JP2006193267A - Substrate conveying method and substrate conveying device - Google Patents

Substrate conveying method and substrate conveying device Download PDF

Info

Publication number
JP2006193267A
JP2006193267A JP2005005625A JP2005005625A JP2006193267A JP 2006193267 A JP2006193267 A JP 2006193267A JP 2005005625 A JP2005005625 A JP 2005005625A JP 2005005625 A JP2005005625 A JP 2005005625A JP 2006193267 A JP2006193267 A JP 2006193267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
support means
transfer apparatus
substrate transfer
back surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005005625A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masato Yonetani
真人 米谷
Junichi Ishida
淳一 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2005005625A priority Critical patent/JP2006193267A/en
Publication of JP2006193267A publication Critical patent/JP2006193267A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Rollers For Roller Conveyors For Transfer (AREA)
  • Attitude Control For Articles On Conveyors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate conveying method and a substrate conveying device capable of smoothly conveying a large substrate inclined at a large angle by reducing inconsistency of inclined conveyance associated with an increase in size of the substrate. <P>SOLUTION: The substrate conveying device 10 to convey a substrate 11 with an angle of inclination with respect to the horizontal plane has a substrate curving and supporting means 14 to curve the substrate 11 to be conveyed so as to have the curvature in the conveying direction, and the substrate curving and supporting means 14 includes a substrate back side supporting means 15 and a substrate lower end supporting means 16. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、たとえば大型のガラス、金属、合成樹脂、無機物などの矩形からなり、曲げ可能な薄板の基板を搬送する方法および装置に関する。   The present invention relates to a method and an apparatus for conveying a thin, bendable substrate made of a rectangle such as large glass, metal, synthetic resin, and inorganic material.

電子機器用パネル、たとえばThin Film Transistor(略称TFT)型の液晶パネルは、TFT基板とカラーフィルタ基板との2枚の薄板ガラス基板の積層体を有するものであり、TFT基板には基板の表面にTFTのパターンが形成される。このTFTのパターンは、成膜、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、レジスト剥離等からなる工程を7〜8回繰り返すことにより形成され、またこれらの工程の間には、基板の洗浄工程が加わる。   A panel for an electronic device, for example, a thin film transistor (abbreviated TFT) type liquid crystal panel has a laminate of two thin glass substrates, a TFT substrate and a color filter substrate, and the TFT substrate is provided on the surface of the substrate. A TFT pattern is formed. This TFT pattern is formed by repeating a process consisting of film formation, resist coating, exposure, development, etching, resist stripping, etc. 7 to 8 times, and a substrate cleaning process is added between these processes. .

TFTのパターン形成工程のうち、現像、エッチング、レジスト剥離および洗浄の各工程は、基板表面に所定の処理液を供給することによるウエット処理で行うのが一般的である。また、成膜、レジスト塗布、露光、エッチングの各工程は基板表面に所定の処理をドライ状態で行うのが一般的である。また、これらの処理を連続的に行う場合、各工程では、コンベアなどの搬送手段によって基板を搬送させる間に、基板表面に処理を行うのが一般的である。また、各工程間の基板の移動についても、近年、基板が大型化するのに伴い、コンベアなどの搬送機構により水平搬送するような平流し搬送形式が増加している。   Of the TFT pattern formation process, the development, etching, resist stripping, and cleaning processes are generally performed by wet processing by supplying a predetermined processing solution to the substrate surface. In addition, each process of film formation, resist coating, exposure, and etching is generally performed on a substrate surface in a dry state. Moreover, when performing these processes continuously, in each process, it is common to process a substrate surface while conveying a board | substrate by conveyance means, such as a conveyor. In addition, regarding the movement of the substrate between the processes, in recent years, as the size of the substrate increases, the number of flat-flow conveyance types in which the substrate is horizontally conveyed by a conveyance mechanism such as a conveyor is increasing.

一方、基板の大型化に伴い、搬送経路の面積が増大し、搬送装置の設置面積が肥大化するなどの問題がある。このような問題を解決する従来技術の一つに、基板を水平面に対して傾斜させて搬送する傾斜平流し搬送方式が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。特許文献1のように基板を水平面に対して傾斜させて搬送することによって、搬送経路の面積増大を抑制することができる。   On the other hand, with an increase in the size of the substrate, there are problems such as an increase in the area of the transfer path and an increase in the installation area of the transfer device. As one of the conventional techniques for solving such a problem, an inclined flat flow conveying system is proposed in which a substrate is conveyed while being inclined with respect to a horizontal plane (see, for example, Patent Document 1). By transporting the substrate inclined with respect to the horizontal plane as in Patent Document 1, an increase in the area of the transport path can be suppressed.

また、基板を傾斜させて搬送する方法としては、平流し搬送方式で採用されてきた搬送ローラにより基板の裏面を支え、基板の端面をローラで支持する方式が提案されている(特許文献2参照)。   In addition, as a method of transporting the substrate while inclining, a method has been proposed in which the back surface of the substrate is supported by a transport roller that has been employed in the flat flow transport method, and the end surface of the substrate is supported by the roller (see Patent Document 2). ).

また、洗浄、現像、エッチング、または剥離工程において、ウェット処理を用いる場合、たとえば、搬送方向に対して直交した面内でわずかに傾斜した基板搬送路の上を、傾斜姿勢で搬送される基板に洗浄処理をする方法が示されている(特許文献3参照)。   In addition, when wet processing is used in the cleaning, developing, etching, or peeling process, for example, on a substrate transported in an inclined posture on a substrate transport path that is slightly tilted in a plane orthogonal to the transport direction. A method of performing a cleaning process is shown (see Patent Document 3).

特許文献3の技術によれば、大型基板に対する洗浄、エッチング、剥離工程において、水平面に対して傾斜させた状態で基板を保持して処理を行うことにより、基板表面へ供給された処理液の置換効率の増大、基板表面における滞留液の削減により、処理液使用量の削減、洗浄効果の増大効果があるとされる。   According to the technique of Patent Document 3, in a cleaning, etching, and peeling process for a large substrate, the processing liquid supplied to the substrate surface is replaced by performing the processing while holding the substrate while being inclined with respect to the horizontal plane. By increasing the efficiency and reducing the staying liquid on the substrate surface, it is said that there is an effect of reducing the amount of processing liquid used and increasing the cleaning effect.

また基板を単に傾斜させるだけでなく、搬送される基板にできるだけひずみが生じないようにするとともに、基板をクリーンに搬送する装置として、上部に平面を有する通気性多孔質材を通して基板裏面に気体を噴出させ、基板裏面と多孔質材表面との間に気体層を形成させることによって基板を浮上させる浮上装置が提案されている(特許文献4参照)。   In addition to simply tilting the substrate, the substrate to be transported is prevented from being distorted as much as possible, and as a device for transporting the substrate cleanly, gas is introduced to the back surface of the substrate through a breathable porous material having a flat surface at the top. There has been proposed a levitation device that buoys and floats a substrate by forming a gas layer between the back surface of the substrate and the surface of the porous material (see Patent Document 4).

上記の従来技術に開示される基板搬送方法は、基板裏面を接触または非接触方式によって支持し、さらに傾斜させた基板の下端を鍔状のローラ側面部、ローラ周縁部またはローラをベルトで連結したベルトコンベア状の支持部で支持することにより、直板状の基板を傾斜搬送している。このような従来技術によれば、大型化した基板を充分に安定した状態で搬送することができないという問題がある。   In the substrate transport method disclosed in the above prior art, the back surface of the substrate is supported by a contact or non-contact method, and the lower end of the tilted substrate is connected to the side surface of the roller-shaped roller, the peripheral edge of the roller or the roller with a belt. By supporting by a belt conveyor-like support portion, a straight plate-like substrate is conveyed in an inclined manner. According to such a conventional technique, there is a problem that a large-sized substrate cannot be transported in a sufficiently stable state.

大型の基板を搬送または処理する場合、基板の自重が面積に比例して大きくなるにも関らず、基板の厚みは従来と同等またはより薄くなる傾向にあるので、基板の自重、外力および内的応力による基板のひずみが大きくなること、また製造時間の短縮に対する要求から基板の搬送速度が増加する傾向にあることなどから、大型基板の安定した搬送が難しくなっている。   When transporting or processing a large substrate, the thickness of the substrate tends to be the same or thinner than before, even though the weight of the substrate increases in proportion to the area. Since the distortion of the substrate due to the mechanical stress increases and the substrate conveyance speed tends to increase due to the demand for shortening the manufacturing time, it is difficult to stably convey the large substrate.

