JP2006162453A - 測定方法及び装置、露光装置、並びに、デバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 参照プレートからの反射光と被検体及び/又は反射プレートからの反射光とを干渉させ、前記被検体の屈折率分布を測定する測定方法であって、前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置した場合における前記被検体及び/又は反射プレート上の光の位置と前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置しない場合における前記被検体及び/又は反射プレート上の光の位置とが同一位置となるように、前記被検体及び/又は反射プレートの位置を調整するステップを有することを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
Opt.Eng/September 1991/Vol.30 No.9/P1399−1405 Measurement of the inhomogeneity of a window
だけ図中矢印B方向にシフトさせる。ここで、Dは、被検体TGの厚さ[mm]である。例えば、被検体TGと基準プレート218及び220を石英(屈折率1.45706)とし、被検体TGの厚さDを80[mm]、被検体TGと基準プレート218及び220の傾け角を1度とすれば、反射プレート222を矢印A方向に0.44[mm]、基準プレート220を矢印B方向に0.96[mm]シフトさせればよい。これにより、位相差分布WSを測定した際における反射プレート222上での光の反射位置及び基準プレート220上の光が透過する位置と、位相差分布WHを測定する際における反射プレート222上での光の反射位置及び基準プレート220上の光が透過する位置を一致させることができる。換言すれば、反射プレート222上での光の反射位置のズレ及び基準プレート220上の光が透過する位置のズレを実質的になくすことができる。
116 参照プレート
120 反射プレート
122 ステージ
138 CCD
132 制御部
200 測定装置
216 参照プレート
218及び220 基準プレート
222 反射プレート
232 CCD
234 制御部
236、238及び240 セル
242 ステージ
244 セル
246 ステージ
300 露光装置
314 照明光学系
330 投影光学系
TG 被検体
Claims (14)
- 参照プレートからの反射光と被検体及び/又は反射プレートからの反射光とを干渉させ、前記被検体の屈折率分布を測定する測定方法であって、
前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置した場合における前記被検体及び/又は反射プレート上の光の位置と前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置しない場合における前記被検体及び/又は反射プレート上の光の位置とが同一位置となるように、前記被検体及び/又は反射プレートの位置を調整するステップを有することを特徴とする測定方法。 - 被検体の屈折率分布を測定する測定方法であって、
参照プレートと反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記反射プレートからの反射光との干渉縞を基に、第1の位相差分布を測定する第1のステップと、
前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置せずに、前記第1のステップにおける前記反射プレート上の光の位置と同一位置となるように前記反射プレートの位置を調整し、前記参照プレートからの反射光と前記反射プレートからの反射光との干渉縞を基に、第2の位相差分布を測定する第2のステップと、
前記第1のステップにおける前記被検体の第1の面上の光の位置と同一位置となるように前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記被検体の第1の面からの反射光との干渉縞を基に、第3の位相差分布を測定する第3のステップと、
前記第1のステップにおける前記被検体の第2の面上の光の位置と同一位置となるように前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記被検体の第2の面からの反射光との干渉縞を基に、第4の位相差分布を測定する第4のステップと、
前記第1の位相差分布をW2、前記第2の位相差分布をW1、前記第3の位相差分布をW3、前記第4の位相差分布をW4、前記被検体の屈折率をnとして、{n(W2−W1)−(n−1)(W4−W3)}に代入し、前記被検体の屈折率分布を導出するステップとを有することを特徴とする測定方法。 - 被検体の屈折率分布を測定する測定方法であって、
