JP2006184201A - 磁性体検出センサ及び磁性体検出ラインセンサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 磁石50と少なくとも1つの磁界検出素子2とを備え、磁界検出素子2は、磁石50のNS方向を法線とし、且つ、磁石50のN極とS極を結ぶ線分と交わる平面上に配置する。そして、この平面に平行な方向を磁界感受方向とし、磁石50のN極またはS極に磁性体3が近接または接触した際の磁界変化を検出する。
【選択図】 図1
Description
図1(a)は本発明による磁性体検出センサの第1の実施形態の構成を示す斜視図である。図1(a)では、磁界検出素子2を、磁石50のN極とS極を結ぶ線分と交わりNS方向を法線とする平面内に配置した構成である。磁性検体3を、磁石50のどちらか一方の磁極面に接触させるか、または、非接触で磁極面に対向させ、その時の磁界変化を磁界検出素子2で測定して磁性検体3の磁気量を検出する。ここで、磁性検体3は磁極面近傍に固定配置して磁気量を検出しても良いし、磁極面近傍を通過させて検体の磁気量分布を連続的に検出しても良い。また、磁性検体3を固定し、磁性体検出センサ1を相対的に移動して連続的に検出しても良い。
図2は本発明による磁性体検出センサの第2の実施形態を示す斜視図である。磁界検出素子2を、磁石50のNS磁極間のほぼ中点を通りNS方向を法線とする平面内に配置した以外は、第1の実施形態と同様である。ここで、磁性検体は省略してある。
図3は本発明による磁性体検出センサの第3の実施形態を示す斜視図である。磁石50に関しては上述の実施形態と同様であり、また、磁石50と磁界検出素子2の配置に関しても同様である。図3では、磁石50のNS磁極間の中点を通る平面上に磁界検出素子2を配置しているが、これに限らず、磁石50のN極とS極を結ぶ線分と交わる平面上であれば良い。
図4は本発明による磁性体検出センサの第4の実施形態を示す斜視図である。磁石50及び磁界検出素子21〜24に関しては上述の実施形態と同様である。図4の構成図では、好適な構成として磁性薄膜と平面コイルからなる磁界検出素子を配置しているが、磁界検出素子21〜24は薄膜形状でなくても良く、また、コイルを配置していないものであっても同様に好適である。
図5は本発明による磁性体検出センサの第5の実施形態を示す斜視図である。磁石50及び磁界検出素子21、22に関しては上述の実施形態と同様である。また、ここでも代表的に磁性薄膜と平面コイルからなる磁界検出素子を配置している。磁界検出素子21、22は、磁石50のNS方向を含む平面に対して対称に配置されている。この構成でも、磁界検出素子21と22で差動検出することにより外部ノイズ磁界を相殺することができる。磁界検出素子21と22の間隔は、精度良く外部ノイズ磁界を相殺するために、できるだけ小さくすることが好ましい。
図6は本発明による磁性体検出センサの第6の実施形態を示す斜視図である。バイアス磁石51を配置した以外は第5の実施形態と同様である。但し、磁界検出素子としては、バイアス磁界を必要とする磁気インピーダンス素子等が好適に用いられる。この場合には、平面コイル41は無くて良い。バイアス磁石51は、磁界検出素子21及び22に同方向で同じ大きさの磁界を印加し、2個の磁界検出素子の動作点を同時に設定する。
図7は本発明による磁性体検出センサの第7の実施形態を示す斜視図である。基板31以外は上述の実施形態と同様であるが、磁界検出素子は磁性薄膜を有するものに限られる。図7では1個の磁界検出素子を配置しているが、複数個配置しても良く、また、バイアス磁石51を配置しても良い。
図8は本発明による磁性体検出センサの第8の実施形態を示す斜視図である。基板32の形状以外は上述の実施形態と同様であるが、磁界検出素子は磁性薄膜を有するものに限られる。ここで、磁界検出素子の配置はこれに限らず、例えば、第4の実施形態と同様であっても良い。磁界検出素子21、22は同一の基板32上に形成され、複数の磁界検出素子の配置や磁界感受方向が高精度に設定できる。基板32の厚みは特に限定されるものではないが、第6の実施形態と同様に磁石50のNS磁極間距離の半分の厚みにすればより好ましい。
図9は本発明による磁性体検出センサの第9の実施形態を示す斜視図である。図9では、同一基板上に磁性薄膜とコイルからなる磁界検出素子を2個配置しているが、これに限るものではなく、補助磁石52,53以外は上述した実施形態と同様の構成が可能である。補助磁石52、53の磁化方向は磁石50のそれと逆方向であり、3個の磁石の磁極面は同一平面上にある。補助磁石のNS磁極間距離は磁石50と同じである。補助磁石のNS磁極間距離以外の形状及び材質は特に限定されるものではないが、例えば、磁石50と同じものを用いることができる。
図10は本発明による磁性体検出センサの第10の実施形態を示す斜視図である。磁石50の一方の磁極面近傍に調整用磁石55を配置した構成である。図10では、代表的に磁性薄膜とコイルからなる磁界検出素子を1個配置しているが、素子形態や個数、配置はこれに限るものではなく、調整用磁石55以外は上述した実施形態と同様の構成が可能である。また、上述のバイアス磁石や補助磁石を配置しても良い。調整用磁石55の形状及び材質は特に限定されるものではないが、例えば、磁石50と同じものを用いることができる。
図11は本発明による磁性体検出センサの第11の実施形態を示す斜視図である。磁石50の一方の磁極面近傍に参照磁性体60を配置した構成である。ここでも代表的に磁性薄膜とコイルからなる磁界検出素子を1個配置しているが、これに限るものではなく、上述した実施形態と同様の構成が可能である。参照磁性体60と磁石50の磁極面の距離は、検出検体を磁石50のもう一方の磁極面に近接させるときの距離と同程度にするのが好ましい。
図12は本発明による磁気識別ラインセンサの一実施形態を示す斜視図である。磁性体検出センサ1を並列した構成であり、夫々の磁性体検出センサ1の磁石50の中間に、磁石50と逆の磁化方向を持つ補助磁石54が配置されている。図12では、磁界検出センサ1として、代表的に同一基板上に磁性薄膜とコイルからなる磁界検出素子を2個配置しているが、これに限るものではなく、補助磁石を配置したものを除いて、上述の全ての実施形態の磁性体検出センサを用いることができる。
上記の部材を用いて図3(c)の磁性体検出センサを作製した。磁石のNS軸と磁界検出素子の中央の距離は3mmとした。
上記の部材を用いて図4の磁性体検出センサを作製した。磁石のNS軸と磁界検出素子の中央の距離は3mmとした。
上記の部材を用いて図5の磁性体検出センサを作製した。2個の磁界検出素子の中央の距離は2mm、磁石のNS軸と2個の磁界検出素子の中心の距離は2mmとした。
実施例3の構成に加えて、上記の磁石と同じ材質で磁極間距離が5mm、磁極面積が0.5×1mm2のバイアス磁石を用い、図6の磁性体検出センサを作製した。バイアス磁石の位置は、バイアス磁界が4Oeに設定されるように調整した。ここでは、上記の駆動方法と異なり、磁界検出素子を磁気インピーダンス素子として駆動した。分圧抵抗を付加した磁性薄膜に20MHzの高周波電流を通電し、磁性薄膜の電圧変化を検出した。
上記の部材を用いて図7の磁性体検出センサを作製した。ここでは、ガラス基板の厚みを1mmとした。磁石のNS軸と磁界検出素子の中央の距離は3mmとした。
上記の部材を用いて図8の磁性体検出センサを作製した。2個の磁界検出素子は同一のガラス基板上に形成され、磁石のNS軸と2個の磁界検出素子の中心の距離は2mmとした。
上記の部材を用いて図9の磁性体検出センサを作製した。補助磁石には上記の磁石と同じものを用いた。2個の磁界検出素子の中央の距離は2mm、磁石のNS軸と2個の磁界検出素子の中心の距離は2mmとした。
上記の部材を用いて図10の磁性体検出センサを作製した。調整用磁石には上記の磁石と同じものを用いた。
上記の部材を用いて図11の磁性体検出センサを作製した。軟磁性材料からなる参照磁性体は、0.2mm厚のスペーサー部材を挟んで磁石50の磁極面に配置した。
上記の部材を用いて図12の磁気識別ラインセンサを作製した。補助磁石には上記の磁石と同じものを用いた。夫々の磁性体検出センサ1において、2個の磁界検出素子の中央の距離は2mm、磁石のNS軸と2個の磁界検出素子の中心の距離は2mmとした。
上述した全ての実施例において、磁界検出素子の特性曲線上の動作点は動作範囲にあり、軟磁性及び硬磁性検体の検出が可能であった。図13にその一例を示す。図13(a)は測定に用いた磁性検体であり、図13(b)は上述の実施例6の磁性体検出センサでの測定結果である。