たとえば、典型的な従来の基板搬送装置による傾斜搬送時の基板のひずみについて例示する。図13は、従来の基板搬送装置1による基板2の搬送状態を示す図である。図13(a)は基板搬送装置1の側面図であり、図13(b)は傾斜方向から見た基板搬送装置1の上面図であり、図13(c)は基板搬送装置1の正面図である。   For example, the distortion of the substrate during the inclined conveyance by a typical conventional substrate conveyance device will be exemplified. FIG. 13 is a diagram illustrating a transport state of the substrate 2 by the conventional substrate transport apparatus 1. 13A is a side view of the substrate transport apparatus 1, FIG. 13B is a top view of the substrate transport apparatus 1 viewed from the tilt direction, and FIG. 13C is a front view of the substrate transport apparatus 1. It is.

基板2は、基板2の自重にかかる重力と、基板裏面支持体である裏面搬送ローラ3からの抗力によって、矢符4方向に力を受ける。この矢符4方向に作用する力は、基板の下端を支持する下端支持体である基板支持ボート5によって支えられる。基板支持ボート5と基板2とが接触している部分では、基板2全体の力を均等な力で支える必要がある。   The substrate 2 receives a force in the direction of the arrow 4 by the gravity applied to the weight of the substrate 2 and the drag from the back surface transport roller 3 which is the substrate back surface support. The force acting in the direction of the arrow 4 is supported by the substrate support boat 5 which is a lower end support that supports the lower end of the substrate. In the portion where the substrate support boat 5 and the substrate 2 are in contact, it is necessary to support the entire force of the substrate 2 with an equal force.

しかしながら、基板搬送経路の公差、基板2自体の重力によるたわみ、内部応力によるたわみ、また、特に洗浄などの処理を行ったときに供給される処理液などから受ける外力および振動によって、基板2の基板支持ボート5に対する位置ずれが発生する。この位置ずれに起因して基板2の局所に応力が発生し、局所的な割れが発生したり、さらに位置ずれが大きくなることによって、基板支持ボート5から基板2が脱落するなどの問題が発生する。   However, the substrate 2 has a substrate transport path tolerance, a deflection due to gravity of the substrate 2 itself, a deflection due to internal stress, and an external force and vibration received from a processing liquid supplied especially when processing such as cleaning is performed. A positional shift with respect to the support boat 5 occurs. Due to this displacement, stress is generated locally on the substrate 2, causing local cracks, and further increasing the displacement, causing problems such as dropping the substrate 2 from the substrate support boat 5. To do.

特開平10−81414号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-81414 特許第3384666号公報Japanese Patent No. 3384666 特開平9−155307号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-155307 特開2000−136024号公報JP 2000-136024 A

本発明の目的は、基板の大型化に伴う傾斜搬送の不安定性を低減し、高角度に傾斜させた大型基板を円滑に搬送できる基板搬送方法および基板搬送装置を提供することである。   An object of the present invention is to provide a substrate transport method and a substrate transport apparatus capable of reducing the instability of tilted transport accompanying the increase in size of a substrate and smoothly transporting a large substrate tilted at a high angle.

本発明は、基板を水平面に対して傾斜角度を有するようにして搬送する基板搬送方法において、
基板が、
搬送方向に関して曲率を有するように湾曲した状態で搬送されることを特徴とする基板搬送方法である。
The present invention provides a substrate transport method for transporting a substrate so as to have an inclination angle with respect to a horizontal plane.
The board is
A substrate transport method, wherein the substrate is transported in a curved state so as to have a curvature in the transport direction.

また本発明は、基板は、水平面に対して傾斜する基板の上方に臨む面側が凹状に湾曲した状態で搬送されることを特徴とする。   Further, the invention is characterized in that the substrate is transported in a state where the surface facing the upper side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane is curved in a concave shape.

また本発明は、基板は、水平面に対して傾斜する基板の下方に臨む面側が凹状に湾曲した状態で搬送されることを特徴とする。   Further, the invention is characterized in that the substrate is transported in a state where the surface side facing the lower side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane is curved in a concave shape.

また本発明は、基板の水平面に対する傾斜角度が、30度以上90度以下であることを特徴とする。   In addition, the present invention is characterized in that the inclination angle of the substrate with respect to the horizontal plane is not less than 30 degrees and not more than 90 degrees.

また本発明は、基板を水平面に対して傾斜角度を有するようにして搬送する基板搬送装置において、
搬送される基板を搬送方向に関して曲率を有するように湾曲させる基板湾曲支持手段を含むことを特徴とする基板搬送装置である。
Further, the present invention provides a substrate transfer apparatus for transferring a substrate so as to have an inclination angle with respect to a horizontal plane.
A substrate transport apparatus comprising substrate bending support means for bending a substrate to be transported so as to have a curvature in the transport direction.

また本発明は、基板湾曲支持手段は、水平面に対して傾斜する基板の下方に臨む面である裏面を支持する基板裏面支持手段を含み、
基板裏面支持手段は、
搬送される基板が、基板の搬送方向に関して曲率を有して湾曲した状態になるように構成されることを特徴とする。
In the present invention, the substrate bending support means includes substrate back surface support means for supporting a back surface that is a surface facing the lower side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane,
The substrate back surface support means is
The substrate to be transported is configured to be in a curved state with a curvature in the substrate transport direction.

また本発明は、基板裏面支持手段は、基板の傾斜方向に配置される複数の回転ローラを含むことを特徴とする。   Further, the invention is characterized in that the substrate back surface support means includes a plurality of rotating rollers arranged in the tilt direction of the substrate.

また本発明は、複数の回転ローラの直径が、配置される基板の傾斜方向の位置に応じてそれぞれ異なることを特徴とする。   Further, the present invention is characterized in that the diameters of the plurality of rotating rollers are different from each other depending on the position of the substrate in the tilt direction.

また本発明は、直径が異なる複数の回転ローラは、回転軸が水平面に対して略垂直になるようにそれぞれ設けられることを特徴とする。   Further, the present invention is characterized in that the plurality of rotating rollers having different diameters are provided so that the rotation axis is substantially perpendicular to the horizontal plane.

また本発明は、基板裏面支持手段は、
直径が異なる複数の回転ローラを駆動させる駆動手段と、
複数の回転ローラを、回転ローラの直径ごとに異なる回転数で回転させるように駆動手段の動作を制御する回転制御手段とを含むことを特徴とする。
In the present invention, the substrate back surface supporting means is
Driving means for driving a plurality of rotating rollers having different diameters;
And a rotation control means for controlling the operation of the driving means so as to rotate the plurality of rotating rollers at different rotational speeds for each diameter of the rotating rollers.

また本発明は、基板湾曲支持手段は、水平面に対して傾斜する基板の下端部を支持する基板下端支持手段を含み、
基板下端支持手段は、搬送される基板が、基板の搬送方向に関して曲率を有して湾曲した状態になるように構成されることを特徴とする。
In the present invention, the substrate bending support means includes substrate lower end support means for supporting the lower end portion of the substrate inclined with respect to the horizontal plane,
The substrate lower end support means is configured such that the substrate to be transported is curved with a curvature with respect to the substrate transport direction.

また本発明は、基板下端支持手段は、
回転軸が基板の搬送方向にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の回転ローラを備える回転ローラ構造であることを特徴とする。
In the present invention, the substrate lower end supporting means is
The rotating roller structure includes a plurality of rotating rollers provided such that the rotating shafts intersect each other in the substrate transport direction.

また本発明は、基板下端支持手段は、
回転軸が基板の搬送方向にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の回転ローラに巻きまわされるベルトを備えるベルト構造であることを特徴とする。
In the present invention, the substrate lower end supporting means is
The belt structure includes a belt wound around a plurality of rotating rollers provided such that the rotation shafts intersect each other in the substrate transport direction.

また本発明は、基板下端支持手段は、基板の下端に当接して支持する下端支持部を備え、
下端支持部は、搬送される基板とともに移動し、基板との当接部において基板と摺動することがないボート構造であることを特徴とする。
In the present invention, the substrate lower-end support means includes a lower-end support portion that contacts and supports the lower end of the substrate,
The lower end support portion has a boat structure that moves with the substrate to be conveyed and does not slide with the substrate at the contact portion with the substrate.

また本発明は、下端支持部が、ピン状に形成されることを特徴とする。
また本発明は、基板の表面を臨んで設けられる処理ノズルから基板に対して処理液を噴射して基板を処理する基板処理装置であって、
前記いずれか1つの基板搬送装置を備えることを特徴とする基板処理装置である。
Further, the present invention is characterized in that the lower end support portion is formed in a pin shape.
Further, the present invention is a substrate processing apparatus for processing a substrate by spraying a processing liquid onto a substrate from a processing nozzle provided facing the surface of the substrate,
A substrate processing apparatus comprising any one of the substrate transfer apparatuses.

本発明によれば、大型の基板を水平面に対して傾斜させた状態で搬送するとき、基板を湾曲させた状態で搬送することによって、基板に均一な内部応力を発生させ、重力およびその他処理における外力、また搬送系のゆれなどに対しても、高角度に傾斜させた大型基板を安定して円滑に搬送することが可能になる。   According to the present invention, when a large substrate is transported while being inclined with respect to a horizontal plane, by transporting the substrate in a curved state, uniform internal stress is generated on the substrate, and in gravity and other processing. It is possible to stably and smoothly transport a large substrate inclined at a high angle against external force and transport system fluctuation.

また本発明によれば、基板湾曲支持手段が、搬送される基板を搬送方向に関して曲率を有するように湾曲させることによって、基板を湾曲させた状態で搬送することができるので、上記と同一の効果を奏することのできる基板搬送装置が提供される。   Further, according to the present invention, the substrate bending support means can convey the substrate to be conveyed in a curved state by curving the substrate to be conveyed so as to have a curvature in the conveyance direction. A substrate transport apparatus capable of achieving the above is provided.

また本発明によれば、傾斜基板を湾曲させた状態で搬送する基板搬送装置が備わるので、処理液が作用する場合でも安定した搬送が可能で処理効果が高く、かつ処理液使用量を抑制することのできる基板処理装置が提供される。   In addition, according to the present invention, since the substrate transport apparatus that transports the inclined substrate in a curved state is provided, stable transport is possible even when the processing liquid acts, the processing effect is high, and the amount of processing liquid used is suppressed. A substrate processing apparatus capable of performing the above is provided.

図1は本発明の実施の第1形態である基板搬送装置10の構成を示す傾斜方向から見た上面図であり、図2は図1に示す基板搬送装置10の正面図であり、図3は図2の切断面線III−IIIから見た断面図である。ここで、基板搬送装置における「搬送」の用語は、水平方向または垂直方向などの移動方向について限定されず、また、基板姿勢を保持した状態で平行移動する移動に限定されることなく、たとえば、基板を回転運動させる場合など、基板を水平から傾斜状態、あるいは傾斜状態から水平状態、あるいはある傾斜状態から他の傾斜状態へ移行させるなど、基板を移動させる全ての動作を意味するものとして用いる。   FIG. 1 is a top view of the substrate transfer apparatus 10 according to the first embodiment of the present invention as viewed from the tilt direction, and FIG. 2 is a front view of the substrate transfer apparatus 10 shown in FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the section line III-III in FIG. 2. Here, the term “transport” in the substrate transport apparatus is not limited to the movement direction such as the horizontal direction or the vertical direction, and is not limited to the movement that moves in parallel while maintaining the substrate posture. It is used to mean all operations for moving the substrate, such as when the substrate is rotated, such as when the substrate is moved from the horizontal to the inclined state, from the inclined state to the horizontal state, or from one inclined state to another inclined state.

基板搬送装置10は、基板11を水平面12に対して傾斜角度θを有するようにして矢符13方向へ搬送する。この基板搬送装置10には、搬送される基板11を矢符13で示す搬送方向に関して曲率を有するように湾曲させる基板湾曲支持手段14が設けられることを特徴とする。   The substrate transport apparatus 10 transports the substrate 11 in the direction of the arrow 13 so as to have an inclination angle θ with respect to the horizontal plane 12. The substrate transfer apparatus 10 is provided with substrate bending support means 14 for bending the substrate 11 to be transferred so as to have a curvature with respect to the transfer direction indicated by an arrow 13.

基板搬送装置10の基板湾曲支持手段14は、水平面12に対して傾斜する基板11の下方に臨む面である裏面11aを支持する基板裏面支持手段15と、基板11の下端部11bを支持する基板下端支持手段16とを含む。なお、図1および図3中、参照符号Aにて示す方向が、基板11の自重にかかる重力と、基板裏面支持手段15からの抗力とによって作用する力の方向であり、ここでは便宜上傾斜方向と呼ぶことがある。   The substrate bending support means 14 of the substrate transport apparatus 10 includes a substrate back surface support means 15 that supports a back surface 11a that faces the lower surface of the substrate 11 that is inclined with respect to the horizontal plane 12, and a substrate that supports the lower end portion 11b of the substrate 11. Lower end support means 16. 1 and 3, the direction indicated by reference sign A is the direction of the force acting by the gravity applied to the weight of the substrate 11 and the drag force from the substrate back surface support means 15. Sometimes called.

基板裏面支持手段15および基板下端支持手段16は、搬送される基板11が、基板の搬送方向13に関して曲率を有して湾曲した状態になるように構成される。   The substrate back surface support means 15 and the substrate lower end support means 16 are configured such that the substrate 11 to be transported is curved with a curvature with respect to the substrate transport direction 13.

基板裏面支持手段15は、回転軸が基板搬送方向13に対して垂直になるようにそれぞれ配置される複数の裏面搬送ローラ21を含み、複数の裏面搬送ローラ21は、それぞれの回転軸線を含む仮想平面22が、曲率を有し、傾斜方向に対して上方側で凹状に湾曲するように配置される。したがって、複数の裏面搬送ローラ21を含む基板裏面支持手段15に支持される基板11は、基板11の自重に作用する重力によって、水平面に対して傾斜する基板11の上方に臨む面である表面11c側が凹状に湾曲する。   The substrate back surface support means 15 includes a plurality of back surface transport rollers 21 arranged so that the rotation axis is perpendicular to the substrate transport direction 13, and the plurality of back surface transport rollers 21 are virtual including each rotation axis. The plane 22 has a curvature and is disposed so as to be curved in a concave shape on the upper side with respect to the inclination direction. Therefore, the substrate 11 supported by the substrate back surface support means 15 including the plurality of back surface transport rollers 21 is a surface 11c that faces the substrate 11 inclined with respect to the horizontal plane due to gravity acting on the weight of the substrate 11. The side is concavely curved.

これら複数の裏面搬送ローラ21は、不図示の駆動手段によって、回転軸線まわりに矢符23方向にそれぞれ回転駆動される。裏面搬送ローラ21の回転駆動は、1つの裏面搬送ローラ21を駆動手段で回転駆動し、回転駆動される裏面搬送ローラ21と残余の裏面搬送ローラ21とをたとえばチェーンなどで連結するようにして行われても良く、また個々の裏面搬送ローラ21をそれぞれ駆動手段で回転駆動させるようにしても良い。   The plurality of back surface conveying rollers 21 are driven to rotate around the rotation axis in the direction of the arrow 23 by a driving unit (not shown). Rotation driving of the back surface conveyance roller 21 is performed by rotating one back surface conveyance roller 21 by a driving means and connecting the rotationally driven back surface conveyance roller 21 and the remaining back surface conveyance roller 21 with, for example, a chain. Alternatively, the individual back surface transport rollers 21 may be driven to rotate by driving means.

基板下端支持手段16は、水平面に対して平行な同一平面上に配置される断面が略L字状の複数の下端支持部24を含み、複数の下端支持部24は、下端支持部24を連ねる仮想平面が、曲率を有し、傾斜方向に対して上方側で凹状に湾曲するように配置される。   The substrate lower end support means 16 includes a plurality of lower end support portions 24 having a substantially L-shaped cross section disposed on the same plane parallel to the horizontal plane, and the plurality of lower end support portions 24 are connected to the lower end support portions 24. The virtual plane has a curvature and is arranged to be concavely curved on the upper side with respect to the tilt direction.

複数の下端支持部24は、不図示のベルトで連結され、該ベルトを駆動する駆動手段の動作によって、等しい速度で矢符13方向に移動する。このような基板11を載置した状態で下端支持部24が基板11とともに移動する構造をボート構造と呼ぶ。下端支持部24が、搬送される基板11とともに移動することによって、基板11との当接部において基板11と摺動することがなくなるので、摺動に起因するパーティクルの発生を防止することができ、清浄性を向上することができる。   The plurality of lower end support portions 24 are connected by a belt (not shown), and move in the direction of the arrow 13 at an equal speed by the operation of a driving unit that drives the belt. A structure in which the lower end support 24 moves together with the substrate 11 in a state where the substrate 11 is placed is referred to as a boat structure. Since the lower end support portion 24 moves together with the substrate 11 to be transported, it does not slide with the substrate 11 at the contact portion with the substrate 11, so that generation of particles due to sliding can be prevented. , The cleanliness can be improved.

基板11は、上記のように構成される基板裏面支持手段15によって裏面11aを支持され、基板下端支持手段16によって下端11bを支持されるので、表面11c側で凹状に湾曲した状態で矢符13方向に搬送される。基板11を湾曲させることによって、基板11の全面にわたって応力が作用するので、搬送の振動および洗浄処理などによる基板11に対する偏りのある応力、また基板11自体が持つ内部応力の作用を減殺し、基板の姿勢を安定に保持することができる。また、基板11の曲率方向に対して垂直な曲げ軸方向である傾斜方向Aは、基板11に作用する力の方向と一致するので、曲げモーメントが基板に発生することが防止される。   Since the substrate 11 is supported on the back surface 11a by the substrate back surface support means 15 configured as described above and is supported on the bottom surface 11b by the substrate bottom edge support means 16, the arrow 13 in a state of being curved concavely on the front surface 11c side. Conveyed in the direction. By bending the substrate 11, stress acts on the entire surface of the substrate 11, so that the biased stress with respect to the substrate 11 due to the vibration of the conveyance and the cleaning process, and the internal stress of the substrate 11 itself are reduced. Can be held stably. In addition, since the tilt direction A, which is the bending axis direction perpendicular to the curvature direction of the substrate 11, coincides with the direction of the force acting on the substrate 11, a bending moment is prevented from being generated in the substrate.

