JP2006108762A - 不揮発性論理回路およびその駆動方法 - Google Patents

不揮発性論理回路およびその駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006108762A
JP2006108762A JP2004288643A JP2004288643A JP2006108762A JP 2006108762 A JP2006108762 A JP 2006108762A JP 2004288643 A JP2004288643 A JP 2004288643A JP 2004288643 A JP2004288643 A JP 2004288643A JP 2006108762 A JP2006108762 A JP 2006108762A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ferroelectric capacitor
data
plate line
circuit
logic circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004288643A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayoshi Yamada
隆善 山田
Takehisa Kato
剛久 加藤
Shinzo Kayama
信三 香山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2004288643A priority Critical patent/JP2006108762A/ja
Publication of JP2006108762A publication Critical patent/JP2006108762A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】 読み出し誤動作が低減され、信頼性の高い不揮発性論理回路及びその駆動方法を提供する。
【解決手段】 強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路であって、データ保持回路102と、データ保持回路102の入力端に接続された少なくとも2個の強誘電体キャパシタと、該強誘電体キャパシタのうちの第1の強誘電体キャパシタ103Aと第2の強誘電体キャパシタ103Bとの中間ノード103Eに接続され、中間ノード103Eを接地状態とする電気的手段106とを有することを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は不揮発性メモリを内蔵した論理回路、特に強誘電体キャパシタを用いた論理回路に関するものであり、読み出し動作の簡素化および信頼性の向上を実現するための不揮発論理回路およびその駆動方法を提供するものである。
近年、論理回路の構成をソフトウェアで定義することにより、容易にその構成を変更できるField Programmable Gate Array (FPGA)等のプログラマブル論理回路に注目が集まっている。これらのプログラマブル論理回路においてはソフトウェアの格納にEEPROM等のプログラマブルROMが主に使われており、論理回路とは別のチップで構成されることが多い。しかしこれらの構成ではプログラマブルROMの内容を比較的容易に読み出すことができ、機密性に問題がある。また、起動時にデータをプログラマブルROMから読み込む必要があり、起動に時間がかかる等の理由から不揮発メモリを内蔵した不揮発プログラマブル論理回路が開発されている。
不揮発プログラマブル論理回路等に用いられる不揮発メモリとして、強誘電体キャパシタを用いた例としては特許文献1に記載されたものがあげられる。
従来、強誘電体キャパシタを用いた不揮発論理回路においては、データ保持回路の正逆2つのノードに接続された強誘電体キャパシタにそれぞれデータを書き込み、これらの強誘電体キャパシタの分極状態の違いを読み取ることによりデータの判別を行う。しかし、通常のメモリアレイとは異なり、少数のキャパシタで構成されているため、ビット線が短くビット線負荷容量が小さい。そのため、強誘電体キャパシタの容量とビット線容量との差が大きく、読み出し時の容量分配で生じるビット線電圧が高くなり、データ“1”と“0”の記録された場合のビット線電圧差が小さくなる。そこで別の強誘電体キャパシタをビット線の負荷として接続する方法が考えられているが、強誘電体キャパシタが少なくとも4つ必要となり、回路規模が大きくなるという課題がある。
特許文献1では、上記問題点を解決する方法として、以下に説明する構成としている。
図12は、特許文献1に記載されている不揮発論理回路(データ保持回路1)の回路図である。データ保持回路1は、データ保持回路であるデータラッチ回路3及び合成コンデンサ5を備えている。 データラッチ回路3は、直列にループ状に接続可能な一対のインバータ回路7、9を備えている。合成コンデンサ5は、直列に接続された一対の強誘電体コンデンサ17、19により構成され、合成コンデンサ5の接続ノード5aはインバータ回路7の入力ノード7aに接続され、合成コンデンサ5の両端は一対の読み書き用の信号線であるプレートラインPL1、PL2に、別々に接続されている。
図12の回路において、合成コンデンサ5へのデータ書き込み時には、プレートラインPL1、PL2に、それぞれ、電源電圧VDDと接地電圧GNDの間の電圧であるVDDの1/2の電圧が付与され、接続ノード5aの電位が“H”(電源電圧VDD)あるいは“L”(接地電圧GND)である場合に応じて、強誘電体コンデンサ17、19の分極状態が決定される。また、合成コンデンサ5からのデータ読み出し時には、強誘電体コンデンサ17に接続されたプレートラインPL1には、電源電圧VDDを付与し、強誘電体コンデンサ19に接続されたプレートラインPL2に、接地電圧GNDを付与する。このような構成とすることで、読み出し時の検出マージンを極めて大きくすることが可能となる。
特開2003−152506号公報
しかしながら、特許文献1の従来技術においては、読み出し時における、接続ノード5aの電位にオフセット電位が生じている場合には、データ“0”が記憶されていたとしてもオフセット電圧分だけ入力ノード7aの電圧が高くなりインバータ回路7が入力信号をデータの電圧から判断する際に“1”と誤認識してしまうという問題が生じる。
