77 is inserted into the mounting hole 71 </ b> C of the mounting base 71 from which the light emitting diode 21 </ b> A which is unnecessary for the light emitting diode unit 21 is removed. As shown in FIG. 23, the dummy block 77 includes a rectangular columnar main body 77A having substantially the same size as the light emitting diode 21A, and a leg 77B provided on the lower surface of the main body 77A, and the main body 77A is inserted into the mounting hole 71C. The leg 77B can be engaged with the terminal 71A of the mounting hole 71C. By mounting the dummy block 77 in the mounting hole 71C of the mounting base 71 from which the light emitting diode 21A unnecessary for the light emitting diode 21 is removed, the upper end surface of the dummy block 77 together with the upper end surface of the light emitting diode 21 is placed on the substrate. Acts as a support surface.

下照射手段20A及び/又は上照射手段20Bにおいて、基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21であって、図22の如くに発光ダイオード21Aを着脱自在にした発光ダイオードユニット21を用いるときには、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2の描画位置に対応し、当該シール剤2に向けて紫外光を照射必要とする位置にだけ発光ダイオード21Aを設けることができる。例えば、基板1のシール剤2が、図21に示す如く、2つの矩形枠状に描画されて塗布されているとき、図24に示す如く、発光ダイオードユニット21上でこの2つの矩形枠に対応する位置にだけ発光ダイオード21Aを設ける。   In the lower irradiation means 20A and / or the upper irradiation means 20B, a light emitting diode unit 21 having an area facing the entire surface of the substrate 1 and having the light emitting diode 21A detachable as shown in FIG. 22 is used. Sometimes, the light emitting diode unit 21 corresponds to the drawing position of the sealing agent 2 on the substrate 1, and the light emitting diode 21 </ b> A can be provided only at a position where the sealing agent 2 needs to be irradiated with ultraviolet light. For example, when the sealing agent 2 of the substrate 1 is drawn and applied in two rectangular frames as shown in FIG. 21, it corresponds to the two rectangular frames on the light emitting diode unit 21 as shown in FIG. The light emitting diode 21A is provided only at the position where it is to be.

これによれば、以下の作用効果を奏する。
(a)下照射手段20A(上照射手段20Bも同じ)が基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオード21Aを設ける。従って、必要最小限の発光ダイオード21Aだけを有してなる発光ダイオードユニット21を用いて、基板1のシール剤2に確実に紫外光を照射できる。
According to this, there exist the following effects.
(a) The lower irradiation means 20A (the same applies to the upper irradiation means 20B) has a light emitting diode unit 21 having an area facing the entire surface of the substrate 1, and the light emitting diode unit 21 irradiates the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light. The light emitting diode 21A is provided only at the required position. Therefore, it is possible to reliably irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light by using the light emitting diode unit 21 having only the minimum necessary light emitting diode 21A.

(b)下照射手段20A(上照射手段20Bも同じ)が発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21は発光ダイオード21Aのための取付台71Aを有し、発光ダイオード21Aを取付台71に対し着脱自在にする。従って、同一の発光ダイオードユニット21を用いながら、シール剤2の描画位置の異なる基板1のシール剤2に対し必要とされる発光ダイオード21Aを取着し、当該基板1のシール剤2に必要な紫外光を照射できる。   (b) The lower irradiation unit 20A (the same applies to the upper irradiation unit 20B) includes the light emitting diode unit 21. The light emitting diode unit 21 includes a mounting base 71A for the light emitting diode 21A, and the light emitting diode 21A is attached to the mounting base 71. Make it detachable. Accordingly, while using the same light emitting diode unit 21, the necessary light emitting diode 21 </ b> A is attached to the sealing agent 2 of the substrate 1 where the drawing position of the sealing agent 2 is different, and is necessary for the sealing agent 2 of the substrate 1. Can be irradiated with ultraviolet light.

尚、下照射手段20A及び/又は上照射手段20Bが基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオード21Aを設けるに際しては、発光ダイオード21Aを取付台71に対し着脱自在にすることを必須とせず、発光ダイオード21Aを取付台71の必要位置に固定配置するものでも良い。   The lower irradiating means 20A and / or the upper irradiating means 20B have a light emitting diode unit 21 having an area facing the entire surface of the substrate 1, and the light emitting diode unit 21 needs to irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light. When the light emitting diode 21A is provided only at the position where the light emitting diode 21A is provided, it is not essential that the light emitting diode 21A be detachable from the mounting base 71, and the light emitting diode 21A may be fixedly disposed at a required position of the mounting base 71.

