JP2006214901A - 軸受損傷評価装置、軸受損傷評価方法、軸受損傷評価プログラム、およびこのプログラムを記録した記憶媒体 - Google Patents
軸受損傷評価装置、軸受損傷評価方法、軸受損傷評価プログラム、およびこのプログラムを記録した記憶媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006214901A JP2006214901A JP2005028714A JP2005028714A JP2006214901A JP 2006214901 A JP2006214901 A JP 2006214901A JP 2005028714 A JP2005028714 A JP 2005028714A JP 2005028714 A JP2005028714 A JP 2005028714A JP 2006214901 A JP2006214901 A JP 2006214901A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bearing
- height ratio
- echo height
- difference value
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
【解決手段】 前記超音波探触子9が受信した前記反射波からエコー高さ比Hを求めるエコー高さ比算出手段63aと、求められた前記エコー高さ比Hから、少なくとも1次または2次の差分値を求める差分値算出手段63bと、前記エコー高さ比Hまたは/および1次差分値または/および2次差分値の平均値を求める平均値算出手段63cと、前記エコー高さ比H、1次差分値、2次差分値、および平均値から、エコー高さ比Hの波形信号の変形度合いを解析する波形解析手段63dと、を備えたことを特徴とする。
【選択図】 図3
Description
図1は、軸受損傷評価装置の構成を例示する概念図である。
軸受ハウジング1の中央部に軸受2が支持されている。軸受ハウジング1の周辺部を一部カットし、超音波探触子3が取り付けられている。軸受2は、転がり軸受であり、外輪20と内輪21)との間に挟持される多数の転動体22とを備えている。内輪21の内径部分には回転軸4が圧入等の適宜の方法により固定される。また、軸受外輪20の外径部分も軸受ハウジング1に形成された孔部に密着嵌合される。
D=d2/4λ ・・(式1)
として表される。ここで、dは振動子の直径、λは超音波の波長を表す。
次に、超音波探触子3を用いて軸受の動作を観測する方法の原理を説明する。図1において、超音波探触子3から発せられた超音波は、軸受ハウジング1と軸受外輪20とのあるいは転動体22と外輪20との境界に向かい、一部はその境界から透過し、残りは境界で反射する。この反射波を超音波探触子3により受信する。例えば、軸受ハウジング1と軸受外輪20との密着度が大きい(固体接触面積が大きい)と発せられた超音波は境界から透過しやすくなり、この透過率は上記密着度にほぼ比例する。
H=(1−h/h0)×100 ・・(式2)
により定義される。hは外的な軸受荷重(図1にWで示す。)が作用している時のエコー高さであり、h0は外的な軸受荷重が作用していない時(無負荷時)のエコー高さである。なお100倍しているのは%表示するためであり、これに限定されるものではない。軸受荷重が大きいほど軸受2と軸受ハウジング1の密着度は大きくなり、hは小さくなる(反射波の大きさは小さくなる)ため、エコー高さ比Hは大きくなる。
次に、軸受損傷評価装置として機能するパソコン6の主要部の構成を図3に示す。パソコン6は、表示装置60と、CPU61と、RAM62を有している。また、軸受損傷評価プログラムが格納されているプログラムファイル63と、データファイル64とを有している。これらはデータバスを介して接続されている。軸受損傷評価プログラムは、パソコン6にエコー高さ比算出手段63a、差分値算出手段63b、平均値算出手段63c、波形解析手段63d等の機能を実現させるためのプログラムが格納されている。このプログラムは、RAM62に読み込まれた状態で実行される。また、このプログラムはCD−ROMやフロッピー(登録商標)ディスク等の記録媒体を用いてパソコン本体内にインストールすることができる。
次に、軸受の損傷部位の評価方法を概略的に説明する。
損傷を評価するにあたり、その評価項目として凹部の大きさの評価が挙げられる。以下、図10(A)に示す観測例において、上記の方法でK部に凹部があることが判った場合について、軸受の損傷大きさの評価、つまり損傷の定量化の方法を概略的に説明する。
(2−1)図10(A)のK部の近傍について、図5における処理と同様、所定の閾値H0を設定し、それ以下のデータを除く。
(2−2)上記閾値H0以上のエコー高さ比について1次差分値を算出する。ここでは、例えば9点差分を行い、その後4乗した値を絶対値化処理を行うことによって、図11(A)に示す結果を得ることができる。上記において異常と判断した範囲について限定し、データを拡大表示したものを図11(B)に示す。883近傍に大きなピークを有していることが判る。
(2−3)図11(B)に示す範囲における上記1次差分値に対し、図12(A)に示すように、所定の閾値ΔH0を設定し、それ以下のデータを排除する。ここでは、閾値ΔH0=0.02とした。
(2−4)次に、図12(B)に示すように、閾値ΔH0以上の差分値に対し、「01化」処理を行う。つまり、差分値が正の場合には「1」、ゼロの場合には「0」とする2値化処理を行う。
(2−5)上記の結果に対し、差分値の平均値を算出する(図12(C)参照)。例えば、9点の移動平均を求める。
(2−6)この平均値に所定の閾値Hsを設定し、それ以上の値の範囲幅Lf’を求める。図12(D)のように異常と確定しうる範囲を設定することができる。
(2−7)求めた幅Lf’を基に、図13(A)のように裕度(幅Lf’に所定の係数mを掛ける)を与えた範囲幅Lf”を求める。求めた幅Lf”を構成する波形上の点p4と点p5を求める。異常のない波形に限定することができる。係数mは損傷の状態や測定精度に応じて任意に設定する。
(2−8)次に、エコー高さ比の波形上の点p4〜点p5の間のデータを削除し、点p4までの実線部分データKaおよび点p5からの実線部分データKbを用いて、最小二乗法に基づき点p4〜点p5の間の破線部分データを推定する(図13(B)参照)。異常のない波形を確定することができる。本発明者の知見によれば、5次または6次の近似式を用いて最小二乗法を行うことによって精度の高い推定ができることが判った。
(2−9)図13(B)のように、推定されたエコー高さ比の破線部分データと実測データを基に、その差を算出し、異常値を求める。得られた異常値から損傷範囲の大きさを定量的に把握することができる。
