JP2006231481A - 製品加工方法、プローブ加工方法 - Google Patents

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Abstract


【課題】 面品位が高い接触球を有するプローブを簡便に加工することができるプローブ加工方法を提供する。
【解決手段】 ワークを加工して軸部の先端に接触球を有するプローブを形成する。まず、放電加工工程ST110により、ワイヤ電極を有する放電加工機によってワークを加工して軸部および接触球を有するプローブ形状の粗形状体を形成する。研磨工程ST140において、粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる。研磨工程ST140は、粗形状体の表面に研磨砥粒を塗着するとともに電圧が印加されていない状態の前記ワイヤ電極によってこの粗形状体の表面を研磨する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、製品加工方法、プローブ加工方法に関する。具体的には、ワイヤ放電加工機を用いた製品の加工方法に関する。
三次元測定機等のプローブ(探針)として、棒状の軸部およびこの軸部の先端に設けられた接触球を有するプローブが利用される。図10に、プローブ100の形状を示す。
このようなプローブ100は、軸部110と、接触球120と、がそれぞれ別個に加工形成されたのち、軸部110の先端に接触球120が付着されることにより製作される。球面研磨の方法としては例えば特許文献1に開示されている。
このような製作方法によれば、軸部110とは別工程で接触球120を製作するので、接触球120の表面凹凸を少なくして十分に高い面品位に仕上げることができる。そして、面品位の高い接触球120を備えることにより、このプローブ100による検出精度を高めることができる。
特開平07−1309号公報
しかしながら、近年では、微細形状の測定に使用される微細なプローブ100が求められている。
このような微細プローブ100では、例えば、軸部110の径は0.2mm程度、接触球120の直径は0.3mm程度が要求される。
このように微細な軸部110と接触球120とを高精度に位置合わせして接着するには、多大なコストと手間のかかる作業が必要となる。さらに、軸部110に接着した接触球120が簡単に脱落しないようにするためには高度な接着技術と多大なコストを必要とする。しかも、軸部110から接触球120が脱落する脱落事故を皆無にすることは到底不可能である。
なお、軸部110および接触球120を有するプローブ100をワークから一体的に切り出せば軸部110に接触球120を接着する必要もなくなる。例えば数値制御された放電加工機によれば、円弧補間などにより接触球120を有するプローブ100の形状を一体的に形成することも可能ではある。しかしながら、放電加工による加工面には放電痕が残る。すると、接触球120の表面に凹凸が残り、接触球120の表面を望ましい品位にすることが困難である。
本発明の目的は、ワイヤ放電加工機を用いて、面品位の高い製品を簡便に製造する製品加工方法、および、面品位が高い接触球を有するプローブを簡便に加工することができるプローブ加工方法を提供することにある。
本発明の製品加工方法は、ワイヤ電極を有する放電加工機によってワークを放電加工して製品の粗形状を有する粗形状体を形成する放電加工工程と、前記粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる研磨工程と、を備え、前記研磨工程は、前記粗形状体の表面に研磨砥粒を塗着するとともに電圧が印加されていない状態の前記ワイヤ電極によってこの粗形状体の表面を研磨することを特徴とする。
このような構成において、放電加工工程により、通常の放電加工機による放電加工と同様に製品の形状を放電加工により形成し、製品の粗形状体を加工形成する。そして、放電加工では加工表面に放電痕による凹凸が生じるところ、研磨工程において製品の表面を研磨して仕上げる。
この研磨工程においては、放電加工機のワイヤ電極をそのまま使用し、電圧を印加しない状態のワイヤ電極を粗形状体の表面に当接させて研磨していく。すると、ワイヤ電極による研磨によって高い面品位を有する製品が仕上げられる。