図25は紫外光照射装置10の変形例であり、下照射手段20A(上照射手段20Bも同じ)の発光ダイオードユニット21Aを構成する取付台71が仕切り壁71Bを備えず、取付台71の端子71Aに係着されて相隣る発光ダイオード21A同士を互いに隙間なく接触させたものである。発光ダイオード21Aを取付台71に対し着脱自在にするとき、発光ダイオード21Aを取除いた取付台71の取付孔71Cにダミーブロック77が挿着可能にされる。   FIG. 25 shows a modification of the ultraviolet light irradiation apparatus 10, and the mounting base 71 constituting the light emitting diode unit 21 </ b> A of the lower irradiation means 20 </ b> A (the upper irradiation means 20 </ b> B is the same) does not include the partition wall 71 </ b> B. The light emitting diodes 21A adjacent to each other by being attached to 71A are brought into contact with each other without any gap. When the light emitting diode 21A is detachable from the mounting base 71, the dummy block 77 can be inserted into the mounting hole 71C of the mounting base 71 from which the light emitting diode 21A is removed.

(実施例3)(図26〜図28)
図26〜図28に示す基板製造装置を構成する紫外光照射装置10は、実施例1におけると同様に、2枚のガラス基板1を貼り合わせたシール剤2に紫外光を照射してこれを硬化させる。
Example 3 (FIGS. 26 to 28)
The ultraviolet light irradiation device 10 constituting the substrate manufacturing apparatus shown in FIGS. 26 to 28 irradiates the sealing agent 2 bonded with two glass substrates 1 with ultraviolet light in the same manner as in the first embodiment. Harden.

紫外光照射装置10は、基台11(不図示)の上の支持台12(XYテーブルでも可)(不図示)の上に設けられるステージ13の上に下照射手段20Aを設置する。下照射手段20Aは、ステージ13の上に固定される取付基台80に発光ダイオードユニット21を設ける。   The ultraviolet light irradiation device 10 is provided with a lower irradiation means 20A on a stage 13 provided on a support base 12 (which may be an XY table) (not shown) on a base 11 (not shown). The lower irradiation unit 20 </ b> A includes the light emitting diode unit 21 on the mounting base 80 fixed on the stage 13.

下照射手段20Aは基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21は基板1のシール剤2に紫外光を必要とする位置にだけ発光ダイオード21Aを設けている。発光ダイオードユニット21は、図27、図28に示す如く、発光ダイオード21Aのための取付台81を有し、この取付台81の取付枠81Aの内周を取付基台80の突状取付部80Aに着脱可能にする。発光ダイオードユニット21は、実施例2におけると同様に、発光ダイオード21Aを取付台81に着脱自在にする。従って、紫外光照射装置10にあっては、例えば基板1のシール剤2が、図21に示す如く、2つの矩形枠状に描画されて塗布されているとき、図28に示す如く、発光ダイオードユニット21上でこの2つの矩形枠に対応する発光ダイオード21Aを設ける。取付台81の取付枠81Aの内周を、発光ダイオードユニット21上の発光ダイオード21Aがなす矩形枠の内周に平面視で合致させる。発光ダイオードユニット21の取付台81の取付枠81Aを取付基台80の取付部80Aに挿着した状態で、発光ダイオード21Aの上端面と取付部80Aの上端面を面一にする。取付基台80は、取付部80Aの上端面に開口する真空吸着配管82を有する。   The lower irradiation means 20A has a light emitting diode unit 21 having an area opposite to the entire surface of the substrate 1, and the light emitting diode unit 21 is provided with a light emitting diode 21A only at a position where the sealing agent 2 of the substrate 1 requires ultraviolet light. Yes. The light emitting diode unit 21 has a mounting base 81 for the light emitting diode 21A as shown in FIGS. 27 and 28, and the inner periphery of the mounting frame 81A of the mounting base 81 is a protruding mounting portion 80A of the mounting base 80. Make it detachable. The light emitting diode unit 21 makes the light emitting diode 21 </ b> A detachable from the mounting base 81 as in the second embodiment. Therefore, in the ultraviolet light irradiation apparatus 10, for example, when the sealing agent 2 of the substrate 1 is drawn and applied in two rectangular frame shapes as shown in FIG. 21, as shown in FIG. On the unit 21, light emitting diodes 21A corresponding to the two rectangular frames are provided. The inner periphery of the mounting frame 81A of the mounting base 81 is matched with the inner periphery of the rectangular frame formed by the light emitting diode 21A on the light emitting diode unit 21 in plan view. With the mounting frame 81A of the mounting base 81 of the light emitting diode unit 21 inserted into the mounting portion 80A of the mounting base 80, the upper end surface of the light emitting diode 21A and the upper end surface of the mounting portion 80A are flush with each other. The mounting base 80 has a vacuum suction pipe 82 that opens to the upper end surface of the mounting portion 80A.

紫外光照射装置10にあっては、下照射手段20Aを構成する発光ダイオードユニット21の発光ダイオード21Aの上端面及び取付基台80の取付部80Aの上端面に基板1を移載し、この基板1を真空吸着配管82の上端吸着部に吸着した状態で、下照射手段20Aからの照射光を基板1のシール剤2に照射することができる。   In the ultraviolet light irradiation apparatus 10, the substrate 1 is transferred to the upper end surface of the light emitting diode 21A of the light emitting diode unit 21 and the upper end surface of the mounting portion 80A of the mounting base 80 constituting the lower irradiation means 20A. In a state where 1 is adsorbed to the upper end adsorbing portion of the vacuum adsorption pipe 82, the irradiation light from the lower irradiation means 20A can be applied to the sealing agent 2 of the substrate 1.

従って、紫外光照射装置10によれば、以下の作用効果を奏する。
下照射手段20Aが基板1の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニット21を有し、発光ダイオードユニット21が基板1のシール剤2に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオード21Aを設けた。従って、必要最小限の発光ダイオード21Aだけを有してなる発光ダイオードユニット21を用いて、基板1のシール剤2に確実に紫外光を照射できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
The lower irradiation means 20A has a light emitting diode unit 21 having an area facing the entire surface of the substrate 1, and the light emitting diode 21A is provided only at a position where the light emitting diode unit 21 needs to irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light. It was. Therefore, it is possible to reliably irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light by using the light emitting diode unit 21 having only the minimum necessary light emitting diode 21A.

(実施例4)(図29〜図32)
図29の紫外光照射装置10は、実施例2の下照射手段20Aを支持台12の上のステージ13の上から外し、下照射手段20Aの取付基台70及び取付台71を基台11(不図示)に直接支持させて固定配置するとともに、基板支持ユニット60をステージ13に支持し、結果として支持台12により基板支持ユニット60を移動し、下照射手段20Aの発光ダイオードユニット21と基板1を相対的にシール剤2の塗布巾以下の揺動ストロークで揺動可能にしたものである。下照射手段20Aの取付基台70及び取付台71に設けてある基板支持ユニット60のリフトピン61のための挿通孔75、76は、下照射手段20Aと基板1の揺動ストロークの大きさより大径孔からなるものにし、基板支持ユニット60の上述の移動を許容する。
Example 4 (FIGS. 29 to 32)
29 removes the lower irradiation means 20A of the second embodiment from the stage 13 on the support base 12, and attaches the mounting base 70 and the mounting base 71 of the lower irradiation means 20A to the base 11 ( The substrate support unit 60 is supported by the stage 13 and supported by the stage 13, and as a result, the substrate support unit 60 is moved by the support base 12, and the light emitting diode unit 21 of the lower irradiation means 20A and the substrate 1 are supported. Can be swung with a swing stroke relatively smaller than the application width of the sealant 2. The insertion holes 75 and 76 for the lift pins 61 of the substrate support unit 60 provided on the mounting base 70 and the mounting base 71 of the lower irradiation means 20A are larger in diameter than the swing stroke of the lower irradiation means 20A and the substrate 1. The substrate support unit 60 is allowed to move as described above.

