JP2006101116A

JP2006101116A - フィルムスキャナ

Info

Publication number: JP2006101116A
Application number: JP2004283991A
Authority: JP
Inventors: Naohiro Maeda; 尚廣前田
Original assignee: Noritsu Koki Co Ltd
Current assignee: Noritsu Koki Co Ltd
Priority date: 2004-09-29
Filing date: 2004-09-29
Publication date: 2006-04-13

Abstract

【課題】凹凸部位の有無などのフィルム表面状態をオペレータに速やかに認識させる。
【解決手段】フィルムの反射光を受光する受光素子の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1以下になると（Ｓ２１）、フィルムが装着されていないとしてフィルム搬送を停止させる（Ｓ２２）。電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1としきい値電圧Ｖth2との間の値になると（Ｓ２３）、フィルムに凹凸部位があるとしてフィルム搬送を停止させると共に（Ｓ２６）、ディスプレイ及びスピーカーを用いてその旨を報知する（Ｓ２７）。
【選択図】図６

Description

本発明は、フィルムに表示された画像を読み取るフィルムスキャナに関する。

特許文献１に記載のフィルムスキャナは、フィルム搬送路に対して同じ側に発光素子と受光素子とが設けられたものである。このフィルムスキャナにおいて、所定位置にフィルムが存在すると、発光素子から照射された光はフィルムで反射し、受光素子で受光される。一方、所定位置にフィルムが存在しないと、発光素子から照射された光は受光素子にほとんど達しない。したがって、受光素子からの出力信号に基づいて、フィルムの所定位置への装着を確実に検出することが可能となっている。このようにしてフィルムの装着が検出されると、多くのフィルムスキャナではフィルムの搬送が開始される。

特開２００１−１３５９６公報（図３）

しかしながら、例えば折れ曲がりなどの凹凸が形成された部位（以下、凹凸部位と称する）での反射率は正常部位よりも低いため、特許文献１に記載のフィルムスキャナによっては、フィルムの凹凸部位に発光素子からの光が照射されたときにフィルムが所定位置に装着されていないと検出されてしまう。このとき、フィルムが所定位置に装着されているにも拘わらずフィルムの搬送が始まらないので、オペレータはフィルムスキャナが故障していると誤認識してしまい、フィルムに凹凸部位があることに容易には気が付かないことが多い。そのため、オペレータが無駄な点検動作などに時間を取られることとなり、オペレータの作業効率が低下する原因となる。

そこで、本発明の目的は、凹凸部位の有無などのフィルム表面状態をオペレータに速やかに認識させることが可能なフィルムスキャナを提供することである。

本発明のフィルムスキャナは、フィルムを搬送する搬送機構と、前記搬送機構によって搬送されているフィルムに表示された画像を読み取る撮像素子と、前記搬送機構におけるフィルムとの最上流接触位置よりも上流にあるフィルムの被検出位置に光を照射する発光素子と、前記被検出位置からの反射光を受光する受光素子と、前記受光素子が受光した反射光の量に基づいて前記被検出位置に対応したフィルムの被検出部位の表面状態が複数段階のいずれであるかを判断する判断手段と、前記被検出部位の表面状態が前記複数段階のうちの所定段階にあると前記判断手段が判断した場合に、その旨を報知する報知手段とを備えている。

この構成によると、被検出位置に対応したフィルムの被検出部位の表面状態が複数段階のうちの所定段階にあることがオペレータに報知される。したがって、オペレータは、フィルム表面状態を速やかに認識することが可能となる。

本発明のフィルムスキャナにおいて、前記判断手段は、前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であるか否かを判断してよい。このとき、前記報知手段は、前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断した場合に、その旨を報知してよい。これにより、フィルムの表面に許容限界を超える凹凸部位があることをオペレータに報知することができる。

このとき、本発明のフィルムスキャナは、前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断した場合に、前記搬送機構によるフィルムの搬送を停止する搬送停止手段をさらに備えていてよい。これにより、フィルム表面の凹凸部位に起因して搬送機構でフィルムの詰まりが生じるのを未然に防止することができる。

さらに、本発明のフィルムスキャナは、前記受光素子の出力信号を増幅する増幅手段と、前記増幅手段におけるゲインを記憶するゲイン記憶手段と、前記被検出位置にフィルムがないにも拘わらず当該被検出位置に対応したフィルムの被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断するときの最小ゲインを抽出するゲイン抽出手段と、前記ゲイン記憶手段が記憶するゲインを、前記ゲイン抽出手段が抽出した最小ゲインよりも僅かに小さいゲインに変更するゲイン変更手段とをさらに備えていてよい。これにより、被検出位置におけるフィルムの有無に関する判断精度を高めることができる。そのため、被検出位置にフィルムがあるにも拘わらずフィルムがないと判断されることやその逆の判断がされることが非常に少なくなる。

以下、本発明の好適な一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。

図１は、本実施の形態のフィルムスキャナの概略図である。図１に示すように、フィルムスキャナ１は、照明光学系２０と、撮像光学系３０と、オートフィルムマスク４０とを備えている。図２は、オートフィルムマスク４０の平面図である。フィルムスキャナ１に供給されるフィルム２としては、画像領域がフィルム長手方向に互いに離隔して設けられた現像処理済みの長尺のネガフィルムまたはポジフィルムが用いられる。

照明光学系２０は、ランプハウス２１と、ランプハウス２１内に配置されたハロゲンランプ２２と、ハロゲンランプ２２からの光ビームの色分布を必要に応じて整える調光フィルタ２３と、同じく強度分布を整えるミラートンネル２４とを含んでいる。

撮像光学系３０は、ズームレンズを含むレンズユニット３１と、照射光の方向を変えるミラー３２と、フィルム２を透過して得られた透過光ビームを処理するための光電変換ユニット３３とを含んでいる。ここで、光電変換ユニット３３は、光ビームを受けて光電変換するためのものであり、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色を検出するために割り当てられた３つのＣＣＤラインイメージセンサ３３ａ、３３ｂ、３３ｃを備えている。ここでは、各ＣＣＤラインイメージセンサ３３ａ〜３３ｃは、フォトダイオードなどからなる多数（例えば５０００個）の受光領域が主走査方向、つまりフィルム２の幅方向と平行に配列されたセンサである。

赤色用ＣＣＤラインイメージセンサ３３ａの撮像面にはフィルム２を透過した光の赤色成分のみを通過させるカラーフィルタが、同様に、緑色用ＣＣＤラインイメージセンサ３３ｂの撮像面には緑色成分のみを通過させるカラーフィルタが、青色用ＣＣＤラインイメージセンサ３３ｃの撮像面には青色成分のみを通過させるカラーフィルタが設けられており、それぞれ基本的に、青色成分、赤色成分、緑色成分のみを光電変換する。それぞれのＣＣＤラインイメージセンサ３３ａ〜３３ｃから出力される各画素信号は、サンプルホールドされて各画素信号が連続した画像信号となり、この各画素信号は所定のビット数（例えば１２ビット）のデジタル信号に変換されて、図示しない画像メモリに画像データファイルとして記憶される。

オートフィルムマスク４０は、照明光学系２０と撮像光学系３０との間に配置されている。オートフィルムマスク４０は、ＣＣＤラインイメージセンサ３３ａ〜３３ｃによる撮像のために主走査方向と直交する副走査方向にフィルム２を一定速度で搬送する。

オートフィルムマスク４０は、搬送されるフィルム２の下側に位置する下部マスク本体４１と、下部マスク本体４１に対してヒンジ（図示せず）で支持され、閉鎖姿勢と開放姿勢との間で揺動操作可能な上部マスク本体４２とを有している。また、オートフィルムマスク４０の互いに対向する２つの側面には、フィルム挿入口４５ａとフィルム排出口４５ｂとが形成されている。

オートフィルムマスク４０は、フィルム挿入口４５ａから挿入されて下部マスク本体４１と上部マスク本体４２との間に支持されたフィルム２を主走査方向と直角な副走査方向に沿って所定速度で走行させるための搬送機構の一部として、上流側から４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄを有している。搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄは、図示しないモータによって駆動される。

オートフィルムマスク４０において、最も上流にある搬送ローラ対４７ａよりもやや上流位置には、フィルムスキャナ１にフィルム２が装着されていることを検出するフィルム検出センサ１０が配置されている。搬送ローラ対４７ａと搬送ローラ対４７ｂとの間には、フィルム２の先端が到達した時刻を検出するためのフィルム先端検出センサ１２が配置されている。搬送ローラ対４７ｂと搬送ローラ対４７ｃとの間には、撮像時におけるフィルム２に対する光の照射範囲を決定するスリット１６が形成されている。搬送ローラ対４７ｃと搬送ローラ対４７ｄとの間には、フィルム２の両側に沿って形成されたパーフォレーション２ａを検出するパーフォレーション検出センサ１４が配置されている。パーフォレーション検出センサ１４が所定時間以上パーフォレーション２ａを検出し続けている場合、フィルム２が詰まったと判断され、搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄが停止させられる。

