JP2006148711A - レーザビームスキャナ - Google Patents

レーザビームスキャナ Download PDF

Info

Publication number
JP2006148711A
JP2006148711A JP2004338004A JP2004338004A JP2006148711A JP 2006148711 A JP2006148711 A JP 2006148711A JP 2004338004 A JP2004338004 A JP 2004338004A JP 2004338004 A JP2004338004 A JP 2004338004A JP 2006148711 A JP2006148711 A JP 2006148711A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
laser light
laser
beam scanner
scanner according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004338004A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4400429B2 (ja
Inventor
Masatoshi Tokunaga
正寿 徳永
Katsunori Abe
克則 安部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2004338004A priority Critical patent/JP4400429B2/ja
Publication of JP2006148711A publication Critical patent/JP2006148711A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4400429B2 publication Critical patent/JP4400429B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】 走査対象エリアを2次元で任意設定できるレーザビームスキャナを提供すること。
【解決手段】 2次元に配置された複数のレーザ光源11と、レーザ光源11の前方に配置され、複数のレーザ光源11からのレーザ光30が入射されるレンズアレイ20とを備え、レンズアレイ20は複数のレンズ21を有し、複数のレンズ21を、少なくとも一部のレンズ21の光軸方向が他のレンズ21の光軸方向と異なるように配置した。すなわち、各レンズ21を通して出射されるレーザ光40の少なくとも一部の光軸方向が、他の光軸方向と異なるようした。従って、走査対象エリアを2次元で任意設定することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、レーザビームを走査するレーザビームスキャナに関するものである。
従来、レーザビームを走査するレーザビームスキャナとして、回転多面鏡を用いたものが知られている。しかしながら、機械的に鏡を動かしてビームを走査するため、装置の小型化に限界がある。また、機械的振動、音を伴う、走査速度が遅い等の欠点がある。
それに対して、例えば特許文献1や特許文献2においては、複数の半導体レーザが一列状に配置されてなる半導体レーザアレイと、この半導体レーザアレイの前方に配置され、全ての半導体レーザの出射レーザビームをその口径内に含むレンズ系を備えるレーザビームスキャナが開示されている。このレーザビームスキャナにおいては、半導体レーザアレイの前方に、結像面上でレーザビームが結像するようにレンズ系としての1個の凸レンズが配置され、半導体レーザアレイ上における発光点の位置変化と凸レンズによるレンズ作用とにより、レーザビームの走査を実現している。
特開平1−152683号公報 特開平8−97505号公報
しかしながら、特許文献1及び特許文献2に示す構成の場合、1次元の(直線的な)走査は可能であるが、2次元の走査を行うことができない。
また、上記構成において、複数の半導体レーザが2次元に配置されてなる半導体レーザアレイを適用することで、2次元の走査を行うことが可能である。しかしながら、レンズ系として1個の凸レンズを適用する場合、レンズ系を介してレーザビームが走査される走査対象エリアを2次元で任意設定することが困難である。