図31は、下照射手段20Aの発光ダイオードユニット21を四角状揺動軌跡Aに沿って揺動し、相隣る例えば4個の発光ダイオード21Aの照射範囲をシール剤2の塗布巾内で揺動可能にし、揺動させない場合の図32、図33の如くの照度むらを解消可能にしたものである。図31〜図33において、1つの円は1個の発光ダイオード21Aによる基板1上での照射範囲を示している。図32では、相隣る4個の発光ダイオード21Aの隣合わせピッチが大きめの場合、1個の発光ダイオード21Aだけの照射域a、2個の発光ダイオード21Aによる照射位置b、無照射域nが混在することによる照度むらを生ずる。図33では、相隣る4個の発光ダイオード21Aの隣合わせピッチが小さめの場合、1個の発光ダイオード21Aだけの照射域a、2個の発光ダイオード21Aによる照射位置b、3個の発光ダイオード21Aによる照射域c、4個の発光ダイオード21Aによる照射域dが混在することによる照度むらを生ずる。   In FIG. 31, the light emitting diode unit 21 of the lower irradiation means 20A is swung along the quadrangular swing locus A, and the irradiation range of, for example, four light emitting diodes 21A adjacent to each other is swung within the coating width of the sealant 2. It is made possible to eliminate the uneven illuminance as shown in FIGS. 32 and 33 when it is movable and not rocked. In FIGS. 31 to 33, one circle indicates an irradiation range on the substrate 1 by one light emitting diode 21A. In FIG. 32, when the adjacent pitch of the four light emitting diodes 21A adjacent to each other is large, the irradiation area a of only one light emitting diode 21A, the irradiation position b of the two light emitting diodes 21A, and the non-irradiation area n are mixed. Causes uneven illumination. In FIG. 33, when the adjacent pitch of the four light emitting diodes 21A adjacent to each other is small, the irradiation area a of only one light emitting diode 21A, the irradiation position b by the two light emitting diodes 21A, and the three light emitting diodes 21A. Irradiation unevenness due to the presence of the irradiation region c by 4 and the irradiation region d by the four light emitting diodes 21A.

従って、紫外光照射装置10によれば以下の作用効果を奏する。
下照射手段20Aと基板1を相対的にシール剤2の塗布巾以下の揺動ストロークで揺動可能にする。相隣る発光ダイオード21Aの隣合わせピッチにより、基板1のシール剤2に及ぶ照度むらの発生を補償し、基板1のシール剤2を全体的に均等に照射できる。
Therefore, the ultraviolet light irradiation device 10 has the following effects.
The lower irradiation means 20 </ b> A and the substrate 1 can be relatively swung with a swing stroke equal to or less than the application width of the sealant 2. The adjacent pitch of the adjacent light emitting diodes 21A compensates for the occurrence of illuminance unevenness reaching the sealing agent 2 of the substrate 1 and can uniformly irradiate the sealing agent 2 of the substrate 1 as a whole.

尚、基板1のシール剤2に及ぶ照度むらの発生を解消する紫外光照射装置10としては、図30に示す如く、支持台12(XYテーブルでも可)の上のステージ13に設けた基板吸着台90に基板1を支持し、上照射手段20Bにより基板1のシール剤2に紫外光を照射しつつ、支持台12により基板1を移動することで、上照射手段20Bの発光ダイオードユニット21と基板1を相対的にシール剤2の塗布巾以下の揺動ストロークで揺動するものでも良い。   In addition, as shown in FIG. 30, the ultraviolet light irradiation apparatus 10 that eliminates the occurrence of uneven illuminance on the sealing agent 2 of the substrate 1 is a substrate adsorption provided on a stage 13 on a support table 12 (or an XY table is acceptable). The substrate 1 is supported on the base 90, and the substrate 1 is moved by the support base 12 while irradiating the sealing agent 2 of the substrate 1 with ultraviolet light by the upper irradiation means 20B. The substrate 1 may be relatively swung with a swing stroke that is less than or equal to the coating width of the sealant 2.

図1は実施例1の紫外光照射装置を示し、(A)は正面図、(B)は(A)のB−B線に沿う断面図である。FIG. 1: shows the ultraviolet light irradiation apparatus of Example 1, (A) is a front view, (B) is sectional drawing which follows the BB line of (A). 図2は照射手段の発光ダイオードユニットを示し、(A)は格子配列を示す斜視図、(B)は千鳥配列を示す斜視図である。2A and 2B show a light emitting diode unit of the irradiating means, in which FIG. 2A is a perspective view showing a lattice arrangement, and FIG. 2B is a perspective view showing a staggered arrangement. 図3は照射手段の発光ダイオードユニットとシール剤位置検出ユニットを示し、(A)は斜視図、(B)は平面図である。FIG. 3 shows a light emitting diode unit and a sealant position detection unit of the irradiation means, (A) is a perspective view, and (B) is a plan view. 図4は照度計の一例を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of an illuminometer. 図5は照度計の他の例を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing another example of an illuminometer. 図6は発光ダイオードの照射距離と照度の関係を示す模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram showing the relationship between the irradiation distance of the light emitting diode and the illuminance. 図7は発光ダイオードの横方向位置と照度の関係(照度分布)を示す模式図である。FIG. 7 is a schematic diagram showing the relationship (illuminance distribution) between the lateral position of the light emitting diode and the illuminance. 図8は相隣る発光ダイオードの合成照度分布を示す模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram showing a combined illuminance distribution of adjacent light emitting diodes. 図9は発光ダイオードの照射高さによる照度分布の相違を示す模式図である。FIG. 9 is a schematic diagram showing a difference in illuminance distribution depending on the irradiation height of the light emitting diode. 図10は発光ダイオードのパルス点灯と励起物質の励起エネルギを示す模式図である。FIG. 10 is a schematic diagram showing the pulse lighting of the light emitting diode and the excitation energy of the excitation substance. 図11は発光ダイオードの反射板による集光手段を示す模式図である。FIG. 11 is a schematic diagram showing light condensing means using a reflecting plate of a light emitting diode. 図12は発光ダイオードのレンズによる集光手段を示す模式図である。FIG. 12 is a schematic diagram showing light condensing means using a lens of a light emitting diode. 図13は照射手段の回転手段を示す模式図である。FIG. 13 is a schematic diagram showing the rotation means of the irradiation means. 図14は紫外光照射装置の変形例を示し、(A)は正面図、(B)は(A)のB−B線に沿う断面図である。14A and 14B show a modification of the ultraviolet light irradiation device, in which FIG. 14A is a front view and FIG. 14B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 図15は照射手段のシール剤位置検出ユニットを示す正面図である。FIG. 15 is a front view showing a sealant position detection unit of the irradiation means. 図16は照射手段の発光ダイオードユニットとシール剤位置検出ユニットを示す平面図である。FIG. 16 is a plan view showing a light emitting diode unit and a sealant position detection unit of the irradiation means. 図17は実施例2の紫外光照射装置を示す正面図である。FIG. 17 is a front view showing the ultraviolet light irradiation apparatus of the second embodiment. 図18は照射手段の発光ダイオードユニットを示す平面図である。FIG. 18 is a plan view showing a light emitting diode unit of the irradiation means. 図19は発光ダイオードユニットの要部を拡大して示し、(A)は断面図、(B)は平面図である。FIG. 19 is an enlarged view of a main part of the light emitting diode unit, where (A) is a cross-sectional view and (B) is a plan view. 図20は発光ダイオードを示し、(A)は正面図、(B)は側面図、(C)は平面図である。FIG. 20 shows a light emitting diode, (A) is a front view, (B) is a side view, and (C) is a plan view. 図21は基板のシール剤塗布パターンを示す平面図である。FIG. 21 is a plan view showing a sealing agent application pattern on the substrate. 図22は発光ダイオードユニットにおける発光ダイオード着脱状態を示す断面図である。FIG. 22 is a cross-sectional view showing a light emitting diode attached / detached state in the light emitting diode unit. 図23はダミーブロックを示し、(A)は正面図、(B)は平面図である。FIG. 23 shows a dummy block, where (A) is a front view and (B) is a plan view. 図24は図21の基板に対応する発光ダイオードユニットを示し、(A)は平面図、(B)は断面図である。24 shows a light emitting diode unit corresponding to the substrate of FIG. 21, wherein (A) is a plan view and (B) is a sectional view. 図25は発光ダイオードユニットの変形例を示す断面図である。FIG. 25 is a sectional view showing a modification of the light emitting diode unit. 図26は実施例3の紫外光照射装置を示す断面図である。FIG. 26 is a cross-sectional view illustrating the ultraviolet light irradiation apparatus according to the third embodiment. 図27は発光ダイオードユニットの取付台を取付基台から分離した状態を示す断面図である。FIG. 27 is a cross-sectional view showing a state where the mounting base of the light emitting diode unit is separated from the mounting base. 図28は発光ダイオードユニットを示す平面図である。FIG. 28 is a plan view showing the light emitting diode unit. 図29は実施例4の紫外光照射装置を示す正面図である。FIG. 29 is a front view showing the ultraviolet light irradiation apparatus of the fourth embodiment. 図30は紫外光照射装置の変形例を示す正面図である。FIG. 30 is a front view showing a modification of the ultraviolet light irradiation apparatus. 図31は発光ダイオードユニットの揺動作用を示す模式図である。FIG. 31 is a schematic view showing the swinging action of the light emitting diode unit. 図32は相隣る発光ダイオードによる照度むらを示す模式図である。FIG. 32 is a schematic diagram showing uneven illuminance due to adjacent light emitting diodes. 図33は相隣る発光ダイオードによる照度むらを示す模式図である。FIG. 33 is a schematic diagram showing illuminance unevenness due to adjacent light emitting diodes.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2 シール剤
3 液晶
10 紫外光照射装置
17 高さ調整手段
18 レーザ変位計
20 照射手段
20A 下照射手段
20B 上照射手段
21 発光ダイオードユニット
21A 発光ダイオード
22 シール剤検出ユニット
22A 照射ユニット
22B 受光ユニット
25 制御装置
30 照度計
31 ガラス
41 反射板
42、43 レンズ
50 旋回アーム
71 取付台
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Sealing agent 3 Liquid crystal 10 Ultraviolet light irradiation device 17 Height adjustment means 18 Laser displacement meter 20 Irradiation means 20A Lower irradiation means 20B Upper irradiation means 21 Light emitting diode unit 21A Light emitting diode 22 Sealing agent detection unit 22A Irradiation unit 22B Light receiving unit 25 Control device 30 Illuminance meter 31 Glass 41 Reflector 42, 43 Lens 50 Turning arm 71 Mounting base

