JP2006194872A - 自動光学検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、フィルム、テープ形態の印刷回路基板のパターン検査で光の損失を防止し、均一な輝度を得ることができる自動光学検査システムの照明装置に関する。本発明の印刷回路基板の微細パターンを光学的に検査するパターン検査装置は、印刷回路基板のパターンを撮影する撮影ユニットと、印刷回路基板の撮影領域に光を照射する照明ユニット及び照明ユニットと印刷回路基板との間に設けられ、印刷回路基板の撮影領域から脱して遺失される光を集めて印刷回路基板の撮影領域に光を誘導(案内)する導光部材と、を含む。
【選択図】図2
Description
120 照明ユニット
130 導光部材
140 映像処理部
Claims (8)
- 印刷回路基板の微細パターンを光学的に検査する自動光学検査装置において、
前記印刷回路基板のパターンを撮影する撮影ユニットと、
前記撮影ユニットの下に設けられて、前記印刷回路基板の撮影領域に光を照射する照明ユニットと、
前記照明ユニットと前記印刷回路基板との間に設けられ、前記印刷回路基板の撮影領域から脱して遺失される光を集めて前記印刷回路基板の撮影領域に光を誘導(案内)する導光部材と、を含むことを特徴とする光学検査装置。 - 前記導光部材は、前記印刷回路基板の撮影領域に光が通る光通路と、前記光通路の周りを囲むように設けられて、前記光通路から脱する光を集める反射面を有する反射体と、を含むことを特徴とする請求項1に記載の光学検査装置。
- 前記反射面は前記光の散乱のための凹凸を含むことを特徴とする請求項2に記載の光学検査装置。
- 前記反射体は前記反射面から反射される光を前記印刷回路基板の撮影領域に均一に出射させるための拡散膜をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の光学検査装置。
- 印刷回路基板の微細パターンを光学的に検査する自動光学検査装置において、
前記印刷回路基板のパターンを撮影する撮影ユニットと、
前記印刷回路基板に対して前記撮影ユニットとは反対側に配置され、前記印刷回路基板の撮影領域に光を照射する照明ユニットと、
前記照明ユニットと前記印刷回路基板との間に設けられ、前記印刷回路基板の撮影領域から脱して遺失される光を集めて前記印刷回路基板の撮影領域に案内(誘導)する導光部材と、を含むことを特徴とする光学検査装置。 - 前記導光部材は、前記印刷回路基板の撮影領域に光が通る光通路と、前記光通路の周りを囲むように設けられ、前記光通路から脱する光を反射して集める反射面を有する反射体と、を含むことを特徴とする請求項5に記載の光学検査装置。
- 前記反射面は前記光の散乱のための凹凸を含むことを特徴とする請求項6に記載の光学検査装置。
- 前記反射体は前記反射面から反射される光を前記印刷回路基板の撮影領域に均一に出射させるための半透明または透明な拡散膜をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の光学検査装置。
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