本発明は上記問題点に鑑み、走査対象エリアを2次元で任意設定できるレーザビームスキャナを提供することを目的とする。
上記目的を達成する為に請求項1〜17に記載の発明は、レーザビームを走査するに関するものである。
先ず、請求項1に記載のように、2次元に配置された複数のレーザ光源と、レーザ光源の前方に配置され、複数のレーザ光源からのレーザ光が入射される光学系とを備え、光学系は複数の素子部を有し、複数の素子部を通して出射されるレーザ光の少なくとも一部は、その光軸方向が他のレーザ光とは異なることを特徴とする。
このように本発明によると、複数のレーザ光源が2次元に配置されており、複数の素子部を通して出射されるレーザ光の少なくとも一部は、その光軸方向が他のレーザ光とは異なる構成である。すなわち、走査対象エリアを2次元で任意設定することができる。
また、本発明においても、レーザ光の走査を複数のレーザ光源における発光点の位置変化と光学系とにより実現しているので、機械的可動部が存在せず、機械的振動や音を伴うことがない。
さらには、複数点同時走査や、飛び越し走査等も可能である。
請求項2に記載のように、複数の素子部を通して出射される各レーザ光は、その光軸方向が全て異なることが好ましい。この場合、より広範囲を走査することができる。
具体的には、請求項3に記載のように、複数のレーザ光源から出射された各レーザ光の光軸方向は略同一であり、複数の素子部の少なくとも一部を、その光軸方向が他の素子部とは異なるように配置することで走査対象エリアを2次元で任意設定することが可能となる。
請求項4に記載のように、レーザ光源から出射されたレーザ光が光学系を介して照射される走査対象エリアにおいて、走査対象エリアの照射面におけるビーム径は、光学系に入射される際のレーザ光のビーム径と略同等以上であることが好ましい。
このような構成とすると、より広範囲を走査することができる。また、光学系で収束され、走査対象エリアとの距離が概ね設定されている従来の構成(例えばバーコードリーダ等)とは異なり、光学系(又はレーザ光源)と走査対象エリアとの間の距離が任意であっても、任意設定された2次元の走査対象エリアを隙間無く走査することができる。
具体的には、請求項5に記載のように、複数の素子部が、レーザ光源からのレーザ光を、平行光若しくは発散光とするものであれば良い。この場合、光学系と走査対象エリアとの距離に関係無く、走査対象エリアを隙間なく走査することができる。
請求項6に記載のように、複数の素子部が一体的に形成されて光学系を構成していると、光学系を通して出射される各レーザ光の光軸方向を高精度で位置決めすることができる。すなわち、隙間無く走査することができる。
その際、請求項7に記載のように、複数の素子部は、少なくとも一部が同一平面上に配置されていることが好ましい。この場合、一体的に形成された光学系を小型化することができる。
複数の素子部の配置としては、例えば請求項8に記載のように、隣接する素子部においてその光軸方向が徐々に変化するように配置しても良いし、請求項9に記載のように、中心領域から縁領域に向けて、レーザ光の光軸に対する光軸の傾きが大きくなるように配置しても良い。それ以外にも、光軸方向に関係無い配置(ランダムな配置)としても良い。例えば、2次元(例えばx、y軸にて規定される)の照射対象エリアにおいて、例えばx軸方向とy軸方向で照射範囲が異なるような配置としても良い。
請求項10に記載のように、複数の素子部の少なくとも一部を凸レンズ又は凹レンズにて構成することもできる。例えば全ての素子部が同一の凸レンズ又は凹レンズで構成される場合、他の凸レンズ又は凹レンズの光軸方向に対して、少なくとも一部の凸レンズ又は凹レンズの光軸方向が異なるように配置すれば良い。
それ以外にも、請求項11に記載のように、複数の前記素子部の少なくとも一部にプリズムを適用することで、少なくとも一部の光軸方向が異なるように配置することができる。尚、請求項12に記載のように、複数の素子部の少なくとも一部を凸レンズ又は凹レンズとプリズムにより構成すると、全てのレンズの光軸方向が略同一であっても、プリズムの配置されたレンズからのレーザ光の光軸方向を、他のレーザ光の光軸方向と異なるものとすることができる。
また、請求項13に記載のように、複数の素子部の少なくとも一部を、その屈折率が他の素子部とは異なるように構成しても良い。例えば基材に対するドープ量を変えることで、少なくとも一部の素子部の屈折率を他の素子部の屈折率と異なる(すなわち、少なくとも一部のレーザ光の光軸方向を他のレーザ光の光軸方向と異なる)ものとすることができる。