Claims (36)

2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させる紫外光照射装置において、
紫外光の照射手段として、紫外光の発光ダイオードを用いることを特徴とする紫外光照射装置。
In an ultraviolet light irradiation apparatus that irradiates and cures ultraviolet light on a sealant bonded with two substrates,
An ultraviolet light irradiation apparatus characterized by using an ultraviolet light emitting diode as the ultraviolet light irradiation means.
基板に設けられたシール剤の位置情報を予め取得し、その位置情報により前記照射手段による紫外光の照射位置を特定する制御手段を有する請求項1に記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1, further comprising a control unit that acquires in advance position information of a sealing agent provided on the substrate and specifies an irradiation position of the ultraviolet light by the irradiation unit based on the position information. 前記照射手段と基板とを相対的に移動させる際に、照射手段と基板との距離を一定に保つ請求項1又は2に記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1, wherein the distance between the irradiation unit and the substrate is kept constant when the irradiation unit and the substrate are relatively moved. 前記照射手段と基板とを相対的に回転させて移動させる請求項1〜3のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1, wherein the irradiation unit and the substrate are moved while being relatively rotated. 前記照射手段が複数の発光ダイオードを隣り合わせてなり、相隣る発光ダイオードの各個が基板に対する距離、及びそれらの隣り合わせピッチを、相隣る発光ダイオードの各個の照度が互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度が必要最小照度以上になる距離、及びピッチに定めてなる請求項1〜4のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The irradiating means includes a plurality of light emitting diodes adjacent to each other, each of the adjacent light emitting diodes has a distance to the substrate, and their adjacent pitch, and the illuminance of each of the adjacent light emitting diodes is substantially equal to each other, and The ultraviolet light irradiation device according to any one of claims 1 to 4, wherein the combined illuminance is set to a distance and a pitch at which the combined illuminance is equal to or greater than a necessary minimum illuminance. 前記照射手段の発光ダイオードの照度を測定する照度計を備える請求項1〜5のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to any one of claims 1 to 5, further comprising an illuminance meter that measures the illuminance of a light emitting diode of the irradiation means. 前記照度計により測定した照度に基づいて、前記発光ダイオードに対する給電量を調整する手段を備える請求項6に記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 6, comprising means for adjusting a power supply amount to the light emitting diode based on illuminance measured by the illuminance meter. 前記発光ダイオードからの照射光をガラス内で反射させて照度計に導く請求項6又は7に記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 6 or 7, wherein irradiation light from the light emitting diode is reflected in glass and led to an illuminometer. 前記照射手段の発光ダイオードと照度計とを相対的に移動させる手段を備える請求項6〜8のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to any one of claims 6 to 8, further comprising means for relatively moving a light emitting diode and an illuminance meter of the irradiation means. 前記照度計の測定結果を表示させる表示手段を備える請求項6〜9のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 6, further comprising display means for displaying a measurement result of the illuminometer. 前記表示手段は、前記照度計の測定結果とともに、前記発光ダイオードに対する給電量に関する情報を表示する請求項10に記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 10, wherein the display unit displays information on a power supply amount to the light emitting diode together with a measurement result of the illuminance meter. 前記照度計の測定結果から発光ダイオードの寿命をチェックする手段を備える請求項6〜10のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to any one of claims 6 to 10, further comprising means for checking a lifetime of the light emitting diode from a measurement result of the illuminance meter. 前記照射手段の発光ダイオードをパルス点灯させる請求項1〜12のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1, wherein the light emitting diode of the irradiation unit is pulse-lit. 