JP2006038744A - 厚み計測器及び研削装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】保持テーブルに保持された板状物2の上面2aに向けて流体を流出させて流体膜3を形成すると共に、筒体12の内部に流体柱4を形成し、送波部17から超音波を送信してからその反射波が到達までの時刻から板状物2の厚みを求める。筒体12は板状物2の接触しないため、板状物に傷を付けることがない。
【選択図】図3
Description
W=V×(T1―T2)÷2
の計算式によって求めることができる。(T1―T2)の値は、2つの反射波の到達時刻の差に等しい。
W=n×λ÷2
となったときに、板状物2の内部で超音波が共振する。したがって、連続した共振周波数の間隔(fn+1―fn)を計測することにより、
W=V÷{2×(fn+1―fn)}
の計算式によって、板状物2の厚みWの値を求めることができる。共振法を用いる場合も、流体膜3及び流体柱4を介して超音波及びその反射波を伝播させることができる。
11:保持テーブル
12:筒体
12a:第一の開口部 12b:第二の開口部
13:バルブ 14:流体供給源
15:超音波発振部 16a、16b:伝播部
17:送波部 18:受波部 19:反射波受信部 20:厚み算出部
2:板状物 3:流体膜 4:流体柱
5:研削装置
50:移動基台
51:研削手段
510:スピンドル 511:駆動源 512:ホイールマウント
513:研削ホイール 514:研削砥石
52:研削手段駆動部
520:壁部 521:ガイドレール 522:ボールネジ
523:パルスモータ 524:支持部
100:超音波 200、201:反射波
Claims (6)
- 板状物の厚みを計測する厚み計測器であって、
板状物を保持する保持テーブルと、
該保持テーブルに保持された板状物の上面に向けて流体を流出させて流体膜を形成し、該流体膜を介して該板状物の上面に間接的に接触すると共に、内部に該流体により構成される流体柱を形成する筒体と、
該筒体に流体を供給する流体供給部と、
超音波を発振する超音波発振部と、
該超音波発振部において発振した超音波を、該流体柱及び該流体膜を介して該板状物に対して送波する送波部と、
該板状物に対して送波された超音波の反射波をとらえる受波部と、
該受波部がとらえた反射波を受信する反射波受信部と、
該超音波発振部から超音波が送信されてから該板状物の下面における反射波を該反射波受信部において受信するまでの時間を求めて該板状物の厚みを算出する厚み算出部と
から構成される厚み計測器。 - 前記厚み計測部は、
前記超音波発振部から超音波が送信されてから前記板状物の上面における反射波を前記反射波受信部において受信するまでの時間と、該超音波発振部から該超音波が送信されてから該板状物の下面における反射波を該反射波受信部において受信するまでの時間との差を求めて該板状物の厚みを算出する
請求項1に記載の厚み計測器。 - 超音波発振部においてはパルス超音波を発振する
請求項1または2に記載の厚み計測器。 - 厚み計測部においては、板状物の厚みをWとし、該板状物中における音速をVとし、前記超音波発振部から超音波が送信されてから該板状物の上面における反射波を前記反射波受信部において受信するまでの時間をT1とし、該超音波発振部から該超音波が送信されてから該板状物の下面における反射波を該反射波受信部において受信するまでの時間をT2とし、該板状物の厚さWを
W=V×(T2−T1)÷2
の計算式によって求める
請求項2または3に記載の厚み計測器。 - 前記流体供給部が前記筒体に供給する流体は純水である
請求項1、2、3または4に記載の厚み計測器。 - 板状物の面を研削する研削手段を備えた研削装置であって、
請求項1乃至5のいずれかに記載の厚み計測器が搭載され、前記保持テーブルに保持された板状物の厚みを計測する
研削装置。
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