JP2011206368A - 眼科装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光干渉により第1の眼軸長値を得るための光干渉式眼軸長測定デバイスと、超音波により第2の眼軸長値を得るための超音波式眼軸長測定デバイスと、第1投影光学系による第1の角膜反射像、第2投影光学系による第2の角膜反射像を撮像素子で撮像する撮像光学系と、超音波式眼軸長測定デバイス、前記光干渉式眼軸長測定デバイスからの出力信号に基づいて第1及び第2の眼軸長値を算出すると共に、撮像素子によって撮像された第1及び第2の角膜反射像に基づいて被検眼の角膜曲率を算出する演算手段と、を備える。
【選択図】 図6
Description
(2) (1)の眼科装置において、前記演算手段は、前記撮像素子によって同時に撮像された第1の角膜反射像及び第2の角膜反射像に基づいて前記第1領域での角膜曲率と前記第2領域での角膜曲率をそれぞれ算出することを特徴とする。
(3) (2)の眼科装置において、眼内レンズの度数計算ユニットと、前記度数計算ユニットによる度数計算に用いられる眼軸長の測定方式を手動又は自動にて選択する選択手段と、を備え、前記度数計算ユニットは、前記選択手段によって光干渉式が選択された場合、前記第1の眼軸長値、前記第1領域での角膜曲率、前記第1の眼軸長値及び前記第1領域での角膜曲率の組合せに対応する眼内レンズ定数、に基づいて眼内レンズの度数計算を行う一方、前記選択手段によって超音波式が選択された場合、前記第2の眼軸長値、前記第2領域での角膜曲率、前記第2の眼軸長値及び前記第2領域での角膜曲率の組合せに対応する眼内レンズ定数、に基づいて眼内レンズの度数計算を行うことを特徴とする。
(4) (3)の眼科装置において、前記第2の眼軸長値は、前記超音波式眼軸長測定デバイスに設けられるプローブの先端が被検眼の角膜に接触された状態で取得された眼軸長値であることを特徴とする。
(5) (4)の眼科装置において、前記第1の眼軸長値は、前記光干渉式眼軸長測定デバイスで求めた値を超音波式イマージョンで測定される眼軸長値に合わせて補正した値であることを特徴とする。
(6) (5)の眼科装置において、前記演算手段は、さらに、前記撮像素子によって撮像された第2の角膜反射像に基づいて前記第2領域での角膜の乱視軸方向を算出し、その算出結果と、前記第1領域での角膜曲率の算出結果とを対応付けて出力することを特徴とする。
初めに、角膜形状測定が行われる。図4は撮像素子35によって撮像された前眼部像が表示された前眼部観察画面を示す図である。アライメントの際には、光源41及び光源51が点灯される。ここで、検者は、図4に示すように、電子的に表示されたレチクルLTと、光源41によるリング指標R1と、が同心円状になるように上下左右のアライメントを行う。また、検者は、リング指標R1のピントが合うように、前後のアライメントを行う。なお、リング指標R1の外側には、光源51によるリング指標R2が表示されている。
次いで、光干渉式測定モードにおける動作について説明する。制御部80は、測定光源1を点灯させる。そして、眼軸長測定光学系10によって測定光が被検眼に照射されると共に、測定光による被検眼からの反射光が受光光学系10bの受光素子21に入射される。
なお、上記の光干渉式測定モードにおける測定は、被検眼が強度の白内障眼のような場合、測定光が混濁部によって遮光(散乱)され、受光素子21に散乱光が入射してしまうため、測定精度及び測定可能率が低下する。このような場合、光干渉式測定部4では信頼性の高い測定結果が得られるとはいえず、超音波式測定部300を用いて測定を行った方が好ましい。この場合、検者は、モード切換スイッチ84aを操作し、光干渉式測定モードから超音波式測定モードへと切換を行う。
上記に説明したように、角膜形状測定、光干渉式測定モード又は超音波式測定モードにおける眼軸長測定、が終了すると、制御部80は、取得された角膜形状と眼軸長に基づいて眼内レンズ(以下、IOLと記す)度数を算出する。
10 眼軸長測定光学系
10a 投光光学系
10b 受光光学系
30 撮像光学系
40 第1投影光学系
50 第2投影光学系
70 モニタ
80 制御部
85 メモリ
300 超音波式眼軸長測定部
302 超音波プローブ
Claims (6)
- 光干渉により第1の眼軸長値を得るための光干渉式眼軸長測定デバイスと、超音波により第2の眼軸長値を得るための超音波式眼軸長測定デバイスと、
前記光干渉式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、第1領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第1投影光学系と、
前記超音波式眼軸長測定デバイスを用いた測定と対応し、前記第1領域より外側の第2領域での角膜曲率を測定するための測定指標を角膜に投影する第2投影光学系と、
撮像素子を有し、前記第1投影光学系による第1の角膜反射像、前記第2投影光学系による第2の角膜反射像を前記撮像素子で撮像する撮像光学系と、
前記超音波式眼軸長測定デバイス、前記光干渉式眼軸長測定デバイスからの出力信号に基づいて第1及び第2の眼軸長値を算出すると共に、前記撮像素子によって撮像された第1及び第2の角膜反射像に基づいて被検眼の角膜曲率を算出する演算手段と、
を備えることを特徴とする眼科装置。 - 請求項1の眼科装置において、
前記演算手段は、前記撮像素子によって同時に撮像された第1の角膜反射像及び第2の角膜反射像に基づいて前記第1領域での角膜曲率と前記第2領域での角膜曲率をそれぞれ算出することを特徴とする眼科装置。 - 請求項2の眼科装置において、
眼内レンズの度数計算ユニットと、
前記度数計算ユニットによる度数計算に用いられる眼軸長の測定方式を手動又は自動にて選択する選択手段と、を備え、
前記度数計算ユニットは、前記選択手段によって光干渉式が選択された場合、前記第1の眼軸長値、前記第1領域での角膜曲率、前記第1の眼軸長値及び前記第1領域での角膜曲率の組合せに対応する眼内レンズ定数、に基づいて眼内レンズの度数計算を行う一方、
前記選択手段によって超音波式が選択された場合、前記第2の眼軸長値、前記第2領域での角膜曲率、前記第2の眼軸長値及び前記第2領域での角膜曲率の組合せに対応する眼内レンズ定数、に基づいて眼内レンズの度数計算を行うことを特徴とする眼科装置。 - 請求項3の眼科装置において、
前記第2の眼軸長値は、前記超音波式眼軸長測定デバイスに設けられるプローブの先端が被検眼の角膜に接触された状態で取得された眼軸長値であることを特徴とする眼科装置。 - 請求項4の眼科装置において、
前記第1の眼軸長値は、前記光干渉式眼軸長測定デバイスで求めた値を超音波式イマージョンで測定される眼軸長値に合わせて補正した値であることを特徴とする眼科装置。 - 請求項5の眼科装置において、
前記演算手段は、さらに、前記撮像素子によって撮像された第2の角膜反射像に基づいて前記第2領域での角膜の乱視軸方向を算出し、その算出結果と、前記第1領域での角膜曲率の算出結果とを対応付けて出力することを特徴とする眼科装置。
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