さらには、請求項14に記載のように、光学系をフレネルレンズにより構成しても良い。尚、フレネルレンズの場合、複数の傾斜面の各々が素子部である。
請求項15に記載のように、複数の素子部は、複数のレーザ光源に対応して形成されていることが好ましい。このように、1つのレーザ光源につき1つの素子部が対応して形成されていると、2次元の走査対象エリアのうち、所定部位にのみレーザ光を精度良く照射することができる。
尚、請求項16に記載のように、複数のレーザ光源も一体的に形成されていると良い。この場合、光学系を通して出射されるレーザ光の光軸方向をより高精度で位置決めすることができる。
具体的には、請求項17に記載のように、複数のレーザ光源が単一の半導体基板上に形成された2次元半導体レーザアレイ(特に2次元面発光レーザアレイ)が好適である。この場合、特に走査速度を向上できる。また、小型化することができる。
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態のレーザビームスキャナのうち、特徴部分(走査対象エリアまでの出射側)を示す概略構成図である。図2はレーザアレイの概略構成を示す平面図である。図3は光学系としてのレンズアレイの概略構成を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A乃至B−B断面における断面図である。
図1において、符号10はレーザ光を出射するレーザアレイを、符号20はレーザアレイ10の出射側の前方に配置され、レーザアレイ10からのレーザ光が入射されるレンズアレイ20(光学系に相当)を示している。また、符号30は、レーザアレイ10から出射されたレーザ光を、符号40は、レンズアレイ20を通した後のレーザ光を、符号41はレーザ光40の光軸を示している。
レーザアレイ10は、2次元に配置された複数のレーザ光源11から構成されている。レーザ光源11の個数は特に限定されるものではない。また、レーザ光源11の種類も特に限定されるものではない。
本実施形態におけるレーザアレイ10は、図2に示すように、単一の半導体基板12上に複数のレーザ光源11(素子)を所定のパターン(図2においては格子状)に形成してなる公知(例えば特開2001−358411号公報)の2次元面発光型のレーザアレイとして構成されている。このように、単一の半導体基板12に複数のレーザ光源11を形成すると、レーザアレイ10を小型化でき、各レーザ光源11間の位置精度を向上できる。また、従来のように機械的に鏡を動かしてビームを走査する構成に比べて、走査速度を向上できる。尚、図2においては、便宜上、レーザ光源11としてレーザ光30が出射される開口部を示している。
尚、図1に示すように、各レーザ光源11から出射された各レーザ光30は、その光軸方向が略同一(平行)であり、各レーザ光30は、レーザアレイ10からレンズアレイ20に入射されるまでの間に、多少なりとも発散する。
また、レンズアレイ20は、図3(a),(b)に示すように、複数のレンズ21(素子部に相当)を2次元配置してなるものである。レンズ21の個数は特に限定されるものではなく、少なくともレーザアレイ10を構成する全てのレーザ光源11から出射されたレーザ光30をその口径内に含む構成であれば良い。本実施形態においては、1つのレーザ光源11に対して1つのレンズ21が対応するように配置されている。このように、1つのレーザ光源11につき1つのレンズ21が対応して形成されていると、2次元の走査対象エリアのうち、所定部位にのみレーザ光を精度良く照射することができる。
また、レンズの構成材料は特に限定されるものではない。ガラス製でも樹脂製でも良い。本実施形態においては、複数のレンズ21として同一構成の凸状レンズを適用しており、例えば公知のレンズアレイ技術によって、図1及び図3(b)に示すように、基部22(例えば樹脂)にレンズ21を固定することでレンズアレイ20が構成されている。このように、複数のレンズ21が一体的に形成されて光学系であるレンズアレイ20を構成していると、レンズアレイ20を通して出射される各レーザ光40の光軸41の方向を高精度で位置決めすることができる。すなわち、隙間無く走査することができる。尚、本実施形態における複数のレンズ21は、それぞれ少なくとも一部が同一平面上に配置されているので、後述するようにレンズ21の配置角度が異なっても、一体的に形成されたレンズアレイ20を小型化することができる。尚、本実施形態におけるレンズ21は縦横5列の格子状に配置されており、その中心位置のレンズを中心レンズ21aと示す。
