JP2005345235A - プローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置 - Google Patents
プローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】 プローブ素子4、6及びプローブ用スプリング5からなるプローブ3が微細化してもそのプローブ3による寄生抵抗が徒に大きくならないようにする。
【解決手段】 プローブ用スプリング5として、中間部分に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分5bを有するものを用いる。両側部は普通のコイルスプリングのように弾性を有する弾性部分5a、5aで構成する。
【効果】 その中間部分5bにおいては、プローブ用スプリング5自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、この2つの電気経路が等価的に並列に接続される。
【選択図】 図1
【解決手段】 プローブ用スプリング5として、中間部分に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分5bを有するものを用いる。両側部は普通のコイルスプリングのように弾性を有する弾性部分5a、5aで構成する。
【効果】 その中間部分5bにおいては、プローブ用スプリング5自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、この2つの電気経路が等価的に並列に接続される。
【選択図】 図1
Description
本発明は、電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続するプローブに用いるプローブ用スプリングと、そのプローブと、それを用いたコンタクト装置に関する。
電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続することによりその各電極、各配線膜をその測定回路に電気的に導出することが必要である。そして、各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト装置が用いられる。
この種のコンタクト装置はプレートに多数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させるようになっているものが多い。これに関して、本願出願人会社は、特願平7−61728、特願平8−183449、特願平10−66333、特願2001−139420、特願2002−328761等により各種提案を行っている。
この種のコンタクト装置はプレートに多数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させるようになっているものが多い。これに関して、本願出願人会社は、特願平7−61728、特願平8−183449、特願平10−66333、特願2001−139420、特願2002−328761等により各種提案を行っている。
図3(A)はそのようなコンタクト装置の従来例の一つを示す断面図、(B)はそれに用いるスプリングの斜視図である。aはプローブ保持ボードで、複数枚の板a1、a2、a3、a4を重ね合わせてなる。bは該プローブ保持ボードaに形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板a1、a2、a3、a4に形成された孔b1、b2、b3、b4が連通して構成されてなる。cはプローブで、第1のプローブ素子dと、第2のプローブ素子eと、該プローブ素子d・e間に介在する縮設されたプローブ用スプリングfからなる。該プローブ素子d・eは各々係合フランジgを有する。hは両端に係合片i・iを有するバレルで、該係合片i・iが上記プローブ素子d・eの係合フランジg・gと係合して、第1のプローブ素子dと第2のプローブ素子eを、接触端が外側を向き、それ等の反接触端側の端部間にスプリングfが縮設された状態で、外側から保持する。
そして、バレルhによって保持された第1のプローブ素子dと、第2のプローブ素子eと、該プローブ素子d・e間に介在する縮設されたスプリングfからなるプローブcが上記プローブ保持ボードaの保持孔b内に収納されてコンタクト装置が構成されている。
上記第1のプローブ素子dの接触端及び上記第2のプローブ素子eの接触端は上記プローブ保持ボードaの下面及び上面から突出せしめられている。
jはプローブと、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線kが第1のプローブ素子dの接触端と弾接せしめられる。
上記第1のプローブ素子dの接触端及び上記第2のプローブ素子eの接触端は上記プローブ保持ボードaの下面及び上面から突出せしめられている。
jはプローブと、図示しない測定回路との間を電気的に接続する被覆コードで、その芯線kが第1のプローブ素子dの接触端と弾接せしめられる。
lは第2のプローブ素子eの接触端と弾接せしめられる、BGAタイプの半導体装置(図示しない)の電極を成す半田ボールである。