ここで、フィルム検出センサ１０の詳細について、図３を参照して説明する。図３は、フィルム検出センサ１０を含む回路ブロック図である。図３に示すように、フィルム検出センサ１０は、被検出位置に光を照射する発光素子３と、フィルム２の搬送経路に対して発光素子３と同じ側に配置されて被検出位置からの反射光を受光する受光素子４とを有している。発光素子３としては、例えば発光ダイオードを使用することができる。受光素子４としては、例えばフォトダイオード又はフォトトランジスタを使用することができる。

発光素子３による被検出位置に対応したフィルム２の被検出部位に凹凸がない場合など表面状態が良好であれば、受光素子４は多量の光を受光することができる。そして、凹凸が激しくなるなど被検出部位の表面状態が悪化するに連れて、受光素子４が受光する光量は低下していく。発光素子３による被検出位置にフィルム２がなければ、受光素子４はほとんど光を受光することができない。

、受光素子４から出力された受光信号は、プリアンプ回路５１に供給される。プリアンプ回路５１は、受光素子４からの信号を一定の増幅をしてオートゲイン回路５２に出力する。オートゲイン回路５２はゲイン記憶部５２ａを含んでいる。ゲイン記憶部５２ａに記憶されるゲインは、後述するようにフィルム撮像に先駆けて行われるゲイン調整工程（後で詳述する）において調整されるものとする。オートゲイン回路５２は、出力電圧が一定となるようにゲインを変えてプリアンプ回路５１からの信号を増幅する。そして、設定されたゲインは、ゲイン記憶部５２ａに記憶される。メインアンプ回路５３は、オートゲイン回路５２からの信号をコンパレータ回路５４に合う電圧とするためにさらに増幅する。コンパレータ回路５４は、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖを２つのしきい値電圧Ｖth1、Ｖth2（Ｖth1＜Ｖth2：図４参照）と比較し、その結果を出力する。コンパレータ回路５４における比較結果信号は、制御回路５５に与えられる。

図４に、フィルム撮像時におけるメインアンプ回路５３の出力信号の一例を示す。図４において、曲線７１は、フィルムスキャナ１にフィルム２が装着されておらず被検出位置にフィルム２がないときにおけるメインアンプ回路５３の出力信号を表している。一方、曲線７２は、フィルムスキャナ１にフィルム２が装着されており被検出位置にフィルム２があるときにおけるメインアンプ回路５３の出力信号を表している。曲線７１で示されたメインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖは、しきい値電圧Ｖth1より僅かに小さい。曲線７２で示されたメインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖは、発光素子３からの光がフィルム２の正常部位（許容限界を超えない凹凸部位を含む）に照射されているときにはしきい値電圧Ｖth2より十分に大きいが（ｔ＜ｔ1、ｔ＞ｔ2）、発光素子３からの光がフィルム２において許容限界を超える凹凸部位に照射されているときにはしきい値電圧Ｖth2より小さく且つしきい値電圧Ｖth1よりも大きくなる（ｔ1＜ｔ＜ｔ2）。

制御回路５５は、ゲイン抽出部６１と、ゲイン変更部６２と、報知指示部６３と、搬送制御部６４とを有している。制御回路５５には、ディスプレイ６６及びスピーカー６７が接続されている。

ゲイン抽出部６１は、ゲイン調整工程において、発光素子３による被検出位置にフィルム２がないという条件の下でゲイン記憶部５２ａに記憶されるゲインを徐々に増加させることによって、メインアンプ回路５３の出力信号がしきい値電圧Ｖth1を超えた際のゲイン（最小ゲイン）を抽出する。

ゲイン変更部６２は、ゲイン調整工程において、オートゲイン回路５２のゲイン記憶部５２ａに記憶されたゲインを、ゲイン抽出部６１が抽出した最小ゲインよりも僅かに小さいゲインに変更する。具体的には、ゲイン記憶部５２ａに記憶されたゲインを最小ゲインの９０％〜９７％の大きさにする。

報知指示部６３は、フィルム撮像時において、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖが２つのしきい値電圧Ｖth1、Ｖth2の間の値であることがコンパレータ回路５４からの比較結果信号から分かると、フィルム２に許容限界を超える凹凸部位がある旨をディスプレイ６６に表示させると共にスピーカー６７から音声信号として出力させる。

搬送制御部６４は、フィルム撮像時において、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth2未満の値であることがコンパレータ回路５４からの比較結果信号から分かると、モータを制御して４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄによるフィルム２の搬送を停止させる。

次に、ゲイン調整工程における詳細な手順について、図５をさらに参照しつつ説明する。ゲイン調整工程は、フィルムスキャナ１にフィルム２を装着せずに行う。そのため、発光素子３による被検出位置にはフィルム２が存在しない。

まず、ステップＳ１０において、ゲイン抽出部６１がゲイン記憶部５２ａにゲイン初期値を記憶させる。ゲイン初期値としては、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖが確実にしきい値電圧Ｖth1以下となるような十分に小さい値が用いられる。そして、ステップＳ１１においてフィルム検出センサ１０の発光素子３が発光を開始する。

ステップＳ１２では、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1よりも小さいかどうかが、コンパレータ回路５４によって判断される。電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1よりも小さいと判断された場合（Ｓ１２：ＹＥＳ）、ステップＳ１３に進む。

ステップＳ１３では、ゲイン値が１だけインクリメントされるようにゲイン抽出部６１がゲイン記憶部５２ａに記憶されたゲイン値を書き換える。そして、再びステップＳ１２に戻って、同様の判断が行われる。

ゲイン値の増加によって電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1以上であると判断された場合（Ｓ１２：ＮＯ）、ステップＳ１４に進む。ステップＳ１４では、ゲイン値が１だけデクリメントされるようにゲイン抽出部６１がゲイン記憶部５２ａに記憶されたゲイン値を書き換える。このようにして調整されたゲイン値を用いてフィルム検出センサ１０でフィルム２の検出を行うと、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1近傍であるときの判断精度を高めることができる。つまり、被検出位置にフィルム２があるにも拘わらずフィルム２がないと判断されることやその逆の判断がなされることが非常に少なくなる。また、本ゲイン調整工程は、反射率のばらつきが大きいフィルム２を用いずに済むという点で判断精度を高める上で非常に有利である。

次に、上述したゲイン調整工程が完了してから行われるフィルムスキャナ１におけるフィルム撮像時の動作について、図６をさらに参照して説明する。

まず、ステップＳ２０においてフィルム検出センサ１０の発光素子３が発光を開始する。続いて、ステップＳ２１では、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1以下かどうかが、コンパレータ回路５４によって判断される。電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1以下であると判断された場合（Ｓ２１：ＹＥＳ）、ステップＳ２２に進む。ステップＳ２２において、搬送制御部６４は、もし４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄが駆動されているならモータを制御してそれを停止させ、駆動されていないならそのまま停止状態としておく。そして、ステップＳ２１に戻る。オートフィルムマスク４０のフィルム挿入口４５ａからフィルム２が挿入されて発光素子３による被検出位置にフィルム２の先端が到達するまで、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖはしきい値電圧Ｖth1よりも小さい。したがって、それまで、ステップＳ２１からステップＳ２２の処理が繰り返されることになる。

電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1を超えると判断された場合（Ｓ２１：ＮＯ）、ステップＳ２３に進む。ステップＳ２３では、メインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1より大きく且つしきい値電圧Ｖth2より小さいかどうかが、コンパレータ回路５４によって判断される。電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth2以上であれば（Ｖ≧Ｖth2、Ｓ２３：ＮＯ）、フィルム２の正常部位が被検出位置において検出されていることになる。

そこで、ステップＳ２４において、フィルム搬送が行われているか、つまりモータが４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄを駆動しているかが判断される。フィルム搬送が行われている場合（Ｓ２４：ＹＥＳ）、ステップＳ２１に戻って、同様の処理が繰り返される。フィルム搬送が行われていない場合（Ｓ２４：ＮＯ）、ステップＳ２５において搬送制御部６４がフィルム搬送を開始させてから、ステップＳ２１に戻る。

電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth1より大きく且つしきい値電圧Ｖth2より小さい場合（Ｖth1＜Ｖ＜Ｖth2、Ｓ２３：ＹＥＳ）、ステップＳ２６に進む。この場合、フィルム２において許容限界を超える凹凸部位が発光素子３による被検出位置に到達しているので、かかる凹凸部位が搬送ローラ対４７ａに達する前に、ステップＳ２６において搬送制御部６４がモータを制御して４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄを停止させる。さらに、ステップＳ２７において、報知指示部６３が、フィルム２に許容限界を超える凹凸部位がある旨をディスプレイ６６に表示させると共にその旨をスピーカー６７から音声信号として出力させる。

したがって、フィルムスキャナ１のオペレータは、フィルム２に許容限界を超える凹凸部位があることをディスプレイ６６への表示及び／又はスピーカー６７からの音声によって速やかに認識することができる。フィルム２に許容限界を超える凹凸部位があることを認識したオペレータは、フィルムスキャナ１からフィルム２を抜き取って、凹凸の修正作業を行うなどしてから再度フィルムスキャナ１にフィルム２を装着する。そのため、フィルムスキャナ１の故障確認などに余計な手間をかけることなく、フィルム読み取り作業を迅速に遂行することが可能となる。

また、ステップＳ２６において搬送制御部６４が４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄを停止させるので、許容限界を超える凹凸部位のために搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄにおけるフィルム詰まりなどの搬送障害が起こることがなくなる。

以上、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて様々な設計変更が可能なものである。例えば、上述の実施の形態ではフィルムの表面状態として凹凸を検出しているが、凹凸以外の反射率を反映する表面状態を検出してもよい。

ステップＳ２７で行われる報知は、ディスプレイ表示及び音声通知のいずれか一方のみを用いるものであってもよい。また、ステップＳ２６において、４つの搬送ローラ対４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄを停止させずにステップＳ２１に戻ってもよい。

ゲイン調整工程において、図５で説明したような調整は必ずしも行わなくてもよい。例えば、フィルム２をフィルムスキャナ１に装着し、そのときのメインアンプ回路５３の出力信号の電圧値Ｖがしきい値電圧Ｖth2よりも僅かに大きくなるような調整を行ってもよい。また、上述した実施の形態では、ゲイン変更部６２がゲイン記憶部５２ａに記憶されたゲインを最小ゲインの９０％〜９７％の大きさにしているが、例えば９９％、８８％などのこの範囲から外れた割合としてもよい。また、ゲイン記憶部５２ａは制御回路５５に含まれていてもよい。

本発明の一実施の形態によるフィルムスキャナの概略図である。図１に描かれたオートフィルムマスクの平面図である。図２に描かれたフィルム検出センサを含む回路ブロック図である。フィルム撮像時におけるメインアンプ回路の出力信号の一例を示すグラフである。ゲイン調整工程における詳細な手順を示すフローチャートである。図１に示すフィルムスキャナにおけるフィルム撮像時の動作を示すフローチャートである。

符号の説明

１フィルムスキャナ
２フィルム
１０フィルム検出センサ
１６スリット
２０照明光学系
３０撮像光学系
４０オートフィルムマスク
４７ａ〜４７ｄ搬送ローラ対

Claims

フィルムを搬送する搬送機構と、
前記搬送機構によって搬送されているフィルムに表示された画像を読み取る撮像素子と、
前記搬送機構におけるフィルムとの最上流接触位置よりも上流にあるフィルムの被検出位置に光を照射する発光素子と、
前記被検出位置からの反射光を受光する受光素子と、
前記受光素子が受光した反射光の量に基づいて前記被検出位置に対応したフィルムの被検出部位の表面状態が複数段階のいずれであるかを判断する判断手段と、
前記被検出部位の表面状態が前記複数段階のうちの所定段階にあると前記判断手段が判断した場合に、その旨を報知する報知手段とを備えていることを特徴とするフィルムスキャナ。
前記判断手段は、前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であるか否かを判断し、
前記報知手段は、前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断した場合に、その旨を報知することを特徴とする請求項１に記載のフィルムスキャナ。
前記被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断した場合に、前記搬送機構によるフィルムの搬送を停止する搬送停止手段をさらに備えていることを特徴とする請求項２に記載のフィルムスキャナ。
前記受光素子の出力信号を増幅する増幅手段と、
前記増幅手段におけるゲインを記憶するゲイン記憶手段と、
前記被検出位置にフィルムがないにも拘わらず当該被検出位置に対応したフィルムの被検出部位が許容限界を超える凹凸部位であると前記判断手段が判断するときの最小ゲインを抽出するゲイン抽出手段と、
前記ゲイン記憶手段が記憶するゲインを、前記ゲイン抽出手段が抽出した最小ゲインよりも僅かに小さいゲインに変更するゲイン変更手段とをさらに備えていることを特徴とする請求項２又は３に記載のフィルムスキャナ。