JP2006171323A - 画像形成装置、及び静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法 - Google Patents

Abstract

【課題】静電潜像坦持体の帯電電位と露光後電位との両方を容易に低コストで正確に測定し静電潜像担持体の劣化の程度を判断する。
【解決手段】静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加により静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、静電潜像を形成する露光装置と、帯電バイアス電圧と逆極性の除電バイアス電圧印加により静電潜像担持体を除電する除電装置と、除電装置から静電潜像担持体に流入する除電電流に基づいて、静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、画像形成装置、及び静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法に関する。

画像形成装置に用いられている静電潜像担持体などの感光体は、表面の感光層の磨耗等により、徐々に劣化していく。感光体の劣化の進行に伴い、徐々に帯電電位や露光後電位の電位ムラが大きくなる。そして、その結果、画像に濃度ムラ等が生じる。

このため、ａ−Ｓｉ感光体表面を、露光装置の光照射方向についての主走査方向（感光体長手方向）と副走査方向（感光体回転方向）との多数の露光ブロックに区画し、各露光ブロックごとの電位減衰特性を露光後の電位に応じて分類し、その分類に応じて露光装置の露光光量を変化させることにより現像位置における電位ムラを減少させ、ａ−Ｓｉ感光体の感光層の膜厚や膜質の違いによる電位ムラを減少させて、濃度ムラのない良好な画像を形成する方法が提案されている。（特許文献１参照）。

しかし、露光後電位の測定を、例えば、表面電位計で測定すると、測定範囲は狭く、部分的な電位しか測定できない。よって、感光体全域に渡って、露光後電位を測定する為には、非常に多くの測定プローブを配置するか、測定プローブを走査させる機構が必要である。よって、非常に高コストとなる。

更に、露光装置の露光光量を変化させることによって電位のムラを減少させても、感光体の劣化が進むと電位のムラは減少できなくなる。よって、劣化した感光体は最終的には交換する必要がある。

このため、記録枚数をカウントし、所定の記録枚数となると一律に感光体の交換時期と判断していた。しかし、感光体の劣化の進行は使用環境や条件によってそれぞれ異なるので、このように記録枚数による交換時期を判断する方法は不正確である。

したがって、電源から非接触帯電手段に帯電バイアスを印加した際に、非接触帯電手段に印加される電圧値と感光体に流れる電流値とを検知して感光層の膜厚を算出し、感光体の劣化を判断する方法が提案されている。（例えば、特許文献２参照）。

しかし、より容易に低コストで感光体などの静電潜像担持体の劣化を正確に判断することが求められている。
特開２００２−０６７３８７号公報 特開２０００−０８９６２４号公報

したがって、本発明は、上記問題を解決すべく成されたもので、容易に低コストで静電潜像担持体の劣化を判断することを目的とする。

請求項１に記載の画像形成装置は、静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ静電潜像を形成する露光装置と、前記帯電バイアス電圧と逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、前記除電電流測定手段で測定した前記除電電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、を備えることを特徴としている。

請求項１に記載の画像形成装置は、除電装置で除電する際に、除電装置から静電潜像担持体に流れる除電電流を除電電流測定手段で測定する。静電潜像担持体の表面電位が高ければ、除電のための電荷が多く必要であるので、除電電流が大きくなる。逆に、静電潜像担持体の表面電位が低ければ、除電のための電荷は少ししか必要でないので、除電電流が小さくなる。つまり、除電電流は静電潜像担持体の表面電位を表す。

よって、帯電装置によって帯電した後に除電装置で除電する際の除電電流は帯電電位を表す。

また、静電潜像担持体を帯電装置で帯電したのち露光装置で露光し電位を減衰させた後に、除電装置で除電する際の除電電流は露光後電位を表す。

そして、判断手段は、帯電電位を表す除電電流、及び露光後電位を表す除電電流のうち、いずれか一方、または両方に基づいて、静電潜像担持体の劣化の程度を判断する。つまり、除電電流を測定することで、容易に正確に静電潜像担持体の劣化を判断できる。

請求項２に記載の画像形成装置は、請求項１に記載の構成において、前記露光装置は、前記静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、前記除電電流測定手段は、前記領域毎の除電電流を測定することを特徴とすることを特徴としている。

請求項２に記載の画像形成装置は、所定の領域毎に測定した除電電流は、所定の領域毎の露光後電位を表す。そして、判断手段は、この所定の領域毎の除電電流の測定結果にも基づいて、電流静電潜像担持体の劣化を判断している。よって、より正確に劣化の程度を判断できる。

請求項３に記載の画像形成装置は、請求項１、又は請求項２に記載の構成において、前記静電潜像を現像し、前記静電潜像担持体上にトナー像を形成する現像装置と、前記トナー像を記録媒体に転写する転写装置と、とを備え、前記転写装置は、前記除電装置を兼ねることを特徴としている。

請求項３に記載の画像形成装置は、転写装置が除電装置を兼ねているので、低コスト、省スペースである。

請求項４に記載の画像形成装置は、静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる静電潜像担持体電流を測定する静電潜像担持体電流測定手段と、前記静電潜像担持体電流測定手段で測定した前記静電潜像担持体電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、を備えることを特徴としている。

請求項４に記載の画像形成装置は、露光によって電位が減衰する際に、静電潜像担持体とアースとの間に静電潜像担持体電流が流れる。この静電潜像担持体電流は、露光後の露光後電位が低いと大きく、高いと小さい。よって、静電潜像担持体電流は露光後電位を表す。

そして、判断手段は、この静電潜像担持体電流に基づいて、静電潜像担持体の劣化の程度を判断する。

請求項５に記載の画像形成装置は、静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記帯電装置から前記静電潜像担持体に流れる帯電電流を測定する帯電電流測定手段と、前記帯電電流測定手段で測定した前記帯電電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、を備えることを特徴している。

請求項５に記載の画像形成装置は、露光後に帯電する際に、露光後の露光後電位が低いと帯電するための電荷が多く必要であるので、帯電装置から静電潜像担持体に流れる電流が大きくなる。逆に、露光後の露光後電位が高いと帯電装置から静電潜像担持体に流れる電流は小さくなる。よって、露光後に帯電する際に、帯電装置から静電潜像担持体に流れる帯電電流は、露光後電位を表す。

そして、判断手段は、この帯電電流に基づいて、静電潜像担持体の劣化の程度を判断する。

請求項６に記載の画像形成装置は、前記露光装置は、前記静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、前記静電潜像担持体電流測定手段、又は前記帯電電流測定手段は、前記領域毎の前記静電潜像担持体電流、又は前記領域毎の前記帯電電流を測定することを特徴している。

請求項６に記載の画像形成装置は、静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、静電潜像担持体電流測定手段、又は帯電電流測定手段は、領域毎の静電潜像担持体電流（露光後電位）、又は領域毎の帯電電流（露光後電位）を測定しているので、より正確な劣化の判断ができる。

請求項７に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、静電潜像担持体と、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記帯電バイアス電圧とは逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、前記除電装置で除電し、前記除電電流測定手段で前記除電電流を測定する第二ステップと、前記除電電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第三ステップと、を有することを特徴としている。

請求項７に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、帯電装置によって帯電した後に除電する際に、除電電流測定手段で測定した除電電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断している。

除電電流は静電潜像担持体の表面電位を表す。よって、帯電装置によって帯電した後に除電する際に、除電電流測定手段で測定した除電電流は帯電電位を表す。

したがって、除電電流が所定の範囲内であるか否かは、帯電電位が高すぎたり、低すぎたりしていないを判断しており、除電電流の変位幅が所定幅内であるか否かは、帯電電位に大きなムラがないか否かを判断している。よって、低コストで容易に劣化の程度を判断できる。

請求項８に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、静電潜像担持体と、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記帯電バイアス電圧とは逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、前記露光手段で露光する第二ステップと、前記除電装置で除電し、前記除電電流測定手段で前記除電電流を測定する第三ステップと、前記除電電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、を有することを特徴としていいる。

請求項９に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる静電潜像担持体電流を測定する静電潜像担持体電流測定手段と、を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、前記露光手段で露光する第二ステップと、前記静電潜像担持体電流測定手段で前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる前記静電潜像担持体電流を測定する第三ステップと、前記静電潜像担持体電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、を有することを特徴としている。

請求項１０に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、静電潜像担持体と、帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、前記帯電装置から前記静電潜像担持体に流れる帯電電流を測定する帯電電流測定手段と、を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、前記露光手段で露光する第二ステップと、前記帯電装置で帯電し、前記帯電電流測定手段手段で前記帯電電流を測定する第三ステップと、前記帯電電流流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、を有することを特徴としている。