電極が半田ボールからなる半導体装置は、検査時において、その電極l側を下向きにして、該各電極lと、それに対応するプローブcの第2のプローブeとが接するように位置合わせしてプローブ保持ボードa上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各第2のプローブ素子dはプローブ用スプリングfを介して押圧され、その接触端がそのプローブ用スプリングfの弾力により被覆ケーブルjの芯線kとの間が弾接し、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。従って、検査、測定が可能になるのである。
電極が半田ボールからなる半導体装置は、検査時において、その電極l側を下向きにして、該各電極lと、それに対応するプローブcの第2のプローブeとが接するように位置合わせしてプローブ保持ボードa上に臨まされ、所定の圧力で下側に押圧される。すると、各第2のプローブ素子dはプローブ用スプリングfを介して押圧され、その接触端がそのプローブ用スプリングfの弾力により被覆ケーブルjの芯線kとの間が弾接し、その間に良好な電気的接続状態を形成することができる。従って、検査、測定が可能になるのである。
そして、上記プローブ用スプリングfは、図3(B)に示すように、必要な弾性を得られるようにコイルスプリング状に形成され、そのピッチpは一定であり、各隣接ターン(一巻き分)どうしは適宜離間していた。diはその各隣接ターン間の間隔である。
特開平08−236180号公報(特願平7−061728)
特開平10−026648号公報(特願平8−183449)
特開平11−258311号公報(特願平10−66333)
特開2002−333453号公報(特願2001−139420)
特願2002−328761
ところで、図3(A)、(B)に示すような従来のコンタクト装置において、コイルスプリング状に形成された上記プローブ用スプリングfは、そのピッチpは一定であり、各隣接ターン(一巻き分)どうしは適宜離間していたので、コンタクト装置により各配線経路の寄生抵抗を必要な小ささにすることが難しいという問題が生じてきた。
即ち、半導体装置は、トランジスタ等からIC(集積回路)、LSI(大規模集積回路)、VLSI(超大規模集積回路)というように進化し、それに伴って多ピン化、小ピッチ化が進み、その多ピン化、小ピッチ化の進行の勢いは止まることを知らないのである。
即ち、半導体装置は、トランジスタ等からIC(集積回路)、LSI(大規模集積回路)、VLSI(超大規模集積回路)というように進化し、それに伴って多ピン化、小ピッチ化が進み、その多ピン化、小ピッチ化の進行の勢いは止まることを知らないのである。
従って、その半導体装置の測定、検査に不可欠なコンタクト装置もその多ピン化、小ピッチ化に対応する必要があるので、プローブの微細化が要求される。
それは必然的に、プローブ素子d、e及びスプリングfの微細化が要求されることに他ならない。そして、プローブ素子d、e及びスプリングfの微細化は、半導体装置の各電極或いは配線基板の各配線膜と、測定回路との間の電気経路に介在する各プローブによる寄生抵抗の増大を招き、それが精確な検査、測定に許容される限度を越えるおそれが生じつつある。
それは必然的に、プローブ素子d、e及びスプリングfの微細化が要求されることに他ならない。そして、プローブ素子d、e及びスプリングfの微細化は、半導体装置の各電極或いは配線基板の各配線膜と、測定回路との間の電気経路に介在する各プローブによる寄生抵抗の増大を招き、それが精確な検査、測定に許容される限度を越えるおそれが生じつつある。
本発明はそのような問題を解決するためのもので、プローブ素子及びプローブ用スプリングからなるプローブが微細化してもそのプローブによる寄生抵抗が徒に大きくならないようにすることを目的とする。
請求項1のプローブ用スプリングは、プローブ保持空間内に納められるところの、一端が電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子間に縮設されるコイル状のプローブ用スプリングであって、一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を有することを特徴とする。
請求項2のプローブ用スプリングは、請求項1記載のプローブ用スプリングにおいて、前記密着部分の外周面に導体が形成されたことを特徴とする。
請求項2のプローブ用スプリングは、請求項1記載のプローブ用スプリングにおいて、前記密着部分の外周面に導体が形成されたことを特徴とする。
請求項3のプローブは、プローブ保持空間内に、一端が電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子と、該2つのプローブ素子間に縮設されたコイル状のプローブ用スプリングとが設けられたプローブであって、上記コイル状のプローブ用スプリングは、一部、例えば中間部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有することを特徴とする。