次に、基板11の傾斜角度θの範囲について説明する。傾斜角度θは、30度以上90度以下であることが好ましい。   Next, the range of the inclination angle θ of the substrate 11 will be described. The inclination angle θ is preferably 30 degrees or greater and 90 degrees or less.

基板を水平から傾斜させることにより、基板搬送装置の設置面積増大を抑制し、また基板搬送装置を備える基板処理装置によるウェット処理における性能向上が見込まれる。その性能向上効果は、基板の傾斜角度を大きくするほど高くなる。しかしながら、基板を湾曲させることなく直板のまま傾斜角度を大きくすると、重力による影響で基板下端付近および端面の支持部分に応力が集中し、搬送状態が不安定になり、基板に割れまたは欠けなどを生じることがある。このような搬送状態の不安定、基板の割れまたは欠けなどは、基板の傾斜角度が30度以上になると発生しやすくなる。   By tilting the substrate from the horizontal, an increase in the installation area of the substrate transfer apparatus is suppressed, and an improvement in performance in wet processing by the substrate processing apparatus including the substrate transfer apparatus is expected. The performance improvement effect becomes higher as the tilt angle of the substrate is increased. However, if the inclination angle is increased without bending the substrate, the stress is concentrated near the lower end of the substrate and the supporting part of the end surface due to the influence of gravity, the transport state becomes unstable, and the substrate is cracked or chipped. May occur. Such instability of the transport state, cracking or chipping of the substrate, etc. are likely to occur when the inclination angle of the substrate is 30 degrees or more.

本発明は、傾斜状態において基板を曲面状態にして支持搬送することによって、基板に対する応力の集中を抑制するものであり、上記の直板状態では種々の問題が発生する傾斜角度30度以上において、顕著に応力集中抑制効果が発現される。本発明は、基板の傾斜角度が30度未満でもその効果を有するけれども、直板状態で搬送する場合との差異が顕著ではないので、傾斜角度30度以上で適用されることが好ましい。   The present invention suppresses concentration of stress on the substrate by supporting and transporting the substrate in a curved state in an inclined state, and is prominent at an inclination angle of 30 degrees or more where various problems occur in the above-described straight plate state. The stress concentration suppressing effect is exhibited. Although the present invention has the effect even when the inclination angle of the substrate is less than 30 degrees, it is preferably applied at an inclination angle of 30 degrees or more because the difference from the case of transporting in a straight plate state is not significant.

また、通常液晶素子の製造工程においては、半導体素子を製作する面を基板の表面とし、基板はその表面を上方に向けて搬送される。したがって、基板の傾斜角度が90度を超える場合、前記表面が下向きになる状態であり、本発明のように裏面を支持して搬送する場合、重力が逆向きに作用し、基板が装置から落下する恐れもあるので、傾斜角度を90度以下にしないと、本発明を適用することができない。このことから、基板11の好ましい傾斜角度θを30度以上、90度以下とした。   Further, in the manufacturing process of the liquid crystal element, the surface on which the semiconductor element is manufactured is used as the surface of the substrate, and the substrate is transported with the surface facing upward. Therefore, when the tilt angle of the substrate exceeds 90 degrees, the front surface is in a downward state, and when the rear surface is supported and transported as in the present invention, gravity acts in the opposite direction, and the substrate drops from the apparatus. Therefore, the present invention cannot be applied unless the inclination angle is 90 degrees or less. Therefore, the preferable inclination angle θ of the substrate 11 is set to 30 degrees or more and 90 degrees or less.

また基板11の曲率については、曲率が大きいすなわち曲率半径Rが小さいほど、搬送安定化に及ぼす効果が大きいけれども、基板が完全な平面状を呈する直板でない限り、微小な曲率すなわち大きい曲率半径Rであるとしても、搬送安定化効果を得ることが可能である。したがって、基板11の曲率は、特定の値に限定されることなく、基板11の大きさに応じて決定されてよいけれども、好ましくは曲率半径Rが、基板11の搬送方向長さの5倍以下である。   As for the curvature of the substrate 11, the larger the curvature, that is, the smaller the curvature radius R, the greater the effect on the stabilization of the conveyance. However, unless the substrate is a straight plate having a perfect planar shape, the curvature is small, that is, a large curvature radius R. Even if there is, it is possible to obtain a transport stabilization effect. Therefore, the curvature of the substrate 11 is not limited to a specific value and may be determined according to the size of the substrate 11, but preferably the curvature radius R is not more than 5 times the length of the substrate 11 in the transport direction. It is.

図4は、本発明の実施の第2形態である基板搬送装置30の構成を示す傾斜方向から見た上面図である。本実施形態の基板搬送装置30は、実施の第1形態の基板搬送装置10に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略するとともに、側面図および正面図を省略する。   FIG. 4 is a top view seen from the inclination direction showing the configuration of the substrate transfer apparatus 30 according to the second embodiment of the present invention. The substrate transfer apparatus 30 of the present embodiment is similar to the substrate transfer apparatus 10 of the first embodiment, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted, and a side view and a front view are omitted. To do.

基板搬送装置30において注目すべきは、基板湾曲支持手段31を構成する基板裏面支持手段32および基板下端支持手段33が、水平面に対して傾斜する基板11の下方に臨む面である裏面11a側が凹状になるように湾曲、すなわち実施の第1形態の場合とは逆の方向に湾曲させるように構成されることである。基板11を実施の第1形態とは逆方向に湾曲させて支持し搬送する本実施の形態の基板搬送装置30も、実施の第1形態の基板搬送装置10と同一の効果を奏することができる。   It should be noted in the substrate transport apparatus 30 that the substrate back surface support means 32 and the substrate lower end support means 33 constituting the substrate bending support means 31 are concave on the back surface 11a side, which is the surface facing the lower side of the substrate 11 inclined with respect to the horizontal plane. To be curved, that is, configured to bend in the opposite direction to the case of the first embodiment. The substrate transport apparatus 30 of the present embodiment that supports and transports the substrate 11 curved in the direction opposite to that of the first embodiment can also achieve the same effects as the substrate transport apparatus 10 of the first embodiment. .

図5は、本発明の実施の第3形態である基板搬送装置40の構成を示す傾斜方向から見た図である。本実施形態の基板搬送装置40は、実施の第1および第2形態の基板搬送装置10,30に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 5 is a diagram showing a configuration of the substrate transfer apparatus 40 according to the third embodiment of the present invention, viewed from an inclination direction. The substrate transfer apparatus 40 of this embodiment is similar to the substrate transfer apparatuses 10 and 30 of the first and second embodiments, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

基板搬送装置40は、実施の第1形態の基板搬送装置10と実施の第2形態の基板搬送装置30とを組合せたものである。すなわち、基板搬送装置40において、第1形態の基板搬送装置10に該当する部分では、基板11は、表面11c側が凹状になるように湾曲した状態で搬送され、第2形態の基板搬送装置30に該当する部分では、基板11は、裏面11a側が凹状(表面11c側が凸状)になるように湾曲した状態で搬送される。このような基板搬送装置40では、実施の第1形態の基板搬送装置10と同一の効果を奏することができるとともに、基板11を搬送し始める際の基板の方向と、基板11を搬送し終わって次工程の装置などへ渡す際の基板の方向とが略平行になるので、工程の搬送装置を配置しやすいという効果を奏することができる。   The substrate transfer device 40 is a combination of the substrate transfer device 10 of the first embodiment and the substrate transfer device 30 of the second embodiment. That is, in the substrate transport apparatus 40, at the portion corresponding to the substrate transport apparatus 10 of the first form, the substrate 11 is transported in a curved state so that the front surface 11c side is concave, and is transferred to the substrate transport apparatus 30 of the second form. At the corresponding portion, the substrate 11 is conveyed in a curved state so that the back surface 11a side is concave (the front surface 11c side is convex). In such a substrate transport apparatus 40, the same effect as the substrate transport apparatus 10 of the first embodiment can be obtained, the direction of the substrate when the substrate 11 starts to be transported, and the transport of the substrate 11 is completed. Since the direction of the substrate when passing to the next process apparatus or the like is substantially parallel, it is possible to provide an effect that it is easy to arrange the transport apparatus for the process.