また、強誘電体コンデンサ17、19には、常に電圧が印加されているため、強誘電体コンデンサ17、19を構成する強誘電体膜の膜疲労が生じやすいという問題がある。
上記課題に鑑みて、本発明は、読み出し誤動作が低減された、不揮発性論理回路及びその駆動方法を提供することを目的とする。更に、読み出し誤動作が低減され、かつ、信頼性の高い不揮発性論理回路及びその駆動方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る第1の不揮発性論理回路は、強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路であって、データ保持回路と、前記データ保持回路の入力端に接続された少なくとも2個の強誘電体キャパシタと、前記少なくとも2個の強誘電体キャパシタのうちの第1の強誘電体キャパシタと第2の強誘電体キャパシタとの中間ノードに接続され、前記中間ノードを接地状態とする電気的手段とを有することを特徴とする。好ましい形態として、前記データ保持回路は、第1のインバータ回路の出力が第2のインバータ回路の入力に接続され、前記第2のインバータ回路の出力が前記第1のインバータ回路の入力に接続されてなる。
また、本発明に係る第1の不揮発性論理回路の駆動方法は、本発明の第1の不揮発性論理回路において、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時には、前記第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び前記第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線のそれぞれに対して第1の電位を印加し、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時には、前記中間ノードの電位を接地状態とし、続いて、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、前記第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のうちで前記一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、前記第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加することを特徴とする。
本発明に係る第1の不揮発性論理回路及び第1の不揮発性論理回路の駆動方法によれば、データの書き込み時には、第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線に対して第1の電位を印加することで、第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタを並列接続として書き込むことができ、読み出し時には、第1のプレート線あるいは第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、該一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加することで、第1の強誘電体キャパシタと第2の強誘電体キャパシタとを直列接続として電圧を与えることにより、データ“1”を記憶していた場合のデータ線に現れる電圧VD1とデータ“0”を記憶していた場合のデータ線に現れる電圧VD0の差ΔVDを大きくすることができ、読み出し誤動作を低減することができる。更に、第1および第2の強誘電体キャパシタの中間ノードに接続され、中間ノードを接地状態とする、すなわち、中間ノードの電位をゼロ電位に変化させるための電気的手段を有することにより、データの読み出し時において、中間ノードを接地状態とすることによって、中間ノードの電位にオフセット電位が生じなくなり、データ保持回路が入力信号をデータの電圧から判断する際に誤認識してしまうという問題を生じず、読み出し精度を高めることができる。
上記課題を解決するために、本発明に係る第2の不揮発性論理回路は、強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路であってデータ保持回路と、前記データ保持回路の入力端に接続された少なくとも2個の強誘電体キャパシタと、前記少なくとも2個の強誘電体キャパシタのうちの第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とする電気的手段とを有することを特徴とする。好ましい形態として、前記データ保持回路は、第1のインバータ回路の出力が第2のインバータ回路の入力に接続され、前記第2のインバータ回路の出力が前記第1のインバータ回路の入力に接続されてなる。
また、本発明に係る第2の不揮発性論理回路の駆動方法は、本発明の第2の不揮発性論理回路において、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時には、前記第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び前記第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線のそれぞれに対して第1の電位を印加し、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時には、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、前記第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のうちで前記一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、前記第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加し、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時並びに、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時以外の動作時において、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とすることを特徴とする。
本発明に係る第2の不揮発性論理回路及び第2の不揮発性論理回路の駆動方法によれば、データの書き込み時には、第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線に対して第1の電位を印加することで、第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタを並列接続として書き込むことができ、読み出し時には、第1のプレート線あるいは第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、該一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加することで、第1の強誘電体キャパシタと第2の強誘電体キャパシタとを直列接続として電圧を与えることにより、データ“1”を記憶していた場合のデータ線に現れる電圧VD1とデータ“0”を記憶していた場合のデータ線に現れる電圧VD0の差ΔVDを大きくすることができ、読み出し誤動作を低減することができる。更に、第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とする電気的手段を有することにより、読み出し時や書き込み時以外の通常使用時において、第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とすることで、第1及び第2の強誘電体キャパシタに電圧が印加されないようにすることができる。このため、第1及び第2の強誘電体キャパシタの劣化を抑え、長期間の使用を可能にすることができる。
本発明の第1〜第3の不揮発性論理回路において、前記第1のインバータ回路及び前記第2のインバータ回路のうちで、前記第1の強誘電体キャパシタおよび第2の強誘電体キャパシタがその入力端に接続されたインバータ回路は、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線の間に電圧を与えたときに、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタの中間ノードに生じる電圧のうち、前記データ保持回路にデータ“1”が保持されていたときに生じる第1の電圧と、前記データ保持回路にデータ“0”が保持されていたときに生じる第2の電圧との間の電圧を、閾値電圧として有することが好ましい。
また、第1〜第3の不揮発性論理回路の駆動方法において、前記データ読み出し時において、前記第1のインバータ回路あるいは第2のインバータ回路のうちで、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタがその入力端に接続されたインバータ回路の閾値電圧を、前記第1のプレート線および前記第2のプレート線の間に電圧を与えることにより、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタの中間ノードに生じる電圧のうち、前記データ保持回路にデータ“1”が保持されていたときに生じる第1の電圧と、前記データ保持回路にデータ“0” が保持されていたときに生じる第2の電圧との間の電圧とし、他方のインバータ回路を停止またはその出力を切断することにより、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタに記憶されたデータの読み出しを行うことが好ましい。
このようにすると、データの読み出し時において、ラッチ回路を構成する第1および第2のインバータ回路のうち、データ線を入力とするインバータ回路の閾値電圧が、第1の電圧であるVD1と第2の電圧であるVD0の間に設定されているため、データ線の電位がデータ線を入力とするインバータ回路の閾値以上の場合あるいは閾値未満の場合のそれぞれにおいて、データ保持回路の出力電圧を“H”状態あるいは“L”状態にすることができ、容易にかつ確実に読み出しを行うことができる。
本発明の第1〜第3の不揮発性論理回路において、前記データ保持回路を構成する回路は、2つのNAND回路または2つのNOR回路からなるフリップフロップ回路であることが好ましい。
このようにすると、データ保持回路を構成する回路が2つのNAND回路または2つのNOR回路からなるフリップフロップ回路であることによって、データ保持回路に論理状態を記憶することが可能となり、システムのステータス保持などが可能となる。
また、第1〜第3の不揮発性論理回路の駆動方法において、データの書き込み工程において、第1のプレート線と第2のプレート線に同一波形の矩形波を与えることが好ましい。
また、第1〜第3の不揮発性論理回路の駆動方法において、データの書き込み工程において第1のプレート線と第2のプレート線に逆の位相を持つ矩形波を与えることが好ましい。
以上のように本発明を用いることで、2つの強誘電体キャパシタだけで安定した読み出し動作を実現することが可能となり、また読み出し回路の構成を容易にすることができ、半導体装置の面積縮小などの大きな効果を得ることが可能となる。更に、読み出し動作前のデータ線のオフセット電圧による読み出し誤動作を防ぐことができ、読み出し動作の安定化を図ることができる。あるいは、強誘電体キャパシタに不要な電圧が加わるのを抑制することができ、強誘電体キャパシタの膜の劣化を抑えることができる。これにより強誘電体キャパシタの信頼性向上が図れる。
以下、本発明の各実施形態について、図面を参照しながら説明する。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路及びその駆動方法について図1〜図4を参照しながら説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。本実施形態にかかる不揮発論理回路は強誘電体キャパシタを用いた不揮発論理回路である。
第1のインバータ回路101Aおよび第2のインバータ回路102Bがデータ保持回路(ラッチ回路)102を構成し、入力信号制御用トランジスタ105の入力部105Aから入力された入力信号DINは入力信号制御用トランジスタ105を介してデータ保持回路102に入力され、データ保持回路102は入力信号DINに対応した論理データを保持する。このラッチ回路のデータ線102B(中間ノード103E)に第1の強誘電体キャパシタ103Aおよび第2の強誘電体キャパシタ103Bが接続されており、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bにおけるデータ線102B側と反対側の電極はそれぞれ、第1のプレート線103C及び第2のプレート線103Dを介して、第1の駆動回路104Aおよび第2の駆動回路104Bにそれぞれ接続されている。また、データ線102B(中間ノード103E)と接地間には、データ線102B(中間ノード103E)を接地状態、すなわち、データ線102Bの電位をゼロにするための電気的手段であるFETより構成されるスイッチ106が設けられている。