上記の内容は、損傷部分の評価に関するものであるが、エコー高さ比の波形の評価に際しては、全体の波形の乱れから、軸受自体の劣化を判断することができる。つまり、図12に例示するように、正常時の波形に比較して劣化が進むと、微小な揺らぎ成分が波形全体に乗ってくる。つまり、波形の部分的な評価ではなく、波形全体の評価を行うことによって軸受の劣化を判断することができる。
(1)本発明が適用される軸受は特定の構造の軸受に限定されるものではない。例えば,通常の玉軸受だけでなくアンギュラ玉軸受にも応用することができる。例えば、ボールは単列ではなく複列の場合にも応用することができる。
2 軸受
3 超音波探触子
4 回転軸
5 超音波探傷器
20 外輪
21 内輪
22 転動体
H エコー高さ比
63a エコー高さ比算出手段
63b 差分値算出手段
63c 平均値算出手段
63d 波形解析手段
Claims (8)
- 軸受が支持される軸受ハウジングに取り付けられる超音波探触子から超音波を前記軸受に向けて発生させ、前記軸受ハウジングと前記軸受の外輪あるいは軸受の外輪と転動体との境界からの反射波を測定することにより、軸受に発生した損傷の評価を行う軸受損傷評価装置であって、
前記超音波探触子が受信した前記反射波からエコー高さ比を求めるエコー高さ比算出手段と、
求められた前記エコー高さ比から、少なくとも1次または2次の差分値を求める差分値算出手段と、
前記エコー高さ比または/および1次差分値または/および2次差分値の平均値を求める平均値算出手段と、
前記エコー高さ比、1次差分値、2次差分値、および平均値から、エコー高さ比の波形信号の変形度合いを解析する波形解析手段と、
を備えたことを特徴とする軸受損傷評価装置。 - 軸受が支持される軸受ハウジングに取り付けられる超音波探触子から超音波を前記軸受に向けて発生させ、前記軸受ハウジングと前記軸受の外輪あるいは軸受の外輪と転動体との境界からの反射波を測定することにより、軸受に発生した損傷の評価を行う軸受損傷評価方法であって、
前記超音波探触子が受信した前記反射波からエコー高さ比を求めるエコー高さ比算出ステップと、
求められた前記エコー高さ比から、少なくとも1次または2次の差分値を求める差分値算出ステップと、
前記エコー高さ比または/および1次差分値または/および2次差分値の平均値を求める平均値算出ステップと、
前記エコー高さ比、1次差分値、2次差分値、および平均値から、エコー高さ比の波形信号の変形度合いを解析する波形解析ステップと、
を備えたことを特徴とする軸受損傷評価方法。 - 軸受が支持される軸受ハウジングに取り付けられる超音波探触子から超音波を前記軸受に向けて発生させ、前記軸受ハウジングと前記軸受の外輪あるいは軸受の外輪と転動体との境界からの反射波を測定することにより、軸受に発生した損傷の評価を行う軸受損傷評価プログラムであって、
前記超音波探触子が受信した前記反射波からエコー高さ比を求めるエコー高さ比算出ステップと、
求められた前記エコー高さ比から、少なくとも1次または2次の差分値を求める差分値算出ステップと、
前記エコー高さ比または/および1次差分値または/および2次差分値の平均値を求める平均値算出ステップと、
前記エコー高さ比、1次差分値、2次差分値、および平均値から、エコー高さ比の波形信号の変形度合いを解析する波形解析ステップと、
をコンピュータに実行させるための軸受損傷評価プログラム。 - 対象となる軸受固有の閾値を超える前記2次差分値に係る測定部位を、エコー高さ比の波形信号の変形度が高いと判断することを特徴とする請求項3に記載の軸受損傷評価プログラム。
- 対象となる軸受固有の閾値を超える前記1次差分値に係る測定部位であって、かつ、該1次差分値の平均値に閾値を加減する範囲を超える測定部位を、エコー高さ比の波形信号の変形度が高いと判断することを特徴とする請求項3または4に記載の軸受損傷評価プログラム。
- 対象となる軸受固有の閾値を超える前記1次差分値に係る測定部位であって、かつ、該1次差分値の平均値に閾値を乗ずる範囲を超える測定部位を、エコー高さ比の波形信号の変形度が高いと判断することを特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の軸受損傷評価プログラム。
- 前記波形解析手段において、変形度が高いと判断された測定部位について、損傷の大きさを算出することを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の軸受損傷評価プログラム。
- 請求項3〜7のいずれかに記載の軸受損傷評価プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005028714A JP4617168B2 (ja) | 2005-02-04 | 2005-02-04 | 軸受損傷評価装置および軸受損傷評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005028714A JP4617168B2 (ja) | 2005-02-04 | 2005-02-04 | 軸受損傷評価装置および軸受損傷評価方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006214901A true JP2006214901A (ja) | 2006-08-17 |
JP4617168B2 JP4617168B2 (ja) | 2011-01-19 |
Family
ID=36978251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005028714A Expired - Fee Related JP4617168B2 (ja) | 2005-02-04 | 2005-02-04 | 軸受損傷評価装置および軸受損傷評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4617168B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101819091A (zh) * | 2010-03-25 | 2010-09-01 | 重庆大学 | 组合式智能监测轴承 |
JP2012098253A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-24 | Nsk Ltd | 軸受異常診断装置および軸受異常診断方法 |
JP2016217979A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | 東京パワーテクノロジー株式会社 | 超音波探傷方法および超音波探傷装置 |
CN107314900A (zh) * | 2017-07-13 | 2017-11-03 | 宁波环驰太平洋轴承有限公司 | 一种全自动轴承检测机 |
