JP2005539360A - 荷電粒子ビームシステム - Google Patents
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Abstract
Description
オフアクシス電子によって電子画像に背景信号が生成され、画像コントラストが小さくなる、
オフアクシス電子によって電子ビーム化学におけるビーム衝突領域以外の領域がエッチング/蒸着される、
など、いくつかの望ましくない結果をもたらす原因になっている。
Claims (21)
- ワーク・ピースを収納するための、背景チャンバ圧力を有するワーク・ピース真空チャンバと、
荷電粒子ビーム源と、
粒子ビームを光軸に沿って前記ワーク・ピースに向けて導くための荷電粒子ビーム光カラムと、
荷電粒子によるイオン化が可能な検出器ガスを含んだ空間およびイオン化されたガスを検出する検出器プレートを備えた荷電粒子検出器であって、この荷電粒子検出器の周囲の前記検出器ガスの圧力をこの荷電粒子検出器の動作に十分な圧力に維持し、かつ、前記ワーク・ピース真空チャンバの圧力を極めて低い圧力に維持するべく前記検出器ガスを射出するための通路を備えた荷電粒子検出器と、
を備えた荷電粒子ビーム装置。 - 前記荷電粒子ビーム光カラムが走査電子顕微鏡カラムからなる請求項1に記載の装置。
- 前記荷電粒子検出器が、前記光軸と同軸の開口を個々に有する2枚のプレートを備えた請求項1に記載の装置。
- 前記通路が前記2枚のプレートの間に存在する請求項3に記載の装置。
- ガスを引き渡すための前記通路が、前記検出器プレートとワーク・ピース位置の間の領域に向けてガスを導くノズルを備えた請求項1に記載の装置。
- ワーク・ピースを収納するための、背景チャンバ圧力を有するワーク・ピース真空チャンバと、
荷電粒子ビーム源と、
粒子ビームを光軸に沿って前記ワーク・ピースに向けて導くための荷電粒子ビーム光カラムと、
イオン発生器であって、荷電粒子ビームが前記ワーク・ピースに衝突することによって、あるいは荷電粒子ビームが前記ワーク・ピースによって後方散乱する一次ビームからの粒子に衝突することによって生成される二次粒子が、イオン生成ガスをイオン化し、このイオン発生器が、イオンの少なくとも一部が前記ワーク・ピースに向かって移動し、それにより前記ワーク・ピース上の電荷を中性化するべく配置され、このイオン発生器が、ガスを含んだチャンバを備え、前記チャンバが、前記ワーク・ピースからの二次粒子もしくは後方散乱粒子を前記チャンバに導入し、かつ、前記ワーク・ピース上の電荷を中性化するべくイオンを前記チャンバから排出させることができる開口を介して前記ワーク・ピース真空チャンバに接続されたイオン発生器と、
を備えた荷電粒子ビーム装置。 - 前記荷電粒子ビーム光カラムが対物レンズおよび光軸を備え、前記イオン発生器が、前記開口の中心から前記光軸と前記ワーク・ピースの交点へ引かれた線が前記光軸と平行にならないように配置された請求項6に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記荷電粒子ビーム光カラムが走査電子顕微鏡カラムからなる請求項6に記載の荷電粒子ビーム装置。
- ワーク・ピースを収納するための、背景チャンバ圧力を有するワーク・ピース真空チャンバと、
荷電粒子ビーム源と、
粒子ビームを前記ワーク・ピースに向けて導くための荷電粒子ビーム光カラムと、
イオン発生器であって、荷電粒子ビームが前記ワーク・ピースに衝突することによって、あるいは荷電粒子ビームが前記ワーク・ピースによって後方散乱する一次ビームからの粒子に衝突することによって生成される二次粒子が、イオン生成ガスをイオン化し、このイオン発生器が、イオンの少なくとも一部が前記ワーク・ピースに向かって移動し、それにより前記ワーク・ピース上の電荷を中性化するべく配置され、このイオン発生器が、二次粒子もしくは後方散乱粒子から十分なイオンを生成し、それにより前記ワーク・ピース上に蓄積した電荷を中性化するべく、このイオン発生器の前記イオン生成ガスを十分に高い圧力に維持し、かつ、前記背景チャンバ圧力を極めて低い圧力に維持するようになされたイオン発生器と、
を備えた荷電粒子ビーム装置。 - 前記イオン生成ガスが約0.1トールより高い圧力に維持され、かつ、前記背景チャンバ圧力が約0.01トール未満の圧力に維持される請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記イオン生成ガスが約0.3トールより高い圧力に維持され、かつ、前記背景チャンバ圧力が約10-3トール未満の圧力に維持される、請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記イオン生成ガスが約0.4トールより高い圧力に維持され、かつ、前記背景チャンバ圧力が約10-3トール未満の圧力に維持される請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記イオン発生器が環境走査電子顕微鏡型粒子検出器を備えた請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記環境走査電子顕微鏡型粒子検出器が、前記荷電粒子ビームと同軸の開口を有するプレートを備えた請求項13に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記荷電粒子ビーム光カラムが磁気液浸対物レンズを備え、前記プレートがワーク・ピース位置と前記磁気液浸対物レンズの極の間に配置された請求項14に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記環境走査電子顕微鏡型粒子検出器が前記イオン生成ガスを移送するための通路を備えた請求項13に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記荷電粒子ビームが対物レンズおよび光軸を備え、前記イオン発生器が、開口の中心から前記光軸と前記ワーク・ピースの交点へ引かれた線が前記光軸と平行にならないように配置された請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記イオン発生器がガスを含んだチャンバを備え、前記チャンバが、前記ワーク・ピースからの二次粒子を前記チャンバに導入し、かつ、前記ワーク・ピース上の電荷を中性化するべくイオンを前記チャンバから排出させることができる開口を介して前記ワーク・ピース真空チャンバと連絡した請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記イオン生成ガスが荷電粒子ビームのエッチング速度を速くし、あるいは前記荷電粒子ビームの存在下で分解して前記ワーク・ピース上に物質を蒸着させる請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 第2の荷電粒子ビーム源と、
前記ワーク・ピース真空チャンバ内に配置されたワーク・ピースに向けて第2の荷電粒子ビームを導くための第2の荷電粒子ビームカラムとをさらに備えた請求項9に記載の荷電粒子ビーム装置。 - 第2の荷電粒子ビーム中の粒子の衝突によってワーク・ピースから放出される荷電粒子を検出するための検出器であって、第2の荷電粒子ビームカラムを動作させるべくワーク・ピース真空チャンバ内の圧力が十分に低い検出器。
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