JP2006038765A - 吸収計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 吸収計測装置1は、同一中心周波数を有する測定パルス光L1と参照パルス光L2とを異なる光路R1,R2上に出力する光供給手段20と、測定パルス光L1の光路上に配置されており、一対のミラー11a,11bからなるキャビティ11内に被測定試料Sが導入されるキャビティリングダウン(CRD)部10と、CRD部10が有するキャビティ内での測定パルス光L1の多重反射に応じて出力される複数の透過パルス光L1nからなる信号光Mと参照パルス光L2との間の遅延時間を調整する光学遅延手段31,32と、信号光と参照パルス光とを干渉させて干渉光を検出する検出手段50と、検出手段で検出される干渉光の強度の時間的変化に基づいて被測定試料Sの吸収特性を決定する解析手段60とを備える。
【選択図】図2
Description
図3に示す第2の実施形態に係る吸収計測装置2の構成と吸収計測装置1の構成とは、吸収計測装置2が光供給手段20として半導体レーザ23を利用している点で、主に相違する。この相違点を中心に、吸収計測装置2について説明する。
Claims (6)
- 同一中心周波数を有する測定パルス光と参照パルス光とをそれぞれ異なる光路上に出力する光供給手段と、
互いに対向する一対のミラーで構成されたキャビティ内に被測定試料が導入されており、前記測定パルス光の光路上に配置されるキャビティリングダウン部と、
前記測定パルス光が入射されたキャビティリングダウン部における前記キャビティ内での前記測定パルスの多重反射に応じて前記キャビティリングダウン部から出力される複数の透過パルス光からなる信号光と前記参照パルス光との間の遅延時間を調整する光学遅延手段と、
前記信号光と前記参照パルス光とを干渉させて、前記信号光と前記参照パルス光との干渉光を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出される前記干渉光の強度の時間的変化に基づいて前記被測定試料の吸収特性を決定する解析手段と、
を備えることを特徴とする吸収計測装置。 - 前記光供給手段は、
パルス光を出力するパルス光源部と、
前記パルス光源部から出力されたパルス光を前記測定パルス光と前記参照パルス光とに分岐して、前記測定パルス光と前記参照パルス光とをそれぞれ異なる光路上に出力する光分岐部と、
を有することを特徴とする請求項1に記載の吸収計測装置。 - 前記光供給手段は、
互いに対向する端面のうちの一方から前記測定パルス光を出力し、他方から前記参照パルス光を出力する半導体レーザであることを特徴とする請求項1に記載の吸収計測装置。 - 前記光学遅延手段は、
前記測定パルス光の光路上及び前記参照パルス光の光路上のうち少なくとも一方に設けられた光路長が可変の遅延光学系からなることを特徴とする請求項1〜請求項3の何れか1項に記載の吸収計測装置。 - 前記信号光と前記参照パルス光との間の光路長差を変調する変調手段を更に有し、
前記変調手段は、前記測定パルス光及び前記参照パルス光の少なくとも一方の光路上に設けられることを特徴とする請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の吸収計測装置。 - 前記光供給手段、前記キャビティリングダウン部、前記光学遅延手段及び前記検出手段は、同じ支持板上に設けられることを特徴とする請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の吸収計測装置。
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