2 磁界検出素子
3 磁性検体
20、21、22 磁界検出素子を構成する磁性薄膜
30、31、32 基板
40、41 磁界検出素子を構成するコイル
50 磁石
51 バイアス磁石
52、53、54 補助磁石
55 調整用磁石
60 参照磁性体
Claims (12)
- 磁石と少なくとも1つの磁界検出素子とを備える磁性体検出センサであって、前記磁界検出素子は、前記磁石のNS方向を法線とし、且つ、前記磁石のN極とS極を結ぶ線分と交わる平面上に配置され、該平面に平行な方向を磁界感受方向とし、前記磁石のN極またはS極に磁性体が近接または接触した際の磁界変化を検出することを特徴とする磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、前記磁石のNS方向を法線とし、且つ、前記磁石のN極とS極の概ね中点を通る平面上に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、磁性薄膜を有し、且つ、前記磁界検出素子の磁界感受方向は、前記磁性薄膜の膜面に平行であることを特徴とする請求項1または2に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、前記磁石のNS軸に対して対称な位置に複数個配置され、前記複数個配置された磁界検出素子の磁界感受方向は、前記磁石のNS軸に対して対称な方向を向いていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、前記磁石のNS軸を含む平面に対して対称な位置に複数個配置され、前記複数個配置された磁界検出素子の磁界感受方向は、前記磁石のNS軸を含む平面に対して対称な方向を向いていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- バイアス磁石を有し、該バイアス磁石のNS方向は、前記磁石のNS軸を含む平面の法線方向であり、且つ、前記バイアス磁石のNS磁極間の中点は、前記磁石のNS軸を含む平面上にあることを特徴とする請求項4または5に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、同一基板上に形成されていることを特徴とする請求項4から6のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁界検出素子は、非磁性基板上に形成され、該非磁性基板の厚みは、前記磁石のNS磁極間距離の半分であり、前記非磁性基板の磁性薄膜形成面と対向する面と、前記磁石の一方の磁極面は、同一平面上にあることを特徴とする請求項2から7のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁石とNS磁極間距離を等しくする複数の補助磁石を有し、前記補助磁石は、前記磁石のNS軸を含む平面に対して対称な位置に配置され、且つ、該補助磁石の磁極面は、前記磁石の磁極面と同一平面上にあり、且つ、前記補助磁石の磁化方向は、前記磁石の磁化方向と反平行であることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁石の磁性体が近接または接触する磁極とは逆の磁極側に調整用磁石を配置し、該調整用磁石のNS軸は、前記磁石のNS軸の延長線上にあることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 前記磁石の磁性体が近接または接触する磁極とは逆の磁極側に参照磁性体を配置したことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の磁性体検出センサ。
- 請求項1から11のいずれか1項に記載の磁性体検出センサを複数個並列配置したラインセンサであって、隣接する夫々の磁石の中間に、該磁石と反平行の磁化を有する補助磁石を有し、該補助磁石の磁極面は、前記磁石の磁極面と同一平面上にあることを特徴とする磁性体検出ラインセンサ。
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