このような構成によれば、面品位が必要とされる製品であっても放電加工機による一体加工ができる。よって、面品位が必要とされる部分を別工程で加工したり、さらには、製品に接着して組み付ける工程が必要ないので、製造の手間が非常に簡便となり、また、製造コストを非常に安価とすることができる。そして、一般に使用されている放電加工機を特別に改良しなくても本発明の加工方法を実施できるので、コスト削減効果は非常に大きい。
また、別工程で研磨して仕上げた部品を製品に組み付けると脱落事故が多発する原因となるところ、本発明によって製品を一体加工すれば部品が脱落することはないので製品の信頼性を格段に向上させることができる。
さらに、一般に、放電加工機ではワイヤ電極の軌道を数値制御することによって複雑な形状を加工することができるので、高い面品位を必要とされかつ複雑な形状を有する多種多様な製品を本発明によって簡便かつ安価に加工することができる。
本発明のプローブ加工方法は、ワークを加工して軸部の先端に接触球を有するプローブを形成するプローブ加工方法において、ワイヤ電極を有する放電加工機によってワークを加工して前記軸部および前記接触球を有するプローブ形状の粗形状体を形成する放電加工工程と、前記粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる研磨工程と、を備え、前記研磨工程は、前記粗形状体の表面に研磨砥粒を塗着するとともに電圧が印加されていない状態の前記ワイヤ電極によってこの粗形状体の表面を研磨することを特徴とする。
このような構成において、放電加工工程により軸部と接触球とを有するプローブの粗形状を放電加工により形成する。そして、研磨工程において粗形状体の表面を研磨して仕上げ、高い面品位を有するプローブを形成する。
このような構成によれば、高い面品位が必要とされるプローブを放電加工機によって一体加工できる。すなわち、面品位が必要とされる接触球を別工程で加工したり、さらには、この接触球を軸部に接着して組み付ける工程が必要ないので、製造の手間が非常に簡便となり、また、製造コストを非常に安価とすることができる。そして、一般に使用されている放電加工機を特別に改良しなくても本発明の加工方法を実施できるので、コスト削減効果は非常に大きい。
また、別工程で研磨して仕上げた接触球を製品に組み付けると脱落事故が多発する原因となるところ、本発明によって接触球を含めてプローブを一体加工すれば接触球が脱落することはないので製品としての信頼性を格段に向上させることができる。また、接触球を軸部に接着する際には高度な技術が要求されるとともに、軸部と接触部との位置ずれが避けがたいが、この点、本発明では、軸部と接触球とを一体加工するので、プローブの加工精度を向上させ、ひいては、このプローブによる検出精度を向上させることができる。
本発明では、前記研磨工程は、前記粗形状体のうち前記接触球の表面のみを研磨することが好ましい。
このような構成において、プローブの検出精度に影響するのは接触球の表面品位であるところ、研磨工程で研磨する領域を接触球の表面に限定することで研磨する領域を少なくして研磨工程の作業時間およびコストを低減することができる。
本発明では、前記研磨工程は、前記ワークを回転させながら、前記ワイヤ電極に直交する平面で前記接触球を切断する仮想断面の外周に沿って前記ワイヤ電極を移動させ、かつ、前記ワイヤ電極の移動は、前記接触球と前記軸部との接点のうち軸部を挟んで互いに反対の一方から他方へ向けた連続動作であることが好ましい。
このような構成において、研磨工程におけるワイヤ電極の移動を、接触球と軸部との接点のうち軸部を挟んで互いに反対の一方から他方へ向けた連続動作とする。これにより、接触球の表面が滑らかな球面に仕上げられる。ここで、接触球の全体に研磨をかけるにあたっては、ワークが回転しているので、例えば、接触球の半球部分にのみワイヤ電極を作動させれば、接触球の表面全体を研磨することはできる。しかしながら、球面上のある地点でワイヤ電極を折り返すと、折り返し地点におけるワイヤ電極の停止時間が他の地点よりも長くなってしまう。すると、この折り返し点における研磨が過度に進んでしまい、折り返し点にフラットな面が形成されてしまうこととなる。その結果、接触球の表面を滑らかな球面に仕上げることができない。この点、本発明にあっては、ワイヤ電極を途中で折り返すことなく、接触球と軸部との接点のうち一方の接点から出発して接触球の表面を連続動作で経由して他方の接点に至る軌道でワイヤ電極を移動させる。その結果、接触球の表面を高い面品位とすることができる。
以下、本発明の実施の形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