図6は本発明の実施の第4形態である基板搬送装置45の構成を示す正面図であり、図7は図6に示す切断面線VII−VIIから見た図である。本実施形態の基板搬送装置45は、実施の第1形態の基板搬送装置10に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 6 is a front view showing a configuration of a substrate transfer device 45 according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a view as seen from a cutting plane line VII-VII shown in FIG. The substrate transfer device 45 of this embodiment is similar to the substrate transfer device 10 of the first embodiment, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

本実施形態の基板搬送装置45において注目すべきは、基板湾曲支持手段46の基板裏面支持手段47が裏面支持浮上ユニットで構成され、基板下端支持手段48が、回転軸52が基板11の搬送方向13にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の回転ローラである端面支持ローラ49を含む回転ローラ構造を有することである。   It should be noted that in the substrate transport apparatus 45 of this embodiment, the substrate back surface support means 47 of the substrate bending support means 46 is constituted by a back surface support floating unit, the substrate lower end support means 48 is configured so that the rotation shaft 52 is in the transport direction of the substrate 11. 13 has a rotating roller structure including end surface support rollers 49 which are a plurality of rotating rollers provided so as to intersect with each other.

基板裏面支持手段47である裏面支持浮上ユニットは、基板11の裏面11aを臨む側に、たとえば焼結金属フィルタなどの多孔質部材が装着され、基板11の裏面11aを臨む側で凹状に湾曲した薄型の箱状部材である。この裏面支持浮上ユニット47は、加圧された空気を供給する空気供給源に配管によって接続され、箱状の内部空間に供給された加圧空気が多孔質部材を介して搬送される基板11の裏面11aに向けて噴射される。したがって、基板裏面11aに臨み多孔質部材が装着されている面を便宜上噴射面50と呼ぶ。噴射面50が凹状に形成されているので、基板11が、噴射面50から噴射される空気圧と自重に作用する重力とによって噴射面50の形状に沿って凹状に浮上支持される。   The back surface support levitation unit which is the substrate back surface support means 47 is mounted with a porous member such as a sintered metal filter on the side facing the back surface 11a of the substrate 11 and curved concavely on the side facing the back surface 11a of the substrate 11. It is a thin box-shaped member. The back surface support levitation unit 47 is connected to an air supply source for supplying pressurized air by piping, and the pressurized air supplied to the box-shaped internal space is conveyed through the porous member of the substrate 11. Injected toward the back surface 11a. Therefore, the surface on which the porous member is mounted facing the substrate back surface 11a is referred to as an ejection surface 50 for convenience. Since the ejection surface 50 is formed in a concave shape, the substrate 11 is levitated and supported in a concave shape along the shape of the ejection surface 50 by the air pressure ejected from the ejection surface 50 and the gravity acting on its own weight.

裏面支持浮上ユニット47のみでは、基板11を搬送推進する力が無いので、基板下端支持手段48を構成する端面支持ローラ49を矢符51方向に回転駆動させることによって、基板11の下部端面11bを支持しつつ基板11を矢符13方向へ搬送する。   Since only the back surface support levitation unit 47 does not have a force to convey and propel the substrate 11, the end surface support roller 49 constituting the substrate lower end support means 48 is driven to rotate in the direction of the arrow 51, thereby lowering the lower end surface 11 b of the substrate 11. The substrate 11 is transported in the direction of the arrow 13 while being supported.

このような基板搬送装置45によれば、基板11が基板裏面支持手段47と接触することがないので、パーティクルの発生および裏面11aへの付着の問題が低減される。したがって、基板浮上ユニットを用いるような構成は、主にパーティクルの発生および付着が影響するような、超清浄プロセスに適用され、たとえば液晶のTFTアレイプロセスなどが、その対象となる。基板を浮上させる方法としては、上記の空気を高圧で基板の裏面に吹付ける方法に限定されることなく、裏面支持浮上ユニットで静電気を発生させ、該静電気によって基板を浮上させる方法などが用いられても良い。   According to such a substrate transport device 45, the substrate 11 does not come into contact with the substrate back surface support means 47, so that problems of generation of particles and adhesion to the back surface 11a are reduced. Therefore, the configuration using the substrate levitation unit is applied to an ultra-clean process in which generation and adhesion of particles are mainly affected. For example, a liquid crystal TFT array process is an object. The method of floating the substrate is not limited to the above-described method of blowing the air to the back surface of the substrate at a high pressure, and a method of generating static electricity on the back surface support levitation unit and floating the substrate by the static electricity is used. May be.

なお、本実施の形態では、基板下端支持手段は、回転軸が基板の搬送方向にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の端面支持ローラを有する回転ローラ構造であるけれども、これに限定されることなく、回転ローラである端面支持ローラにさらに巻きまわされるベルトを備えるベルト構造であっても良い。   In the present embodiment, the substrate lower end supporting means has a rotating roller structure having a plurality of end surface supporting rollers provided so that the rotating shafts intersect each other in the substrate transport direction. However, the present invention is not limited to this. The belt structure may further include a belt that is further wound around an end surface supporting roller that is a rotating roller.

図8は本発明の実施の第5形態である基板搬送装置55の構成を簡略化して示す側面図であり、図9は図8に示す基板搬送装置55の基板裏面支持手段57の構成を簡略化して示す斜視図である。   FIG. 8 is a side view showing a simplified configuration of the substrate transfer device 55 according to the fifth embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a simplified configuration of the substrate back surface support means 57 of the substrate transfer device 55 shown in FIG. FIG.

本実施形態の基板搬送装置55は、基板湾曲支持手段56の基板裏面支持手段57に特徴を有する。   The substrate transport device 55 of this embodiment is characterized by the substrate back surface support means 57 of the substrate curve support means 56.

基板裏面支持手段57は、基板11の傾斜方向に配置される複数の回転ローラ58a,58b,58c,58dと、複数の回転ローラ58a〜58dを駆動させる駆動手段59a,59b,59c,59dと、駆動手段59a〜59dの動作を制御する回転制御手段60とを含む。   The substrate back surface support means 57 includes a plurality of rotating rollers 58a, 58b, 58c, and 58d arranged in the inclination direction of the substrate 11, and driving means 59a, 59b, 59c, and 59d that drive the plurality of rotating rollers 58a to 58d, And rotation control means 60 for controlling the operation of the drive means 59a to 59d.

基板11の傾斜方向に配置される複数の回転ローラ58a〜58dは、回転軸61(本実施形態では回転軸61が共通)が水平面に対して略垂直、すなわち鉛直方向になるようにそれぞれ設けられ、鉛直方向に上から下に向って配置される位置に応じてそれぞれ直径が異なる。本実施の形態においては、鉛直方向に上から下に向って配置される回転ローラ58a〜58dの直径が順次大きくなるように構成される。すなわち、参照符号で回転ローラ58a〜58dの直径を表すとすれば、その大小関係は、58a<58b<58c<58dとなる。   The plurality of rotating rollers 58a to 58d arranged in the inclination direction of the substrate 11 are provided such that the rotating shaft 61 (the rotating shaft 61 is common in the present embodiment) is substantially perpendicular to the horizontal plane, that is, the vertical direction. The diameters are different depending on the positions arranged in the vertical direction from top to bottom. In the present embodiment, the diameters of the rotating rollers 58a to 58d arranged in the vertical direction from the top to the bottom are sequentially increased. In other words, if the reference numerals represent the diameters of the rotating rollers 58a to 58d, the magnitude relationship is 58a <58b <58c <58d.

この直径がそれぞれ異なる4つの回転ローラ58a〜58dを1組として回転ローラ群58と呼ぶ。基板搬送装置55では、この回転ローラ群58がさらに複数組備えられ、複数組の回転ローラ群58が、それぞれの回転軸61を連ねる円弧が仮想円62の一部を成すように配置される。このことによって、基板裏面支持手段57に支持される基板11が、水平面に対して傾斜角度を有するように、かつ基板11の表面11c側が凹状に湾曲するようにして支持される。なお、図9では、図の煩雑化を避けるために回転ローラ58d、駆動手段59a〜59d、回転制御手段60および基板下端支持手段48の図示を省略する。   A group of four rotating rollers 58a to 58d having different diameters is referred to as a group of rotating rollers 58. In the substrate transport device 55, a plurality of sets of rotating roller groups 58 are provided, and the plurality of sets of rotating roller groups 58 are arranged such that an arc connecting the respective rotating shafts 61 forms a part of the virtual circle 62. As a result, the substrate 11 supported by the substrate back surface support means 57 is supported such that the substrate 11 has an inclination angle with respect to the horizontal plane and the surface 11c side of the substrate 11 is curved in a concave shape. In FIG. 9, in order to avoid complication of the drawing, the illustration of the rotation roller 58d, the drive means 59a to 59d, the rotation control means 60, and the substrate lower end support means 48 is omitted.

駆動手段59a〜59dは、たとえば電動機である。電動機は、個々の回転ローラにそれぞれ設けられてもよいけれども、装置コスト上、各回転ローラ群58に含まれるたとえば回転ローラ58aをチェーンなどで連結し、1基の電動機ですべての回転ローラ58aを回転させることが好ましい。これは回転ローラ58b,58c,58dについても同様である。   Drive means 59a-59d is an electric motor, for example. Although the electric motor may be provided for each rotating roller, for example, the rotating roller 58a included in each rotating roller group 58 is connected by a chain or the like, and all the rotating rollers 58a are connected by one electric motor. It is preferable to rotate. The same applies to the rotating rollers 58b, 58c, and 58d.

各回転ローラ58a,58b,58c,58dをそれぞれ回転駆動させる各駆動手段59a〜59dは、回転制御手段60に接続される。回転制御手段60は、電源と大規模集積回路(LSI)などから成る処理回路とを備え、LSI部分には記憶部も備えられる。回転制御手段60は、記憶部に予めストアされる動作プログラムに従い、回転ローラ58a〜58dを、直径ごとに異なる回転数で回転させるように駆動手段59a〜59dの動作を制御する。本実施形態の基板搬送装置55では、各回転ローラ58a〜58dの回転数が、その直径に反比例する比で回転されるように制御される。たとえば、各回転ローラ58a,58b,58c,58dの直径の比が、1:2:3:4の場合、各回転ローラ58a,58b,58c,58dが、4:3:2:1の回転数で回転するように制御される。   The driving means 59a to 59d for rotating the respective rotating rollers 58a, 58b, 58c, 58d are connected to the rotation control means 60. The rotation control means 60 includes a power supply and a processing circuit including a large scale integrated circuit (LSI), and the LSI portion is also provided with a storage unit. The rotation control means 60 controls the operation of the drive means 59a to 59d so as to rotate the rotation rollers 58a to 58d at different rotation speeds for each diameter according to an operation program stored in advance in the storage unit. In the substrate transfer device 55 of the present embodiment, the rotation speed of each of the rotation rollers 58a to 58d is controlled to rotate at a ratio that is inversely proportional to the diameter. For example, when the ratio of the diameters of the rotating rollers 58a, 58b, 58c, and 58d is 1: 2: 3: 4, the rotating rollers 58a, 58b, 58c, and 58d rotate at 4: 3: 2: 1. It is controlled to rotate at.

また本実施形態の基板搬送装置55の基板下端支持手段48は、実施の第4形態の基板搬送装置45に備わる基板下端支持手段と同一に構成され、複数の端面支持ローラ49を含む回転ローラ構造を有する。基板11の下端11bを支持した状態で、端面支持ローラ49を矢符63方向へ回転させることによって基板11を搬送する。   The substrate lower end support means 48 of the substrate transfer apparatus 55 of the present embodiment is configured in the same manner as the substrate lower end support means provided in the substrate transfer apparatus 45 of the fourth embodiment, and includes a rotating roller structure including a plurality of end surface support rollers 49. Have In a state where the lower end 11b of the substrate 11 is supported, the end surface support roller 49 is rotated in the direction of the arrow 63 to convey the substrate 11.

このような基板湾曲支持手段は、基板11の表面側が凹状、基板11の表面側が凸状、または凹状と凸状との組合わせによるいずれの構成に対しても適用が可能である。このような構成の基板湾曲支持手段とすることによって、簡単な装置構成で、搬送レベルを一定の高さに保ちながら基板11を搬送することが可能になる。   Such substrate bending support means can be applied to any configuration in which the surface side of the substrate 11 is concave, the surface side of the substrate 11 is convex, or a combination of concave and convex shapes. By using the substrate bending support means having such a configuration, the substrate 11 can be transported while keeping the transport level at a constant height with a simple apparatus configuration.

図10は本発明のもう一つの実施形態である基板処理装置70の構成を簡略化して示す傾斜方向から見た図であり、図11は図10に示す基板処理装置70の側面図および正面図である。本実施形態の基板処理装置70に備わる基板搬送装置71は、上記各実施形態の基板搬送装置の部分に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 10 is a view seen from an inclined direction showing a simplified configuration of a substrate processing apparatus 70 according to another embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a side view and a front view of the substrate processing apparatus 70 shown in FIG. It is. The substrate transfer device 71 provided in the substrate processing apparatus 70 of the present embodiment is similar to the portion of the substrate transfer device of each of the embodiments described above, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

基板処理装置70は、基板搬送装置71で矢符13方向に搬送される基板11の表面を臨んで設けられる処理ノズル72から基板11に対して処理液73を噴射して基板11を処理することに用いられる。基板処理装置70に備わる基板搬送装置71は、実施の第2形態と同様の基板裏面支持手段32と、実施の第4形態と同様の基板下端支持手段48とを備え、基板裏面支持手段32と基板下端支持手段48とで基板湾曲支持手段74を構成する。   The substrate processing apparatus 70 processes the substrate 11 by spraying a processing liquid 73 onto the substrate 11 from a processing nozzle 72 provided facing the surface of the substrate 11 transported in the direction of arrow 13 by the substrate transport apparatus 71. Used for. A substrate transfer device 71 provided in the substrate processing apparatus 70 includes a substrate back surface support means 32 similar to that of the second embodiment, and a substrate lower end support means 48 similar to that of the fourth embodiment. A substrate bending support means 74 is constituted by the substrate lower end support means 48.

処理ノズル72は、ノズル口75が、被処理材である搬送基板11の表面11cを臨み、基板11の搬送方向13に対して角度αを有し、また基板11の搬送方向13の下流側から上流側に向って処理液73を噴射することができるように、鉛直線76に対して傾斜角度βを有するようにして設けられる。この処理ノズル72には不図示の処理液供給手段が接続され、処理液供給手段から供給されるたとえばレジスト剥離液または洗浄液である純水などのウェット処理液を、基板11の処理面である表面11cに対してノズル口75から噴射させ、枚様にて基板11のウェット処理を行う。   In the processing nozzle 72, the nozzle port 75 faces the surface 11 c of the transport substrate 11 that is the material to be processed, has an angle α with respect to the transport direction 13 of the substrate 11, and from the downstream side of the transport direction 13 of the substrate 11. It is provided so as to have an inclination angle β with respect to the vertical line 76 so that the treatment liquid 73 can be ejected toward the upstream side. A processing liquid supply means (not shown) is connected to the processing nozzle 72, and a wet processing liquid such as pure water that is a resist stripping solution or a cleaning liquid supplied from the processing liquid supply means is used as a processing surface of the substrate 11. 11c is sprayed from the nozzle port 75, and the substrate 11 is wet-treated in a sheet-like manner.

このウェット処理時、基板11は、基板搬送装置71によって、水平面12から角度θだけ傾斜し、かつ表面11c側に凸状(裏面11a側に凹状)に湾曲した状態で搬送される。基板11が水平面12から傾斜した状態でウェット処理が行われるので、処理液73の基板11上における滞留を防いで置換効率を向上させ、処理槽間の処理液の持出し量を削減することができる。したがって、洗浄またはレジスト剥離等のウェット処理工程において、洗浄または剥離力の増加にともなう処理時間の削減、洗浄効果の向上、また処理液使用量の削減等の効果が得られる。   During this wet processing, the substrate 11 is transported by the substrate transport device 71 in a state where it is inclined from the horizontal plane 12 by an angle θ and curved in a convex shape on the front surface 11c side (a concave shape on the back surface 11a side). Since the wet processing is performed in a state where the substrate 11 is inclined from the horizontal plane 12, the retention of the processing liquid 73 on the substrate 11 can be prevented, the replacement efficiency can be improved, and the amount of processing liquid taken out between the processing tanks can be reduced. . Therefore, in wet processing steps such as cleaning or resist stripping, it is possible to obtain effects such as a reduction in processing time associated with an increase in cleaning or stripping force, an improvement in cleaning effect, and a reduction in the amount of processing liquid used.

一般的に傾斜角度θを増加させることによって上記処理時間の削減、洗浄効果の向上、また処理液使用量の削減等の効果を顕著に奏することができるけれども、基板11の内部応力によるたわみが増大し、また自重が基板11の下端11bに与える負荷も増大する。さらに、基板11に対して処理液73を供給する際に、処理液73によって加えられる外部負荷および振動が大きくなるので、それに起因して端面支持ローラ49から基板11が脱落したり、たわみによる局所応力で割れが発生するなど、安定に搬送することが難しいという状況が生じる。しかしながら、本発明の基板処理装置70では、基板搬送装置71によって基板11が表面11c側で凸状に湾曲するようにして搬送されるので、処理液73によって加えられる外部負荷および振動を著しく軽減し、安定して傾斜搬送を行うことが可能になり、ウェット処理の効果を安定して得ることができる。   In general, by increasing the tilt angle θ, the effects of reducing the processing time, improving the cleaning effect, and reducing the amount of processing liquid used can be remarkably exhibited. However, the deflection due to the internal stress of the substrate 11 increases. In addition, the load applied to the lower end 11b of the substrate 11 by its own weight also increases. Further, when the processing liquid 73 is supplied to the substrate 11, the external load and vibration applied by the processing liquid 73 are increased, and accordingly, the substrate 11 is dropped from the end surface support roller 49 or locally due to deflection. There arises a situation where it is difficult to carry stably, such as cracking due to stress. However, in the substrate processing apparatus 70 of the present invention, the substrate 11 is transported by the substrate transport apparatus 71 so as to be curved in a convex shape on the surface 11c side, so the external load and vibration applied by the processing liquid 73 are significantly reduced. Thus, it is possible to stably carry the inclined conveyance, and the effect of the wet treatment can be obtained stably.

図12は、本発明のさらにもう一つの実施形態である基板処理装置80の構成を簡略化して示す側面図および正面図である。本実施形態の基板処理装置80は、前述の実施形態の基板処理装置70および基板搬送装置の部分に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 12 is a side view and a front view showing a simplified configuration of a substrate processing apparatus 80 according to still another embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus 80 of this embodiment is similar to the parts of the substrate processing apparatus 70 and the substrate transfer apparatus of the above-described embodiment, and corresponding portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

基板処理装置80に備わる基板搬送装置81は、実施の第4形態と同様の基板裏面支持手段47と、下端支持部82がピン状に形成される基板下端支持手段83とを備え、基板裏面支持手段47と基板下端支持手段83とで基板湾曲支持手段84を構成する。   A substrate transfer device 81 provided in the substrate processing apparatus 80 includes a substrate back surface support means 47 similar to that in the fourth embodiment, and a substrate bottom surface support means 83 in which a lower end support portion 82 is formed in a pin shape. The means 47 and the substrate lower end support means 83 constitute a substrate bending support means 84.

基板下端支持手段83は、ピン状に形成される複数の下端支持部82が、たとえば無端ベルトなどの外周上に設けられ、該無端ベルトがプーリーなどの駆動手段で駆動されることによって、下端支持部82が連動して矢符85方向へ移動して基板11を搬送する。このとき、ピン状の下端支持部82と基板11の下端11bとは摺動することがないので、基板下端支持手段83はボート構造を有する。また基板裏面支持手段47が裏面支持浮上ユニットであるので、基板11の搬送に伴うパーティクルの発生が防止され、極めて清浄性に優れる基板処理装置80が実現される。   The substrate lower end support means 83 is provided with a plurality of lower end support portions 82 formed in a pin shape on the outer periphery of an endless belt, for example, and the endless belt is driven by driving means such as a pulley, thereby supporting the lower end support. The unit 82 moves in the direction of the arrow 85 in conjunction with the substrate 11 and conveys the substrate 11. At this time, since the pin-shaped lower end support portion 82 and the lower end 11b of the substrate 11 do not slide, the substrate lower end support means 83 has a boat structure. Further, since the substrate back surface support means 47 is a back surface support levitation unit, generation of particles accompanying the transport of the substrate 11 is prevented, and the substrate processing apparatus 80 with extremely excellent cleanliness is realized.

本実施形態の基板処理装置80では、処理ノズル72が水平面12と平行に延び、かつ鉛直線76に対して傾斜角度βを有し、基板裏面支持手段47の傾斜方向(A方向)に平行に上から下に向って走査可能に設けられる。なお、処理ノズル72を走査する走査手段については図示を省略する。   In the substrate processing apparatus 80 of the present embodiment, the processing nozzle 72 extends parallel to the horizontal plane 12 and has an inclination angle β with respect to the vertical line 76 and parallel to the inclination direction (A direction) of the substrate back surface support means 47. It is provided so as to be able to scan from top to bottom. The scanning means for scanning the processing nozzle 72 is not shown.

基板11は、水平面12から傾斜角度θだけ傾斜した状態で、裏面支持手段47である裏面支持浮上ユニットと基板下端支持手段83とによって支持され保持される。この傾斜状態の基板11の表面11cに、たとえばレジストの剥離液または純水などのウェット処理液73を処理ノズル72から供給するとともに、処理ノズル72を上から下へ向って走査して傾斜した基板11の全面に処理液73を供給し、枚葉にて基板11のウェット処理を行う。このような基板処理装置80は、前述の基板処理装置70と同様の効果を奏することができる。   The substrate 11 is supported and held by the back surface support floating unit which is the back surface support means 47 and the substrate lower end support means 83 in a state where it is inclined from the horizontal plane 12 by the inclination angle θ. A substrate 11 inclined by scanning the processing nozzle 72 from the top to the bottom while supplying a wet processing solution 73 such as a resist stripping solution or pure water from the processing nozzle 72 to the surface 11c of the substrate 11 in the inclined state. The processing liquid 73 is supplied to the entire surface of the substrate 11, and the substrate 11 is wet-processed with a single wafer. Such a substrate processing apparatus 80 can achieve the same effects as the substrate processing apparatus 70 described above.

本発明の実施の第1形態である基板搬送装置10の構成を示す傾斜方向から見た上面図である。It is the top view seen from the inclination direction which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus 10 which is 1st Embodiment of this invention. 図1に示す基板搬送装置10の正面図である。It is a front view of the board | substrate conveyance apparatus 10 shown in FIG. 図2の切断面線III−IIIから見た断面図である。It is sectional drawing seen from the cut surface line III-III of FIG. 本発明の実施の第2形態である基板搬送装置30の構成を示す傾斜方向から見た上面図である。It is the top view seen from the inclination direction which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus 30 which is 2nd Embodiment of this invention. 本発明の実施の第3形態である基板搬送装置40の構成を示す傾斜方向から見た図である。It is the figure seen from the inclination direction which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus 40 which is 3rd Embodiment of this invention. 本発明の実施の第4形態である基板搬送装置45の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus 45 which is the 4th Embodiment of this invention. 図6に示す切断面線VII−VIIから見た図である。It is the figure seen from the cut surface line VII-VII shown in FIG. 本発明の実施の第5形態である基板搬送装置55の構成を簡略化して示す側面図である。It is a side view which simplifies and shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus 55 which is 5th Embodiment of this invention. 図8に示す基板搬送装置55の基板裏面支持手段57の構成を簡略化して示す斜視図である。It is a perspective view which simplifies and shows the structure of the board | substrate back surface support means 57 of the board | substrate conveyance apparatus 55 shown in FIG. 本発明のもう一つの実施形態である基板洗浄装置70の構成を簡略化して示す傾斜方向から見た図である。It is the figure seen from the inclination direction which simplifies and shows the structure of the board | substrate washing | cleaning apparatus 70 which is another embodiment of this invention. 図10に示す基板洗浄装置70の側面図および正面図である。It is the side view and front view of the board | substrate cleaning apparatus 70 which are shown in FIG. 本発明のさらにもう一つの実施形態である基板処理装置80の構成を簡略化して示す側面図および正面図である。It is the side view and front view which simplify and shows the structure of the substrate processing apparatus 80 which is further another embodiment of this invention. 従来の基板搬送装置1による基板2の搬送状態を示す図である。It is a figure which shows the conveyance state of the board | substrate 2 by the conventional board | substrate conveyance apparatus 1. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10,30,40,45,55,71,81 基板搬送装置
11 基板
12 水平面
14,31,46,56,74,84 基板湾曲支持手段
15,32,47,57 基板裏面支持手段
16,33,48,83 基板下端支持手段
49 端面支持ローラ
58 回転ローラ群
59 駆動手段
60 回転制御手段
61 回転軸
62 仮想円
70,80 基板処理装置
72 処理ノズル
73 処理液
75 ノズル口
82 下端支持部
10, 30, 40, 45, 55, 71, 81 Substrate transport device 11 Substrate 12 Horizontal surface 14, 31, 46, 56, 74, 84 Substrate bending support means 15, 32, 47, 57 Substrate back surface support means 16, 33, 48, 83 Substrate lower end support means 49 End face support roller 58 Rotating roller group 59 Drive means 60 Rotation control means 61 Rotating shaft 62 Virtual circle 70, 80 Substrate processing apparatus 72 Processing nozzle 73 Processing liquid 75 Nozzle port 82 Lower end support section

Claims (16)