請求項８から請求項１０に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、帯電装置によって帯電した後に露光し、そして、露光後に除電する際に除電電流測定手段で測定した除電電流、露光の際に静電潜像担持体電流測定手段で測定した静電潜像担持体電流、露光後に帯電装置で帯電する際に帯電電流測定手段手段で測定した帯電電流、が所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断している。

除電電流、静電潜像担持体電流、帯電電流は、静電潜像担持体の露光後電位を表す。したがって、除電電流、静電潜像担持体電流、帯電電流が所定の範囲内であるか否かは、露光後電位が高すぎたり、低すぎたりしていないを判断しており、除電電流、静電潜像担持体電流、帯電電流の変位幅が所定幅内であるか否かは、露光後電位に大きなムラがないか否かを判断している。よって、低コストで容易に劣化の程度を判断できる。

請求項１１に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、請求項８から請求項１０のいずれか１項に記載の判断方法において、前記第二ステップは、前記露光装置は前記静電潜像担持体の所定の領域を露光し、前記第四ステップの後、前記第一ステップに戻り、前記静電潜像担持体を所定の前記領域毎に順次露光し、該領域毎の前記除電電流、該領域毎の前記静電潜像担持体電流、該領域毎の前記帯電電流のいずれか一つに基づいて、該静電潜像担持体の劣化を判断することを特徴としている。

請求項１１に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法は、静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、所定の領域毎の除電電流、所定の領域毎の静電潜像担持体電流、所定の領域毎の記帯電電流に基づいて、静電潜像担持体の劣化を判断しているので、より正確に静電潜像担持体の劣化の判断を行える。

以上説明したように本発明によれば、静電潜像坦持体の劣化を低コストで容易に判断できる。

本発明の第一の実施形態の画像形成装置１０について説明する。図１は、画像形成装置１０の要部を模式的に示す図である。

画像形成装置１０には、画像形成装置１０全体の制御を行う制御部６０を備えている。また、各種操作及び各種表示を行う操作パネル６２を備えている。更に、表面に感光層（図示略）が形成され、矢印Ｋ方向に回転する感光体ドラム１２を備えている。

感光体ドラム１２は、帯電バイアス電源１５から帯電バイアス電圧が印加された帯電ロール１４によって所定の帯電電位（本実施形態では−５００ｖ）に帯電する。

なお、帯電バイアス電圧は、直流電圧（ＤＣ）のみであっても良いし、直流電圧に交流電圧を重畳しした、いわゆるＡＣ＋ＤＣ重畳電圧であっても良い。

帯電後、ＬＤＥアレイ１６によって、出力画像に対応した露光がなされ、所定の露光後電位に減衰し、静電潜像が形成される。静電潜像は現像装置１８によって現像され、感光体ドラム１２上にトナー像が形成される。なお、現像装置１８の現像ロール１７には、トナーが担持され、現像バイアスが印加されている。

感光体ドラム１２上に形成されたトナー像は、前述した帯電バイアス（ＡＣ＋ＤＣ重畳電圧の場合はＤＣ成分）と逆極性の転写バイアスが印加された転写ロール５０によって、記録用紙Ｐ（記録媒体）に転写される。トナー像が転写された記録用紙Ｐは、定着装置（図示略）に運ばれ、定着装置によって、記録用紙Ｐにトナー像が定着する。なお、転写ロール５０には、転写バイアス電圧を印加する転写バイアス電源５２に電流計５４を介して繋がっている。

一方、記録用紙Ｐに転写されずに残った未転写残留トナーはクリーニング装置２０のクリーニングブレード２２で掻き落とされて除去される。

さて、感光体ドラム１２は、繰り返し使用していくと徐々に劣化し、帯電後の帯電電位、及び露光後の露光後電位が変化する。

なお、感光体ドラム１２の劣化とは、例えば、帯電・露光を繰り返すことによる劣化、あるいは、クリーニング装置２０のクリーニングブレード２２によって、感光体ドラム１２の表面の感光層（図示略）が徐々に削られる磨耗等がある。また、感光体ドラム１２全体が一様に劣化していくのでなく、例えば、偏磨耗などによって劣化の程度にもムラが生じる。

そして、感光体ドラム１２が劣化し、帯電後の帯電電位、及び露光後の露光後電位が変化すると、地カブリ、濃度低下、濃度ムラなどの画質不良が発生する。したがって、このような画質不良となる前に、ユーザーに感光体ドラム１２の交換を促す表示を操作パネル６２に表示する必要がある。

よって、本実施形態では、所定のタイミングで、図２のフローチャートで示す、「感光体ドラムの劣化判断シーケンス」を実施し、感光体ドラム１２を交換する必要があるか否かを判断している。

つぎに、この「感光体ドラムの劣化判断シーケンス」について説明する。

図２に示すように、ステップ１００でスタートし、ステップ１０２で感光体ドラム１２を帯電する。ステップ１０４で転写ロール５０に、前述した帯電バイアス（ＡＣ＋ＤＣ重畳電圧の場合はＤＣ成分）と逆極性の転写バイアス（本実施形態では＋５００ｖ）を印加して、感光体ドラム１２を除電する。そして、電流計５４で電流を測定する。

さて、このとき電流計５４で測定される電流は、転写ロール５０と感光体ドラム１２との間に流れる除電電流である。そして、この除電電流は、感光体ドラム１２の表面電位によって変化する。つまり、表面電位が高いと、除電のために多くの電荷が必要であるので、除電電流が大きくなる。逆に、表面電位が低いと除電電流が小さくなる。よって、除電電流は感光体ドラム１２の表面電位を表している。

よって、図３のグラフに示す除電電流Ｉ₀は、帯電後の帯電電位を表している。除電電流Ｉ₀は周期Ｌ（感光体ドラム１２の１周分）で周期的に上下している。これは、感光体ドラム１２の回転方向（副走査方向）の帯電電位にムラがあることを示している。

そして、ステップ１０６で、制御部６０が図３のグラフに基づいて、除電電流Ｉ₀（帯電電位）の変位幅Ａ１，最低値Ａ２，最高値Ａ３を、予め格納されている基準幅，基準範囲と比較する。除電電流Ｉ₀（帯電電位）の最低値Ａ２，最高値Ａ３が基準範囲外（帯電電位が低すぎる、あるいは高すぎる）、変位幅Ａ１が基準幅外（帯電電位のムラが大きい）のいずれかに該当する場合は、感光体ドラム１２が劣化していると判断し、ステップ１０８に進み、操作パネル６２に感光体ドラム１２が交換時期であることを表示する。

一方、除電電流Ｉ₀（帯電電位）の最低値Ａ２，最高値Ａ３が基準範囲内、且つ、変位幅Ａ１が基準幅内の場合は、劣化していないと判断し、ステップ１１０に進む。

ステップ１１０で、感光体ドラム１２を再度所定の帯電電位に帯電する。ステップ１１２で、図４に示すように、感光体ドラム１２の主走査方向（長手方向）に対して、露光幅Ｗ₁のみＬＥＤアレイ１６で露光する。

ステップ１１４で、感光体ドラム１２を転写ロール５０で除電し、電流計５４で電流を測定する。このとき測定される電流も、転写ロール５０から感光体ドラム１２に流れる除電電流である。しかし、露光によって露光幅Ｗは電位が減衰し、露光後電位となっているので、除電電流は少なくなる。つまり、図６のグラフに示す除電電流Ｉ_Lは、露光幅Ｗ₁の露光後電位を表している。

そして、ステップ１１６で、制御部６０は、図６のグラフに基づいて、除電電流Ｉ_L（露光後電位）の変位幅Ｂ１，最低値Ｂ２，最高値Ｂ３とを、予め格納されている基準幅、基準範囲と比較する。除電電流Ｉ_L（露光後電位）の最低値Ｂ２，最高値Ｂ３が基準範囲外（露光後電位が低すぎる、あるいは高すぎる）、変位幅Ｂ１が基準幅外（露光後電位にムラが大きい場合）のいずれかに該当する場合は、感光体ドラム１２が劣化していると判断し、ステップ１１８に進み、操作パネル６２に感光体ドラム１２が交換時期であることを表示する。

一方、除電電流Ｉ_L（露光後電位）の最低値Ｂ２，最高値Ｂ３が基準範囲内、且つ、変位幅Ｂ１が基準幅内の場合は、劣化していないと判断し、ステップ１２０に進む。

ステップ１２０で、露光幅Ｗ_Nまで終了したか否かを制御部６０が判断し、終了していない場合は、ステップ１１０に戻って、感光体ドラム１２を再度所定の帯電電位に帯電し、ステップ１１２で、感光体ドラム１２の主走査方向（長手方向）に対して、所定幅Ｗ₂のみ露光する。そして、同様に、除電電流Ｉ_L（露光後電位）に基づいて劣化の判断を行う。

露光幅Ｗ_Nまで終了し、露光幅Ｗ₁〜Ｗ_Nまで全ての露光後電位が正常であれば、ステップ１２２に進み、「感光体ドラムの劣化判断シーケンス」を終了する。

なお、「感光体ドラムの劣化判断シーケンス」を実施する所定のタイミングは、例えば、電源投入時、所定の印字枚数毎等がある。

また、露光の幅Ｗ（図４）が狭いほうが、露光後電位を正確に測定ができるが、ステップ１１０からステップ１１６までを繰り返す回数が多くなるので、測定時間は長くかかる。逆に、露光の幅Ｗが広いと、繰り返す回数が少ないで測定時間は短いが、正確性に乏しくなる。

したがって、露光の幅Ｗは、正確性と測定時間とのバランスをとって設定すれば良い。また、１０００枚印字毎は露光の幅Ｗを広くして測定時間を短くし、１００００枚印字毎は露光の幅Ｗを狭くして測定時間をかけて正確に測定する等、露光の幅Ｗを測定タイミング毎に変えても良い。

つぎに、上記の実施形態の作用について説明する。

今まで説明したように、帯電電位を表す除電電流Ｉ₀と露光後電位を表す除電電流Ｉ_Lとの両方を測定し、測定結果に基づいて劣化を判断するので、低コストで容易に、しかも正確に劣化の判断ができる。

尚、上記の実施形態に限定されない。

例えば、第一の実施形態では、転写装置は転写ロール５０であったが、これに限定されない。例えば、スコロトロンやコロトロン等のコロナ放電を用いた転写装置であっても良い。

よって、つぎに転写装置にコロトロンを使用した場合の例を説明する。

図７に示すように、コロトロン２５０は、感光体ドラム１２側が開口したコの字形状のハウジング２５４と、タングステンやステンレススチールの細線からなるコロナワイアー２５２と、を備えている。コロナワイアー２５２は電流計２５８を介して転写バイアス電源２５６に繋がっている。ハウジング２５４は、電流計２６０を介してアースに接地されている。

そして、転写バイアス電源２５６から高電圧（数ｋｖ）をコロナワイアー２５２に印加してコロナ放電を発生させ、感光体ドラム１２を除電する。

感光体ドラム１２の表面電位が高いと、除電のために多くの電荷が必要であるので、ハウジング２５４とアースとの間に流れる電流が小さくなり、感光体ドラム１２に流れる除電電流が大きくなる。逆に、表面電位が低いとハウジング２５４とアースとの間に流れる電流が大きくなり、感光体ドラム１２に流れる除電電流が小さくなる。

したがって、転写バイアス電源２５６とコロナワイアー２５２との間の電流計２５８に流れる電流値から、ハウジング２５４とアースとの間の電流計２６０に流れる電流値を引いたものが、除電電流となる。そして、上記実施形態と同様に、この除電電流に基づいて、制御部６０（図１参照）が、感光体ドラム１２の劣化を判断する。

また、例えば、上記実施形態では、転写ロール５０あるいはコロトロン２５０が除電装置を兼ねているが、転写ロール５０及びコロトロン２５０とは別に除電装置を備える構成であっても良い。また、この場合、除電装置は、ファーブラシ等からなる除電ブラシ（図示略）であっても良い。

また、例えば、上記、第一の実施形態では、感光体ドラム１２の主走査方向（長手方向）に対して、露光幅Ｗに露光していたが（図４参照）、これに限定されない。

例えば、図５に示すように、感光体ドラム１２の主走査方向（長手方向）と副走査方向（回転方向）とに複数の露光ブロックＺ₁〜Ｚ_Nに区画し、各露光ブロックＺ₁〜Ｚ_Nを順次露光し、各露光ブロックＺ₁〜Ｚ_N毎に除電電流Ｉ_L（露光後電位）測定しても良い。なお、この場合の露光後電位（除電電流）を測定したグラフを図８に示す。

なお、このように露光ブロックＺ₁〜Ｚ_N毎に、より細かく除電電流Ｉ_L（露光後電位）を測定することで、より正確に判断できる。

また、例えば、帯電電位を表す除電電流Ｉ₀と露光後電位を表す除電電流Ｉ_Lとのいずれか一方のみを測定し、判断しても良い。つまり、図２のフローチャートのステップ１１０より前のみであってよいし、ステップ１１０以降のみであっても良い。

