JP2006153580A - レリーフ表面検査方式 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】メダル等は凹凸部と濃淡部とを有するので、従来のように斜め方向からの照明のみでは、その特徴を効率よく取り出せないという難点があったが、この発明では、落射照明とドーム型照明と斜光照明とを併用することにより、検査物4に対して様々な角度から光を当てられるようにし、欠陥等を効果的に抽出できるようにする。1は撮像装置としてのカメラ、2はカバー、3はハーフミラーを示す。
【選択図】図2
Description
すなわち、検査対象物の表面の凹凸の特徴だけを光学的に検査する場合は、凹凸表面を斜めから照明することにより凹凸の段差を陰影パターンとして表現できるが、この場合、平面的に濃淡(または色)の変化があるパターンは、その濃淡変化のパターンが押えられてしまい、うまく検査できないことになる。一方で、表面の濃淡変化を光学的に検査する場合は、表面を上から照明することにより、濃淡を検査できるが、この場合は、凹凸の変化の陰影が押えられてしまい、うまく検査できないことになる。
この発明の課題は、凹凸と濃淡の両方を効率よく捉えることのできる照明手段を用いたレリーフ表面の検査方式を提供することにある。
前記検査対象物のレリーフ表面を斜光照明手段,ドーム型照明手段および落射照明手段により同時に照明することを特徴とするものである。
この請求項1の発明においては、各照明のための光源としてLEDを使用し、前記検査対象物の色に応じて発光色を選択することができる(請求項2の発明)。
これは、メダル等の検査対象物4に対し、ここでは発光ダイオードLEDを光源として3種類の照明を行なうものである。すなわち、直方体状カバー2の所定面にLEDを設置し、これらからの光をハーフミラー3を介して対象物4に導く同軸落射照明と、ドーム(半球)状カバー21にLEDを設置し、これらからの光を対象物4に導くドーム型照明と、円形状下部カバー22の周上にLEDを設置し、これらからの光をドーム状カバーに反射させて対象物4へと導く斜光照明とを併用するものである。なお、1は対象物4の撮像装置(CCDカメラ)を示す。
斜光照明は比較的シャープなエッジ変化を強調するためであり、主としてキズや欠けの検出に有効である。そのため、光量的にパワーが出せる緑色LEDが好適である。また、変色検出のためには、白色より緑色LEDが有効である。
Claims (2)
- 凹凸と濃淡のある検査対象物のレリーフ表面検査方式において、
前記検査対象物のレリーフ表面を斜光照明手段,ドーム型照明手段および落射照明手段により同時に照明することを特徴とする検査対象物のレリーフ表面検査方式。 - 各照明のための光源としてLEDを使用し、前記検査対象物の色に応じて発光色を選択することを特徴とする請求項1に記載の検査対象物のレリーフ表面検査方式。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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A977 | Report on retrieval |
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