参照プレートと反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記反射プレートからの反射光との干渉縞を基に、第1の位相差分布を測定する第1のステップと、
前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置せずに、前記第1のステップにおける前記反射プレート上の光の位置と同一位置となるように前記反射プレートの位置を調整し、前記参照プレートからの反射光と前記反射プレートからの反射光との干渉縞を基に、第2の位相差分布を測定する第2のステップと、
前記第1のステップにおける前記被検体の第1の面上の光の位置と同一位置となるように前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記被検体の第1の面からの反射光との干渉縞を基に、第3の位相差分布を測定する第3のステップと、
前記第1のステップにおける前記被検体の第2の面上の光の位置と同一位置となるように前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記被検体の第2の面からの反射光との干渉縞を基に、第4の位相差分布を測定する第4のステップと、
前記第4のステップにおける前記被検体の第1の面上の光の位置と同一位置となるように前記参照プレートと前記反射プレートとの間に前記被検体を配置し、前記参照プレートからの反射光と前記被検体の第1の面からの反射光との干渉縞を基に、第5の位相差分布を測定する第5のステップと、
前記第1の位相差分布をW2、前記第2の位相差分布をW1、前記第3の位相差分布をW3、前記第4の位相差分布をW4、前記第5の位相差分布をW5、前記被検体の屈折率をnとして、{n(W2−W1)−(n−1)(W4−W3)−(n−1)(n−1)(W5−W3)}に代入し、前記被検体の屈折率分布を導出するステップとを有することを特徴とする測定方法。 - 参照プレートからの参照光と反射プレートからの被検光とを干渉させ、被検体の屈折率分布を測定する測定方法であって、
第1の基準プレートと第2の基準プレートとの間に緩挿させた前記被検体を、前記参照プレートと前記反射プレートとの間に配置し、前記被検体を含む透過波面を測定する第1の測定ステップと、
互いに張り合わせた前記第1のプレート及び前記第2のプレートを、前記参照プレートと前記反射プレートとの間に配置し、前記被検体を含まない透過波面を測定する第2の測定ステップとを有し、
前記第2の測定ステップは、前記第1の測定ステップにおける前記第1の基準プレート、前記第2の基準プレート及び前記反射プレート上での光の位置と前記第2の測定ステップにおける前記第1の基準プレート、前記第2の基準プレート及び前記反射プレート上での光の位置とを一致させて前記被検体を含まない透過波面を測定することを特徴とする測定方法。 - 参照プレートと、反射プレートとを有し、前記参照プレートからの反射光と被検体及び/又は反射プレートからの反射光とを干渉させ、前記被検体の屈折率分布を測定する測定装置であって、
前記被検体の位置を調整する第1の調整手段と、
前記反射プレートの位置を調整する第2の調整手段とを有することを特徴とする測定装置。 - 前記第1の調整手段は、光軸に対して垂直方向に前記被検体を移動させることを特徴とする請求項5記載の測定装置。
- 前記第2の調整手段は、光軸に対して垂直方向に前記反射プレートを移動させることを特徴とする請求項5記載の測定装置。
- 前記被検体を挟持する2つの基準プレートと、
前記2つの基準プレート及び前記2つの基準プレートに挟持された前記被検体を保持し、前記2つの基準プレート及び前記2つの基準プレートに挟持された前記被検体の位置を調整する第3の調整手段とを更に有することを特徴とする請求項5記載の測定装置。 - 前記第3の調整手段は、光軸に対して垂直方向に前記2つの基準プレート及び前記2つの基準プレートに挟持された前記被検体を移動させることを特徴とする請求項5記載の測定装置。
- 前記第3の調整手段は、光軸に対して垂直方向に前記2つの基準プレート及び前記2つの基準プレートに挟持された前記被検体を傾けることを特徴とする請求項5記載の測定装置。
- 被検体の屈折率分布を測定する測定装置であって、
請求項1乃至4のうちいずれか一項記載の測定方法を行うことができる測定モードを有することを特徴とする測定装置。 - レチクルのパターンを被処理体に露光する露光装置であって、
請求項1乃至4のうちいずれか一項記載の測定方法を利用して屈折率分布が測定され、所望の屈折率分布を有する光学素子で構成された光学系を有することを特徴とする露光装置。 - 前記光学系は、前記パターンを前記被処理体に投影する投影光学系であることを特徴とする露光装置。
- 請求項12又は13記載の露光装置を用いて被処理体を露光するステップと、
露光された前記被処理体を現像するステップとを有することを特徴とするデバイス製造方法。
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