請求項4のプローブは、請求項3記載のプローブにおいて、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されることを特徴とする。
請求項4のプローブは、請求項3記載のプローブにおいて、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されることを特徴とする。
請求項5のコンタクト装置は、複数枚のプローブ保持ボードにより複数のプローブ保持空間が形成され、上記各プローブ保持空間の両端に外側に開口する突出接触端挿通孔が形成され、上記各プローブ保持空間内に、一端が上記突出接触端挿通孔を挿通され上記電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子と、該2つのプローブ素子間に縮設されたコイル状のプローブ用スプリングとからなるプローブが保持されたコンタクト装置であって、上記コイル状のプローブ用スプリングは、一部、例えば中間部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有することを特徴とする。
請求項6のコンタクト装置は、請求項5記載のコンタクト装置において、前記各プローブ素子は中間部にその内側部分よりも大径にされたスプリング係合部を有し、前記プローブ用スプリングはその両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されることを特徴とする。
請求項1のプローブ用スプリングによれば、一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を有するので、その密着部分においては、プローブ用スプリング自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、等価的にこの2つの電気経路は並列に接続される。
従って、プローブ用スプリングの寄生抵抗を小さくすることができる。
従って、プローブ用スプリングの寄生抵抗を小さくすることができる。
請求項2のプローブ用スプリングによれば、請求項1記載のプローブ用スプリングにおいて、前記密着部分の外周面に導体、例えば半田が形成されるので、隣接巻部(ターン)どうしが接する状態を強固に保持し、その接する部分における接触抵抗を小さくすることが確実に為し得る。更に、導体自身も上記一部、例えば中間部における寄生抵抗を小さくするのに寄与する。
従って、よりプローブ用スプリングに寄生する寄生抵抗を小さくすることができる。
従って、よりプローブ用スプリングに寄生する寄生抵抗を小さくすることができる。
請求項3のプローブによれば、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を有するので、その密着部分においては、プローブ用スプリング自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成される。
従って、プローブ用スプリングの中間部分における寄生抵抗を小さくすることができるので、その分、プローブに寄生する抵抗を小さくすることができる。
従って、プローブ用スプリングの中間部分における寄生抵抗を小さくすることができるので、その分、プローブに寄生する抵抗を小さくすることができる。
請求項4のプローブによれば、プローブ用スプリングは、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されるので、プローブ素子の内端間に縮設される場合よりもプローブ収納空間を徒に長くすることなくプローブ用スプリングを必要な弾性が得られるように長くすることができる。
従って、プローブ用スプリングの中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分の長さを補って必要な弾性を得るようにすることがプローブ保持ボードを徒に厚くすることなく実現できる。
従って、プローブ用スプリングの中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分の長さを補って必要な弾性を得るようにすることがプローブ保持ボードを徒に厚くすることなく実現できる。
即ち、プローブ用スプリングは上記密着部分では弾性を得ることができないので、両側の大ピッチ部分にて必要な弾性を得なければならない。そして必要な弾性を得るにはある程度の長さが必要なので、プローブ用スプリングは長くなる、換言すればプローブ保持ボードが厚くなる傾向になる。
従って、従来におけるように一対のプローブ素子d・eの内端間にプローブ用スプリングfを介在させた場合には、プローブを収納する収納空間を長くし、プローブ保持ボードを厚くする必要性が生じ、コンタクト装置の小型化、軽量化が阻まれる。
しかるに、請求項4のプローブのようにすれば、プローブ用スプリングは、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌されるので、その外嵌される分、プローブの長さが短くて済み、延いては徒にプローブを収納する収納空間を長くしたり、プローブ保持ボードを厚くしたりしなくて済むのである。