また、例えば、除電電流Ｉ₀（帯電電位）の変位幅Ａ１，最低値Ａ２，最高値Ａ３、除電電流Ｉ_Lの変位幅Ｂ１，最低値Ｂ２，最高値Ｂ３、を予め格納されている基準幅，基準範囲と比較したが、これに限定されない。変位幅Ａ１，最低値Ａ２，最高値Ａ３、変位幅Ｂ１，最低値Ｂ２，最高値Ｂ３のうち、いずれらか一つ以上を用いて感光体ドラム１２の劣化を判断すれば良い。

つぎに、第二の実施形態の画像形成装置３００について説明する。なお、第１の実施形態と同一の部材には同一の符号を付し、重複した説明は省略する。

図９に示すように、感光体ドラム１２は、電流計３５０を介してアースに接地されている。感光体ドラム１２は、帯電後に露光し電位が減衰する際に、感光体ドラム１２とアースとの間に電荷が、つまり、感光体電流（静電潜像体電流）が流れる。この感光体電流は、露光後電位が高いと小さく、露光後電位が低いと大きい。よって、感光体ドラム１２とアースとの間に流れる感光体電流は、露光後電位を表している。

そして、感光体ドラム１２とアースとの間に流れる感光体電流に基づいて、制御部６０が感光体ドラム１２の劣化を判断する。なお、判断の方法は、第一の実施形態における、除電電流Ｉ_L（露光後電位）に基づく場合と同様である。（図２のフローチャートのステップ１１０以降と同様）。

つぎに、第３の実施形態の画像形成装置４００について説明する。なお、第１、及び第２の実施形態と同一の部材には同一の符号を付し、重複した説明は省略する。

帯電ロール１４と帯電バイアス電源１５との間には電流計４５０が設けられている。

そして、露光後に再び帯電する際に、帯電ロール１４と感光体ドラム１２との間に流れる帯電電流を電流計４５０で測定する。

露光後の露光後電位が低いと帯電するための電荷が多く必要であるので、帯電ロール１４と感光体ドラム１２との間に流れる電流が大きくなる。逆に、露光後の露光後電位が高いと帯電装置から静電潜像担持体に流れる電流は小さくなる。よって、露光後に帯電する際に、帯電ロール１４と感光体ドラム１２との間に流れる帯電電流は、露光後電位を表わしている。

そして、露光後に帯電ロール１４と感光体ドラム１２との間に流れる帯電電流に基づいて、制御部６０が感光体ドラム１２の劣化を判断する。なお、感光体ドラムの劣化の判断の方法は、第一の実施形態における、除電電流Ｉ_L（露光後電位）に基づく場合と同様である。（図２のフローチャートのステップ１１０以降と同様）。

なお、第二、及び第三の実施形態とも、図４あるいは図５に示す露光幅Ｗｎ、露光ブロックＺｎ毎に順次露光する。

本発明の第一の実施形態に係る画像形成装置の要部を模式的に示す図である。 感光体ドラムの劣化判断シーケンスを示すフローチャートである。 除電電流Ｉ₀を示すグラフである。 感光体ドラムの露光幅を説明する説明図である。 感光体ドラムの露光ブロックを説明する説明図である。 図４に示す露光幅を除電電流Ｉ_Lを示すグラフである。 コロトロンを使用した、本発明の第一の実施形態の変形例に係る画像形成装置の要部を模式的に示す図である。 図５に示す露光ブロックを露光した際の除電電流Ｉ_Lを示すグラフである。 本発明の第二の実施形態に係る画像形成装置の要部を模式的に示す図である。 本発明の第三の実施形態に係る画像形成装置の要部を模式的に示す図である。

符号の説明

１０ 画像形成装置
１２ 感光体ドラム（静電潜像担持体）
１４ 帯電ロール（帯電装置）
１６ ＬＥＤアレイ（露光装置）
１８ 現像装置
５０ 転写ロール（転写装置）
５４ 電流計（除電電流測定手段）
６０ 制御部（判断手段）
２５０ コロトロン（転写装置）
２５４ 電流計（除電電流測定手段）
２５８ 電流計（除電電流測定手段）
３５０ 電流計（静電潜像担持体電流測定手段）
４５０ 電流計（帯電電流測定手段）
Ｗｎ 露光幅（所定の領域）
Ｚｎ 露光ブロック（所定の領域）
Ｐ 記録用紙（記録媒体）