CN108241021A (zh) * | 2016-12-23 | 2018-07-03 | 舍弗勒技术股份两合公司 | 一种滚动轴承检测方法及装置 |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5994019A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 異常検出装置 |
JPS6153728A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-17 | Hitachi Ltd | エツチング終点判定方法 |
JPS6135410B2 (ja) * | 1980-09-19 | 1986-08-13 | Hitachi Ltd | |
JPH01311261A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-15 | Figaro Eng Inc | ガス検出装置 |
JPH06221836A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-08-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JPH06317533A (ja) * | 1993-03-11 | 1994-11-15 | Toshiba Corp | 異物検査方法及び異物検査装置 |
JPH07198726A (ja) * | 1993-11-29 | 1995-08-01 | Aloka Co Ltd | 自動分注装置 |
JPH08145848A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Sharp Corp | 液晶パネル欠陥検査装置 |
JPH08338813A (ja) * | 1995-06-13 | 1996-12-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 金属材の表面欠陥検査方法 |
JPH11142242A (ja) * | 1997-11-06 | 1999-05-28 | Nippon Applied Technology:Kk | 微弱発光分析装置 |
JP2000042769A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | レーザ溶接状態監視装置及び監視方法 |
JP2002257797A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Sumitomo Chem Co Ltd | 軸受損傷評価装置及び軸受損傷評価方法及び軸受損傷評価プログラム及びこのプログラムを記録した記憶媒体 |
JP2004245792A (ja) * | 2003-02-17 | 2004-09-02 | Yazaki Corp | 有極性ガス検出方法及びその装置 |
JP2004273872A (ja) * | 2003-03-11 | 2004-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体製造装置 |
-
2005
- 2005-02-04 JP JP2005028714A patent/JP4617168B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6135410B2 (ja) * | 1980-09-19 | 1986-08-13 | Hitachi Ltd | |
JPS5994019A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 異常検出装置 |
JPS6153728A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-17 | Hitachi Ltd | エツチング終点判定方法 |
JPH01311261A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-15 | Figaro Eng Inc | ガス検出装置 |
JPH06221836A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-08-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JPH06317533A (ja) * | 1993-03-11 | 1994-11-15 | Toshiba Corp | 異物検査方法及び異物検査装置 |
JPH07198726A (ja) * | 1993-11-29 | 1995-08-01 | Aloka Co Ltd | 自動分注装置 |
JPH08145848A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Sharp Corp | 液晶パネル欠陥検査装置 |
JPH08338813A (ja) * | 1995-06-13 | 1996-12-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 金属材の表面欠陥検査方法 |
JPH11142242A (ja) * | 1997-11-06 | 1999-05-28 | Nippon Applied Technology:Kk | 微弱発光分析装置 |
JP2000042769A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | レーザ溶接状態監視装置及び監視方法 |
JP2002257797A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Sumitomo Chem Co Ltd | 軸受損傷評価装置及び軸受損傷評価方法及び軸受損傷評価プログラム及びこのプログラムを記録した記憶媒体 |
JP2004245792A (ja) * | 2003-02-17 | 2004-09-02 | Yazaki Corp | 有極性ガス検出方法及びその装置 |
JP2004273872A (ja) * | 2003-03-11 | 2004-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体製造装置 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
竹内彰敏,他4名: "超音波法による玉軸受の運転異常検出の試み", 日本機械学会論文集 C編, vol. 第69巻,第687号, JPN6010031010, 25 November 2003 (2003-11-25), pages 3086 - 3091, ISSN: 0001634631 * |