本実施形態にかかる不揮発論理回路における動作の状態遷移を図2から図4を用いて説明する。
図2は通常のラッチ回路としての動作状態を示している。入力信号制御用トランジスタ105のゲート105Bに入力されるクロック信号(CLK)に同期してデータの更新、保持動作を繰り返す。第2のインバータ回路の入力部102Cに入力される信号(CB)はCLKの逆位相の信号とする。CLKが“H”(“1”)の期間にデータを取り込み、CLKが“L” (“0”)の期間はデータを保持しつづける。
動作点a2では、CLKが“L”であるため、DINが“L”から“H”に変化しても、中間ノード103Eにおける電位Aは“L”に保持されている。動作点b2では、CLKが“H”に変化したため、DINの状態がAに取り込まれ、Aが“H”に変化する。動作点c2では、CLKが“L”であるため、DINが“H”から“L”に変化しても、Aは“H”に保持されている。動作点d2では、CLKが“H”に変化したため、DINの状態がAに取り込まれ、Aが“L”に変化する。
図3は第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bへのデータの書き込み動作を示している。CLKが“L”の期間に動作点a3からb3の間において第1のプレート線103Cの電位CP1および第2のプレート線103Dの電位CP2をGNDからVDDの間の電位でパルス状に駆動することにより、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bの分極をデータの状態(中間ノード103Eの電位)に応じた方向に向かせることができる。たとえば、データ線102B(中間ノード103E)が“H”の場合、第1の強誘電体キャパシタ103Aには図1において上向きの電界が加わり、分極が変化する。一方、第2の強誘電体キャパシタ103Bには逆に下向きの電界が加わり、分極が変化する。また、データ線102B(中間ノード103E)が“L”の場合には第1の強誘電体キャパシタ103Aには図1において下向きの電界が加わり、分極が変化し、第2の強誘電体キャパシタ103Bには逆に上向きの電界が加わり、分極が変化する。
このとき第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bのそれぞれはあたかも並列接続されているように振舞う。
図4は第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bに記憶されたデータをラッチ回路102に読み出す動作を示している。CLKおよびCBが“L”の期間に、動作点a4において、CP1とCP2のどちらか一方のみ(図4では、CP1)に読み出し電圧VRを与えることにより、データ線102Bの電圧はCP1とCP2の間に与えられた読み出し電圧VRが第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bによって分圧された値となる。このとき第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bは直列接続された状態となり、前記書き込み動作によって書き込まれた分極方向は第1の強誘電体キャパシタ103Aと第2の強誘電体キャパシタ103Bとで逆向きの方向となる。そのため、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bが同サイズであればデータ線Aに生じる電圧は読み出し電圧VRの半分の値を中心に大小2つの値のいずれかをとることになる。例えば、書き込み時において、データ線102Bが“H”であった場合には、A(及びデータ保持回路の出力端子102Aからの出力信号DOUT)は、動作点a4からb4の間において、破線の状態となり、データ線102Bが“L”であった場合には、A(及びDOUT)は実線の状態となる。
ここで第1のインバータ回路101Aの閾値電圧VTIがVR/2近傍であれば記憶していたデータに応じて第1のインバータ回路101Aの出力電圧が決定される。その後CBを“H”とすることで読み出したデータをラッチ回路で保持することができる。このようにして強誘電体キャパシタに記憶していたデータをラッチ回路のインバータを用いることで容易にかつ高速に読み出すことができる。
また、データ線102B(中間ノード103E)を接地状態、すなわち、データ線102Bの電位をゼロにするための電気的手段であるFETより構成されるスイッチ106を設けているため、データ線102Bのオフセット電圧による誤動作をなくすことができ、読み出し精度を高めることができる。スイッチ106のオン・オフ制御は、スイッチ106を構成するFETのゲート106Aに印加する信号EQで制御できる。なお、データ線102Bを接地状態にするための電気的手段としては、FET以外の素子を用いる構成としてもよい。
スイッチ106を設けない場合には、読み出し動作の前にデータ線102Bが“H”状態あるいはそれに近い状態であった場合、読み出し電圧VRをCP1とCP2の間に与えたとき、データ線102Bは第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bの分圧電圧と初期のデータ線102Bの電圧が加算された電圧値をとることになる。これにより、本来読み出し電圧を与えたときのデータ線102Bの電圧が第1のインバータ回路101の閾値電圧を超えないはずのデータであった場合にも初期のデータ線102Bの電圧が加算されたことにより、閾値電圧を超えてしまい、正しい値を読み出せなくなることが生じる。そこで、スイッチ105を設け、読み出し動作の前にデータ線102Bの電位を強制的にリセットとすることにより、データ線102Bのオフセット電圧による読み出し誤動作をなくすことが可能となる。
なお、本実施形態においては、第1のプレート線と第2のプレート線に同一波形の矩形波を与えているが、第1のプレート線と第2のプレート線に逆の位相を持つ矩形波を与えてもよい。
(第2の実施形態)
以下、本発明の第2の実施形態にかかる不揮発論理回路及びその駆動方法について図5及び図6を参照しながら説明する。
図5は、本発明の第2の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。本実施形態にかかる不揮発論理回路は強誘電体キャパシタを用いた不揮発論理回路である。なお、第1の実施形態にかかる不揮発論理回路を説明する図1と同じ構成要素については、同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
図5に示すように、第1の強誘電体キャパシタ103Aとデータ線102B(中間ノード103E)との間及び、第2の強誘電体キャパシタ103Bとデータ線102B(中間ノード103E)との間に、それぞれ、第1の強誘電体キャパシタ103Aあるいは第2の強誘電体キャパシタ103Bをフローティング状態とするための電気的手段である第1のスイッチ201A及び第2のスイッチ201Bが設けられている。第1のスイッチ201A及び第2のスイッチ201Bは、それぞれの制御端子202A及び202Bに入力される制御信号SS1及びSS2が入力される。
なお、データ線102Bを接地状態、すなわち、データ線102Bの電位をゼロにするための電気的手段を設けることもできる。
以下、本発明の第2の実施形態にかかる不揮発論理回路の駆動方法を説明する。
第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bへのデータ書き込み時については、第1の実施形態にかかる不揮発論理回路の駆動方法と同様である。第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bからのデータ読み出し時については、第1の実施形態にかかる不揮発論理回路の駆動方法において、データ線102B(中間ノード103E)を接地状態とすること以外については同様である。なお、なお、データ線102Bを接地状態にするための電気的手段を設けた場合については、その駆動方法は、第1の実施形態にかかる不揮発論理回路の駆動方法と同様となる。
第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bへのデータ書き込み時及び第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bからのデータ読み出し時以外の通常使用時には、第1のスイッチ201A及び第2のスイッチ201Bを切断状態(オフ状態)とする。すなわち、第1の強誘電体キャパシタ103Aのデータ線102B側の電極及び、第2の強誘電体キャパシタ103Bのデータ線102B側の電極をそれぞれ、データ線102Bから電気的に切り離して、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bをフローティング状態にする。
このような構成とすることで、通常使用時において、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bに印加される電圧をなくし、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bの寿命を延ばすことができる。すなわち、強誘電体キャパシタには、長時間電圧が加えられると、その強誘電体膜が劣化し、強誘電体キャパシタとしての機能が果たせなくなるという課題がある。本実施形態にかかる不揮発論理回路では、強誘電体キャパシタに電圧を印加する時間をデータ書き込み動作時及びデータ読み出し動作時のみとし、その他の期間においては電圧を加えないようにすることで、強誘電体キャパシタの劣化を抑え、長期間の使用を可能にする。
なお、第1のスイッチ201Aの設置箇所を、図6に示すように、第1の強誘電体キャパシタ103Aと第1の駆動回路104Aとの間とすることもでき、第2のスイッチ201Bの設置箇所を、図6に示すように、第2の強誘電体キャパシタ103Bと第2の駆動回路104Bとの間とすることもできる。
更に、第1のスイッチ201Aに代えて、第1の強誘電体キャパシタ103Aの両端の電極をショート状態とするためのスイッチ等の電気的手段としてもよい。同様に、第2のスイッチ201Bに代えて、第2の強誘電体キャパシタ103Bの両端の電極をショート状態とするためのスイッチ等の電気的手段としてもよい。
ところで、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bに対して、不要な電圧を与えることで記憶していたデータが読み出せなくなることがある。これに対し、本実施形態では、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bをフローティング状態にする、あるいは第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bのそれぞれの両端の電極をショートすることで強誘電体キャパシタに電圧が印加されるのを防いでいることから、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bに記憶されたデータを長期間に保護することも可能である。
(第3の実施形態)
以下、本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路及びその駆動方法について図7及び図8を参照しながら説明する。
図7は、本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。本実施形態にかかる不揮発論理回路は強誘電体キャパシタを用いた不揮発論理回路である。なお、第1の実施形態にかかる不揮発論理回路を説明する図1と同じ構成要素については、同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
本実施形態にかかる不揮発論理回路が第1の実施形態にかかる不揮発論理回路と異なる点は、データ保持回路(ラッチ回路)を第1のNOR回路301Aと第2のNOR回路301Bから構成されるNOR型のSRラッチ回路302としている点である。第1のNOR回路301Aの出力部には、入力信号制御用のトランジスタ105が接続され、SRラッチ回路302の出力部分であるデータ線302C(中間ノード103E)に、第1の強誘電体キャパシタ103A及び第2の強誘電体キャパシタ103Bが接続されている。
本実施形態にかかる不揮発論理回路によれば、ラッチ回路302の論理状態を記憶することでシステムのステータス保持などが可能となる。
以下、本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路の駆動方法を説明する。
図9に通常動作時の信号波形を示す。2つの入力信号S,Rのうちセット信号である入力信号Sが動作点a5で“H”になることで、遅延時間経過後の動作点b5で出力信号DOUTが“H”となるり、リセット信号である入力信号Rが動作点d5で“H”になることで、遅延時間経過後の動作点e5で出力信号DOUTが“L”となる。また、二つの入力信号S,Rが共に“L”である動作点c5とd5の間及び動作点f5以降は出力信号DOUTは直前の状態を維持する。
図10に第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bへのデータ書き込み時の動作波形を示す。動作状態においてデータが安定している状態で第1および第2の駆動回路を用いてCP1およびCP2を“L”(動作点a6からb6の間)→“H” (動作点b6からc6の間)→“L” (動作点c6以降)のように駆動することで、第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bにデータに応じた電圧が印加され強誘電体膜に分極が生じる。このときCP1とCP2の信号線に与える信号は同一でなくともよい。逆位相の信号であってもよいし、時間的にずれた信号であってもよいので、CP1、CP2のそれぞれに“H”と“L”の電圧が印加されるような波形を与えればよい。
次に第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bからのデータ読み出し時の動作波形を図11に示す。初期状態(動作点a7)を入力信号S,Rが共に“L”、制御信号ENが“L”とし、CP1を“H”、CP2を“L”とすることで強誘電体キャパシタ103Aおよび103Bの分極状態に応じて電圧分配が行われ、動作点a7とb7の間においてAの電圧が決定される。このとき301BのNOR回路がAを入力とするインバータ回路として動作することになり、その後、動作点b7で信号ENを“H”とすることで読み出したAの状態が“H”もしくは“L”に固定され、ラッチさせる。このときNOR回路の閾値電圧をCP1を駆動したときにAに現れる電圧のうち記憶した場合が“H”であったときと“L”であったときの電圧の間に調整することにより、読み出し動作が安定する。
更に、SRラッチ回路302への入力信号Sおよび入力信号Rをそれぞれ“L”とした状態で、データ線302C(中間ノード103E)の電圧を第2のNOR回路301Bへの入力とすることにより、SRラッチ回路302に第1及び第2の強誘電体キャパシタ103A、103Bに記憶されたデータを取り込むことができ、記憶した状態を再現することができる。
なお、第1のNOR回路301Aと第2のNOR回路301Bから構成されるNOR型のSRラッチ回路302に代えて、図8に示すような、第1のNAND回路401Aと第2のNAND回路401Bから構成されるNAND型のSRラッチ回路402としても同様の効果が得られる。
また、第3の実施形態にかかる不揮発論理回路のSRラッチ回路を第2の実施形態にかかる不揮発論理回路のラッチ回路に適用してもよい。
本発明は強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路として、特に論理回路の演算結果等を強誘電体キャパシタに一時的に退避させることで、使用頻度の低い回路の電源を遮断して消費電力の削減を図ることが可能な低消費電力デバイス等として利用することができる。
本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路における通常のラッチ回路としての動作状態を示す状態遷移図である。 本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路における強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時の動作状態を示す状態遷移図である。 本発明の第1の実施形態にかかる不揮発論理回路における強誘電体キャパシタへのデータ読み込み時の動作状態を示す状態遷移図である。 本発明の第2の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。 本発明の第2の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。 本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。 本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路の回路図である。 本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路における通常のラッチ回路としての動作状態を示す状態遷移図である。 本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路における強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時の動作状態を示す状態遷移図である。 本発明の第3の実施形態にかかる不揮発論理回路における強誘電体キャパシタへのデータ読み込み時の動作状態を示す状態遷移図である。 従来の不揮発性論理回路の一例を示す図である。
符号の説明
101A 第1のインバータ回路
101B 第2のインバータ回路
102 データ保持回路(ラッチ回路)
102A データ保持回路の出力端子
102B データ保持回路のデータ線
102C データ保持回路の入力部
103A 第1の強誘電体キャパシタ
103B 第2の強誘電体キャパシタ
103C 第1のプレート線
103D 第2のプレート線
103E 中間ノード
104A 第1の駆動回路
104B 第2の駆動回路
105 入力信号制御用トランジスタ
105A 入力信号制御用トランジスタの入力部
105B 入力信号制御用トランジスタのゲート
106 スイッチ
106A スイッチを構成するFETのゲート
201A 第1のスイッチ
201B 第2のスイッチ
202A 第1のスイッチの制御端子
202B 第2のスイッチの制御端子
301A 第1のNOR回路
301B 第2のNOR回路
302 NOR型のSRラッチ回路
302A SRラッチ回路の第1の入力端子
302B SRラッチ回路の第2の入力端子
302C SRラッチ回路のデータ線
401A 第1のNAND回路
401B 第2のNAND回路
402 NAND型のSRラッチ回路

Claims (10)

  1. 強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路であって、
    データ保持回路と、
    前記データ保持回路の入力端に接続された少なくとも2個の強誘電体キャパシタと、
    前記少なくとも2個の強誘電体キャパシタのうちの第1の強誘電体キャパシタと第2の強誘電体キャパシタとの中間ノードに接続され、前記中間ノードを接地状態とする電気的手段とを有することを特徴とする不揮発性論理回路。
  2. 強誘電体キャパシタを用いた不揮発性論理回路であって、
    データ保持回路と、
    前記データ保持回路の入力端に接続された少なくとも2個の強誘電体キャパシタと、
    前記少なくとも2個の強誘電体キャパシタのうちの第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とする電気的手段とを有することを特徴とする不揮発性論理回路。
  3. 前記データ保持回路は、第1のインバータ回路の出力が第2のインバータ回路の入力に接続され、前記第2のインバータ回路の出力が前記第1のインバータ回路の入力に接続されてなることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の不揮発性論理回路。
  4. 前記第1のインバータ回路及び前記第2のインバータ回路のうちで、前記第1の強誘電体キャパシタおよび第2の強誘電体キャパシタがその入力端に接続されたインバータ回路は、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線の間に電圧を与えたときに、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタの中間ノードに生じる電圧のうち、前記データ保持回路にデータ“1”が保持されていたときに生じる第1の電圧と、前記データ保持回路にデータ“0”が保持されていたときに生じる第2の電圧との間の電圧を、閾値電圧として有することを特徴とする請求項3に記載の不揮発性論理回路。
  5. 前記データ保持回路は、2つのNAND回路または2つのNOR回路からなるフリップフロップ回路を含むことを特徴とする請求項1あるいは2に記載の不揮発性論理回路。
  6. 請求項1あるいは請求項3に記載の不揮発性論理回路において、
    前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時には、前記第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び前記第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線のそれぞれに対して第1の電位を印加し、
    前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時には、前記中間ノードの電位を接地状態とし、続いて、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、前記第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のうちで前記一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、前記第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加することを特徴とする不揮発性論理回路の駆動方法。
  7. 請求項2あるいは請求項3に記載の不揮発性論理回路において、
    前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時には、前記第1の強誘電体キャパシタに接続された第1のプレート線及び前記第2の強誘電体キャパシタに接続された第2のプレート線のそれぞれに対して第1の電位を印加し、
    前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時には、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のいずれか一方のプレート線に対して、前記第1の電位よりも低い電位である第2の電位を印加し、かつ、前記第1のプレート線及び前記第2のプレート線のうちで前記一方のプレート線とは異なるプレート線に対して、前記第1の電位よりも高い電位である第3の電位を印加し、
    前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタへのデータ書き込み時並びに、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタからのデータ読み出し時以外の動作時において、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタをそれぞれ、フローティング状態あるいは、ショート状態とすることを特徴とする不揮発性論理回路の駆動方法。
  8. 前記データ読み出し時において、
    前記第1のインバータ回路あるいは第2のインバータ回路のうちで、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタがその入力端に接続されたインバータ回路の閾値電圧を、前記第1のプレート線および前記第2のプレート線の間に電圧を与えることにより、前記第1の強誘電体キャパシタ及び前記第2の強誘電体キャパシタの中間ノードに生じる電圧のうち、前記データ保持回路にデータ“1”が保持されていたときに生じる第1の電圧と、前記データ保持回路にデータ“0” が保持されていたときに生じる第2の電圧との間の電圧とし、他方のインバータ回路を停止またはその出力を切断することにより、前記第1の強誘電体キャパシタ及び第2の強誘電体キャパシタに記憶されたデータの読み出しを行うことを特徴とする請求項5あるいは6に記載の不揮発性論理回路の駆動方法。
  9. 前記データの書き込み工程において、第1のプレート線と第2のプレート線に同一波形の矩形波を与えることを特徴とする請求項6あるいは7に記載の不揮発性論理回路の駆動方法。
  10. 前記データの書き込み工程において、第1のプレート線と第2のプレート線に逆の位相を持つ矩形波を与えることを特徴とする請求項6あるいは7に記載の不揮発性論理回路の駆動方法。