従って、従来におけるように一対のプローブ素子d・eの内端間にプローブ用スプリングfを介在させた場合には、プローブを収納する収納空間を長くし、プローブ保持ボードを厚くする必要性が生じ、コンタクト装置の小型化、軽量化が阻まれる。
しかるに、請求項4のプローブのようにすれば、プローブ用スプリングは、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌されるので、その外嵌される分、プローブの長さが短くて済み、延いては徒にプローブを収納する収納空間を長くしたり、プローブ保持ボードを厚くしたりしなくて済むのである。
請求項5のコンタクト装置によれば、上記コイル状のプローブ用スプリングが、一部、例えば中間部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有するので、その密着部分においては、プローブ用スプリング自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、等価的にその環状の電気経路がプローブ用スプリング自身による電気経路(コイル状の電気経路)に並列に接続されることになる。
従って、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部分における寄生抵抗を小さくすることができ、その分、プローブに寄生する抵抗を小さくすることができる。
従って、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部分における寄生抵抗を小さくすることができ、その分、プローブに寄生する抵抗を小さくすることができる。
請求項6のコンタクト装置は、プローブ用スプリングが、その両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されるので、プローブ素子の内端間に縮設される場合よりもプローブ収納空間を徒に長くすることなくプローブ用スプリングを必要な弾性が得られるように長くすることができる。
従って、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分の長さを補って必要な弾性を得るようにすることが、プローブ保持ボードを徒に厚くすることなく実現できる。
従って、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分の長さを補って必要な弾性を得るようにすることが、プローブ保持ボードを徒に厚くすることなく実現できる。
本発明は、基本的に、プローブ用スプリングの一部、例えば中間部に、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けたものであり、その材料の線径φは例えば0.085mm、コイルとしての外径が例えば0.75mm、内径が例えば0.58mmであり、長さ(プローブの一部として一対のプローブ素子と共にプローブ収納空間に収納された状態における長さ)が例えば3.2mmである。また、中間部の密着部の長さが例えば0.935mmで、巻数が例えば10巻(ターン)、両側の弾性部の長さが各々例えば1.23mmで、巻数が各々例えば5巻(ターン)である。
尚、本発明はバレルのないタイプのものにもバレルのあるタイプのものにも適用することができる。しかし、バレルのないタイプのものに本発明が有効である。というのは、バレルがないタイプだと、バレルにより寄生抵抗を小さくすることができないので、寄生抵抗を小さくする必要性が切実に強いからである。そして、多ピン化、小ピッチ化にはバレルがないタイプが適しているので、寄生抵抗を小さくする必要性が強いが、本発明はその必要性に応えることが可能なのである。
尚、本発明はバレルのないタイプのものにもバレルのあるタイプのものにも適用することができる。しかし、バレルのないタイプのものに本発明が有効である。というのは、バレルがないタイプだと、バレルにより寄生抵抗を小さくすることができないので、寄生抵抗を小さくする必要性が切実に強いからである。そして、多ピン化、小ピッチ化にはバレルがないタイプが適しているので、寄生抵抗を小さくする必要性が強いが、本発明はその必要性に応えることが可能なのである。
以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説明する。図1(A)は本発明コンタクト装置の第1の実施例の一部(プローブ1個分)を示す断面図、(B)はそのプローブに用いられたプローブ用スプリングの斜視図である。
図において、1はプローブ保持ボードで、複数枚の板1a、1bを重ね合わせてなる。2は該プローブ保持ボード1に形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板1a、1bに形成された孔2a、2bを連通させるようにして構成されており、プローブ収納空間を成し、該保持孔2内に、次に述べるプローブ3が収納される。2a1は該保持孔2の一端から上記プローブ保持ボード1の一方の表面に開口する突出接触端挿通孔、2b1は該保持孔2の他端から上記プローブ保持ボード1の他方の表面に開口する突出接触端挿通孔であり、該突出接触端挿通孔2a1、2b1には後述するプローブ素子4、6の突出接触端が挿通される。