ここで、本実施形態においては、複数のレンズ21を、複数のレンズ21の光軸方向が全て略同一となるように配置するのではなく、意図的に少なくとも一部のレンズ21の光軸方向(基部22に対する配置角度)が他のレンズ21の光軸方向と異なるように配置している。すなわち、各レンズ21を通して出射されるレーザ光40の少なくとも一部の光軸方向が、他の光軸方向と異なるようしている。従って、走査対象エリアを2次元で任意設定することができる。特に本実施形態においては、光学系を複数のレンズ21によって構成しているので、走査対象エリアの任意設定が容易である。
具体的には、隣接するレンズ21においてその光軸方向が徐々に変化するように配置している。さらには、図1及び図3(a),(b)に示すように、中心レンズ21aのみレーザ光30の光軸とレンズ21の光軸が一致するように配置している。そして、それ以外のレンズ21は、中心レンズ21aからレンズアレイ20の縁領域に向けて、レーザ光30の光軸に対するレンズ21の光軸の傾きが徐々に大きくなるよう(放射状)に配置している。従って、より広範囲を走査することができる。
また、本実施形態においては、レーザ光源11から出射されたレーザ光30がレンズ21を介して照射される走査対象エリア(図示せず)において、走査対象エリアの照射面におけるレーザ光40のビーム径が、レンズ21に入射される際のレーザ光30のビーム径と略同等か、それ以上となる(すなわち拡大される)ようにレーザアレイ10、レンズアレイ20、走査対象エリアの配置、出射されるレーザ光30のビーム径、及びレンズ21の曲率等が設定されている。従って、より広範囲の走査対象エリアを走査することができる。また、レンズ21で収束され、走査対象エリアとの距離が概ね設定されている従来の構成(例えばバーコードリーダ等)と比べて分解能は低下するものの、レンズアレイ20(又はレーザアレイ10)と走査対象エリアとの間の距離が任意であっても、任意設定された2次元の走査対象エリアを隙間無く走査することができる。例えば、前方における障害物有無を確認するセンサや、前方の対象物との距離を測定する距離センサ等に適用することができる。
具体的には、レンズ21が、レーザ光源11からのレーザ光30を、平行若しくは発散するレーザ光40(平行光もしくは発散光)とするものであれば良い。凸状のレンズ21の場合、レンズ21の焦点位置よりもレーザアレイ10(レーザ光源11)が手前にあれば発散し、焦点位置にあれば平行光となる。尚、図1においては、レーザ光40が発散光となる例を示している。
また、本実施形態においては、レーザ光40の走査をレーザアレイ10のレーザ光源11(発光点)の位置変化とレンズアレイ20とにより実現しているので、機械的可動部が存在せず、機械的振動や音を伴うことがない。さらには、複数点同時走査や、飛び越し走査等が可能である。
尚、本実施形態においては、レンズアレイ20が、基部22にレンズ21を配置して構成される例を示した。しかしながら、基部22に直接レンズ21を形成してレンズアレイ20を構成することもできる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態を図4(a),(b)に基づいて説明する。図4は、本実施の形態におけるレーザビームスキャナを構成するレンズアレイ20の概略構成を示す図であり、(a)がA−A断面、(b)がB−B断面を示す。尚、図4(a),(b)におけるA−A断面及びB−B断面は、第1の実施形態で示した図3(a)のA−A断面及びB−B断面である。
第2の実施形態において第1の実施形態と異なる点は、光学系であるレンズアレイ20を構成するレンズ21の配置角度である。
レンズアレイ20を構成する複数のレンズ21の配置位置及び構成材料は第1実施形態と同様である。本実施形態においては、図4(a),(b)に示すように、レンズアレイ20のA−A断面とレンズアレイ20のB−B断面とで、レーザ光30の光軸に対するレンズ21の光軸の傾きが異なっている。すなわち、A−A断面とB−B断面とで照射範囲が異なるような配置としている。尚、A−A断面における配置は第1実施形態(図3(b))と同様であり、B−B断面における配置が異なっている(全て中心レンズ21aと同様の配置角度)。