(第1実施形態)
本発明のプローブ加工方法に係る第1実施形態について説明する。
図1は、プローブ加工方法の手順を示すフローチャートである。
本発明のプローブ加工方法は、ワイヤ放電加工機を用いてプローブ形状を形成する方法であり、その基本的構成として、ワークWを放電加工してプローブ形状の粗形状体を形成する放電加工工程ST100と、粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる研磨工程ST140と、を備えている。
以下、図1のフローチャートを参照してプローブ加工方法について説明する。
まず、ST100において、ワークWを放電加工機にセットする。すなわち、図2に示されるワークWを放電加工機のワーク固定部(不図示)にセットする。なお、ワーク固定部は、例えば、コレットチャックによりワークWを固定し、直結されたモータによってワークWごと回転する機構を備えている。
次に、ST110において、放電加工によりワークWからプローブ形状を形成する。すなわち、軸部110と接触球120とを備えた形状(粗形状体)に形成していく。
図3、図4は、放電加工時のワイヤ電極200の動きを示す図である。
図3、図4に示されるように、ワークWを回転させるとともにワイヤ電極200を作動させてワークWとワイヤ電極200との間にパルス電圧を印加して放電加工を施していく。接触球120については円弧補間を利用して球面を加工していく。
なお、ワークWとワイヤ電極200との間に電圧を印加する電源回路の構成については、特に限定されないが、直流電圧をスイッチング素子で断続してパルスを発生させる構成でもよく、あるいは、直流電圧源と、直流電圧源に直列に接続された抵抗と、直流電圧源に並列に接続されたコンデンサと、を備えたCR放電回路などであってもよい。
この放電加工工程ST110により、プローブ100の粗形状体が形成できたところで放電加工工程ST110を終了し、電源をOFFにする(ST120)。
そして、次に、放電加工によって得られた粗形状体に研磨砥粒300を塗着する(図5参照)。
ここで、プローブ100のなかで凹凸のない面品位が必要とされるのは接触球120の表面であるので、研磨砥粒300は接触球120の表面にのみ塗着すればよい。
研磨砥粒300としては、青粉やダイヤモンドパウダーが例として挙げられるが、研磨剤であれば特に限定されない。また、研磨砥粒300を粗形状体に塗着するにあたっては、研磨砥粒300を溶剤(水や油)に混ぜてからプローブ100に塗着してもよく、あるいは、放電加工油をそのまま溶剤として使用してもよい。
続いて、ST140において、研磨工程が行われる(図6、図7参照)。
研磨工程ST140は、放電加工機のワイヤ電極200を用いて粗形状体の表面を研磨する工程である。
図6、図7は、研磨工程ST140におけるワイヤ電極200の動きを示す図である。
研磨工程ST140においては、電源回路をOFFにした状態で(ST120)、ワークW(粗形状体)を回転させるとともにワイヤ電極200を粗形状体に当接させて作動させる。
面品位を必要とするのはプローブ100の接触球120の部分のみであるところ、ワイヤ電極200を作動させるのは接触球120の表面だけでよいので、円弧補間を繰り返し実行しながら接触球120の表面にワイヤ電極200を作動させて接触球120の表面を仕上げてゆく。
ここで、図7は、粗形状体をワイヤ電極200に直交する平面で切断する断面図(仮想断面)において、ワイヤ電極200の軌道を併せて示す図である。
研磨工程ST140において、接触球120の表面を仕上げるにあたり、図7における接触球120の仮想断面外周に沿ってワイヤ電極200を移動させる。すると、ワークWが回転しているので接触球120の表面全体が研磨される。さらに、このとき、ワイヤ電極200の移動は、接触球120と軸部110との接点のうち軸部110を挟んで互いに反対の一方(121)から他方(122)へ向けた連続動作とする。これにより、接触球120の表面が滑らかな球面に仕上げられる。
ここで、例えば、図8に示すように、接触球120の半球部分にのみワイヤ電極200を作動させれば、ワークWが回転しているので接触球120の表面全体を研磨することはできる。しかしながら、球面上のある地点(図8中では球の頂点)でワイヤ電極200を折り返すと、折り返し地点におけるワイヤ電極200の停止時間が他の地点よりも長くなってしまう。すると、この折り返し点における研磨が過度に進んでしまい、折り返し点にフラットな面Sが形成されてしまう。その結果、接触球120の表面を滑らかな球面に仕上げることができない。
