JP2011206368A5 - - Google Patents

Description

（１） 角膜曲率測定光学系であって、角膜頂点に近い第１の領域の角膜曲率を測定する第１測定用指標投影光学系と、第１の領域よりも外側の第２の領域の角膜曲率を測定する第２測定用指標投影光学系とを持つ第２指標投影光学系と、第１測定用指標及び第２測定用指標の角膜反射像を撮像素子で撮影する撮像光学系と、を有する角膜曲率測定光学系を備える眼科装置であって、前記角膜曲率測定光学系の測定結果の中から、眼内レンズの度数を演算する際に使用する角膜曲率の測定値を、光干渉式眼軸長測定デバイスによる眼軸長測定及び超音波式眼軸長測定デバイスによる眼軸長測定の各測定に対して予め対応付けておき、対応付けられた眼軸長の測定結果及び角膜曲率の測定結果に基づいて眼内レンズの度数を演算する度数演算ユニットと、
を備えることを特徴とする。
（２） （１）の眼科装置において、眼内レンズの度数の演算に用いる眼軸長値を光干渉式眼軸長測定デバイスで得るか、超音波式眼軸長測定デバイスで得るかを選択する選択手段と、を備えることを特徴する。
（３） 光干渉により第１の眼軸長値を得るための光干渉式眼軸長測定デバイスと、超音波により第２の眼軸長値を得るための超音波式眼軸長測定デバイスと、前記光干渉式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、第１領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第１投影光学系と、前記超音波式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、前記第１領域より外側の第２領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第２投影光学系と、撮像素子を有し、前記第１投影光学系による第１の角膜反射像、前記第２投影光学系による第２の角膜反射像を前記撮像素子で撮像する撮像光学系と、前記超音波式眼軸長測定デバイス、前記光干渉式眼軸長測定デバイスからの出力信号に基づいて第１及び第２の眼軸長値を算出すると共に、前記撮像素子によって撮像された第１及び第２の角膜反射像に基づいて被検眼の角膜曲率を算出する演算手段と、を備えることを特徴とする。

Claims (3)

1. 角膜曲率測定光学系であって、角膜頂点に近い第１の領域の角膜曲率を測定する第１測定用指標投影光学系と、第１の領域よりも外側の第２の領域の角膜曲率を測定する第２測定用指標投影光学系とを持つ第２指標投影光学系と、第１測定用指標及び第２測定用指標の角膜反射像を撮像素子で撮影する撮像光学系と、を有する角膜曲率測定光学系を備える眼科装置であって、
   前記角膜曲率測定光学系の測定結果の中から、眼内レンズの度数を演算する際に使用する角膜曲率の測定値を、光干渉式眼軸長測定デバイスによる眼軸長測定及び超音波式眼軸長測定デバイスによる眼軸長測定の各測定に対して予め対応付けておき、対応付けられた眼軸長の測定結果及び角膜曲率の測定結果に基づいて眼内レンズの度数を演算する度数演算ユニットと、
   を備えることを特徴とする眼科装置。
2. 請求項１の眼科装置において、
   眼内レンズの度数の演算に用いる眼軸長値を光干渉式眼軸長測定デバイスで得るか、超音波式眼軸長測定デバイスで得るかを選択する選択手段と、
   を備えることを特徴する眼科装置。
3. 光干渉により第１の眼軸長値を得るための光干渉式眼軸長測定デバイスと、超音波により第２の眼軸長値を得るための超音波式眼軸長測定デバイスと、
   前記光干渉式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、第１領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第１投影光学系と、
   前記超音波式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、前記第１領域より外側の第２領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第２投影光学系と、
   撮像素子を有し、前記第１投影光学系による第１の角膜反射像、前記第２投影光学系による第２の角膜反射像を前記撮像素子で撮像する撮像光学系と、
   前記超音波式眼軸長測定デバイス、前記光干渉式眼軸長測定デバイスからの出力信号に基づいて第１及び第２の眼軸長値を算出すると共に、前記撮像素子によって撮像された第１及び第２の角膜反射像に基づいて被検眼の角膜曲率を算出する演算手段と、
   を備えることを特徴とする眼科装置。