このように、レンズアレイ20を構成するレンズ21を、必ずしも規則的に配置する必要はない。例えば光軸方向に関係無い配置(ランダムな配置)としても良い。従って、任意形状の走査対象エリアに対応することができる。
以上本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態のみに限定されず、種々変更して実施することができる。
本実施形態においては、2次元に配置された複数のレーザ光源11が、2次元面発光型のレーザアレイ10として一体化された例を示した。しかしながら、レーザ光源11の配置は、2次元であれば特に限定されるものではない。一体化されていなくとも良い。
また、本実施形態においては、素子部としての複数のレンズ21がレンズアレイ20として一体化された例を示した。しかしながら、必ずしも一体化されていなくとも良い。
また、光学系を構成する素子部として凸状のレンズ21を適用する例を示した。しかしながら、素子部は凸状のレンズ21(凸レンズ)に限定されるものではない。例えば、凹状のレンズ(凹レンズ)を適用することもできる。それ以外にも、複数の素子部の少なくとも一部として、図5に示すようにプリズム50を適用することもできる。さらには、図6に示すように、プリズム50とレンズ51(図6においては凸レンズ)とにより素子部を構成することもできる。尚、図6において、プリズム50とレンズ51が互いに接触配置されているが、離間して配置された構成でも良い。図5,図6は、光学系を構成する素子部の変形例を示す図である。
また、複数の素子部の少なくとも一部を、その屈折率が他の素子部とは異なるように構成しても良い。例えば基材に対するドープ量を変えることで、少なくとも一部の素子部の屈折率を他の素子部の屈折率と異なるもの(例えば公知の屈折率分布型のレンズ)とすることができる。この場合、構成をより簡素化することができ、その体格を小型化することができる。また、素子部の位置精度を向上できる。
さらには、図7に示すように、光学系をフレネルレンズ52により構成しても良い。尚、フレネルレンズ52の場合、複数の傾斜面の各々が素子部に相当する。この場合も、光学系の体格を小型化することができる。
また、本実施形態においては、素子部であるレンズ21が、レーザ光源11に対応(1対1で)して形成されている例を示した。しかしながら、レーザ光源11とレンズ21(素子部)が1対1でなくとも良い。例えば複数の光源11に対して1つのレンズ21を配置した構成としても良い。
また、本実施形態においては、素子部としてのレンズ21の配置によって、複数のレーザ光40のうち、少なくとも一部のレーザ光40の光軸41の方向を他のレーザ光40の光軸41の方向と異なるようにする例を示した。しかしながら、少なくとも一部のレーザ光40の光軸41の方向を他のレーザ光40の光軸41の方向と異なるようにする構成としては、素子部側に限定されるものではない。例えば、複数のレーザ光30のうち、少なくとも一部のレーザ光30の光軸方向が、他のレーザ光30の光軸方向と異なるようにレーザ光源11を配置することで、レーザ光40の光軸方向を制御する構成としてもよい。さらには、複数のレーザ光源11と、素子部としてのレンズ21の両方の配置によって、少なくとも一部のレーザ光40の光軸41の方向を他のレーザ光40の光軸41の方向と異なるように構成しても良い。
レーザビームスキャナのうち、第1の実施形態の特徴部分を示す概略構成図である。 レーザアレイの概略構成を示す平面図である。 光学系としてのレンズアレイの概略構成を示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A乃至B−B断面における断面図である。 第2実施の形態におけるレンズアレイの概略構成を示す図であり、(a)がA−A断面、(b)がB−B断面を示す。 光学系を構成する素子部の変形例を示す図である。 光学系を構成する素子部の変形例を示す図である。 光学系の変形例を示す図である。
符号の説明
10・・・レーザアレイ
11・・・レーザ光源
20・・・レンズアレイ(光学系)
21・・・レンズ(素子部)
21a・・・中心レンズ
30・・・レーザ光(レンズ前)
40・・・レーザ光(レンズ後)
41・・・光軸
50・・・プリズム(素子部)
52・・・フレネルレンズ(光学系)