よって、図7に示すように、ワイヤ電極200を途中で折り返すことなく、接触球120と軸部110との接点のうち一方の接点121から出発して接触球120の表面を連続動作で経由して他方の接点122に至る軌道でワイヤ電極200を移動させる。すると、接触球120の表面を高い面品位とすることができる。
なお、研磨工程ST140でワイヤ電極200を作動させるにあたっては、放電加工時(ST110)における接触球120の加工半径から放電ギャップおよび研磨代を差し引いた加工半径で円弧補間を行う。
また、ワイヤ電極200のテンションをできる限り高くすることが望ましい。ワイヤ電極200には放電加工時のような放電パルスが作用しないので、テンションを高くしてもワイヤ電極200が損傷することはなく、さらに、テンションの高いワイヤ電極200にて接触球120の表面を研磨することで接触球120の表面を高い面品位に仕上げることができる。そして、ワークWの回転速度およびワイヤ電極200の移動速度は、研磨時間を短縮するためにできるだけ速いことが好ましい。
接触球120の表面を繰り返し研磨して(ST140)、表面が滑らかになったところで、プローブの加工を終了する。
このような構成を備える第1実施形態によれば、次の効果を奏することができる。
(1)高い面品位が必要とされるプローブ100を放電加工機により一体加工するので、面品位が必要とされる接触球120を別工程で加工したり、さらには、この接触球120を軸部110に接着して組み付ける工程が必要ない。したがって、製造の手間が簡便となり、また、製造コストを非常に安価とすることができる。そして、一般に使用されている放電加工機を特別に改良しなくても本実施形態の加工方法を実施できるので、コスト削減効果は非常に大きい。
(2)別工程で研磨して仕上げた接触球120を軸部110に組み付けると脱落事故が多発する原因となるところ、本実施形態では接触球120を含めてプローブ100を一体加工するので接触球120が脱落することはなく、製品としての信頼性を格段に向上させることができる。また、本実施形態では、軸部110と接触球120とを一体加工できるので、プローブ100の加工精度が向上し、ひいては、このプローブ100による検出精度を向上させることができる。
(3)研磨工程ST140で研磨する領域を接触球120の表面に限定しているので、研磨する領域を少なくして研磨工程ST120の作業時間およびコストを低減することができる。
(4)研磨工程ST140におけるワイヤ電極200の移動を、接触球120と軸部110との接点のうち軸部110を挟んで互いに反対の一方(121)から他方(122)へ向けた連続動作とするので、接触球120の表面を滑らかな球面に仕上げることができる。球面上のある地点でワイヤ電極200を折り返すと折り返し地点におけるワイヤ電極200の停止時間が他の地点よりも長くなってしまうので、接触球120の表面を滑らかな球面に仕上げることができないが、本実施形態にあっては、ワイヤ電極200を途中で折り返すことなく、接触球120と軸部110との接点のうち一方の接点121から出発して接触球120の表面を連続動作で経由して他方の接点122に至る軌道でワイヤ電極200を移動させるので、接触球120の表面を高い面品位とすることができる。
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について図9を参照して説明する。
第2実施形態の基本的構成は、第1実施形態に同様であるが、第1実施形態が特徴とするところは、観測工程を備えた点にある。
図9は、第2実施形態のプローブ加工方法を実施するための構成を示す図である。
図9において、ワークWの加工状態を観測する観測手段400が放電加工機に付加されている。
観測手段400は、レンズ410と、CCDカメラ(撮像手段)420と、画像処理部430と、モニタ(出力手段)440と、を備えて構成されている。
レンズ410は、ワークWの接触球120を観測可能に基準点Rに焦点を合わせて配設されている。
CCDカメラ420は、レンズ410からの像を撮像する。なお、図9では、レンズ410からの光をCCDカメラ420に向けて反射するミラー411が設けられている。画像処理部430は、CCDカメラ420で撮像された画像を処理して、例えば、エッジ検出等で輪郭抽出を行う。
さらに、画像処理部430は、抽出した接触球120の形状から真円度を測定する。画像処理部430による処理結果はモニタ440に表示される。
このような観測手段400によって、第1実施形態のST100からST140を実行するのに並行して、ワークWの加工状態を観測する観測工程が行われる。すなわち、モニタ440の表示や真円度測定の結果から、接触球120の加工精度が測定され、例えば、ワイヤ電極200の押込量の調整が行われる。
このような構成によれば、数10μmの微細な接触球120の形状は肉眼では観測できないところ、観測工程によって接触球120の加工状態を観測する。そして、この観測結果に基づいてワイヤ電極200の押込量の調整を行うことで、接触球120の加工精度を向上させることができる。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されず、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。
ワイヤ電極の径については特に言及しなかったが、できる限り小さい径であることが好ましく、接触球の仕上がり径よりも小さい径を有することが好ましい。このようにワイヤ電極の径が小さければ、接触球の表面よりもワイヤ電極の方に研磨砥粒が付着し、研磨砥粒が流出しにくくなる。例えば、直径0.3mmの接触球を形成するにあたっては、ワイヤ電極の径を30μm程度にすることが例として挙げられる。
上記実施形態においては、プローブの加工を例にして説明したが、放電加工機によって形成できる形状であれば、本発明の製品加工方法を適用できることはもちろんである。
本発明は、ワイヤ放電加工機を用いた製品の加工に利用できる。
第1実施形態において、プローブ加工方法の手順を示すフローチャート。 第1実施形態において、加工前のワーク形状を示す図。 第1実施形態において、放電加工時のワイヤ電極の動きを示す図。 第1実施形態において、放電加工時のワイヤ電極の動きを示す図。 第1実施形態において、粗形状体に研磨砥粒を塗着した様子を示す図。 第1実施形態において、研磨工程におけるワイヤ電極の動きを示す図。 第1実施形態において、粗形状体をワイヤ電極に直交する平面で切断する断面図にワイヤ電極の軌道を併せて示す図。 第1実施形態において、接触球の半球部分にのみワイヤ電極を作動させた場合を示す図。 第2実施形態のプローブ加工方法を実施するための構成を示す図。 プローブの形状を示す図。
符号の説明
100…プローブ、110…軸部、120…接触球、200…ワイヤ電極、300…研磨砥粒、400…観測手段、410…レンズ、411…ミラー、420…CCDカメラ、430…画像処理部、440…モニタ、W…ワーク。

Claims (4)

  1. ワイヤ電極を有する放電加工機によってワークを放電加工して製品の粗形状を有する粗形状体を形成する放電加工工程と、
    前記粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる研磨工程と、を備え、
    前記研磨工程は、前記粗形状体の表面に研磨砥粒を塗着するとともに電圧が印加されていない状態の前記ワイヤ電極によってこの粗形状体の表面を研磨する
    ことを特徴とする製品加工方法。
  2. ワークを加工して軸部の先端に接触球を有するプローブを形成するプローブ加工方法において、
    ワイヤ電極を有する放電加工機によってワークを加工して前記軸部および前記接触球を有するプローブ形状の粗形状体を形成する放電加工工程と、
    前記粗形状体の表面を研磨して表面を仕上げる研磨工程と、を備え、
    前記研磨工程は、前記粗形状体の表面に研磨砥粒を塗着するとともに電圧が印加されていない状態の前記ワイヤ電極によってこの粗形状体の表面を研磨する
    ことを特徴とするプローブ加工方法。
  3. 請求項2に記載のプローブ加工方法において、
    前記研磨工程は、前記粗形状体のうち前記接触球の表面のみを研磨する
    ことを特徴とするプローブ加工方法。
  4. 請求項2または請求項3に記載のプローブ加工方法において、
    前記研磨工程は、前記ワークを回転させながら、前記ワイヤ電極に直交する平面で前記接触球を切断する仮想断面の外周に沿って前記ワイヤ電極を移動させ、かつ、前記ワイヤ電極の移動は、前記接触球と前記軸部との接点のうち前記軸部を挟んで互いに反対の一方から他方へ向けた連続動作である
    ことを特徴とするプローブ加工方法。
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