JP2006112852A - テストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびテストシナリオ作成のためのプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するステップと、生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップと、によりテストシナリオを作成する。複数のシナリオを生成するステップでは、通過する経路の順番を考慮したすべての組み合わせのシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることができる。あるいは、開始状態から1つずつイベントを発生するシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることができる。複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、特定の状態で終わるシナリオと、その特定の状態から始まるシナリオとを結合する加工アルゴリズムを用いることができる。あるいは、経路が重複するシナリオを削除する加工アルゴリズムを用いることができる。
【選択図】図2
Description
このテストシナリオ作成方法によれば、複数の生成アルゴリズムに従って生成された複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを作成するので、複雑な試験条件を満足するテストシナリオを容易に獲得できる。複雑な試験条件に対応する新たなアルゴリズムを作成する必要がない。生成アルゴリズムは要求される試験条件に応じて適宜選択できる。
この場合には、状態遷移の履歴を反映させた試験を可能とするテストシナリオを得ることができる。
この場合には、特定の状態からイベントを発生させた場合の試験を行うことができる。
この場合には、複数のアルゴリズムに従う複数のシナリオを連続させて、1つのシナリオを生成できる。
この場合には、不要なシナリオが効果的に削減され、試験時間を短縮できる。
このテストシナリオ作成装置によれば、複数の生成アルゴリズムに従って生成された複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを作成するので、複雑な試験条件を満足するテストシナリオを容易に獲得できる。複雑な試験条件に対応する新たなアルゴリズムを作成する必要がない。生成アルゴリズムは要求される試験条件に応じて適宜選択できる。
この場合には、生成手順記憶手段に記憶された生成手順を再利用できる。このため、例えば、異なる状態遷移表に基づいて同一のアルゴリズムに従うテストシナリオを作成する場合に、以前に記憶された生成手順を用いることで容易に新たなテストシナリオを作成できる。
この場合には、加工手順記憶手段に記憶された加工手順を再利用できる。このため、例えば、同一のアルゴリズムに従うテストシナリオを作成する場合に、以前に記憶された加工手順を用いることで容易に新たなテストシナリオを作成できる。
この場合には、状態遷移の履歴を反映させた試験を可能とするテストシナリオを得ることができる。
この場合には、特定の状態からイベントを発生させた場合の試験を行うことができる。
この場合には、複数のアルゴリズムに従う複数のシナリオを連続させて、1つのシナリオを生成できる。
この場合には、不要なシナリオが効果的に削減され、試験時間を短縮できる。
このプログラムによれば、複数の生成アルゴリズムに従って生成された複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを作成するので、複雑な試験条件を満足するテストシナリオを容易に獲得できる。複雑な試験条件に対応する新たなアルゴリズムを作成する必要がない。生成アルゴリズムは要求される試験条件に応じて適宜選択できる。
この場合には、状態遷移の履歴を反映させた試験を可能とするテストシナリオを得ることができる。
この場合には、特定の状態からイベントを発生させた場合の試験を行うことができる。
この場合には、複数のアルゴリズムに従う複数のシナリオを連続させて、1つのシナリオを生成できる。
この場合には、不要なシナリオが効果的に削減され、試験時間を短縮できる。
5 シナリオ加工手段
7 手順記憶手段(生成手順記憶手段、加工手順記憶手段)
Claims (17)
- 状態遷移表に基づいてテストシナリオを作成するテストシナリオ作成方法において、
複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するステップと、
生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップと、
を備えることを特徴とするテストシナリオ作成方法。 - 前記複数のシナリオを生成するステップでは、通過する経路の順番を考慮したすべての組み合わせのシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項1に記載のテストシナリオ作成方法。
- 前記複数のシナリオを生成するステップでは、開始状態から1つずつイベントを発生するシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項1または2に記載のテストシナリオ作成方法。
- 前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、特定の状態で終わるシナリオと、その特定の状態から始まるシナリオとを結合する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のテストシナリオ作成方法。
- 前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、経路が重複するシナリオを削除する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のテストシナリオ作成方法。
- 状態遷移表に基づいてテストシナリオを作成するテストシナリオ作成装置において、
複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するシナリオ生成手段と、
生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るシナリオ加工手段と、
を備えることを特徴とするテストシナリオ作成装置。 - 前記シナリオ生成手段における生成手順を記憶する生成手順記憶手段を備え、
前記シナリオ生成手段は前記生成手順記憶手段に記憶された生成手順を用いてシナリオを生成可能であることを特徴とする請求項6に記載のテストシナリオ作成装置。 - 前記シナリオ加工手段における加工手順を記憶する加工手順記憶手段を備え、
前記シナリオ加工手段は前記加工手順記憶手段に記憶された加工手順を用いてシナリオを加工可能であることを特徴とする請求項6または7に記載のテストシナリオ作成装置。 - 前記シナリオ生成手段は、通過する経路の順番を考慮したすべての組み合わせのシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いてシナリオを生成することを特徴とする請求項8に記載のテストシナリオ作成装置。
- 前記シナリオ生成手段は、開始状態から1つずつイベントを発生するシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いてシナリオを生成することを特徴とする請求項8または9に記載のテストシナリオ作成装置。
- 前記シナリオ加工手段は、特定の状態で終わるシナリオと、その特定の状態から始まるシナリオとを結合する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項8〜10のいずれか1項に記載のテストシナリオ作成装置。
- 前記シナリオ加工手段は、経路が重複するシナリオを削除する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項8〜11のいずれか1項に記載のテストシナリオ作成装置。
- 状態遷移表に基づいてテストシナリオを作成するテストシナリオ作成方法を実行するためのプログラムにおいて、
コンピュータに、
複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するステップと、
生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。 - 前記複数のシナリオを生成するステップでは、通過する経路の順番を考慮したすべての組み合わせのシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項13に記載のプログラム。
- 前記複数のシナリオを生成するステップでは、開始状態から1つずつイベントを発生するシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項13または14に記載のプログラム。
- 前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、特定の状態で終わるシナリオと、その特定の状態から始まるシナリオとを結合する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項13〜15のいずれか1項に記載のプログラム。