Claims (17)

  1. 2次元に配置された複数のレーザ光源と、
    前記レーザ光源の前方に配置され、複数の前記レーザ光源からのレーザ光が入射される光学系とを備え、
    前記光学系は複数の素子部を有し、
    複数の前記素子部を通して出射されるレーザ光の少なくとも一部は、その光軸方向が他のレーザ光とは異なることを特徴とするレーザビームスキャナ。
  2. 複数の前記素子部を通して出射される各レーザ光は、その光軸方向が全て異なることを特徴とする請求項1に記載のレーザビームスキャナ。
  3. 複数の前記レーザ光源から出射された各レーザ光の光軸方向は略同一であり、
    複数の前記素子部の少なくとも一部は、その光軸方向が他の素子部とは異なるように配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のレーザビームスキャナ。
  4. 前記レーザ光源から出射されたレーザ光が前記光学系を介して照射される走査対象エリアにおいて、前記走査対象エリアの照射面におけるビーム径は、前記光学系に入射される際の前記レーザ光のビーム径と略同等以上であることを特徴とする請求項3に記載のレーザビームスキャナ。
  5. 複数の前記素子部は、前記レーザ光源からのレーザ光を、平行光若しくは発散光とすることを特徴とする請求項4に記載のレーザビームスキャナ。
  6. 複数の前記素子部は、一体的に形成されて前記光学系を構成していることを特徴とする請求項3〜5いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  7. 複数の前記素子部は、少なくとも一部が同一平面上に配置されていることを特徴とする請求項6に記載のレーザビームスキャナ。
  8. 複数の前記素子部は、隣接する前記素子部においてその光軸方向が徐々に変化するように配置されていることを特徴とする請求項6又は請求項7に記載のレーザビームスキャナ。
  9. 複数の前記素子部は、中心領域から縁領域に向けて、前記レーザ光の光軸に対する光軸の傾きが大きくなるように配置されていることを特徴とする請求項8に記載のレーザビームスキャナ。
  10. 複数の前記素子部の少なくとも一部は、凸レンズ又は凹レンズであることを特徴とする請求項1〜9いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  11. 複数の前記素子部の少なくとも一部は、プリズムであることを特徴とする請求項1〜10いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  12. 複数の前記素子部の少なくとも一部は、凸レンズ又は凹レンズとプリズムにより構成されることを特徴とする請求項1〜11いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  13. 複数の前記素子部の少なくとも一部は、その屈折率が他の素子部とは異なることを特徴とする請求項1〜10いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  14. 前記光学系は、フレネルレンズであることを特徴とする請求項1〜9いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  15. 複数の前記素子部は、複数の前記レーザ光源に対応して形成されていることを特徴とする請求項1〜14いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  16. 複数の前記レーザ光源は、一体的に形成されていることを特徴とする請求項1〜15いずれか1項に記載のレーザビームスキャナ。
  17. 複数の前記レーザ光源は、単一の半導体基板上に形成されていることを特徴とする請求項16に記載のレーザビームスキャナ。
JP2004338004A 2004-11-22 2004-11-22 レーザビームスキャナ Expired - Fee Related JP4400429B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004338004A JP4400429B2 (ja) 2004-11-22 2004-11-22 レーザビームスキャナ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004338004A JP4400429B2 (ja) 2004-11-22 2004-11-22 レーザビームスキャナ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006148711A true JP2006148711A (ja) 2006-06-08
JP4400429B2 JP4400429B2 (ja) 2010-01-20