図において、1はプローブ保持ボードで、複数枚の板1a、1bを重ね合わせてなる。2は該プローブ保持ボード1に形成された保持孔で、上記重ね合わされた各板1a、1bに形成された孔2a、2bを連通させるようにして構成されており、プローブ収納空間を成し、該保持孔2内に、次に述べるプローブ3が収納される。2a1は該保持孔2の一端から上記プローブ保持ボード1の一方の表面に開口する突出接触端挿通孔、2b1は該保持孔2の他端から上記プローブ保持ボード1の他方の表面に開口する突出接触端挿通孔であり、該突出接触端挿通孔2a1、2b1には後述するプローブ素子4、6の突出接触端が挿通される。
2a2、2b2は孔2a、2bとそれより小径の突出接触端挿通孔2a1、2b1との間に形成された内向きの係合段部で、後述するプローブ素子4、6の係合段部と係合して、プローブ3のプローブ収納空間2からの抜けを防止する。
3はプローブで、第1のプローブ素子4と、スプリング5と、第2のプローブ素子6からなり、共に例えば金属からなる。
7は第1のプローブ素子4の突出接触端(クラウン状の突出接触端)、8は第1のプローブ素子4の中間部に形成されたフランジであり、該フランジ8から反接触端7側は軸状に形成されている。この軸状に形成された部分、即ち軸状部には「9」の符号を付した。該軸状部9の先端(プローブ素子4の内端)は半円球状に形成されている。
3はプローブで、第1のプローブ素子4と、スプリング5と、第2のプローブ素子6からなり、共に例えば金属からなる。
7は第1のプローブ素子4の突出接触端(クラウン状の突出接触端)、8は第1のプローブ素子4の中間部に形成されたフランジであり、該フランジ8から反接触端7側は軸状に形成されている。この軸状に形成された部分、即ち軸状部には「9」の符号を付した。該軸状部9の先端(プローブ素子4の内端)は半円球状に形成されている。
スプリング5はコイル状に形成されており、後でも述べるが、上記第1のプローブ素子4の上記フランジ8と、上記第2のプローブ素子6の後述するフランジ(11)との間に縮設される。
10は第2のプローブ素子6の突出接触端(針状の突出接触端)、11は該第2のプローブ素子6の中間部に形成されたフランジであり、該フランジ11から反接触端10側は軸状に形成されている。この軸状に形成された部分、即ち軸状部には「12」の符号を付した。該軸状部12の先端(プローブ素子6の内端)は半円球状に形成されている。
10は第2のプローブ素子6の突出接触端(針状の突出接触端)、11は該第2のプローブ素子6の中間部に形成されたフランジであり、該フランジ11から反接触端10側は軸状に形成されている。この軸状に形成された部分、即ち軸状部には「12」の符号を付した。該軸状部12の先端(プローブ素子6の内端)は半円球状に形成されている。
上記スプリング5は、基本的にはコイルスプリングであるが、図1(B)に示すように、両側部分5a、5aと、中間部5bとでピッチPが異なり、その中間部5bはピッチPbがそのコイルスプリングを構成する線材の径と同じであり、隣接巻部間間隔Dbが0となり、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を成している。従って、この部分におけるピッチPbはスプリング5を構成する線材の直径と同じである。このように、本スプリング5は一部(本実施例では中間部)に密着部分を有していることに大きな特徴がある。
このスプリング5の密着部分を成す中間部5bには当然のことながら弾性が存在しない。このように弾性を犠牲にしても一部、本例では中間部5bを密着部分とするのは、スプリング5による寄生抵抗を低減するためである。
即ち、密着部分5bにおいては、プローブ用スプリング5自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、等価的にこれがプローブ用スプリング5自身によるコイル状の電気経路に並列に接続されることになる。
従って、プローブ用スプリングの中間部分における寄生抵抗を有効に小さくすることができる。
このスプリング5の密着部分を成す中間部5bには当然のことながら弾性が存在しない。このように弾性を犠牲にしても一部、本例では中間部5bを密着部分とするのは、スプリング5による寄生抵抗を低減するためである。
即ち、密着部分5bにおいては、プローブ用スプリング5自身による電気経路(コイル状の電気経路)のみならず、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接することにより環状の電気経路が形成され、等価的にこれがプローブ用スプリング5自身によるコイル状の電気経路に並列に接続されることになる。
従って、プローブ用スプリングの中間部分における寄生抵抗を有効に小さくすることができる。
それに対して、スプリング5の両側の部分5a、5aは、弾性を持ち得るように通常のコイルスプリング状に形成されて弾性部を成す。即ち、その部分のピッチPaは線材の径よりも大きく、隣接巻武官間隔Daは0よりも大きい。このように、プローブ用スプリング5は、両側の弾性部5a、5aによりプローブ用スプリングとして必要な弾性力が得られるようになっているのである。
そして、このスプリング5の内径は上記第1及び第2のプローブ素子4、6のフランジ8、11の径(外径)よりも充分に小さく、且つ、該プローブ素子4、6のフランジ8、11より内側の軸状部分9、12よりも大きくされている。
該プローブ用スプリング5はプローブ収納空間2内の第1及び第2のプローブ素子4、6のフランジ8・11間に縮設されて該第1及び第2ののプローブ素子4・6を外側に押す方向の、換言すれば、互いに離間させる方向の力を蓄える。
そして、このスプリング5の内径は上記第1及び第2のプローブ素子4、6のフランジ8、11の径(外径)よりも充分に小さく、且つ、該プローブ素子4、6のフランジ8、11より内側の軸状部分9、12よりも大きくされている。
該プローブ用スプリング5はプローブ収納空間2内の第1及び第2のプローブ素子4、6のフランジ8・11間に縮設されて該第1及び第2ののプローブ素子4・6を外側に押す方向の、換言すれば、互いに離間させる方向の力を蓄える。
プローブ用スプリング5の両側部分が各プローブ素子4、6のフランジ8・11より内側部分に外嵌され該フランジ8、11に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設されるようにするのは、図3に示す従来におけるようにプローブ素子の内端間に縮設される場合よりもプローブ収納空間を徒に長くすることなくプローブ用スプリングを必要な弾性が得られるように長くすることができることが可能になるからである。
つまり、プローブ用スプリング5の中間部5bに、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分5a、5aの長さを補って必要な弾性を得るようにすることがプローブ保持ボード1を徒に厚くすることなく実現できる。
つまり、プローブ用スプリング5の中間部5bに、隣接巻部(ターン)どうしが完全に接する密着部分を設けることによって減少する弾性部分5a、5aの長さを補って必要な弾性を得るようにすることがプローブ保持ボード1を徒に厚くすることなく実現できる。
即ち、プローブ用スプリング5は上記密着部分5bでは弾性を得ることができないので、両側の大ピッチの弾性部分5a、5aにて必要な弾性を得なければならない。そして必要な弾性を得るにはある程度の長さが必要なので、プローブ用スプリング5は長くなる、換言すればプローブ保持ボード1が厚くなる傾向になる。
従って、従来におけるように一対のプローブ素子d・eの内端間にプローブ用スプリングfを介在させた場合には、プローブを収納する収納空間を長くし、プローブ保持ボードを厚くする必要性が生じ、コンタクト装置の小型化、軽量化が阻まれる。
しかるに、本実施例においては、プローブ用スプリング5の両側部分が上記各プローブ素子4、6のフランジ8、11より内側部分に外嵌されるようにするので、その外嵌される分、プローブの長さが短くて済み、延いては徒にプローブを収納する収納空間を長くしたり、プローブ保持ボードを厚くしたりしなくて済むのである。
従って、従来におけるように一対のプローブ素子d・eの内端間にプローブ用スプリングfを介在させた場合には、プローブを収納する収納空間を長くし、プローブ保持ボードを厚くする必要性が生じ、コンタクト装置の小型化、軽量化が阻まれる。
しかるに、本実施例においては、プローブ用スプリング5の両側部分が上記各プローブ素子4、6のフランジ8、11より内側部分に外嵌されるようにするので、その外嵌される分、プローブの長さが短くて済み、延いては徒にプローブを収納する収納空間を長くしたり、プローブ保持ボードを厚くしたりしなくて済むのである。
図2は本発明プローブ用スプリングの第2の実施例を示す断面図である。本実施例のプローブ用スプリング25は、密着部分5bの外周面に例えば半田からなる導体30を形成してなるものである。
隣接巻部(ターン)どうしが接する状態を強固に保持し、その接する部分における接触抵抗を小さくすることができ、更に、導体自身も上記中間部分における寄生抵抗を小さくするのに寄与する。
従って、よりプローブ用スプリングに寄生する寄生抵抗を小さくすることができる。
尚、密着部分をプローブ用スプリングの中間部以外の部分に設けた場合には、当然にその中間部以外の部分に設けた密着部分の外周面に例えば半田からなる導体30を形成することになる。
隣接巻部(ターン)どうしが接する状態を強固に保持し、その接する部分における接触抵抗を小さくすることができ、更に、導体自身も上記中間部分における寄生抵抗を小さくするのに寄与する。
従って、よりプローブ用スプリングに寄生する寄生抵抗を小さくすることができる。
尚、密着部分をプローブ用スプリングの中間部以外の部分に設けた場合には、当然にその中間部以外の部分に設けた密着部分の外周面に例えば半田からなる導体30を形成することになる。
本発明は、電子部品、例えばIC、プリント配線基板等の試験、特性、性能等の検査、測定のために、その各電極、各配線部分と測定回路との間を電気的に接続するプローブに用いるプローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置に広く利用可能性がある。
1・・・プローブ保持ボード、2・・・プローブ保持空間(収納孔)、
3・・・プローブ、4・・・第1のプローブ素子、
5・・・プローブ用スプリング、5a・・・弾性部分、5b・・・密着部分、
6・・・第2のプローブ素子、7・・・突出接触端(クラウン状の接触端)、
8・・・スプリング係合部(フランジ)、9・・・軸状部、
10・・・突出接触端(針状の接触端)、
11・・・スプリング係合部(フランジ)、12・・・軸状部、
25・・・プローブ用スプリング、30・・・導体(半田)。
3・・・プローブ、4・・・第1のプローブ素子、
5・・・プローブ用スプリング、5a・・・弾性部分、5b・・・密着部分、
6・・・第2のプローブ素子、7・・・突出接触端(クラウン状の接触端)、
8・・・スプリング係合部(フランジ)、9・・・軸状部、
10・・・突出接触端(針状の接触端)、
11・・・スプリング係合部(フランジ)、12・・・軸状部、
25・・・プローブ用スプリング、30・・・導体(半田)。
Claims (6)
- プローブ保持空間内に納められるところの、一端が電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子間に縮設されるコイル状のプローブ用スプリングであって、
一部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有する
ことを特徴とするプローブ用スプリング。 - 前記密着部分の外周面に導体が形成された
ことを特徴とする請求項1記載のプローブ用スプリング。 - プローブ保持空間内に、一端が電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子と、該2つのプローブ素子間に縮設されたコイル状のプローブ用スプリングとが設けられたプローブであって、
上記コイル状のプローブ用スプリングは、一部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有する
ことを特徴とするプローブ。 - 前記各プローブ素子は中間部にその内側部分よりも大径にされたスプリング係合部を有し、
前記プローブ用スプリングはその両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設される
ことを特徴とする請求項3記載のプローブ。 - 複数枚のプローブ保持ボードにより複数のプローブ保持空間が形成され、
上記各プローブ保持空間の両端に外側に開口する突出接触端挿通孔が形成され、
上記各プローブ保持空間内に、一端が上記突出接触端挿通孔を挿通され上記電極、配線等と接触する外向きの突出接触端とされた2つのプローブ素子と、該2つのプローブ素子間に縮設されたコイル状のプローブ用スプリングとからなるプローブが保持された
コンタクト装置であって、
上記コイル状のプローブ用スプリングは、一部に、隣接巻部どうしが完全に接する密着部分を有する
ことを特徴とするコンタクト装置。 - 前記各プローブ素子は中間部にその内側部分よりも大径にされたスプリング係合部を有し、
前記プローブ用スプリングはその両側部分が上記各プローブ素子の上記内側部分に外嵌され上記スプリング係合部に係止されて上記2つのプローブ素子間に縮設される
ことを特徴とする請求項5記載のコンタクト装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004164485A JP2005345235A (ja) | 2004-06-02 | 2004-06-02 | プローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2004164485A JP2005345235A (ja) | 2004-06-02 | 2004-06-02 | プローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置 |
Publications (1)
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JP2005345235A true JP2005345235A (ja) | 2005-12-15 |
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ID=35497766
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005345235A (ja) |
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-
2004
- 2004-06-02 JP JP2004164485A patent/JP2005345235A/ja active Pending
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