- 前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、経路が重複するシナリオを削除する加工アルゴリズムを用いることを特徴とする請求項13〜16のいずれか1項に記載のプログラム。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007317096A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Fujitsu Ltd | 検証シナリオ作成プログラム、記録媒体、検証シナリオ作成装置および検証シナリオ作成方法 |
JP2008210275A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | 試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム |
JP2011129028A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 総テスト時間を最小にするようにテストシナリオを最適化するテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラム |
JP2013058074A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単独の異常系シナリオを任意回数実行するテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP2013058073A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 異常系シナリオの組合せのテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
US8671372B2 (en) | 2010-04-30 | 2014-03-11 | Fujitsu Limited | Verification support computer product, apparatus, and method |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06282462A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-07 | Toshiba Corp | 半導体試験装置制御プログラムデバッグ方式 |
JPH07253898A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-10-03 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置の試験システム |
JPH07253905A (ja) * | 1994-01-26 | 1995-10-03 | Toshiba Corp | テストケース作成装置及びテストケース作成方法 |
JPH11149389A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 被テストシステムのシステム仕様の記述によるテストケースの自動生成方法 |
JPH11353348A (ja) * | 1998-06-10 | 1999-12-24 | Hitachi Ltd | テストケース作成装置及びテストケース作成方法 |
JP2000298600A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Denso Corp | ソフトウェア結合検査装置 |
JP2002259161A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | テストスクリプトの自動生成装置 |
JP2003532168A (ja) * | 1999-10-12 | 2003-10-28 | テラダイン・インコーポレーテッド | プログラムの容易な自動テスト機器 |
-
2004
- 2004-10-13 JP JP2004298744A patent/JP4591030B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06282462A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-07 | Toshiba Corp | 半導体試験装置制御プログラムデバッグ方式 |
JPH07253905A (ja) * | 1994-01-26 | 1995-10-03 | Toshiba Corp | テストケース作成装置及びテストケース作成方法 |
JPH07253898A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-10-03 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置の試験システム |
JPH11149389A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 被テストシステムのシステム仕様の記述によるテストケースの自動生成方法 |
JPH11353348A (ja) * | 1998-06-10 | 1999-12-24 | Hitachi Ltd | テストケース作成装置及びテストケース作成方法 |
JP2000298600A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Denso Corp | ソフトウェア結合検査装置 |
JP2003532168A (ja) * | 1999-10-12 | 2003-10-28 | テラダイン・インコーポレーテッド | プログラムの容易な自動テスト機器 |
JP2002259161A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | テストスクリプトの自動生成装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007317096A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Fujitsu Ltd | 検証シナリオ作成プログラム、記録媒体、検証シナリオ作成装置および検証シナリオ作成方法 |
JP2008210275A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | 試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム |
JP4705060B2 (ja) * | 2007-02-27 | 2011-06-22 | 三菱電機株式会社 | 試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム |
JP2011129028A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 総テスト時間を最小にするようにテストシナリオを最適化するテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラム |
US8584095B2 (en) | 2009-12-21 | 2013-11-12 | International Business Machines Corporation | Test support system, method and computer program product, which optimize test scenarios to minimize total test time |
US8671372B2 (en) | 2010-04-30 | 2014-03-11 | Fujitsu Limited | Verification support computer product, apparatus, and method |
US8832636B2 (en) | 2010-04-30 | 2014-09-09 | Fujitsu Limited | Verification support computer product, apparatus, and method |
JP2013058074A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単独の異常系シナリオを任意回数実行するテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP2013058073A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 異常系シナリオの組合せのテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
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