基板を水平面に対して傾斜角度を有するようにして搬送する基板搬送方法において、
基板が、
搬送方向に関して曲率を有するように湾曲した状態で搬送されることを特徴とする基板搬送方法。
In a substrate transport method for transporting a substrate so as to have an inclination angle with respect to a horizontal plane,
The board is
A substrate transport method, wherein the substrate is transported in a curved state so as to have a curvature in the transport direction.
基板は、
水平面に対して傾斜する基板の上方に臨む面側が凹状に湾曲した状態で搬送されることを特徴とする請求項1記載の基板搬送方法。
The board
The substrate transport method according to claim 1, wherein the substrate is transported in a state in which a surface facing the upper side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane is curved in a concave shape.
基板は、
水平面に対して傾斜する基板の下方に臨む面側が凹状に湾曲した状態で搬送されることを特徴とする請求項1記載の基板搬送方法。
The board
2. The substrate transfer method according to claim 1, wherein a surface facing the lower side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane is transferred in a concavely curved state.
基板の水平面に対する傾斜角度が、
30度以上90度以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の基板搬送方法。
The inclination angle of the substrate relative to the horizontal plane is
The substrate transport method according to claim 1, wherein the substrate transport method is 30 degrees or more and 90 degrees or less.
基板を水平面に対して傾斜角度を有するようにして搬送する基板搬送装置において、
搬送される基板を搬送方向に関して曲率を有するように湾曲させる基板湾曲支持手段を含むことを特徴とする基板搬送装置。
In a substrate transfer apparatus for transferring a substrate so as to have an inclination angle with respect to a horizontal plane,
A substrate conveyance apparatus comprising substrate bending support means for bending a substrate to be conveyed so as to have a curvature in the conveyance direction.
基板湾曲支持手段は、水平面に対して傾斜する基板の下方に臨む面である裏面を支持する基板裏面支持手段を含み、
基板裏面支持手段は、
搬送される基板が、基板の搬送方向に関して曲率を有して湾曲した状態になるように構成されることを特徴とする請求項5記載の基板搬送装置。
The substrate bending support means includes substrate back surface support means for supporting a back surface that is a surface facing the lower side of the substrate inclined with respect to the horizontal plane,
The substrate back surface support means is
6. The substrate transfer apparatus according to claim 5, wherein the substrate to be transferred is configured to be curved with a curvature in the substrate transfer direction.
基板裏面支持手段は、
基板の傾斜方向に配置される複数の回転ローラを含むことを特徴とする請求項6記載の基板搬送装置。
The substrate back surface support means is
The substrate transfer apparatus according to claim 6, further comprising a plurality of rotating rollers arranged in a tilt direction of the substrate.
複数の回転ローラの直径が、
配置される基板の傾斜方向の位置に応じてそれぞれ異なることを特徴とする請求項7記載の基板搬送装置。
The diameter of multiple rotating rollers is
8. The substrate transfer apparatus according to claim 7, wherein the substrate transfer device differs depending on the position of the substrate in the tilt direction.
直径が異なる複数の回転ローラは、
回転軸が水平面に対して略垂直になるようにそれぞれ設けられることを特徴とする請求項8記載の基板搬送装置。
Multiple rotating rollers with different diameters
9. The substrate transfer apparatus according to claim 8, wherein the rotation axes are provided so as to be substantially perpendicular to a horizontal plane.
基板裏面支持手段は、
直径が異なる複数の回転ローラを駆動させる駆動手段と、
複数の回転ローラを、回転ローラの直径ごとに異なる回転数で回転させるように駆動手段の動作を制御する回転制御手段とを含むことを特徴とする請求項8または9記載の基板搬送装置。
The substrate back surface support means is
Driving means for driving a plurality of rotating rollers having different diameters;
10. The substrate transfer apparatus according to claim 8, further comprising: a rotation control unit that controls the operation of the driving unit so as to rotate the plurality of rotating rollers at a different rotational speed for each diameter of the rotating roller.
基板湾曲支持手段は、水平面に対して傾斜する基板の下端部を支持する基板下端支持手段を含み、
基板下端支持手段は、
搬送される基板が、基板の搬送方向に関して曲率を有して湾曲した状態になるように構成されることを特徴とする請求項5記載の基板搬送装置。
The substrate bending support means includes a substrate lower end support means for supporting a lower end portion of the substrate inclined with respect to the horizontal plane,
The substrate lower end support means is
6. The substrate transfer apparatus according to claim 5, wherein the substrate to be transferred is configured to be curved with a curvature in the substrate transfer direction.
基板下端支持手段は、
回転軸が基板の搬送方向にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の回転ローラを備える回転ローラ構造であることを特徴とする請求項11記載の基板搬送装置。
The substrate lower end support means is
12. The substrate transfer apparatus according to claim 11, wherein the substrate transfer device has a rotation roller structure including a plurality of rotation rollers provided such that the rotation shafts intersect each other in the substrate transfer direction.
基板下端支持手段は、
回転軸が基板の搬送方向にそれぞれ交わるようにして設けられる複数の回転ローラに巻きまわされるベルトを備えるベルト構造であることを特徴とする請求項11記載の基板搬送装置。
The substrate lower end support means is
12. The substrate transfer apparatus according to claim 11, wherein the substrate transfer apparatus has a belt structure including a belt wound around a plurality of rotation rollers provided such that the rotation shafts intersect each other in the substrate transfer direction.
基板下端支持手段は、基板の下端に当接して支持する下端支持部を備え、
下端支持部は、
搬送される基板とともに移動し、基板との当接部において基板と摺動することがないボート構造であることを特徴とする請求項11記載の基板搬送装置。
The substrate lower end support means includes a lower end support part that supports and supports the lower end of the substrate,
The lower end support is
12. The substrate transfer apparatus according to claim 11, wherein the substrate transfer apparatus has a boat structure that moves with the substrate to be transferred and does not slide with the substrate at a contact portion with the substrate.
下端支持部が、
ピン状に形成されることを特徴とする請求項14記載の基板搬送装置。
The lower end support is
15. The substrate transfer apparatus according to claim 14, wherein the substrate transfer apparatus is formed in a pin shape.
基板の表面を臨んで設けられる処理ノズルから基板に対して処理液を噴射して基板を処理する基板処理装置であって、
前記請求項5〜15のいずれか1つに記載の基板搬送装置を備えることを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus for processing a substrate by spraying a processing liquid onto a substrate from a processing nozzle provided facing the surface of the substrate,
A substrate processing apparatus comprising the substrate transfer apparatus according to claim 5.
JP2005005625A 2005-01-12 2005-01-12 Substrate conveying method and substrate conveying device Pending JP2006193267A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005005625A JP2006193267A (en) 2005-01-12 2005-01-12 Substrate conveying method and substrate conveying device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005005625A JP2006193267A (en) 2005-01-12 2005-01-12 Substrate conveying method and substrate conveying device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006193267A true JP2006193267A (en) 2006-07-27

Family

ID=36799649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005005625A Pending JP2006193267A (en) 2005-01-12 2005-01-12 Substrate conveying method and substrate conveying device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006193267A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007005695A (en) * 2005-06-27 2007-01-11 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus
JP2009302461A (en) * 2008-06-17 2009-12-24 Tokyo Electron Ltd Substrate processing device, and substrate processing method
JP2013023378A (en) * 2011-07-26 2013-02-04 Koyo Thermo System Kk Conveying device
AT13062U1 (en) * 2011-10-24 2013-05-15 Josef Schaider Privatstiftung CONVEYOR
CN109037123A (en) * 2018-09-27 2018-12-18 通威太阳能(安徽)有限公司 A kind of mucus idler wheel for moisture film etching technics

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007005695A (en) * 2005-06-27 2007-01-11 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus
JP4523498B2 (en) * 2005-06-27 2010-08-11 東京エレクトロン株式会社 Development processing apparatus and development processing method
JP2009302461A (en) * 2008-06-17 2009-12-24 Tokyo Electron Ltd Substrate processing device, and substrate processing method
JP2013023378A (en) * 2011-07-26 2013-02-04 Koyo Thermo System Kk Conveying device
AT13062U1 (en) * 2011-10-24 2013-05-15 Josef Schaider Privatstiftung CONVEYOR
CN109037123A (en) * 2018-09-27 2018-12-18 通威太阳能(安徽)有限公司 A kind of mucus idler wheel for moisture film etching technics
CN109037123B (en) * 2018-09-27 2023-09-26 通威太阳能(安徽)有限公司 Mucilage roller for water film etching process

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010073883A (en) Substrate carrier, substrate positioning method and device
JP2008166359A (en) Substrate processing apparatus
TWI393205B (en) Substrate transmission apparatus and substrate transmission method
JP5028919B2 (en) Substrate transport apparatus and substrate transport method
JP2006193267A (en) Substrate conveying method and substrate conveying device
JP4349101B2 (en) Substrate transfer device
JP2008098227A (en) Substrate processing apparatus
JP2011124342A (en) Substrate processing device, substrate processing method, and recording medium recording program for implementing the substrate processing method
JP3682396B2 (en) Fixed point conveying device for thin plate materials
TW201242877A (en) Levitation transportation device
JP2010245336A (en) Transfer-direction changing device and levitation transfer system
JP2008098198A (en) Substrate conveyor
JP4229670B2 (en) Method and apparatus for conveying thin plate material
JP2010067896A (en) Substrate treatment apparatus
JP5396695B2 (en) Levitation unit and levitating transfer device
JP2005247516A (en) Levitated substrate conveying treatment device
JP5372695B2 (en) Substrate processing equipment
JP2007250871A (en) Substrate transport apparatus
JP2010159164A (en) Vacuum processing device, vacuum processing system and processing method
JP5165718B2 (en) Substrate processing equipment
JP4171293B2 (en) Method and apparatus for conveying thin plate material
JP4976358B2 (en) Substrate dryer
JP5431863B2 (en) Substrate processing equipment
KR101116654B1 (en) Module for transferring a substrate and apparatus for processing a substrate including the same
JP2009256029A (en) Conveyance device for tabular member and conveyance method for tabular plate-like member