JP2004288643A 2004-09-30 2004-09-30 不揮発性論理回路およびその駆動方法 Withdrawn JP2006108762A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004288643A JP2006108762A (ja) 2004-09-30 2004-09-30 不揮発性論理回路およびその駆動方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004288643A JP2006108762A (ja) 2004-09-30 2004-09-30 不揮発性論理回路およびその駆動方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006108762A true JP2006108762A (ja) 2006-04-20

Family

ID=36378017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004288643A Withdrawn JP2006108762A (ja) 2004-09-30 2004-09-30 不揮発性論理回路およびその駆動方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006108762A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012515449A (ja) * 2009-01-15 2012-07-05 アルテラ コーポレイション 相変化メモリデバイスを有する分圧器を含む不揮発性メモリ回路
CN103971741A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 德克萨斯仪器股份有限公司 非易失性位单元阵列中的信号电平转换
CN103971740A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 德克萨斯仪器股份有限公司 两个电容器自参考的非易失性位单元

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012515449A (ja) * 2009-01-15 2012-07-05 アルテラ コーポレイション 相変化メモリデバイスを有する分圧器を含む不揮発性メモリ回路
CN103971741A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 德克萨斯仪器股份有限公司 非易失性位单元阵列中的信号电平转换
CN103971740A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 德克萨斯仪器股份有限公司 两个电容器自参考的非易失性位单元
CN103971741B (zh) * 2013-01-30 2019-10-08 德克萨斯仪器股份有限公司 非易失性位单元阵列中的信号电平转换
CN103971740B (zh) * 2013-01-30 2019-10-25 德克萨斯仪器股份有限公司 两个电容器自参考的非易失性位单元

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8254156B2 (en) Data holding device
WO2013076928A1 (ja) 不揮発性ラッチ回路、不揮発性フリップフロップ回路および不揮発性信号処理装置
JPH02114717A (ja) 半導体記憶装置
US6233169B1 (en) Signal storing circuit semiconductor device, gate array and IC-card
US6741489B2 (en) Data holding device and electronic circuit having data holding device
US6870776B2 (en) Data output circuit in combined SDR/DDR semiconductor memory device
US6862236B2 (en) Ferroelectric memory device with an equalization circuit connected between word voltage supply lines and bit voltage supply lines
US7688646B2 (en) Non-volatile latch circuit for restoring data after power interruption
JP2006108762A (ja) 不揮発性論理回路およびその駆動方法
JPH117780A (ja) 強誘電体メモリとその書き込み方法
KR100665844B1 (ko) 강유전체 메모리 장치 및 그의 구동방법
JP3887241B2 (ja) プログラマブル論理デバイス、ならびに不揮発性メモリおよびそのデータ再現方法
JPH1069796A (ja) 高速試験機能付半導体集積回路
JP5458236B2 (ja) 電気ヒューズ判定回路及び判定方法
KR100665841B1 (ko) 강유전체 메모리장치의 구동회로
JP2007328864A (ja) 緩衝型強誘電体コンデンサラッチ回路
US8593851B2 (en) Verification system
JP2005108327A (ja) 半導体集積回路装置及びそのアクセス方法
JP2005236355A (ja) 不揮発性論理回路およびその駆動方法
KR100447790B1 (ko) 비파괴 판독형 비휘발성 강유전체 메모리의 쓰기 신호오류 방지 회로 및 방지 방법
JP2009212736A (ja) 半導体集積回路
JP6326021B2 (ja) 半導体チップ及びこれをパッケージングした半導体装置
US20050162889A1 (en) Storage circuit, semiconductor device, electronic apparatus, and driving method
JP3737487B2 (ja) データ保持装置
JP5813459B2 (ja) 半導体チップ及びこれをパッケージングした半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070109

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080709