JPH06282462A - 半導体試験装置制御プログラムデバッグ方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】実行時間最短化された半導体試験装置制御プロ
グラムをデバッグ時、最短化前の半導体試験装置制御プ
ログラムに復活させるステップを介する。 【構成】１テスト毎に独立したプログラムが存在し、全
体としては重複命令がある半導体試験装置制御プログラ
ムが1 の記憶媒体Ａに存在し、このプログラムを重複命
令削除ステップ2 により実行時間を最短化したプログラ
ムにして3 の記憶媒体Ｂに作成する。4 は半導体試験装
置制御プログラムにおいて前記重複命令を有効にして最
短化前の状態、つまり記憶媒体Ａの状態に復活させる重
複命令復活ステップである。これにより、5 には記憶媒
体Ａと同じ最短化前の状態に復活した半導体試験装置制
御プログラムが存在し、デバッグ時、有効に用いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は特に半導体試験装置制
御プログラムの構造の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】図２は従来の半導体試験装置制御プログ
ラムの作成工程を示すフローチャートである。記憶媒体
Ａ（ 1）にはＣＡＴ（computer aided testing）等で作
成された、１テスト毎に独立したプログラムが存在し、
全体としては重複命令がある半導体試験装置制御プログ
ラムが存在する。このプログラム各々について正常動作
確認後、重複命令削除ステップ2 により実行時間が最短
化される。最短化された最終プログラムは記憶媒体Ｂ
（ 3）に作成される。

【０００３】その後、半導体試験装置制御プログラムに
ついてデバッグが必要な場合、最短化された上記最終プ
ログラム、つまり記憶媒体Ｂにおける半導体試験装置制
御プログラムでデバッグを行うのが現状であった。

【０００４】このような、実行時間を最短化された半導
体試験装置制御プログラムを使ってのデバッグでは、デ
バッグを行う際には自分で作成したプログラムとは形態
が異なることが多く、また、見た目がわかりにくく、デ
バッグの効率を悪くしていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来では
実行時間を最短化された半導体試験装置制御プログラム
を使ってデバッグが行われるため、デバッグを行う際に
自分で作成したプログラムとは形態が異なることが多
く、デバッグの効率を悪くしていたという欠点がある。

【０００６】この発明は上記のような事情を考慮してな
されたものであり、その目的は、１テスト毎のデバッグ
を可能にして、効率を上げる半導体試験装置制御プログ
ラムのデバッグ方式を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この発明の半導体試験装
置制御プログラムデバッグ方式、半導体試験を実行する
前に半導体試験装置制御プログラムをシミュレーション
し、重複した命令をコメント化してその命令を無効とす
ることによって半導体試験装置制御プログラムの実行時
間を最短化する第１ステップと、前記第１ステップによ
り実行時間最短化された半導体試験装置制御プログラム
を、前記コメントを命令に戻すことによって最短化前の
半導体試験装置制御プログラムに復活させる第２ステッ
プとを具備し、最短化後の半導体試験装置制御プログラ
ムについて各テスト毎のデバッグを可能とすることを特
徴とする。

【０００８】

【作用】この発明では、半導体試験装置制御プログラム
のデバッグを行うとき、実行時間を最短化した半導体試
験装置制御プログラムを最短化前に復活させたものを用
いる。

【０００９】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例によ
り説明する。図１はこの発明の一実施例方法による構成
を示すフローチャートである。

【００１０】1 は記憶媒体Ａであり、この記憶媒体上に
ＣＡＴ（computer aided testing）等で作成された、１
テスト毎に独立したプログラムが存在し、全体としては
重複命令がある半導体試験装置制御プログラムが存在す
る。このプログラムを重複命令削除ステップ2 により実
行時間を最短化したプログラムを3 の記憶媒体Ｂに作成
する。

【００１１】記憶媒体Ｂ（ 3）上には実行時間を最短化
した半導体試験装置制御プログラム（最終プログラム）
が存在する。4 は半導体試験装置制御プログラムにおい
て前記重複命令を有効にして最短化前の状態、つまり記
憶媒体Ａの状態に復活させる重複命令復活ステップであ
る。これにより、5 には記憶媒体Ａと同じ最短化前の状
態に復活した半導体試験装置制御プログラムが存在する
ことになる。

【００１２】上記実施例方法によれば、プログラムが実
行時間最短化前の状態に復活され、テスト毎のデバッグ
が可能な半導体試験装置制御プログラムが用意されてい
るので、記憶媒体Ｂにおける最終プログラムに記述ミス
や追加、改善内容が発見された場合に、記憶媒体Ａによ
るデバッグ（6 ）によって、１テスト毎の把握が容易に
なる。その結果、デバッグ効率が向上する。

【００１３】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
実行時間最短化された半導体試験装置制御プログラム
を、デバッグ時、最短化前の半導体試験装置制御プログ
ラムに復活させるステップを介してデバッグに入る。こ
れにより、デバッグの効率が上げられる半導体試験装置
制御プログラムデバッグ方式が提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例の構成を示すフローチャー
ト。

【図２】従来の半導体試験装置制御プログラムの作成工
程を示すフローチャート。

【符号の説明】 1，5 …記憶媒体Ａ、 2…重複命令削除ステップ、 3…
記憶媒体Ｂ、 4…重複命令復活ステップ、 6…デバッグ
ステップ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体試験を実行する前に半導体試験装
   置制御プログラムをシミュレーションし、重複した命令
   をコメント化してその命令を無効とすることによって半
   導体試験装置制御プログラムの実行時間を最短化する第
   １ステップと、 前記第１ステップにより実行時間最短化された半導体試
   験装置制御プログラムを、前記コメントを命令に戻すこ
   とによって最短化前の半導体試験装置制御プログラムに
   復活させる第２ステップとを具備し、最短化後の半導体
   試験装置制御プログラムについて各テスト毎のデバッグ
   を可能とすることを特徴とする半導体試験装置制御プロ
   グラムデバッグ方式。