Family

ID=36627861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004338004A Expired - Fee Related JP4400429B2 (ja) 2004-11-22 2004-11-22 レーザビームスキャナ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4400429B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009103529A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Denso Corp レーザビーム照射装置
JP2010091855A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Denso Corp レーザビーム照射装置
JP2018164089A (ja) * 2013-04-22 2018-10-18 トリルミナ コーポレーション 高周波動作のための光電子装置のマルチビームアレイ用マイクロレンズ
US10615871B2 (en) 2009-02-17 2020-04-07 Trilumina Corp. High speed free-space optical communications
JP2020120018A (ja) * 2019-01-25 2020-08-06 富士ゼロックス株式会社 発光装置、光学装置、光計測装置及び画像形成装置
CN111939485A (zh) * 2020-07-31 2020-11-17 西安炬光科技股份有限公司 一种激光点阵系统及方法、激光点阵治疗仪
US11095365B2 (en) 2011-08-26 2021-08-17 Lumentum Operations Llc Wide-angle illuminator module

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009103529A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Denso Corp レーザビーム照射装置
JP2010091855A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Denso Corp レーザビーム照射装置
US10938476B2 (en) 2009-02-17 2021-03-02 Lumentum Operations Llc System for optical free-space transmission of a string of binary data
US11405105B2 (en) 2009-02-17 2022-08-02 Lumentum Operations Llc System for optical free-space transmission of a string of binary data
US10615871B2 (en) 2009-02-17 2020-04-07 Trilumina Corp. High speed free-space optical communications
US11121770B2 (en) 2009-02-17 2021-09-14 Lumentum Operations Llc Optical laser device
US11075695B2 (en) 2009-02-17 2021-07-27 Lumentum Operations Llc Eye-safe optical laser system
US11095365B2 (en) 2011-08-26 2021-08-17 Lumentum Operations Llc Wide-angle illuminator module
US11451013B2 (en) 2011-08-26 2022-09-20 Lumentum Operations Llc Wide-angle illuminator module
JP2018164089A (ja) * 2013-04-22 2018-10-18 トリルミナ コーポレーション 高周波動作のための光電子装置のマルチビームアレイ用マイクロレンズ
CN111564463A (zh) * 2019-01-25 2020-08-21 富士施乐株式会社 发光装置、光学装置、光测量装置以及图像形成装置
JP2020120018A (ja) * 2019-01-25 2020-08-06 富士ゼロックス株式会社 発光装置、光学装置、光計測装置及び画像形成装置
CN111939485A (zh) * 2020-07-31 2020-11-17 西安炬光科技股份有限公司 一种激光点阵系统及方法、激光点阵治疗仪

Also Published As

Publication number Publication date
JP4400429B2 (ja) 2010-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4474422A (en) Optical scanning apparatus having an array of light sources
JP5169136B2 (ja) レーザビーム照射装置
JP5809498B2 (ja) 光源ユニットの調整装置及び製造方法
JP2010537241A (ja) 光学装置
JPH11161992A (ja) 多モードダイオードを用いた二次元レーザーダイオードアレー
JP4400429B2 (ja) レーザビームスキャナ
JPH0534613A (ja) 複数ビーム走査光学装置
KR100335624B1 (ko) 레이저빔주사장치
WO2019163210A1 (ja) 走査型光学系、およびライダー
JP2005274678A (ja) 光学走査装置
JP2003287696A (ja) マルチビーム走査装置、光源装置
JP2001021822A (ja) 光走査光学系及びそれを用いた画像形成装置
JP4651830B2 (ja) ビーム合成方法・マルチビーム走査用光源装置・マルチビーム走査装置
JP2021110698A (ja) 光学式三次元形状測定装置
JPH0980330A (ja) マルチビーム走査光学系
KR20160132376A (ko) 빔 노광 장치
JP2743861B2 (ja) レーザスキャン装置
JP2006178190A (ja) 光走査装置
KR100601648B1 (ko) 광주사장치
EP0836106B1 (en) Light-beam scanning apparatus comprising divergent or convergent light-shaping means
WO2024048242A1 (ja) 測距装置
KR101239957B1 (ko) 광주사장치
JP2003057582A (ja) マルチビーム発光装置
JP2010096884A (ja) 光走査装置
JP2023136099A (ja) 光走査装置および画像形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090623

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090807

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091006

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091019

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121106

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131106

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees