JP2006084331A - ポリゴンミラーモータの偏心測定装置 - Google Patents
ポリゴンミラーモータの偏心測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006084331A JP2006084331A JP2004269620A JP2004269620A JP2006084331A JP 2006084331 A JP2006084331 A JP 2006084331A JP 2004269620 A JP2004269620 A JP 2004269620A JP 2004269620 A JP2004269620 A JP 2004269620A JP 2006084331 A JP2006084331 A JP 2006084331A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- reflected
- polygon mirror
- measured
- detecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
- G01B11/272—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
Abstract
【解決手段】第1光源41と第1光源から射出された第1測定光を被測定ポリゴンミラー43で反射させた第1反射光の重心位置を検出する位置検出素子42と、位置検出素子42にスポットを形成させる光学系44と第2光源45と第2光源45から射出された第2測定光をミラー43で反射させた第2反射光と第2測定光がミラー面に対して垂直になる零度姿勢時に、第2反射光を検出する位置に設置した光検出素子46およびスリット47と光検出素子46が第2反射光を検出した時点での第1反射光の重心位置を各ミラー面について検出する零度姿勢時の光位置検出手段と、零度姿勢時の光位置に基づいてポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段とを備えたことを特徴とする。
【選択図】図4
Description
検出素子にスポットを形成させる光学系と、第2光源と、前記第2光源から射出された第2測定光をポリゴンミラーで反射させ、反射させた第2反射光と前記第2測定光とが被測定ポリゴンミラーの回転方向に関して同一角度になる零度姿勢時に、第2反射光を検出する位置に設置した光検出素子およびスリットと、前記光検出素子が前記第2反射光を検出した時点での前記第1反射光の重心位置を被測定ポリゴンミラーの各ミラー面それぞれについて検出する零度姿勢時の光位置検出手段と、零度姿勢時の光位置に基づいて被測定ポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段から構成する。
2 偏心Eをもつポリゴンミラー
21、41 第1光源
22、42、62、72、82 位置検出素子
23、43、63、73、83 ポリゴンミラー
24、44、65、75、84、86 光学レンズ
25、45、66、76、85 第2光源
26、46、67、77 光検出素子
27、47、68、78 スリット
64、74 光路変換手段
Claims (4)
- 第1光源と、前記第1光源から射出された第1測定光を被測定ポリゴンミラーで反射させ、反射させた第1反射光の重心位置を検出する光学的位置検出素子と、前記光学的位置検出素子にスポットを形成させる光学系と、第2光源と、前記第2光源から射出された第2測定光をポリゴンミラーで反射させ、反射させた第2反射光と前記第2測定光の両光が被測定ポリゴンミラーのミラー面に対して垂直になる零度姿勢時に、第2反射光を検出する位置に設置した光検出素子およびスリットと、前記光検出素子が前記第2反射光を検出した時点での前記第1反射光の重心位置を被測定ポリゴンミラーの各ミラー面それぞれについて検出する零度姿勢時の光位置検出手段と、零度姿勢時の光位置に基づいて被測定ポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段とを備えたことを特徴とするポリゴンミラーの偏心測定装置。
- 第1光源と、前記第1光源から射出された第1測定光を被測定ポリゴンミラーで反射させ、反射させた第1反射光の重心位置を検出する光学的位置検出素子と、前記光学的位置検出素子にスポットを形成させる光学系と、第2光源と、前記第2光源から射出された第2測定光を透過する光透過部およびポリゴンミラーで反射させた第2反射光を反射させる光反射部を有する光路変換手段と、前記第2反射光と前記第2測定光の両光が被測定ポリゴンミラーのミラー面に対して垂直になる零度姿勢時に、前記光路変換手段によって反射された第3反射光を検出する位置に設置した光検出素子およびスリットと、前記光検出素子が前記第2反射光を検出した時点での前記第1反射光の重心位置を被測定ポリゴンミラーの各ミラー面それぞれについて検出する零度姿勢時の光位置検出手段と、零度姿勢時の光位置に基づいて被測定ポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段とを備えたことを特徴とするポリゴンミラーの偏心測定装置。
- 第1光源と、前記第1光源から射出された第1測定光を被測定ポリゴンミラーで反射させ、反射させた第1反射光の重心位置を検出する光学的位置検出素子と、前記光学的位置検出素子にスポットを形成させる光学系と、第2光源と、前記第2光源から射出された第2測定光を反射させる光反射部およびポリゴンミラーで反射させた第2反射光を透過させる光透過部を有する光路変換手段と、前記第2反射光と前記光路変換手段で反射させた前記第2測定光の両光が被測定ポリゴンミラーのミラー面に対して垂直になる零度姿勢時に、前記光路変換手段によって透過された前記第2反射光を検出する位置に設置した光検出素子およびスリットと、前記光検出素子が前記第2反射光を検出した時点での前記第1反射光の重心位置を被測定ポリゴンミラーの各ミラー面それぞれについて検出する零度姿勢時の光位置検出手段と、零度姿勢時の光位置に基づいて被測定ポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段とを備えたことを特徴とするポリゴンミラーの偏心測定装置。
- 第1光源と、前記第1光源から射出された第1測定光を被測定ポリゴンミラーで反射させ、反射させた第1反射光の重心位置を検出する光学的位置検出素子と、前記光学的位置検出素子にスポットを形成させる光学系と、第2光源と、前記第2光源から射出された第2測定光を平行化する光学系と、被測定ポリゴンミラーの端部をかすめた第2測定光を検出する光検出素子と、前記光検出素子が前記第2測定光を検出し、前記光検出素子の出力信号のピーク値を算出するピーク演算手段と、前記ピーク演算手段にてピーク値を検出した時点での前記第1反射光の重心位置を被測定ポリゴンミラーの各ミラー面それぞれについて検出する光位置検出手段と、被測定ポリゴンミラーモータの偏心を算出する偏心算出手段とを備えたことを特徴とするポリゴンミラーの偏心測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004269620A JP2006084331A (ja) | 2004-09-16 | 2004-09-16 | ポリゴンミラーモータの偏心測定装置 |
CNB2005100938751A CN100424971C (zh) | 2004-09-16 | 2005-08-31 | 多面镜电机的偏心测量装置 |
CN2008101351508A CN101344386B (zh) | 2004-09-16 | 2005-08-31 | 多面镜电机的偏心测量装置 |
US11/224,020 US7193730B2 (en) | 2004-09-16 | 2005-09-13 | Eccentricity measuring instrument of polygon-mirror motor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004269620A JP2006084331A (ja) | 2004-09-16 | 2004-09-16 | ポリゴンミラーモータの偏心測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006084331A true JP2006084331A (ja) | 2006-03-30 |
Family
ID=36033536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004269620A Pending JP2006084331A (ja) | 2004-09-16 | 2004-09-16 | ポリゴンミラーモータの偏心測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7193730B2 (ja) |
JP (1) | JP2006084331A (ja) |
CN (2) | CN101344386B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006132955A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポリゴンミラーモータのミラー偏心および面出入りを測定する装置 |
JP2008051812A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-03-06 | Asml Netherlands Bv | 粒子検出システムおよびこのような粒子検出システムを備えたリソグラフィ装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4234089B2 (ja) * | 2004-11-16 | 2009-03-04 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | エンタテインメント装置、オブジェクト表示装置、オブジェクト表示方法、プログラム、およびキャラクタ表示方法 |
KR101018207B1 (ko) * | 2009-02-06 | 2011-02-28 | 삼성전기주식회사 | 빔 스캐너 및 표면 측정 장치 |
JP5393598B2 (ja) * | 2010-06-03 | 2014-01-22 | キヤノン株式会社 | ガルバノ装置及びレーザ加工装置 |
JP6682247B2 (ja) | 2015-11-30 | 2020-04-15 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
CN114152219A (zh) * | 2021-11-30 | 2022-03-08 | 武汉华日精密激光股份有限公司 | 一种基于激光的电机偏心度放大测量的系统、方法 |
CN116359733B (zh) * | 2023-06-02 | 2023-08-08 | 常州鼎唐电机有限公司 | 装配用微小型伺服电机的测试装置及方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253227A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Copal Electron Co Ltd | 動的面出入り測定装置 |
JPH04130239A (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-01 | Copal Electron Co Ltd | 動的面出入り測定装置 |
JPH04337411A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-25 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | ロール状マグネットの磁力測定開始点の自動検出と位置決め方法 |
JPH0519187A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Canon Inc | 光ビーム走査装置 |
JPH095019A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Sony Corp | レンズの位置決め方法及び位置決め装置 |
JP2000304649A (ja) * | 1999-04-16 | 2000-11-02 | Ricoh Co Ltd | 走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 |
JP2002365015A (ja) * | 2001-06-06 | 2002-12-18 | Anritsu Corp | 変位測定センサ及び変位測定装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4537465A (en) * | 1981-11-12 | 1985-08-27 | Lincoln Laser Company | Apparatus with two input beams for generating optical scans |
JPS58124924A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-25 | Ricoh Co Ltd | 回転多面鏡の角度誤差測定装置 |
JPH0690111B2 (ja) * | 1989-02-03 | 1994-11-14 | コパル電子株式会社 | 動的面出入り測定装置 |
JPH05227710A (ja) * | 1991-03-29 | 1993-09-03 | Nippon Densan Corp | モータの偏心測定装置 |
JPH0816306A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-19 | Alps Electric Co Ltd | 光学式位置検出装置 |
JPH08190069A (ja) * | 1995-01-11 | 1996-07-23 | Fuji Xerox Co Ltd | 多面鏡評価装置 |
US5784168A (en) * | 1995-07-03 | 1998-07-21 | U.S. Philips Corporation | Position detection system for an object with at least five degrees of freedom |
JP2006091507A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Nikon Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP4661167B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2011-03-30 | パナソニック株式会社 | ポリゴンミラーモータの測定装置 |
-
2004
- 2004-09-16 JP JP2004269620A patent/JP2006084331A/ja active Pending
-
2005
- 2005-08-31 CN CN2008101351508A patent/CN101344386B/zh active Active
- 2005-08-31 CN CNB2005100938751A patent/CN100424971C/zh active Active
- 2005-09-13 US US11/224,020 patent/US7193730B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253227A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Copal Electron Co Ltd | 動的面出入り測定装置 |
JPH04130239A (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-01 | Copal Electron Co Ltd | 動的面出入り測定装置 |
JPH04337411A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-25 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | ロール状マグネットの磁力測定開始点の自動検出と位置決め方法 |
JPH0519187A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Canon Inc | 光ビーム走査装置 |
JPH095019A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Sony Corp | レンズの位置決め方法及び位置決め装置 |
JP2000304649A (ja) * | 1999-04-16 | 2000-11-02 | Ricoh Co Ltd | 走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 |
JP2002365015A (ja) * | 2001-06-06 | 2002-12-18 | Anritsu Corp | 変位測定センサ及び変位測定装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006132955A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポリゴンミラーモータのミラー偏心および面出入りを測定する装置 |
JP4661167B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2011-03-30 | パナソニック株式会社 | ポリゴンミラーモータの測定装置 |
JP2008051812A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-03-06 | Asml Netherlands Bv | 粒子検出システムおよびこのような粒子検出システムを備えたリソグラフィ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060055917A1 (en) | 2006-03-16 |
CN1750365A (zh) | 2006-03-22 |
CN101344386B (zh) | 2011-09-14 |
CN101344386A (zh) | 2009-01-14 |
CN100424971C (zh) | 2008-10-08 |
US7193730B2 (en) | 2007-03-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5207959B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
JP6382303B2 (ja) | 表面粗さ測定装置 | |
US4766323A (en) | Method and apparatus for determining the distance of an object | |
JP2009236774A (ja) | 三次元測距装置 | |
US7193730B2 (en) | Eccentricity measuring instrument of polygon-mirror motor | |
KR101556866B1 (ko) | 거리 측정 장치 | |
JP6617144B2 (ja) | 2つの平坦なワークピース面の間の角度を特定するための装置 | |
TWI414751B (zh) | 旋轉角度量測系統 | |
JP6071042B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
US20140132600A1 (en) | Three-dimensional model generating device | |
US7460249B2 (en) | Measuring instrument of polygon-mirror motor | |
JPH1163920A (ja) | 光走査式変位測定装置 | |
JP2011191076A (ja) | たわみ計測装置、ならびにたわみおよび軸ねじれ計測装置 | |
JP2010197143A (ja) | ポリゴンミラー用モータのシャフトの軸倒れを測定する測定装置及び測定方法 | |
JP2011169796A (ja) | 曲率測定装置 | |
JP4696249B2 (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
RU2681663C1 (ru) | Торсиометр | |
KR20100067753A (ko) | 갈바노미터 스캐너의 회전각측정시스템 | |
JPH0446371B2 (ja) | ||
JP6401618B2 (ja) | 測定方法及び測定装置 | |
KR20220063241A (ko) | 레이저 간섭계 시스템 및 방법 | |
JP2008256463A (ja) | 計測装置及びミラー姿勢・回動監視装置 | |
JP6732487B2 (ja) | リニア・スケールを有するエンコーダ及びその原点決定方法 | |
JP6005506B2 (ja) | 光学的測定装置 | |
JPH09113234A (ja) | 2次元形状計測センサー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070807 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20070912 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20091120 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100113 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100330 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101005 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101129 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110329 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20110407 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20110407 |