JP2006170740A - 変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 - Google Patents
変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006170740A JP2006170740A JP2004362212A JP2004362212A JP2006170740A JP 2006170740 A JP2006170740 A JP 2006170740A JP 2004362212 A JP2004362212 A JP 2004362212A JP 2004362212 A JP2004362212 A JP 2004362212A JP 2006170740 A JP2006170740 A JP 2006170740A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- displacement detection
- laser light
- displacement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【解決手段】 レーザ光を出射する光源(レーザ光源1)と、出射されたレーザ光を集光する第1の光学手段(光学部2)と、集光されたレーザ光を変位可能な対象物へ導く導光手段(導光部3)と、導かれたレーザ光を対象物に照射する第2の光学手段(光学部4)と、導光手段の対象物側の端面で反射されたレーザ光と、対象物からの反射光による複合共振による光量に応じた電気信号を出力する受光手段(受光素子6)と、検出される光量に基づき対象物側の端面で反射されたレーザ光と対象物からの反射光との位相差が一定になるようにレーザ光の波長を変化させる制御手段(駆動回路8)と、その変化量に基づき対象物の変位および/または変位量を検出する検出手段(制御回路7)と、を有する。
【選択図】 図1
Description
2 光学部(第1の光学手段)
3 光ファイバ(導光手段)
4 光学部(第2の光学手段)
6 受光素子(受光手段)
7 制御回路(検出手段)
8 駆動回路(制御手段)
22 接合面
23 中継部端面
Claims (18)
- レーザ光を出射する光源と、
上記光源から出射されたレーザ光を集光する第1の光学手段と、
上記第1の光学手段によって集光されたレーザ光を変位可能な対象物へ導く導光手段と、
上記導光手段によって導かれたレーザ光を上記対象物に照射する第2の光学手段と、
上記導光手段の対象物側の端面で反射されたレーザ光と、上記対象物からの反射光による複合共振による光量に応じた電気信号を出力する受光手段と、
上記受光手段により検出される光量に基づき、上記導光手段の対象物側の端面で反射されたレーザ光と上記対象物からの反射光との位相差が一定になるように、上記レーザ光の波長を変化させる制御手段と、
その変化量に基づき上記対象物の変位および/または変位量を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする変位検出装置。 - 前記光源は、面発光レーザであることを特徴とした請求項1記載の変位検出装置。
- 前記第1の光学手段は、前記光源側のNA(Numerical Aperture)が略0.2以上好ましくは略0.3以上であり、前記導光手段側のNAが略0.2以下好ましくは略0.1以下である集光素子を有することを特徴とする請求項1または2記載の変位検出装置。
- 前記導光手段は、光ファイバであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の変位検出装置。
- 前記第2の光学手段は、前記導光手段からの出射光を平行光束に変換して前記対象物に照射するコリメータ素子を有していることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記対象物は、圧力に応じて変位する振動板であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段は、前記第1の光学手段の光軸に垂直な面に対して光源側端面が傾いていることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の前記光源側端面は、前記導光手段の光軸に垂直な面に対して略θ傾いて形成されているとともに、前記第1の光学手段の光軸に垂直な面に対して略φ傾いて配置されており、
当該φは、前記導光手段の屈折率をnとすると、sin−1(n×sinθ)であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項記載の変位検出装置。 - 前記導光手段の光源側端面に反射防止膜を施していることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段が少なくとも1つ以上の接合面を持つことを特徴とする請求項1から9のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段が少なくとも1つ以上の中継部端面を持つことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の接合面または中継部端面が他の端面から所望の距離以上、好ましくは前記レーザ光の可干渉距離の1/2以上離れていることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の接合面または中継部端面が他の端面から略500mm、好ましくは略1000mm以上離れていることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の接合面または中継部端面が前記導光手段の光軸に垂直な面に対して傾いていることを特徴とする請求項1から13のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の接合面または中継部端面に反射防止膜を施していることを特徴とする請求項1から14のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 前記導光手段の対象物側端面と前記対象物との距離が前記光源と前記導光手段の光源側端面との距離に対して所望の倍率以上、好ましくは略10倍以上で、前記光源から放射される光の干渉可能な距離以下であることを特徴とする請求項1から15のいずれか1項記載の変位検出装置。
- 変位検出の対象物としての振動板と、
請求項1から請求項16のうちのいずれか1項記載の変位検出装置であって、上記振動板の変位量に基づき音声信号を出力する変位検出装置と、
を備えることを特徴とするマイクロフォン装置。 - 光源からレーザ光を出射し、
上記光源から出射されたレーザ光を集光し、
集光されたレーザ光を導光部材を利用して変位可能な対象物へ導き、
上記導光部材によって導かれたレーザ光を上記対象物に照射し、
上記導光部材の対象物側の端面で反射されたレーザ光と上記対象物からの反射光による複合共振による光量を受光素子により検出し、
上記受光素子により検出される光量に基づき、上記導光部材の対象物側の端面で反射されたレーザ光と上記対象物からの反射光との位相差が一定になるように、上記レーザ光の波長を変化させ、
その変化量に基づき上記対象物の変位および/または変位量を検出する、
ことを特徴とする変位検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004362212A JP2006170740A (ja) | 2004-12-15 | 2004-12-15 | 変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004362212A JP2006170740A (ja) | 2004-12-15 | 2004-12-15 | 変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006170740A true JP2006170740A (ja) | 2006-06-29 |
Family
ID=36671667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004362212A Pending JP2006170740A (ja) | 2004-12-15 | 2004-12-15 | 変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006170740A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102782447A (zh) * | 2011-03-03 | 2012-11-14 | 三洋电机株式会社 | 物体检测装置及信息取得装置 |
CN105157593A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-12-16 | 武汉理工光科股份有限公司 | 隧道形变监测传感器及装置 |
WO2023095197A1 (ja) * | 2021-11-24 | 2023-06-01 | 日本電気株式会社 | 光センシングシステム及び光センシング方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57211507A (en) * | 1981-06-24 | 1982-12-25 | Fujitsu Ltd | Measuring method for distance |
JPS5948668A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-19 | Jiro Koyama | 光フアイバ速度計 |
JPS61191903A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置変化量検出装置 |
JPH0755423A (ja) * | 1993-08-10 | 1995-03-03 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式変位センサ |
JPH0942919A (ja) * | 1995-07-27 | 1997-02-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 変位計および自動ゼロ点調整方法 |
JP2001330669A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Kanmei Rai | 二重外部共振器つきレーザダイオード式距離・変位計 |
JP2002148018A (ja) * | 2000-11-10 | 2002-05-22 | Kenwood Corp | 音響等による微小変位検出装置 |
WO2003106920A1 (en) * | 2002-06-17 | 2003-12-24 | Zygo Corporation | Interferometry methods and systems having a coupled cavity geometry for use with an extended source |
JP2004126095A (ja) * | 2002-10-01 | 2004-04-22 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 2芯ファイバコリメータおよび光結合モジュール |
-
2004
- 2004-12-15 JP JP2004362212A patent/JP2006170740A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57211507A (en) * | 1981-06-24 | 1982-12-25 | Fujitsu Ltd | Measuring method for distance |
JPS5948668A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-19 | Jiro Koyama | 光フアイバ速度計 |
JPS61191903A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置変化量検出装置 |
JPH0755423A (ja) * | 1993-08-10 | 1995-03-03 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式変位センサ |
JPH0942919A (ja) * | 1995-07-27 | 1997-02-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 変位計および自動ゼロ点調整方法 |
JP2001330669A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Kanmei Rai | 二重外部共振器つきレーザダイオード式距離・変位計 |
JP2002148018A (ja) * | 2000-11-10 | 2002-05-22 | Kenwood Corp | 音響等による微小変位検出装置 |
WO2003106920A1 (en) * | 2002-06-17 | 2003-12-24 | Zygo Corporation | Interferometry methods and systems having a coupled cavity geometry for use with an extended source |
JP2004126095A (ja) * | 2002-10-01 | 2004-04-22 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 2芯ファイバコリメータおよび光結合モジュール |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102782447A (zh) * | 2011-03-03 | 2012-11-14 | 三洋电机株式会社 | 物体检测装置及信息取得装置 |
CN105157593A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-12-16 | 武汉理工光科股份有限公司 | 隧道形变监测传感器及装置 |
CN105157593B (zh) * | 2015-08-28 | 2018-03-16 | 武汉理工光科股份有限公司 | 隧道形变监测传感器及装置 |
WO2023095197A1 (ja) * | 2021-11-24 | 2023-06-01 | 日本電気株式会社 | 光センシングシステム及び光センシング方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1647798B1 (en) | Position detection apparatus and method | |
JP5403972B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
KR100486937B1 (ko) | 광섬유에 의해 구현된 패브리 페로 공진기와 이를 이용한 원자간력 현미경에서의 외팔보 탐침의 변위 측정 및 보정시스템 | |
JP4669469B2 (ja) | 反射型光ファイバ電流センサ | |
JP4545882B2 (ja) | 二重外部共振器つきレーザダイオード式距離・変位計 | |
JPH0663727B2 (ja) | 位置検知装置及び方法 | |
JP2017175622A (ja) | 光マイクロフォンシステム | |
JPWO2019049914A1 (ja) | レーザ装置 | |
JP4809578B2 (ja) | 位置測定装置 | |
JP2006170740A (ja) | 変位検出装置、マイクロフォン装置、および、変位検出方法 | |
JP2013156113A (ja) | レーザ式ガス分析装置 | |
US6340448B1 (en) | Surface plasmon sensor | |
CN100464471C (zh) | 具有后向散射光相位调制的稳频激光器系统 | |
CN114175683B (zh) | 用于测量位移的光学换能器及方法 | |
JP2003194518A (ja) | レーザ距離計測装置 | |
KR101540541B1 (ko) | 펨토초 레이저 발생장치 및 그와 연동하는 도막두께 측정장치 | |
JP2021158267A (ja) | レーザ装置 | |
KR101008120B1 (ko) | 공진기 길이 선택형 광섬유 간섭계를 이용한 초음파 측정 장치 | |
JP5947184B2 (ja) | 位置検出方法、及び位置検出装置 | |
JP5162832B2 (ja) | 変位検出装置 | |
JP5035657B2 (ja) | エンコーダ及びレーザ照射装置 | |
JP2006508368A (ja) | 液状媒体内の音圧分布を測定するための光学式ハイドロフォン | |
JP5231554B2 (ja) | 周波数安定化レーザー装置及びレーザー周波数安定化方法 | |
US20100149552A1 (en) | Optical metrology system | |
JP4220219B2 (ja) | 変位光量変換装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20071206 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100420 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100921 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110201 |