前記照射手段の発光ダイオードからの照射光を集光させてシール剤に照射する手段を備える請求項1〜13のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to any one of claims 1 to 13, further comprising means for condensing irradiation light from a light emitting diode of the irradiation means and irradiating the sealing agent. 前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤の位置に紫外光を照射する発光ダイオードだけを点灯可能にする請求項1〜14のいずれかに記載の紫外光照射装置。   15. The light emitting diode unit according to claim 1, wherein the irradiating means has a light emitting diode unit having an area opposite to the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit can turn on only the light emitting diode that irradiates the position of the sealing agent on the substrate with ultraviolet light. The ultraviolet light irradiation apparatus in any one. 前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオードを設けてなる請求項1〜14のいずれかに記載の紫外光照射装置。   15. The light emitting diode unit having an area opposite to the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit is provided with a light emitting diode only at a position where the sealing agent on the substrate needs to be irradiated with ultraviolet light. The ultraviolet light irradiation apparatus in any one of. 前記照射手段が発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットは発光ダイオードのための取付台を有し、発光ダイオードを取付台に対し着脱自在にする請求項1〜16のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light according to any one of claims 1 to 16, wherein the irradiating means includes a light emitting diode unit, the light emitting diode unit includes a mounting base for the light emitting diode, and the light emitting diode is detachable from the mounting base. Irradiation device. 前記照射手段と基板を相対的にシール剤の塗布幅以下の揺動ストロークで揺動可能にする請求項1〜17のいずれかに記載の紫外光照射装置。   The ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1, wherein the irradiation unit and the substrate can be relatively swung with a swinging stroke less than or equal to a sealing agent coating width. 2枚の基板を貼り合わせたシール剤に紫外光を照射して硬化させる紫外光照射方法において、
紫外光の発光ダイオードを用いて紫外光を照射することを特徴とする紫外光照射方法。
In the ultraviolet light irradiation method of irradiating and curing the ultraviolet light on the sealing agent bonded with two substrates,
An ultraviolet light irradiation method characterized by irradiating ultraviolet light using an ultraviolet light emitting diode.
基板に設けられたシール剤の位置情報を予め取得し、その位置情報により前記発光ダイオードによる紫外光の照射位置を特定する請求項19に記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to claim 19, wherein position information of a sealing agent provided on a substrate is acquired in advance, and an irradiation position of ultraviolet light by the light emitting diode is specified based on the position information. 前記照射手段と基板とを相対的に移動させる際に、照射手段と基板との距離を一定に保つ請求項19又は20に記載の紫外光照射方法。   21. The ultraviolet light irradiation method according to claim 19, wherein the distance between the irradiation unit and the substrate is kept constant when the irradiation unit and the substrate are relatively moved. 前記照射手段と基板とを相対的に回転させて移動させる請求項19〜21のいずれかに記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to claim 19, wherein the irradiation unit and the substrate are moved while being relatively rotated. 前記照射手段が複数の発光ダイオードを隣り合わせてなり、相隣る発光ダイオードの各個が基板に対する距離、及びそれらの隣り合わせピッチを、相隣る発光ダイオードの各個の照度が互いに概ね同等をなし、かつそれらの合成照度が必要最小照度以上になる距離、及びピッチに定める請求項19〜22のいずれかに記載の紫外光照射方法。   The irradiating means includes a plurality of light emitting diodes adjacent to each other, each of the adjacent light emitting diodes has a distance to the substrate, and their adjacent pitch, and the illuminance of each of the adjacent light emitting diodes is substantially equal to each other, and The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 22, which is determined by a distance and a pitch at which the combined illuminance is equal to or greater than a necessary minimum illuminance. 前記照射手段の発光ダイオードの照度を照度計により測定する請求項19〜23のいずれかに記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 23, wherein the illuminance of the light emitting diode of the irradiation means is measured by an illuminometer. 