JP2006099527A - システムlsi - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 アドレス検出部32で検出されたアクセス対象のアドレスに基づいて保留アドレステーブル31を検索し、そのアドレスの割り当てが保留されていれば一致信号を出力する一致検出部33に加え、アクセス検出部35でアクセス要求信号が検出された後、一定時間内に応答検出部36で応答信号が検出されないときにタイムアウト信号を出力するタイマ37を設ける。一致信号またはタイムアウト信号の出力によって応答出力部34は、該当するスレーブが実装されていない旨の代理の応答信号をシステムバス12に出力する。
【選択図】 図1
Description
このシステムLSIは、プラットフォーム10と複数のスレーブを1つの集積回路としてまとめたものである。プラットフォーム10は、CPU11とシステムバス12を中心にして、マイクロプロセッサとして基本となる最小限の構成要素をまとめたハードウエアで、回路構成のみならず回路パターンも固定され、システムLSIの1つの部品として扱われるものである。このプラットフォーム10は、CPU11とシステムバス12を接続するCPUブリッジ13、このシステムバス12に接続されたメモリコントローラ14を有している。更に、システムバス12は、バスブリッジ15を介して内部のローカルバス16に接続され、このローカルバス16にタイマ17やSIO(Serial Input Output)18等の入出力回路が接続されている。
このアドレス空間は、CPU11としてARMCPUを用い、システムバス12としてAMBA−AHBバスを、ローカルバス16,23としてAMBA−APBバスを用いて構成されるμPLATと呼ばれるプラットフォームのものである。32ビット構成のアドレスは、膨大なアドレス空間を有しているが、割り当て済みのアドレスは一部であり、ほとんどのアドレスは割り当てが保留された状態となっている。
CPU11は、図示しないメモリに格納されたプログラムに従い、システムバス12を介して、スレーブ21,24にアクセスする。
このデフォルトスレーブ30Bは、図2中のデフォルトスレーブ30に代えて用いられるもので、この図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
例えば、電源投入直後の一定時間、テスト信号TSTを端子41に与えることにより、テスト部42によるテスト動作が行われる。
11 CPU
12 システムバス
21,24 スレーブ
30A,30B デフォルトスレーブ
31,31A 保留アドレステーブル
32 アドレス検出部
33 一致検出部
34 応答出力部
35 アクセス検出部
36,44 応答検出部
37,43 タイマ
40 テスト回路
42 テスト部
45 アドレス登録部
Claims (3)
- 中央処理装置と、システムバスを介して前記中央処理装置に接続されて該中央処理装置の指示に従って動作する複数のスレーブ装置と、未実装のスレーブ装置へのアクセスを検出したときに該スレーブ装置に代わって応答するデフォルトスレーブとを備えたシステムLSIにおいて、
前記デフォルトスレーブは、前記システムバス上のアクセス要求信号と該アクセス要求信号に応じた応答信号を監視し、該アクセス要求信号の検出後、一定時間内に該応答信号が検出されないときに代理の応答信号を出力することを特徴とするシステムLSI。 - 前記デフォルトスレーブは、
割り当てが保留されているアドレスが登録された保留アドレステーブルと、
前記システムバス上に出力されたアクセス要求の対象となるアドレスを検出するアドレス検出部と、
前記保留アドレステーブルを検索して前記アドレス検出部で検出されたアドレスに一致したものがあれば一致信号を出力する一致検出部と、
前記システムバス上に出力されたアクセス要求信号を検出するアクセス検出部と、
前記システムバス上に出力された応答信号を検出する応答検出部と、
前記アクセス検出部の検出信号によって時間監視を開始し、前記一定時間内に前記応答検出部で前記応答信号が検出されない時にタイムアウト信号を出力するタイマと、
前記一致信号または前記タイムアウト信号が与えられたときに、前記代理の応答信号を出力する応答出力部とを、
備えたことを特徴とする請求項1記載のシステムLSI。 - 中央処理装置と、システムバスを介して前記中央処理装置に接続されて該中央処理装置の指示に従って動作する複数のスレーブ装置と、未実装のスレーブ装置へのアクセスを検出したときに該スレーブ装置に代わって応答するデフォルトスレーブとを備えたシステムLSIにおいて、
前記デフォルトスレーブは、前記システムバスに接続されるべきすべてのスレーブ装置の実装状態をテストし、未実装のスレーブ装置のアドレスを予め登録するテスト回路を有することを特徴とするシステムLSI。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH06161938A (ja) * | 1992-11-24 | 1994-06-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 入出力装置の制御方式 |
JPH1196084A (ja) * | 1997-09-16 | 1999-04-09 | Anritsu Corp | 障害検出装置 |
JP2003288278A (ja) * | 2002-01-25 | 2003-10-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | マイクロコントローラ |
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2004
- 2004-09-30 JP JP2004286128A patent/JP4644461B2/ja not_active Expired - Fee Related
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