谷直樹,他1名: "転がり軸受の損傷評価への超音波の適用", 日本トライボロジー学会トライボロジー会議予稿集, vol. No.2004−11, JPN6009036253, 20 October 2004 (2004-10-20), pages 311 - 312, ISSN: 0001738655 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101819091A (zh) * | 2010-03-25 | 2010-09-01 | 重庆大学 | 组合式智能监测轴承 |
JP2012098253A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-24 | Nsk Ltd | 軸受異常診断装置および軸受異常診断方法 |
JP2016217979A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | 東京パワーテクノロジー株式会社 | 超音波探傷方法および超音波探傷装置 |
CN108241021A (zh) * | 2016-12-23 | 2018-07-03 | 舍弗勒技术股份两合公司 | 一种滚动轴承检测方法及装置 |
CN108241021B (zh) * | 2016-12-23 | 2022-09-27 | 舍弗勒技术股份两合公司 | 一种滚动轴承检测方法及装置 |
CN107314900A (zh) * | 2017-07-13 | 2017-11-03 | 宁波环驰太平洋轴承有限公司 | 一种全自动轴承检测机 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4617168B2 (ja) | 2011-01-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5958999B2 (ja) | 軸受部品の検査方法および軸受部品の検査装置 | |
US20070034009A1 (en) | Method and system for monitoring structural damage | |
Hadjileontiadis et al. | Crack detection in beams using kurtosis | |
CN103134679B (zh) | 轴承状态监视方法以及轴承状态监视装置 | |
JPH0315698B2 (ja) | ||
JP6728808B2 (ja) | 計測診断装置、及び計測診断方法 | |
JP4617168B2 (ja) | 軸受損傷評価装置および軸受損傷評価方法 | |
JP2020056801A (ja) | 計測診断装置、及び計測診断方法 | |
JP6511573B1 (ja) | 転がり軸受の異常診断方法及び異常診断装置、異常診断プログラム | |
JP2018040770A (ja) | 軸受部品の寿命診断方法、軸受部品の寿命診断装置、および軸受部品の寿命診断プログラム | |
JP2006118869A (ja) | 転がり軸受の欠陥検出装置および転がり軸受の欠陥検出方法 | |
Wang et al. | Condition monitoring on grease lubrication of rolling bearing using AE technology | |
JP5143863B2 (ja) | 軸受状態監視方法及び軸受状態監視装置 | |
JP2018040769A (ja) | 軸受部品の寿命診断方法、軸受部品の寿命診断装置、および軸受部品の寿命診断プログラム | |
JP4598809B2 (ja) | 打音解析による健全性診断方法 | |
JP5476413B2 (ja) | 回転機械の健全性診断方法 | |
JP5910124B2 (ja) | 軸受の残存寿命予測方法 | |
JP2011180082A (ja) | すべり軸受の診断方法および診断装置 | |
Dron et al. | High-resolution methods in vibratory analysis: application to ball bearing monitoring and production machine | |
JP2006189333A (ja) | 軸受の異常診断装置 | |
CN115014763B (zh) | 用于主轴故障监测的光纤光栅测量系统及优化方法 | |
JP6042467B2 (ja) | 軸受状態監視方法及び軸受状態監視装置 | |
JP2006153760A (ja) | 周期運動体の状態監視方法、監視装置、監視システム、コンピュータプログラム及び記録媒体 | |
JP3922521B2 (ja) | 軸受損傷評価装置及び軸受損傷評価方法及び軸受損傷評価プログラム及びこのプログラムを記録した記憶媒体 | |
JP7372155B2 (ja) | 転動部品の疲労度推定方法、転動部品の疲労度推定装置、転動部品の疲労度推定プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060928 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060928 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20060928 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070307 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070307 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090113 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090114 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090401 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20090528 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090902 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100108 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100930 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101025 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees | ||
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |