JP5475167B1 - ワーク検出装置及びワーク検出方法 - Google Patents
ワーク検出装置及びワーク検出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5475167B1 JP5475167B1 JP2013095482A JP2013095482A JP5475167B1 JP 5475167 B1 JP5475167 B1 JP 5475167B1 JP 2013095482 A JP2013095482 A JP 2013095482A JP 2013095482 A JP2013095482 A JP 2013095482A JP 5475167 B1 JP5475167 B1 JP 5475167B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- camera
- background
- region
- work
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
Abstract
【解決手段】ワークWの外形及びワークWの表面状態を検出するワーク検出装置であって、ワークWの外形を決定するワーク外形決定手段6と、光を反射する第1の領域と、第1の領域よりも光の散乱度合いが高い第2の領域とが混在した背景面を構成するステージ1と、背景面を背景として明視野にてワークを撮影する第1のカメラ2と、背景面を背景として暗視野にてワークを撮影する第2のカメラ3と、第1及び/又は第2のカメラ2、3でワークWを撮影して取得した画像に基づいて、ワークWの外形線を抽出するワーク外形線抽出手段7とを備えた。
【選択図】図1
Description
3 第2のカメラ
6、16 ワーク外形決定手段
7、17 ワーク外形線抽出手段
8 背景面
9 第1の領域
10 第2の領域
11、21 撮影画像
16 判別手段
17 切換手段
W ワーク
Claims (8)
- ワークの外形及びワークの表面状態を検出するワーク検出装置であって、
前記ワークの外形を決定するワーク外形決定手段と、
光を反射する第1の領域と、この第1の領域よりも光の散乱度合いが高い第2の領域とが混在した背景面と、
前記背景面を背景として明視野にてワークを撮影する第1のカメラと、
前記背景面を背景として暗視野にてワークを撮影する第2のカメラと、
前記第1及び/又は第2のカメラでワークを撮影して取得した画像に基づいて、ワークの外形線を抽出するワーク外形線抽出手段とを備えたことを特徴とするワーク検出装置。 - 前記第1のカメラと第2のカメラとを共通の一つのカメラにて構成したことを特徴とする請求項1に記載のワーク検出装置。
- 背景面を背景として明視野にてワークを撮影する第1のカメラと、背景面を背景として暗視野にてワークを撮影する第2のカメラとを有するカメラ手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載のワーク検出装置。
- 前記第1又は第2のカメラでワークを撮影した後に、ワークの表面状態が検出されたか否かを判別する判別手段と、
前記判別手段により、ワークの表面状態が検出されない場合に、最初に撮影したカメラとは別のカメラでワークを撮影する切換手段とを備えたことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のワーク検出装置。 - 前記背景の第1の領域と第2の領域とを、ワークよりも短いピッチで交互に配置したことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のワーク検出装置。
- 前記第1の領域と第2の領域とを格子状又は縞状に配置したことを特徴とする請求項5のワーク検出装置。
- 前記請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載されたワーク検出装置を用いて、ワークの外形及びワークの表面状態を検出するワーク検出方法であって、
前記ワーク検出装置のワーク外形決定手段にてワークの外形を決定するステップと、
光を反射する第1の領域と、この第1の領域よりも光の散乱度合いが高い第2の領域とが混在した背景面にワークを載置するステップと、
前記ワーク検出装置の第1カメラにて前記背景面を背景として明視野にて前記ワークを撮影するステップと、
前記ワーク検出装置の第2カメラにて前記背景面を背景として暗視野にて前記ワークを撮影するステップと、
前記ワークを撮影するステップにて得られた画像に基づいて、前記ワーク検出装置のワーク外形線抽出手段にてワークの外形線を抽出するステップと、
前記ワークを撮影するステップにて得られた画像に基づいて、ワークの表面状態を検出するステップとを備えたことを特徴とするワーク検出方法。 - 前記請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載されたワーク検出装置を用いて、ワークの外形及びワークの表面状態を検出するワーク検出方法であって、
前記ワーク検出装置のワーク外形決定手段にてワークの外形を決定するステップと、
光を反射する第1の領域と、この第1の領域よりも光の散乱度合いが高い第2の領域とが混在した背景面にワークを載置するステップと、
前記ワーク検出装置の第1カメラにて前記背景面を背景として明視野にて前記ワークを撮影するステップと、
前記ワーク検出装置の第2カメラにて前記背景面を背景として暗視野にて前記ワークを撮影するステップと、
前記ワークを撮影するステップにて得られた画像に基づいて、前記ワーク検出装置のワーク外形線抽出手段にてワークの外形線を抽出するステップと、
前記ワークを撮影するステップにて得られた画像に基づいて、ワークの表面状態を検出するステップと、
ワークの表面状態が検出されたか否かを判別するステップと、
ワークの表面状態が検出されない場合に、最初に撮影した照明条件とは別の照明条件でワークを撮影するステップと、
検出されなかったワークの表面状態を検出するステップとを備えたことを特徴とするワーク検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013095482A JP5475167B1 (ja) | 2013-04-30 | 2013-04-30 | ワーク検出装置及びワーク検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013095482A JP5475167B1 (ja) | 2013-04-30 | 2013-04-30 | ワーク検出装置及びワーク検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5475167B1 true JP5475167B1 (ja) | 2014-04-16 |
JP2014215280A JP2014215280A (ja) | 2014-11-17 |
Family
ID=50749847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013095482A Active JP5475167B1 (ja) | 2013-04-30 | 2013-04-30 | ワーク検出装置及びワーク検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5475167B1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107764834A (zh) * | 2017-12-07 | 2018-03-06 | 南京波长光电科技股份有限公司 | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 |
CN111999043A (zh) * | 2020-10-28 | 2020-11-27 | 三代光学科技(天津)有限公司 | 一种曲面透镜缺陷综合检测方法及系统 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5931248B1 (ja) * | 2015-05-12 | 2016-06-08 | 株式会社Pfu | 検査システム及び検査方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03221849A (ja) * | 1990-01-26 | 1991-09-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検出方法 |
JPH0412509B2 (ja) * | 1982-11-12 | 1992-03-04 | Fujitsu Ltd | |
JPH10253333A (ja) * | 1997-03-13 | 1998-09-25 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 画像計測用背景構造体および搬送装置 |
JP2002014057A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2008064718A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Dainippon Printing Co Ltd | カラーフィルタの検査装置及びカラーフィルタの検査方法 |
-
2013
- 2013-04-30 JP JP2013095482A patent/JP5475167B1/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0412509B2 (ja) * | 1982-11-12 | 1992-03-04 | Fujitsu Ltd | |
JPH03221849A (ja) * | 1990-01-26 | 1991-09-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検出方法 |
JPH10253333A (ja) * | 1997-03-13 | 1998-09-25 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 画像計測用背景構造体および搬送装置 |
JP2002014057A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2008064718A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Dainippon Printing Co Ltd | カラーフィルタの検査装置及びカラーフィルタの検査方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107764834A (zh) * | 2017-12-07 | 2018-03-06 | 南京波长光电科技股份有限公司 | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 |
CN107764834B (zh) * | 2017-12-07 | 2024-06-11 | 南京波长光电科技股份有限公司 | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 |
CN111999043A (zh) * | 2020-10-28 | 2020-11-27 | 三代光学科技(天津)有限公司 | 一种曲面透镜缺陷综合检测方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014215280A (ja) | 2014-11-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108445007B (zh) | 一种基于图像融合的检测方法及其检测装置 | |
JP6574163B2 (ja) | 基板の異物質検査方法 | |
KR101639227B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
EP3418726A1 (en) | Defect detection apparatus, defect detection method, and program | |
KR101659302B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
JP2007163314A (ja) | 色合い測定システム | |
KR20110089486A (ko) | 실장기판 검사장치 및 검사방법 | |
JP6487617B2 (ja) | マイクロレンズアレイの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
JP5621178B2 (ja) | 外観検査装置及び印刷半田検査装置 | |
JP5475167B1 (ja) | ワーク検出装置及びワーク検出方法 | |
JP6801860B2 (ja) | 被検査物の外観検査装置 | |
JP2008224523A (ja) | ネジ部品の検査装置および検査方法 | |
JP2009236760A (ja) | 画像検出装置および検査装置 | |
WO2019117802A1 (en) | A system for obtaining 3d images of objects and a process thereof | |
JP7251559B2 (ja) | 情報処理装置 | |
JP7136064B2 (ja) | 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法 | |
JP2002250700A (ja) | パターン検査方法およびその装置 | |
JP6508763B2 (ja) | 表面検査装置 | |
JP2019022147A (ja) | 光源方向推定装置 | |
JP2012225716A (ja) | 基板の外観検査装置および外観検査方法 | |
KR20180087090A (ko) | 검사 기준 화상을 통한 자동 조명 설정 방식의 머신 비전 시스템 및 동작 방법 | |
JP2018048878A (ja) | 角度測定装置およびその作動方法並びに角度測定プログラム | |
WO2020174596A1 (ja) | 画像撮影装置 | |
JP4967132B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
KR101132792B1 (ko) | 기판 검사방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140116 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140205 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5475167 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |