JP2005342204A5 - - Google Patents

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  1. 被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の測定光を照射する測定光照射光学系と、前記測定光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、被検眼に向けて低コヒーレンスな光を被検眼に照射するとともに該照射によって得られる前記被検眼の角膜の反射光を参照光とし,該参照光と前記測定光照射光学系によって得られる前記被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、該干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。
  2. 請求項1の眼科測定装置において、前記屈折力測定手段にて求められた被検眼の屈折力に基づいて前記被検眼に照射される前記測定光の眼底における結像状態を補正するための補正手段を備えることを特徴とする眼科測定装置。
  3. 請求項2の眼科測定装置において、前記受光光学系は受光素子の受光面に前記眼底からの反射光を集光させるためのリングレンズを有することを特徴とする眼科測定装置。
  4. 請求項3の眼科測定装置は、前記干渉光学系内に前記被検眼の乱視成分を打ち消すための乱視補正用光学部材を有することを特徴とする眼科測定装置。
  5. 屈折力測定光学系を持ち被検眼の屈折力を測定する屈折力測定手段と、被検眼に向けて測定光を照射するとともに該照射によって得られる前記被検眼の角膜の反射光を参照光とし,該参照光と前記被検眼眼底からの測定光の反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、前記屈折力測定手段によって測定された前記被検眼の屈折力に基づいて前記被検眼に照射される前記測定光の眼底における結像状態を補正する補正手段と、該補正手段にて前記測定光の眼底における結像が補正された状態で前記干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。
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