Claims (11)

1. 静電潜像担持体と、
   帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記帯電バイアス電圧とは逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、
   前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、
   前記除電電流測定手段で測定した前記除電電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、
   を備えることを特徴とする画像形成装置。
2. 前記露光装置は、前記静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、
   前記除電電流測定手段は、前記領域毎の除電電流を測定することを特徴とすることを特徴する請求項１に記載の画像形成装置。
3. 前記静電潜像を現像し、前記静電潜像担持体上にトナー像を形成する現像装置と、
   前記トナー像を記録媒体に転写する転写装置と、
   を備え、
   前記転写装置は、前記除電装置を兼ねることを特徴とする請求項１、又は請求項２に記載の画像形成装置。
4. 静電潜像担持体と、
   帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる静電潜像担持体電流を測定する静電潜像担持体電流測定手段と、
   前記静電潜像担持体電流測定手段で測定した前記静電潜像担持体電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、
   を備えることを特徴とする画像形成装置。
5. 静電潜像担持体と、
   帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記帯電装置から前記静電潜像担持体に流れる帯電電流を測定する帯電電流測定手段と、
   前記帯電電流測定手段で測定した前記帯電電流に基づいて、前記静電潜像担持体の劣化を判断する判断手段と、
   を備えることを特徴とする画像形成装置。
6. 前記露光装置は、前記静電潜像担持体を所定の領域毎に順次露光し、
   前記静電潜像担持体電流測定手段、又は前記帯電電流測定手段は、前記領域毎の前記静電潜像担持体電流、又は前記領域毎の前記帯電電流を測定することを特徴とする請求項４、又は請求項５に記載の画像形成装置。
7. 静電潜像担持体と、
   前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記帯電バイアス電圧とは逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、
   前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、
   を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、
   前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、
   前記除電装置で除電し、前記除電電流測定手段で前記除電電流を測定する第二ステップと、
   前記除電電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第三ステップと、
   を有することを特徴とする静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法。
8. 静電潜像担持体と、
   前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記帯電バイアス電圧とは逆極性の除電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を除電する除電装置と、
   前記除電装置から前記静電潜像担持体に流入する除電電流を測定する除電電流測定手段と、
   を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、
   前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、
   前記露光手段で露光する第二ステップと、
   前記除電装置で除電し、前記除電電流測定手段で前記除電電流を測定する第三ステップと、
   前記除電電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、
   を有することを特徴とする静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法。
9. 静電潜像担持体と、
   帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
   帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
   前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる静電潜像担持体電流を測定する静電潜像担持体電流測定手段と、
   を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、
   前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、
   前記露光手段で露光する第二ステップと、
   前記静電潜像担持体電流測定手段で前記静電潜像担持体とアースとの間に流れる前記静電潜像担持体電流を測定する第三ステップと、
   前記静電潜像担持体電流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、
   を有することを特徴とする静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法。
10. 静電潜像担持体と、
    帯電バイアス電圧が印加され、前記静電潜像担持体を帯電する帯電装置と、
    帯電した前記静電潜像担持体を露光し電位を減衰させ、静電潜像を形成する露光装置と、
    前記帯電装置から前記静電潜像担持体に流れる帯電電流を測定する帯電電流測定手段と、
    を備える画像形成装置における、静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法であって、
    前記静電潜像担持体を前記帯電装置で帯電する第一ステップと、
    前記露光手段で露光する第二ステップと、
    前記帯電装置で帯電し、前記帯電電流測定手段手段で前記帯電電流を測定する第三ステップと、
    前記帯電電流流が、所定の範囲内であるか否か、及び、変位幅が所定幅内であるか否か、のいずれか一方、又は両方を判断する第四ステップと、
    を有することを特徴とする静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法。
11. 前記第二ステップは、前記露光装置は前記静電潜像担持体の所定の領域を露光し、
    前記第四ステップの後、前記第一ステップに戻り、
    前記静電潜像担持体を所定の前記領域毎に順次露光し、該領域毎の前記除電電流、該領域毎の前記静電潜像担持体電流、該領域毎の前記帯電電流のいずれか一つに基づいて、該静電潜像担持体の劣化を判断することを特徴とする請求項８から請求項１０のいずれか１項に記載の静電潜像担持体の劣化を判断する判断方法。

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