前記照度計により測定した照度に基づいて、前記発光ダイオードに対する給電量を調整する請求項24に記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to claim 24, wherein a power supply amount to the light emitting diode is adjusted based on illuminance measured by the illuminometer. 前記照射手段の発光ダイオードと照度計とを相対的に移動させる請求項24又は25に記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to claim 24 or 25, wherein the light emitting diode and the illuminance meter of the irradiation means are relatively moved. 前記照度計の測定結果を表示手段に表示させる請求項24〜26のいずれかに記載の紫外光照射方法。   27. The ultraviolet light irradiation method according to claim 24, wherein a measurement result of the illuminometer is displayed on a display means. 前記照度計の測定結果とともに、前記発光ダイオードに対する給電量に関する情報を前記表示手段に表示する請求項27に記載の紫外光照射方法。   28. The ultraviolet light irradiation method according to claim 27, wherein information on the amount of power supplied to the light emitting diode is displayed on the display unit together with a measurement result of the illuminance meter. 前記照度計の測定結果から発光ダイオードの寿命をチェックする請求項24〜28のいずれかに記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 24 to 28, wherein a lifetime of the light emitting diode is checked from a measurement result of the illuminometer. 前記照射手段の発光ダイオードをパルス点灯させる請求項19〜29のいずれかに記載の紫外光照射方法。   30. The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 29, wherein the light emitting diode of the irradiation means is pulse-lit. 前記照射手段の発光ダイオードからの照射光を集光させてシール剤に照射する請求項19〜30のいずれかに記載の紫外光照射方法。   The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 30, wherein the irradiation light from the light emitting diode of the irradiation means is condensed and applied to the sealing agent. 前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤の位置に紫外光を照射する発光ダイオードだけを点灯する請求項19〜31のいずれかに記載の紫外光照射方法。   32. The light emitting diode unit according to claim 19, wherein the irradiation unit includes a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit lights only the light emitting diode that irradiates ultraviolet light onto the position of the sealing agent on the substrate. The ultraviolet light irradiation method described in 1. 前記照射手段が基板の全面に相対する面積をもつ発光ダイオードユニットを有し、発光ダイオードユニットが基板のシール剤に紫外光を照射必要にする位置にだけ発光ダイオードを設ける請求項19〜31のいずれかに記載の紫外光照射方法。   32. Any one of claims 19 to 31, wherein the irradiating means includes a light emitting diode unit having an area facing the entire surface of the substrate, and the light emitting diode unit is provided with a light emitting diode only at a position where the sealing agent on the substrate needs to be irradiated with ultraviolet light. An ultraviolet light irradiation method according to claim 1. 前記照射手段と基板を相対的にシール剤の塗布幅以下の揺動ストロークで揺動する請求項19〜33のいずれかに記載の紫外光照射方法。   34. The ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 33, wherein the irradiation unit and the substrate are relatively swung with a swing stroke equal to or less than a coating width of the sealant. 少なくとも一方にシール剤が矩形枠状に塗布された2枚の基板を上記シール剤を介して貼り合わせた後、上記シール剤に紫外光を照射することにて硬化させ貼り合わせ基板を製造する基板製造装置において、
請求項1〜18のいずれかに記載の紫外光照射装置を具備したことを特徴とする基板製造装置。
A substrate for manufacturing a bonded substrate by bonding at least one substrate coated with a sealing agent in a rectangular frame shape through the sealing agent and then curing the sealing agent by irradiating with ultraviolet light. In manufacturing equipment,
A substrate manufacturing apparatus comprising the ultraviolet light irradiation apparatus according to claim 1.
少なくとも一方にシール剤が矩形枠状に塗布された2枚の基板を上記シール剤を介して貼り合わせた後、上記シール剤に紫外光を照射することにて硬化させ貼り合わせ基板を製造する基板製造方法において、
請求項19〜34のいずれかに記載の紫外光照射方法を用いたことを特徴とする基板製造方法。
A substrate for manufacturing a bonded substrate by bonding at least one substrate coated with a sealing agent in a rectangular frame shape through the sealing agent and then curing the sealing agent by irradiating with ultraviolet light. In the manufacturing method,
35. A substrate manufacturing method using the ultraviolet light irradiation method according to any one of claims 19 to 34.
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